集成電路、集成電路測試裝置以及方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種集成電路測試裝置以及方法，涉及一種利用不同引腳同時施加測試條件并且測量測試項目的集成電路測試裝置以及方法。
【背景技術】
[0002]在最終測試(FinalTest, FT)集成電路(Integrated Circuit，IC)的時候，往往都會將封裝后的集成電路放置在集成電路插座(IC socket)中，以測試封裝后的集成電路是否功能正常。針對功率集成電路進行最終測試時，通常需要抽取負載電流后，再測量負載后的輸出電壓是否符合規格要求。因此，我們需要一個有效率的集成電路測試裝置以及方法。
【發明內容】
[0003]有鑒于此，本發明提出一種集成電路，包括:一第一電源單元、一第二電源單元以及一選擇開關。上述第一電源單元輸出一第一輸出電壓且耦接至一第一負載引腳，其中上述第一負載引腳耦接至一第一負載。上述第二電源單元輸出一第二輸出電壓且耦接至一第二負載引腳，其中上述第二負載引腳耦接至一第二負載。上述選擇開關，根據一選擇信號，選擇上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓中的一個輸出至一電壓引腳。
[0004]根據本發明的一實施例，上述選擇開關為一多工器。
[0005]根據本發明的一實施例，上述第一負載以及上述第二負載為一電阻或一電子式負載。
[0006]根據本發明的一實施例，上述選擇開關還根據一測試邏輯，序列地將上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓輸出至上述電壓引腳。
[0007]本發明還提出一種集成電路測試裝置，包括:一集成電路、一集成電路插座、一電壓計以及一處理器。上述集成電路包括:一第一電源單元、一第二電源單元以及一選擇開關。上述第一電源單元輸出一第一輸出電壓且耦接至一第一負載引腳。上述第二電源單元輸出一第二輸出電壓且耦接至一第二負載引腳。上述選擇開關根據一選擇信號選擇上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓中的一個輸出至一電壓引腳。上述集成電路插座包括:一集成電路插槽、一第一負載探針、一第二負載探針以及一電壓探針。上述集成電路插槽可分離地容置上述集成電路。上述第一負載探針耦接至上述第一負載引腳且耦接至一第一負載。上述第二負載探針耦接至上述第二負載引腳且耦接至一第二負載。上述電壓探針耦接至上述電壓引腳。上述電壓計耦接至上述電壓探針，根據一測量信號測量上述電壓探針的電壓值而發出一電壓信號。上述處理器產生上述選擇信號以及上述測量信號，并接收上述電壓信號。
[0008]根據本發明的一實施例，上述選擇開關為一多工器。
[0009]根據本發明的一實施例，上述第一負載以及上述第二負載為一電阻或一電子式負載。
[0010]根據本發明的一實施例，上述處理器還根據一測試邏輯輸出上述選擇信號以及上述測量信號，以序列地將上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓輸出至上述電壓引腳，且序列地測量上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓，并將上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓存儲于一暫存器。
[0011]本發明還提出一種集成電路測試方法，適用于上述的集成電路測試裝置，包括:利用上述第一負載以及上述第二負載，分別對上述第一電源單元以及上述第二電源單元抽取一第一電流以及一第二電流；根據上述選擇信號選擇上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓中的一個輸出至上述電壓引腳；以及根據上述測量信號測量上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓。
[0012]根據本發明的一實施例，集成電路測試方法還包括:利用上述選擇信號序列輸出上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓；利用上述測量信號，序列測量上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓；以及將上述第一輸出電壓以及上述第二輸出電壓的電壓值存儲于一暫存器。
【附圖說明】
[0013]圖1是顯示根據本發明的一實施例所述的集成電路測試裝置的示意圖；
[0014]圖2是顯示根據本發明的一實施例所述的集成電路的方塊圖；
[0015]圖3是顯示根據本發明的一實施例所述的集成電路測試裝置的示意圖；以及
[0016]圖4是顯示根據本發明的一實施例所述的集成電路測試方法的流程圖。
[0017]【符號說明】
[0018]100、300集成電路測試裝置
[0019]110、200、310集成電路
[0020]111引腳
[0021]120集成電路插座
[0022]121探針
[0023]130負載
[0024]140電壓計
[0025]201第一電源單元
[0026]202第二電源單元
[0027]203選擇開關
[0028]204第一負載引腳
[0029]205第二負載引腳
[0030]206電壓引腳
[0031]210、330第一負載
[0032]220、340第二負載
[0033]320集成電路插座
[0034]321第一負載探針
[0035]322第二負載探針
[0036]323電壓探針
[0037]324集成電路插槽
[0038]350電壓計
[0039]360處理器
[0040]SC選擇信號
[0041]SM測量信號
[0042]SV電壓信號
[0043]I負載電流
[0044]Il第一負載電流
[0045]12第二負載電流
[0046]Vl第一輸出電壓
[0047]V2第二輸出電壓
[0048]SI?S3步驟流程
【具體實施方式】
[0049]為使本發明的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特例舉一優選實施例，并配合附圖，來作詳細說明如下:
[0050]以下將介紹根據本發明所述的優選實施例。必須要說明的是，本發明提供了許多可應用的發明概念，在此所公開的特定實施例，僅是用于說明達成與運用本發明的特定方式，而不可用以局限本發明的范圍。
[0051]圖1是顯示根據本發明的一實施例所述的集成電路測試裝置的示意圖。如圖1所示，集成電路測試裝置100包括集成電路110、集成電路插座120、負載130以及電壓計140。集成電路110可分離地容置于集成電路插座120中，并且集成電路110的引腳111耦接至集成電路插座120的探針121。當負載130抽取負載電流I時，電壓計140通過探針121以測量集成電路110所輸出的電壓。
[0052]然而，由于負載電流I流經探針121會造成壓降，使得電壓計140所測量到的電壓將比實際集成電路110所輸出的輸出電壓低了上述壓降。若負載電流I更大時，所產生的電壓壓降也越大，造成的測量誤差也越顯著。
[0053]圖2是顯示根據本發明的一實施例所述的集成電路的方塊圖。如圖2所示，集成電路200包括第一電源單元201、第二電源單元202以及選擇開關203，并接受一供應電壓(圖2并未顯示)的供電。第一電源單元201輸出第一輸出電壓Vl且耦接至第一負載引腳204，第二電源單元202輸出第二輸出電壓V2且耦接至第二負載引腳205。根據本發明的另一實施例，集成電路200可具有多個電源單元，在此僅以第一電源單元201以及第二電源單元202作為范例。
[0054]選擇開關203根據選擇信號SC選擇第一輸出電壓Vl以及第二輸出電壓V2中的一個，輸出至電壓引腳206。根據本發明的一實施例，集成電路200為封裝后的集成電路，第一負載引腳204、第二負載引腳205以及電壓引腳206為集成電路200的輸出引腳。
[0055]第一負載210耦接至第一負載引腳204，用以對第一電源單元201抽取第一負載電流II。第二負載220耦接至第二負載引腳205，用以對第二電源單元202抽取第二負載電流12。
[0056]根據本發明的一實施例，第一負載210以及第二負載220分別為一電阻，具有一電阻值，所抽取的第一負載電流Il以及第二負載電流12，分別根據第一輸出電壓Vl以及第二輸出電壓V2除以電阻值所決定。
[0057]根據本發明的另一實施例，第一負載210以及第二負載220分別為一電子式負載(electronic load)，其中電子式負載可以手動設定抽取的第一負載電流Il以及第二負載電流12的大小。根據本發明的另一實施例，第一負載210以及第二負載220可以為電阻、電子式負載以及電阻與電子式負載的任意組合。
[0058]根據本發明的一實施例，選擇開關203為一多工器。根據本發明的另一實施例，選擇開關203可為其他任意型式的開關。根據本發明的一實施例，選擇信號SC利用內部整合電路(Inter-1ntegrated Circuit, I2C)所產生，以控制選擇開關203選擇第一輸出電壓Vl以及第二輸出電壓V2中的一個。根據本發明的另一實施例，可利用各種目前已知以及將來發明的各種信號產生方式，產生選擇信號SC。
[0059]根據本發明的一實施例，選擇開關203還根據一測試邏輯，序列地輸出上第一