一種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明是涉及一種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的方法及裝置，屬于質量控制技術領域。
【背景技術】
[0002]由于金屬件都是通過多道成型工序加工而成，在加工成型中，容易形成向外的凸起或向內的凹陷等變形情況，以致會影響金屬件的裝配性能和使用性能，因此，為了避免影響金屬件的裝配性能和使用性能，需要對所加工的金屬件的平面度、凹槽、孔等高度尺寸進行缺陷篩檢，以及時剔除不良產品。
[0003]目前，實現金屬件尺寸檢測通常采用如下方法:
[0004]1、三次元量測儀，其基本原理就是通過探測傳感器(探頭)與測量空間軸線運動的配合，對被測幾何元素進行離散的空間點位置的獲取，然后通過一定的數學計算，完成對所測的點(點群)的分析擬合，最終還原出被測的幾何元素，并在此基礎上計算其與理論值之間的偏差。雖然這種檢測方法的精度非常高，但存在檢測效率低、檢測成本高等缺陷，不適用于批量化檢測，只適用于抽檢，以致不能滿足批量化生產高精度金屬件的質檢要求；
[0005]2、采用激光感應器檢測，通過探針組件的多次移動以檢測產品各點，這種檢測方法不僅存在效率低、檢測精度不能調節等缺陷，而且結構復雜、成本高、穩定度不足、容易受環境因素影響，因此，此檢測方法也不適用于批量化生產高精度金屬件的質檢要求。
【發明內容】
[0006]針對現有技術存在的上述問題，本發明的目的是提供一種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的方法及裝置，以實現對所加工金屬件的尺寸缺陷進行批量化篩檢，保證所出售的金屬件的品質能滿足高精度裝配要求。
[0007]為實現上述目的，本發明采用如下技術方案:
[0008]—種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的方法，是利用金屬件的導電性，通過金屬件與檢測金屬浮動觸頭、指示燈、電源及檢測平臺之間能否構成電路回路使指示燈點亮進行直觀判斷是否存在尺寸缺陷，所述尺寸缺陷包括平面度缺陷和槽/孔高度尺寸缺陷。
[0009]—種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的裝置，包括底座和導電金屬平臺，在所述導電金屬平臺上設有檢測區，在所述檢測區內設有若干平面度檢測金屬浮動觸頭和若干高度檢測金屬浮動觸頭，在位于檢測區外周的導電金屬平臺上設有若干單色指示燈和若干雙色指示燈;所述平面度檢測金屬浮動觸頭和高度檢測金屬浮動觸頭均絕緣穿設在檢測區內的導電金屬平臺上，且均在位于導電金屬平臺下方的部位上套設有彈簧，所述彈簧的底端均與設在底座表面上的導電金屬片相抵觸;其中，在位于所述高度檢測金屬浮動觸頭正下方的導電金屬片上均開設有穿孔，在所述底座上開設有與所述穿孔相連通的螺孔，在所述螺孔內設有限位金屬觸頭，所述高度檢測金屬浮動觸頭能穿過穿孔與限位金屬觸頭相抵觸;并且，位于平面度檢測金屬浮動觸頭正下方的導電金屬片通過金屬導線分別與一個單色指示燈電連接，位于同一個高度檢測金屬浮動觸頭正下方的導電金屬片和限位金屬觸頭分別通過金屬導線與同一個雙色指示燈電連接，所述單色指示燈和雙色指示燈均通過金屬導線與電源的正極電連接，所述電源的負極通過金屬導線與導電金屬平臺電連接。
[0010]作為一種實施方案，在自然狀態下，所述平面度檢測金屬浮動觸頭的最高點位于待檢金屬件平面度的上限位置，所述平面度檢測金屬浮動觸頭的下端距離導電金屬片的間距值為待檢金屬件平面度的最大允許誤差值。
[0011 ]作為一種實施方案，在自然狀態下，所述高度檢測金屬浮動觸頭的最高點位于待檢金屬件高度的上限位置，所述高度檢測金屬浮動觸頭的下端距離限位金屬觸頭頂端的間距值為待檢金屬件高度的最大允許上限誤差值與最大允許下限誤差值之和。
[0012]作為進一步實施方案，所述平面度檢測金屬浮動觸頭和高度檢測金屬浮動觸頭均包括上部、中部和下部，且位于上部與下部之間的中部形成凸臺，從而達到對所述彈簧的限位。
[0013]作為優選方案，在所述上部與導電金屬平臺的接觸面間設有絕緣套，在所述中部與導電金屬平臺的接觸面間設有絕緣墊。
[0014]作為一種實施方案，所述限位金屬觸頭通過螺紋連接設置在所述螺孔內。
[0015]作為優選方案，所述單色指示燈和雙色指示燈均為LED燈。
[0016]相較于現有技術，本發明的有益技術效果在于:
[0017]使用本發明所述方法和裝置，只需將待檢金屬件放置在檢測區，通過觀察指示燈顏色的變化，即可直觀判斷待檢金屬件的平面度、高度尺寸是否存在缺陷，不僅操作簡單、快速，而且結構簡單、受外界因素影響小、檢測結果準確可靠、檢測精度可控；因此，本發明可實現對大批量金屬件的尺寸缺陷進行快速篩檢，以保證所出售的金屬件的品質能滿足高精度裝配要求，相對于現有技術具有明顯的工業應用價值和顯著性進步。
【附圖說明】
[0018]圖1為實施例提供的一種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的裝置的結構示意圖；
[0019]圖2為圖1中A處的局部放大圖；
[0020]圖3為圖1中B處的局部放大圖。
[0021]圖中標號示意如下:1、底座；2、導電金屬平臺；21、檢測區；3、平面度金屬浮動觸頭;31、上部;32、中部;33、下部;4、高度金屬浮動觸頭;41、上部;42、中部;43、下部;5、單色指不燈;6、雙色指不燈;7、彈貪;8、導電金屬片；81、穿孔;9、電源；10、螺孔；11、限位金屬觸頭;12、金屬件;13、絕緣套;14、絕緣墊。
【具體實施方式】
[0022]以下結合附圖和具體實施例，對本發明的技術方案做進一步清楚、完整地描述。
[0023]實施例
[0024]結合圖1至圖3所示:本實施例提供的一種快速篩檢金屬件尺寸缺陷的裝置，包括底座1和導電金屬平臺2，在所述導電金屬平臺2上設有檢測區21，在所述檢測區21內設有若干平面度檢測金屬浮動觸頭3和若干高度檢測金屬浮動觸頭4;在位于檢測區21外周的導電金屬平臺2上設有若干單色指示燈5和若干雙色指示燈6;所述平面度檢測金屬浮動觸頭3和高度檢測金屬浮動觸頭4均絕緣穿設在檢測區21內的導電金屬平臺2上，且均在位于導電金屬平臺2下方的部位上套設有彈簧7，所述彈簧7的底端均與設在底座1表面上的導電金屬片8相抵觸;其中，在位于所述高度檢測金屬浮動觸頭4正下方的導電金屬片8上均開設有穿孔81，在所述底座1上開設有與所述穿孔81相連通的螺孔10，在所述螺孔10內設有限位金屬觸頭11，所述高度檢測金屬浮動觸頭4能穿過穿孔81與限位金屬觸頭11相抵觸;并且，位于平面度檢測金屬浮動觸頭3正下方的導電金屬片8通過金屬導線分別與一個單色指示燈5電連接，位于同一個高度檢測金屬浮動觸頭4正下方的導電金屬片8和限位金屬觸頭11分別通過金屬導線與同一個雙色指示燈6電連接，所述單色指示燈5和雙色指示燈6均通過金屬導線與電源9的正極電連接，所述電源9的負極通過金屬導線與導電金屬平臺2電連接。
[0025]在自然狀態下:所述平面度檢測金屬浮動觸頭3的最高點位于待檢金屬件12平面度的上限位置，所述平面度檢測金屬浮動觸頭3的下端距離導電金屬片8的間距值為待檢金屬件12平面度的最大允許誤差值;所述高度檢測金屬浮動觸頭4的最高點位于待檢金屬件12待測點高度的上限位置，所述高度檢測金屬浮動觸頭4的下端距離限位金屬觸頭11頂端的間距值為待檢金屬件12待測點高度的最大允許上限誤差值與最大允許下限誤差值之和。
[0026]作為優選方案:所述平面度檢測金屬浮動觸頭3和高度檢測金屬浮動觸頭4均包括上部31/41、中部32/42和下部33/