一種測距校準冶具和測距校準方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發明實施例涉及測距校準技術領域，尤其涉及一種測距校準冶具和測距校準方 法及裝置。
【背景技術】
[0002] 隨著傳感器技術的發展，非接觸式檢測技術已被廣泛的應用于多個領域。由于超 聲波具有可以直接測量近距離目標，縱向分辨率高，適用范圍廣，方向性強，并具備不受光 線、煙霧、電磁干擾等因素影響，超聲波測距已普遍應用到液位測量、移動機器人定位和避 障等領域，應用前景廣闊。
[0003]目前，超聲波傳感器被應用于移動終端上，用于檢測用戶與移動終端的距離以及 用戶的隔空手勢，來控制移動終端進行相應的操作，給用戶帶來了良好的體驗。由于超聲波 傳感器在移動終端上的很多應用都是基于超聲波精準的距離測試功能上的，如果超聲波本 身測試的距離都不正確或超出允許的誤差范圍，那么必然影響超聲波技術在移動終端上的 應用，而現有技術中在移動終端出廠前沒有對移動終端的超聲波傳感器的測距功能進行校 準，可能導致移動終端出廠投入使用后超聲波傳感器測距不準確，影響利用超聲波技術控 制移動終端的操作，降低了用戶的體驗滿意度。
【發明內容】
[0004] 本發明實施例提供一種測距校準冶具和測距校準方法及裝置，以提高移動終端中 超聲波傳感器的測距準確度。
[0005] 第一方面，本發明實施例提供了一種測距校準冶具，包括安置平臺和位于所述安 置平臺上方的校準基板，所述安置平臺與所述校準基板平行；
[0006] 所述安置平臺用于放置移動終端，以支持所述移動終端的超聲波傳感器向所述校 準基板發射超聲波；
[0007] 所述校準基板用于將接收到的所述超聲波反射回所述移動終端的超聲波傳感器， 以支持所述移動終端生成所述安置平臺與所述校準基板之間的測試距離，并根據所述測試 距離和預設標準距離生成測距校準參數。
[0008] 第二方面，本發明實施例還提供一種測距校準方法，包括：
[0009] 利用放置于所述測距校準冶具的安置平臺的移動終端的超聲波傳感器向所述測 距校準冶具的校準基板發射超聲波；
[0010] 利用所述超聲波傳感器接收從所述校準基板反射回的超聲波，生成所述安置平臺 與所述校準基板之間的測試距離，并根據所述測試距離和預設標準距離生成測距校準參 數，以根據所述測距校準參數對后續測得的距離進行校準。
[0011] 第三方面，本發明實施例還提供一種測距校準裝置，包括：
[0012] 超聲波發射單元，用于利用放置于所述測距校準冶具的安置平臺的移動終端的超 聲波傳感器向所述測距校準冶具的校準基板發射超聲波；
[0013] 測距校準參數生成單元，用于利用所述超聲波傳感器接收從所述校準基板反射回 的超聲波，生成所述安置平臺與所述校準基板之間的測試距離，并根據所述測試距離和預 設標準距離生成測距校準參數，以根據所述測距校準參數對后續測得的距離進行校準。
[0014] 本發明實施例提供的測距校準冶具和測距校準方法及裝置，通過提供一種由安置 平臺和校準基板組成的測距校準冶具，對出廠前的移動終端的超聲波傳感器的測距進行校 準，根據所述超聲波傳感器測得的安置平臺和校準基板之間的測試距離和預設標準距離生 成測距校準參數，以根據所述校準參數對后續測得的距離進行校準，提高了移動終端中超 聲波傳感器的測距準確度。
【附圖說明】
[0015] 圖1是本發明實施例一提供的測距校準冶具的結構示意圖；
[0016] 圖2是本發明實施例一提供的測距校準冶具的另一結構示意圖；
[0017] 圖3是本發明實施例二提供的測距校準方法的流程圖；
[0018] 圖4是本發明實施例二提供的移動終端的超聲波傳感器的結構示意圖；
[0019] 圖5是本發明實施例三提供的測距校準方法的流程圖；
[0020] 圖6是本發明實施例四提供的測距校準方法的流程圖；
[0021] 圖7是本發明實施例四提供的預設標準函數P和測試函數Q的示意圖；
[0022] 圖8是本發明實施例五提供的測距校準裝置的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0023] 為了使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面結合附圖對本發明具體實 施例作進一步的詳細描述。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發明， 而非對本發明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發明相關 的部分而非全部內容。在更加詳細地討論示例性實施例之前應當提到的是，一些示例性實 施例被描述成作為流程圖描繪的處理或方法。雖然流程圖將各項操作（或步驟）描述成順 序的處理，但是其中的許多操作可以被并行地、并發地或者同時實施。此外，各項操作的順 序可以被重新安排。當其操作完成時所述處理可以被終止，但是還可以具有未包括在附圖 中的附加步驟。所述處理可以對應于方法、函數、規程、子例程、子程序等等。
[0024] 實施例一
[0025] 圖1給出了本發明實施例一提供的測距校準冶具的結構示意圖。如圖1所示，本 發明實施例一提供的測距校準冶具包括安置平臺1和位于所述安置平臺上方的校準基板 2,所述安置平臺1與所述校準基板2平行；所述安置平臺1用于放置移動終端，以支持所述 移動終端的超聲波傳感器向所述校準基板2發射超聲波；所述校準基板2用于將接收到的 所述超聲波反射回所述移動終端的超聲波傳感器，以支持所述移動終端生成所述安置平臺 1與所述校準基板2之間的測試距離，并根據所述測試距離和預設標準距離L生成測距校準 參數。
[0026] 所述預設標準距離L為在形成測距校準冶具的時候，預先設定的安置平臺1與校 準基板2之間的標準距離，其中所述預設標準距離L可以為小于預設值的任何距離，所述預 設值為移動終端的超聲波傳感器的測距量程，測距量程的取值范圍為150-200厘米。
[0027] 其中，所述校準基板1可以為平面校準基板（如圖1所示）或由至少兩個平行的 平面校準基板組成的階梯校準基板（如圖2所示）。圖2給出了本發明實施例一提供的測 距校準冶具的另一結構示意圖，如圖2所示，與圖1所示的平面校準基板不同的是，所述校 準基板為階梯校準基板，其中階梯的個數可以為2個，也可以為3個、4個等，本實施例對此 不做限制。在圖2所示的階梯校準基板2中有兩個平面校準基板時，對應兩個預設標準距 離L1和L2。
[0028] 另外，所述測距校準冶具還包括位于所述安置平臺1與所述校準基板2之間的至 少一個支撐板3,所述支撐板3的一端與安置平臺1連接，另一端與校準基板2連接，用于支 撐和連接安置平臺1與校準基板2。所述支撐板可以與所述安置平臺和校準基板一體成型 而成，也可以為非一體成型的可以改變高度的支撐板。
[0029] 優選的是，所述安置平臺1上開設有凹槽4,所述凹槽4位于校準基板2的下方，所 述凹槽4的深度與凹槽4內待放置的移動終端的厚度相同。
[0030] 所述凹槽4用于放置移動終端，所述凹槽4的橫向長度可以大于移動終端的寬