件(比如，透鏡)和/或定位在其第一端的視場光闌限定。圖6a-6d展示了該方面。在圖6a中，光導元件607接收來自由所述光導元件607的固有數值孔徑確定的視場的光604。在圖6b中，光導管601的視場受光學兀件616限制，而在圖6c中，所述視場通過光學元件617減小。另一方面，在圖6d中，通過定位在第一端602前方的孔619(雖然也可以使用擋板)減小與光學元件618相關聯的視場。用于使光導管601附著機械框架的頭部可以用作擋板。在各光導管601/光導元件607的第一端602前方插入光學兀件616-618可以用于提供更多的米樣控制。
[0053]和各光導管701的第一端702的定位和方位一樣，第二端703的定位和方位也是重要的考慮因素。如之前所論及，檢測器單元705定位在光導管701的第二端703。但是，一些光檢測器722要求來自各光導管701的光704以相對于該表面720的平面成90°的角度在其光敏表面720上入射。此外，光導管701最好定位成使可用的檢測器區得到最佳使用。因此，在圖7所示的實施例中，各光導管701的第二端703形成密集封裝且軸向平行的陣列，其中每條光導管701的端面與光敏表面720基本上平行。此外，在本實施例中，各光導管701的端面是與光敏表面720齊平，以便于檢測光輸出。盡管如此，分散器和/或附加的光學元件可以作為檢測器單元705的部件定位在每條光導管701的第二端703和光檢測器722之間，如參照圖1所述。
[0054]附圖中所述的各種實施例的附圖標記與所述的其它實施例的類似特征對應。例如，特征標記I對應數值101，201，301等等。這些編號的特征可在一些附圖中出現，但并非絕對指向這些具體實施例中的描述，附圖中的這些特征及其相關聯的附圖標記用于幫助理解實施例。
[0055]在此申請人獨立地公開每個單獨的特征及其兩個或更多個這些特征的任何組合，考慮到本領域技術人員的公知常識，無論這些特征或特征的組合是否解決任何在此公布的問題，在一定程度上這些特征或組合能夠基于作為整體的本說明書進行且不限制權利要求的范圍。申請人指出公開的方面/實施例可以由任何這些單獨的特征及特征的組合組成。鑒于前面的描述，在本發明的范圍內可以進行各種修改，這對本領域技術人員來說是顯而易見的。
【主權項】
1.一種偏振測量裝置，其包括多條柔性光導管和各偏振調制器，每條所述光導管具有第一和第二端，所述各偏振調制器與每條光導管相關聯，其中每條光導管被配置成經由所述第一端接收來自空間中的不同的預定區域的入射光，并且使所述光經由所述第二端傳輸至檢測器，并且其中所述偏振調制器被配置成調制光的偏振，以使得所述入射光的部分或完全偏振狀態能夠由針對每條光導管的檢測器單元來確定。2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，與每條光導管相關聯的所述偏振調制器包括光譜偏振調制器、時間偏振調制器和空間偏振調制器中的一個或多個。3.根據權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，每個偏振調制器定位在各光導管的第一端。4.根據前面任意一項的權利要求所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括與每條光導管相關聯的各偏振器，其被配置成在調制后對光進行過濾，以產生具有代表偏振狀態的強度的光輸出。5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，每個偏振器定位在所述各光導管的第一端。6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，每個偏振器定位在所述各光導管的第二端，并且其中各光導管被配置成至少部分地維持光的偏振狀態。7.根據權利要求4至6中任意一項所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括與每條光導管相關聯的各檢測器單元，所述檢測器單元包括光探測器，所述光探測器被配置成記錄來自各偏振器的光輸出。8.根據權利要求4至6中任意一項所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括一個或多個檢測器單元，每個檢測器單元與多條光導管相關聯，并且包括光探測器，所述光探測器被配置成記錄來自各偏振器的光輸出。9.根據權利要求7或8所述的裝置，其特征在于，每個檢測器單元包括各分散器，所述分散器被配置成分散來自各偏振器的光輸出，以產生由光檢測器記錄的強度譜。10.根據前面任意一項的權利要求所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括在每條光導管的第一端處的視場光闌和/或一個或多個光學兀件，所述視場光闌和/或光學兀件配置為界定所述光導管的視場。11.根據前面任意一項的權利要求所述的裝置，其特征在于，每條光導管包括一個或多個光導兀件。12.根據權利要求11所述的裝置，其特征在于，每個光導元件包括光纖或液體填充的光管。13.根據前面任意一項權利要求所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括機械框架，所述機械框架被配置為限定每條光導管的位置和軸向方位。14.根據權利要求13所述的裝置，其特征在于，所述機械框架被配置成限定每條光導管的位置和軸向方位，使得由光導管接收的入射光所來自的空間中的不同的預定區域在到所述機械框架預定距離處形成所述裝置的總視場的連續部段。15.根據權利要求13所述的裝置，其特征在于，所述機械框架被配置成限定每條光導管的位置和軸向方位，使得由光導管接收的入射光所來自的空間中的不同的預定區域在到所述機械框架預定距離處形成所述裝置的總視場的不連續部段。16.根據權利要求13至15中任意一項所述的裝置，其特征在于，所述機械框架被配置成限定每條光導管的位置和軸向方位，使得每條光導管的第一端形成一維、二維或三維陣列。17.根據權利要求13至16中任意一項所述的裝置，其特征在于，所述機械框架被配置成限定每條光導管的位置和軸向方位，使得各光導管的第一端形成軸向平行、軸向發散或軸向會聚的陣列。18.根據權利要求13至17中任意一項所述的裝置，其特征在于，所述機械框架具有平面的、凸的、凹的、球形、半球形或橢圓形形狀。19.根據權利要求13至18中任意一項所述的裝置，其特征在于，每條光導管包括用于使該光導管附著至所述機械框架上的頭部。20.根據權利要求19所述的裝置，其特征在于，所述頭部被配置成限定所述光導管的轉動方位。21.根據權利要求19或20所述的裝置，其特征在于，所述頭部包括一個或多個偏振調制器、偏振器和一個或多個光學元件，所述偏振調制器被配置成以預定義方式調制光的偏振狀態，所述偏振器被配置成在調制之后對光進行過濾，以產生具有代表偏振狀態的強度的光輸出，所述一個或多個光學元件被配置成將所述光引入所述光導管。22.根據前面任意一項的權利要求所述的裝置，其特征在于，各光導管的第二端被配置成形成軸向平行的陣列。23.一種裝置，其如大致在此所述且通過結合附圖進行展示的那樣。24.—種方法,其包括: 經由多條各柔性光導管的第一端，接收來自空間中的多個不同的預定區域的的入射光; 利用與每條光導管相關聯的各偏振調制器，調制光的偏振；以及 經由各光導管的第二端將所述光遞送至一個或多個檢測器單元，以使得所述入射光的部分或全部偏振狀態能夠由針對每條光導管的所述一個或多個檢測器單元來確定。25.一種方法，其包括: 提供具有第一和第二端的多條柔性光導管，并且各偏振調制器與每條光導管相關聯； 使每條光導管經由第一端接收來自空間中的不同預定區域的入射光，并經由所述第二端將所述光遞送至檢測器單元；以及 使每個偏振調制器調制光的偏振，以使得入射光的部分或全部偏振狀態能夠由針對每條光導管的檢測器單元來確定。
【專利摘要】一種偏振測量裝置，其包括多條柔性光導管和各偏振調制器，每條所述光導管具有第一和第二端，所述偏振調制器與每條光導管相關聯，其中每條光導管被配置成經由所述第一端接收來自空間中的不同預定區域的入射光，并且使所述光經由該第二端傳輸至檢測器，其中所述偏振調制器被配置成調制光的偏振，以使得入射光的部分或完全偏振狀態能夠由針對每條光導管的檢測器單元來確定。
【IPC分類】G01J3/14, G01J4/00, G01J3/02, G01J1/04
【公開號】CN105209868
【申請號】CN201480016422
【發明人】克里斯托夫-烏利齊·凱勒, 法蘭斯·斯尼克
【申請人】萊頓大學
【公開日】2015年12月30日
【申請日】2014年1月16日
【公告號】EP2946181A1, US20150355022, WO2014111487A1