一種適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于實驗室設備技術領域，具體而言，本發明涉及一種掃描電子顯微鏡試樣的樣品架，特別涉及一種適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架。
【背景技術】
[0002]研究單位購置的金屬質量分析儀設備，主要用于研究鋼材中非金屬夾雜物的統計與分析。具體而言，通過高能電子束掃描拋光好的金相試樣，檢測背散射電子及特征X射線信號，通過背散射電子信號判斷鋼中的非金屬夾雜，通過特征X射線信號判斷非金屬夾雜物的成分，從而得出一定面積范圍內鋼中非金屬夾雜物的數量、尺寸、成分等信息，再通過相關軟件將這些數據以直觀的形式展示出來。
[0003]背散射電子及特征X射線信號均與檢測面的水平度有關，即檢測面到檢測探頭的距離最好保證一致;一般而言，研磨好的金相試樣檢測面為一個平面。該設備隨機附帶的樣品架為水平的平板，這樣就要求研磨后的金相試樣檢測面及其對面必須保持平行，且如果一次性檢測多個試樣，必須保證所有試樣厚度一致。如果試樣厚度不一致，只能一次檢測一個試樣，然后打開設備換另一個樣品。受目前公司試樣切割、制備能力的影響，設備樣品室空間很大，但一次只能放一個試樣，需要頻繁地換試樣。頻繁換試樣意味著需要頻繁地放真空、抽真空、手動調節樣品的高度、等待設備穩定并調整參數等。增加大量不必要的工作量，同時標準樣品的消耗較快，影響分析周期。
[0004]現有的用于儀器試樣的樣品架有很多，如申請日為2013年3月19日、申請號為201320125529.7、名稱為“一種錐形量熱儀用樣品架”的專利文件，該專利文件的樣品架包括底座，所述底座的一側設有把手，所述底座上防止有一彈性托架，所述彈性托架由托盤和設置在所述托盤下方的多個彈簧構成，所述彈性托架的外圍設有一外框架，所述外框架的頂部設有內沿板，所述外框架的底部與所述底座固定。位于所述外框架側壁的底部設有頂絲，所述外框架與所述底座之間由所述頂絲固定。利用該專利文件的樣品架，可以消除樣品受熱收縮遠離輻射錐導致樣品受熱輻射強度變小的影響，保證測試過程中樣品受到的熱輻射強度始終如一，使測試的準確性大大提高，可以保證測試數據的穩定性和重現性;并具有操作方便、制作成本低廉的優點。該專利文件的樣品架在適用到金屬質量分析儀中，仍然是只能一次檢測一個試樣，在對多個試樣進行檢測時會浪費不必要的人力物力。
[0005]由上分析，可知現有技術的樣品架存在以下特點和缺陷:
[0006]1、不適用金屬質量分析儀的試樣。現有技術的樣品架主要解決的是試樣的強度問題，無法直接適用到金屬質量分析儀的試樣中。
[0007]2、每次檢測只能檢測一個試樣。由于試樣的厚度不等，所以在檢測過程中只能對一個試樣進行檢測。
【發明內容】
[0008]本發明的目的在于提供一種適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，以至少解決現有技術存在的樣品架無法適用到金屬質量分析儀的技術問題，以及解決現有技術存在的樣品不平、樣品高度不一致而導致一次只能檢測一個試樣的技術問題。
[0009]為了解決上述問題，本發明提供一種適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，其技術方案如下:
[0010]—種適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，包括底座，在所述底座的上部設有水平卡槽，所述底座用于連接檢測設備并提供整體支撐;限位片，插在所述底座的所述水平卡槽內，用于對試樣進行上方限位;和彈簧，安裝在所述底座上，試樣安放在所述彈簧和所述限位片之間，所述彈簧用于為試樣提供彈性支撐。
[0011]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:所述底座包括底部基體、第一豎直段、第二豎直段和第三豎直段;所述第一豎直段、所述第二豎直段和所述第三豎直段的下端面固定安裝在所述底部基體上;所述第一豎直段、所述第二豎直段和所述第三豎直段為平行設置并將所述底部基體分為第一底部基體和第二底部基體;在所述第一底部基體和所述第二底部基體上分別安裝多個所述彈簧;多個所述限位片分別插在所述第一豎直段內側面和所述第二豎直段的第一側面的所述水平卡槽中，以及插在所述第三豎直段內側面和所述第二豎直段的第二側面的所述水平卡槽中；多個試樣一一對應安放在所述彈簧和所述限位片之間。
[0012]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:在所述第一底部基體和所述第二底部基體上均開有多個限位槽，所述彈簧的底端放置在所述限位槽內，所述限位槽用于對所述彈簧進行底端限位。
[0013]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:所述彈簧為六個，與其相配合的所述限位片也為六個;其中三個所述彈簧安裝在所述第一底部基體上，另外三個所述彈簧安裝在所述第二底部基體上，六個所述限位片一一對應設置在六個所述彈簧的上方;六個試樣分別位于六個所述限位片和六個所述彈簧之間。
[0014]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:還包括托盤，所述托盤固定安裝在所述彈簧的上端面，所述托盤用于對試樣進行下端部限位。
[0015]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:所述彈簧為圓錐螺旋彈簧或圓柱螺旋彈簧。
[0016]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:在所述限位片的中間位置開有通孔，位于所述通孔位置的試樣部分為試樣檢測部分。
[0017]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:所述限位片為不銹鋼薄片。
[0018]如上述的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架，進一步優選為:所述通孔為方孔。
[0019]分析可知，與現有技術相比，本發明的優點和有益效果在于:
[0020]—、本發明提供的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架以所述底座為安裝基礎，在所述底座的上部安裝的所述限位片和在所述底座上安裝的所述彈簧為試樣進行上部限位和下部限位;這樣就能使本發明提供的樣品架適用于金屬質量分析儀試樣中，再者本發明的所述限位片插入在所述底座上方的所述水平卡槽中，可以保證試樣的上部檢驗面為水平面，再通過設置在下方的所述彈簧調節試樣的高度，充分利用所述彈簧的彈性頂力使試樣的上部檢驗面與所述限位片結合緊密接觸；由此可知，本發明提供的樣品架具有結構簡單、能夠充分對試樣進行定位的特點。
[0021]二、本發明的所述底座的結構設置，即所述底座包括所述底部基體、所述第一豎直段、所述第二豎直段和所述第三豎直段;這樣可以使本發明形成多個試樣安放空間，同時對多個試樣進行檢測，尤其能夠適用于高度不一致的試樣的檢測，這在現有技術中從未實現過。
[0022]三、本發明設置的所述彈簧的所述限位槽，可以保證所述彈簧不會因為受壓出現移位情況。
[0023]四、本發明設置的六個限位片和六個彈簧，可以使本發明一次能夠同時對六個試樣進行檢測，尤其是高度不一致的六個試樣同時進行檢測。
[0024]五、本發明設置的所述托盤，可以有效防止試樣和所述彈簧之間出現滑動的情況。
[0025]六、本發明在所述限位片的中間位置設有所述通孔，可以使所有試樣的檢驗面都位于同一水平面上，確保對試樣進行有效檢測。
【附圖說明】
[0026]圖1為本發明優選實施例的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架的結構示意圖。
[0027]圖2為本發明的底座的結構不意圖。
[0028]圖3為本發明的托盤的結構示意圖。
[0029]圖4為本發明的彈簧的結構示意圖。
[0030]圖中，1-底座；11-水平卡槽；12-底部基體;121-第一底部基體;122第二底部基體；13-第一豎直段;14-第二豎直段;15-第三豎直段;2-限位片;21-通孔;3-彈簧;4-托盤。
【具體實施方式】
[0031 ]下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明做進一步詳細說明。
[0032]如圖1、圖2和圖3所示，本發明優選實施例的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架主要包括底座I，在底座I的上部設有水平卡槽U，底座I用于連接檢測設備并提供整體支撐;限位片2，插在底座I的水平卡槽11內，用于對試樣進行上方限位;和彈簧3，安裝在底座I上，試樣安放在彈簧3和限位片2之間，彈簧3用于為試樣提供彈性支撐。
[0033]總而言之，本發明提供的適用于金屬質量分析儀試樣的樣品架以底座I為安裝基礎，在底座I的上部安裝的限位片2和在底座I上安裝的彈簧3為試樣進行上部限位和下部限位;這樣就能使本發明提供的樣品架適用于金屬質量分析儀試樣中，再者本發明的限位片2插入在底座I上方的水平卡槽11中，可以保證試樣的上部檢驗面為水平面，再通過設置在下方的彈簧3調節試樣的高度，充分利用彈簧3的彈性頂力使試樣的上部檢驗面與限位片2結合緊密接觸；由此可知，本發明提供的樣品架具有結構簡單、能夠充分對試樣進行定位的特點。
[0034]在正常情況下，金