編程器測試裝置及測試方法
【技術領域】
[0001 ]本發明屬于集成電路編程技術領域，更具體地，涉及一種用于批量生產編程器的測試裝置及方法。
【背景技術】
[0002]當今科技水平的高速發展，伴隨著人力成本的越來越高，可編程電路隨著越來越多客戶的推廣應用，編程工具的實際需求量越來越大，以往人力測試生產的成本和速度已經不能滿足實際的需求。由此，我們研究出一種生產測試裝置，專門用于批量生產輔助測試編程工具。
【發明內容】
[0003]本發明的目的在于提供一種用于批量生產編程器的測試裝置及測試方法。
[0004]根據本發明的一方面，提供一種編程器測試裝置，包括:夾具，用于固定待測編程器;測試卡模塊，用于采集待測編程器的測試數據；串口通訊模塊，用于向待測編程器發送文件信號流;主處理器，分別與信號源模塊、串口通訊模塊、測試卡模塊連接，用于通過測試卡模塊獲取待測編程器的測試數據。
[0005]優選地，所述主處理器還用于在接收到電源測試以及校準指令時向測試卡模塊發送電源測試信號;所述測試卡模塊還用于根據所述電源測試信號采集待測編程器的電源電壓并發送至主處理器。
[0006]優選地，所述主處理器還用于在接收到鏈路檢測指令時通過信號源模塊向待測編程器發送鏈路檢測信號流，向測試卡模塊發送鏈路檢測信號;所述測試卡模塊還用于根據所述鏈路檢測信號采集待測編程器根據所述鏈路檢測信號流輸出的鏈路檢測數據并發送至所述主處理器;所述主處理器還用于接收所述鏈路檢測數據并根據所述鏈路檢測數據判斷鏈路是否異常。
[0007]優選地，所述主處理器還用于在接收到參數檢測指令時通過信號源模塊向待測編程器發送參數檢測信號流，向測試卡模塊發送參數檢測信號;所述測試卡模塊還用于根據所述參數檢測信號采集待測編程器根據所述參數檢測信號流輸出的參數檢測數據并發送至所述主處理器;所述主處理器還用于接收所述參數檢測數據并根據所述參數檢測數據判斷參數是否異常。
[0008]優選地，所述主處理器還用于在接收到存儲器檢測指令時通過串口通訊模塊向待測編程器發送文件信號流;所述主處理器還用于接收所述待測編程器根據所述文件信號流輸出的存儲器校驗數據并根據所述存儲器校驗數據判斷存儲器是否異常。
[0009]優選地，所述主處理器還用于在接收到功能檢測指令時通過信號源模塊向待測編程器發送功能檢測信號流，向測試卡模塊發送功能檢測信號;所述測試卡模塊還用于根據所述功能檢測信號采集待測編程器根據所述功能檢測信號流輸出的功能檢測數據并發送至所述主處理器;所述主處理器還用于接收所述功能檢測數據并根據所述功能檢測數據判斷功能是否異常。
[0010]優選地，上述編程器測試裝置還包括:人機操作接口，用于輸入指令;液晶顯示模塊，與所述主處理器連接，用于顯示測試數據。
[0011 ]根據本發明的另一方面，提供一種編程器測試方法，包括:主處理器接收測試指令，根據所述測試指令發送測試信號；測試卡模塊根據所述測試信號采集待測編程器的測試數據;主處理器根據所述測試數據判斷待測編程器是否異常。
[0012]優選地，所述編程器測試方法還包括:主處理器在接收到電源測試以及校準指令時，向測試卡模塊發送電源測試信號，測試卡模塊根據所述電源測試信號采集待測編程器的電源電壓并發送至主處理器。
[0013]優選地，所述編程器測試方法還包括:主處理器在接收到鏈路檢測指令時，通過信號源模塊向待測編程器發送鏈路檢測信號流，向測試卡模塊發送鏈路測試信號;待測編程器根據所述鏈路檢測信號流輸出鏈路檢測數據;測試卡模塊根據所述鏈路測試信號采集待測編程器的鏈路檢測數據并發送至主處理器;主處理器根據所述鏈路檢測數據判斷鏈路是否異常。
[0014]優選地，所述編程器測試方法還包括:主處理器在接收到參數檢測指令時，通過信號源模塊向待測編程器發送參數檢測信號流，向測試卡模塊發送參數測試信號;待測編程器根據所述參數檢測信號流輸出參數檢測數據;測試卡模塊根據所述參數測試信號采集待測編程器的參數檢測數據并發送至主處理器;主處理器根據所述參數檢測數據判斷參數是否異常。
[0015]優選地，所述編程器測試方法還包括:主處理器在接收到存儲器檢測指令時，通過串口通訊模塊向待測編程器發送文件信號流;待測編程器根據接收到的文件信號流將編程內容寫入存儲器中后校驗待測編程器內的存儲器內容，并將存儲器校驗數據通過串口通訊模塊發送至主處理器;主處理器根據所述存儲器校驗數據判斷存儲器是否異常。
[0016]優選地，所述編程器測試方法還包括:主處理器在接收到功能檢測指令時，通過信號源模塊向待測編程器發送功能檢測信號流，向測試卡模塊發送功能測試信號;待測編程器根據所述功能檢測信號流輸出功能檢測數據;測試卡模塊根據所述功能測試信號采集待測編程器的功能檢測數據;主處理器根據所述功能檢測數據判斷功能是否異常。
[0017]本發明提供的編程器測試裝置及測試方法，可以單獨執行某一檢測指令，也可按順序執行多個檢測指令，提高檢測效率，減少成本。
【附圖說明】
[0018]通過以下參照附圖對本發明實施例的描述，本發明的上述以及其他目的、特征和優點將更為清楚，在附圖中:
[0019]圖1示出了根據本發明實施例的編程器測試裝置的結構示意圖；
[0020]圖2示出了根據本發明實施例的編程器測試方法的流程圖；
[0021]圖3示出了根據本發明實施例的編程器電源測試方法的流程圖；
[0022]圖4示出了根據本發明實施例的編程器鏈路測試方法的流程圖；
[0023]圖5示出了根據本發明實施例的編程器參數測試方法的流程圖；
[0024]圖6示出了根據本發明實施例的編程器存儲器測試方法的流程圖；
[0025]圖7示出了根據本發明實施例的編程器功能測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0026]以下將參照附圖更詳細地描述本發明的各種實施例。在各個附圖中，相同的元件采用相同或類似的附圖標記來表示。為了清楚起見，附圖中的各個部分沒有按比例繪制。
[0027]本發明可以各種形式呈現，以下將描述其中一些示例。
[0028]圖1示出了根據本發明實施例的編程器測試裝置的結構示意圖。如圖1所示，本實施例的編程器測試裝置100包括主處理器101、測試卡模塊102、信號源模塊103、串口通訊模塊104和夾具105。
[0029]其中，主處理器101與測試卡模塊102、信號源模塊103和串口通訊模塊104連接。
[0030]測試卡模塊102用于采集待測編程器150的測試數據。
[0031]在本實施例中，測試數據可以是待測編程器150的電源電壓、待測編程器根據輸入的檢測信號流輸出的脈沖信號。
[0032]信號源模塊103用于向待測編程器150發送指令信號流。
[0033]串口通訊模塊104用于向待測編程器150發送文件信號流。
[0034]夾具105用于固定待測編程器150。
[0035]主處理器101用于通過測試卡模塊102獲取待測編程器的測試數據。
[0036]在優選的實施例中，所述主處理器101還用于在接收到電