一種暗室反射特性的測量方法和設備的制造方法
【技術領域】
[0001]本申請涉及電磁技術領域，尤其涉及一種暗室反射特性的測量方法和設備。
【背景技術】
[0002]為了保證電磁兼容試驗的有效性，需要對電磁兼容試驗結果的影響因素進行分析。然而，試驗場地(又可稱之為電磁兼容暗室)性能的好壞是影響電磁兼容試驗結果的重要因素。
[0003]常用的試驗場地是由墻面鋪設吸波材料的屏蔽室建成的。屏蔽室內墻面吸波材料的反射特性(又可以稱之為暗室反射特性)影響試驗場地的性能，也就是說，屏蔽室內墻面吸波材料的反射特性影響電磁兼容試驗結果。
[0004]其中，暗室反射特性表征暗室墻面內鋪設的不同性能的吸波材料對不同頻率的電磁波的反射損耗。
[0005]通過對暗室反射特性的測量可以確定屏蔽室內墻面吸波材料的反射特性對電磁兼容試驗結果的影響大小，常用的測量方法包括拱形法。
[0006]具體地，對暗室反射特性的測量可以看做是測量吸波材料對電磁波的反射損耗。在使用拱形法測量吸波材料對電磁波的反射損耗時，一般需要執行兩次測量操作:第一次是測量電磁波被吸波材料反射產生的第一反射信號，第二次是測量該電磁波被金屬板反射產生的第二反射信號，通過第一反射信號與第二反射信號之間的能量差，即可確定吸波材料對電磁波的反射損耗，進而得到暗室反射特性。
[0007]在實際應用中發現，一旦暗室建成，采用上述方式測量暗室的反射特性存在以下問題:
[0008]在測量暗室的反射特性的過程中，需要在吸波材料墻面的前面放置金屬板，但是由于金屬板的尺寸有限，導致在金屬板的邊緣出現電磁波散射，影響測量暗室反射特性的準確性。
【發明內容】
[0009]有鑒于此，本申請實施例提供的一種暗室反射特性的測量方法和設備，用于解決現有技術中暗室反射特性的測量結果不準確的問題。
[0010]—種暗室反射特性的測量方法，包括:
[0011 ]控制發射天線向暗室鋪設吸波材料的墻面發射第一電磁波信號，并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號，其中，所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離滿足設定第一數值，且所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面位置相對；
[0012]調整所述發射天線與所述接收天線的位置，使得所述發射天線與所述接收天線位置相對，且所述發射天線與所述接收天線之間的距離滿足設定第二數值；
[0013]控制所述發射天線向所述接收天線發射第二電磁波信號，并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號，其中，所述第一電磁波信號與所述第二電磁波信號的頻率相同；
[0014]根據所述第一反射信號和所述第二電磁波信號，測量得到所述暗室的反射特性，其中，所述反射特性表征所述吸波材料對電磁波信號的的反射損耗。
[0015]—種暗室反射特性的測量設備，包括:
[0016]信號發射單元，用于控制發射天線向暗室鋪設吸波材料的墻面發射第一電磁波信號，并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號，其中，所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離滿足設定第一數值，且所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面位置相對；
[0017]調整單元，用于調整所述發射天線與所述接收天線的位置，使得所述發射天線與所述接收天線位置相對，且所述發射天線與所述接收天線之間的距離滿足設定第二數值；
[0018]所述信號發射單元，還用于控制所述發射天線向所述接收天線發射第二電磁波信號，并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號，其中，所述第一電磁波信號與所述第二電磁波信號的頻率相同；
[0019]測量單元，用于根據所述第一反射信號和所述第二電磁波信號，測量得到所述暗室的反射特性，其中，所述反射特性表征所述吸波材料對電磁波信號的的反射損耗。
[0020]本申請有益效果如下:
[0021]本申請實施例控制發射天線向暗室鋪設吸波材料的墻面發射第一電磁波信號，并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號，所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離滿足設定第一數值，且所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面位置相對;調整所述發射天線與所述接收天線的位置，使得所述發射天線與所述接收天線位置相對，且所述發射天線與所述接收天線之間的距離滿足設定第二數值;控制所述發射天線向所述接收天線發射第二電磁波信號，并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號，其中，所述第一電磁波信號與所述第二電磁波信號的頻率相同;根據所述第一反射信號和所述第二電磁波信號，測量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料對電磁波信號的的反射損耗。通過本申請實施例提供的方案，借助發射天線與接收天線的特性，能夠有效避免由于金屬板在反射電磁波信號時出現的散射，提高了測量暗室反射特性的準確性。
【附圖說明】
[0022]為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡要介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域的普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0023]圖1為本申請實施例提供的一種暗室反射特性的測量方法的流程示意圖；
[0024]圖2為等效發射天線示意圖；
[0025]圖3為調整后的所述發射天線與所述接收天線的相對位置的結構示意圖；
[0026]圖4為本申請實施例提供的一種暗室反射特性的測量設備的結構示意圖；
[0027]圖5為本申請實施例提供的一種暗室反射特性的測量設備的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0028]為了實現本申請的目的，本申請實施例提供了一種暗室反射特性的測量方法和設備，控制發射天線向暗室鋪設吸波材料的墻面發射第一電磁波信號，并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號，所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離滿足設定第一數值，且所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面位置相對;調整所述發射天線與所述接收天線的位置，使得所述發射天線與所述接收天線位置相對，且所述發射天線與所述接收天線之間的距離滿足設定第二數值;控制所述發射天線向所述接收天線發射第二電磁波信號，并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號，其中，所述第一電磁波信號與所述第二電磁波信號的頻率相同；根據所述第一反射信號和所述第二電磁波信號，測量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料對電磁波信號的的反射損耗。通過本申請實施例提供的方案，借助發射天線與接收天線的特性，能夠有效避免由于金屬板在反射電磁波信號時出現的散射，提高了測量暗室反射特性的準確性。
[0029]下面結合說明書附圖對本申請各個實施例作進一步地詳細描述。顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本申請保護的范圍。
[0030]圖1為本申請實施例提供的一種暗室反射特性的測量方法的流程示意圖。所述方法可以如下所示。
[0031]步驟101:控制發射天線向暗室鋪設吸波材料的墻面發射第一電磁波信號，并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號。
[0032]其中，所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離滿足設定第一數值，且所述發射天線和所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面位置相對。
[0033]在步驟101中，在對暗室的反射特性進行測量時，首先，需要發射天線和接收天線對準被測的吸波材料墻面，這里當發射天線和接收天線對準被測的吸波材料墻面時，需要發射天線和接收天線與被測的吸波材料墻面之間的距離滿足設定第一數值。
[0034]其中，設定第一數值可以根據發射天線和接收天線與暗室周圍其他平面之間的距離確定。
[0035]所述發射天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離與所述接收天線與暗室鋪設吸波材料的墻面之間的距離相同。
[0036]由于為了精確確定吸波材料對電磁波信號的反射損耗，在向鋪設吸波材料的墻面發射第一電磁波信號時，盡可能避免第一電磁波信號的散射，因此，要求發射天線和接收天線與被測的吸波材料墻面之間的距離小于設定第一數值。
[0037]例如:發射天線和接收天線與暗室周圍其他平面之間的距離為a，那么在確定發射天線和接收天線的位置時，確定發射天線和接收天線與被測的吸波材料墻面之間的距離小于a