的校準或測量糾偏。
[0044]在另一優選實施例中，該設備具有熒光測量儀器，本質上，這個熒光測量儀器以至熒光測量通道能夠作為一個整體被分別設置在光學裝置或者外殼的任何所需區域。然而，優選地，這些傳感裝置被指向待監測表面。優選地，至少一個這種類型的熒光測量儀器被設置在外殼的側壁上，優選地分別位于測量區域上方或者位于待檢測表面的上方。優選地，熒光測量儀器具有優選通過濾波器對不同波長范圍做出反應的多個通道。這樣，能夠用不同波長范圍的照明來輻照樣品，并且這樣能夠使用熒光探測器測量樣品的熒光的存在。還可以使用譜儀組件例如基于網格和棱鏡來使用熒光測量儀器。因此，優選地，熒光測量儀器適合用來記錄待探測光線的波長范圍的多樣性，優選地相互獨立，以及優選地用于評價它們。
[0045]在此情況下，熒光測量儀器同樣能夠被合并至外殼的壁上。在此情況下，熒光輻射能夠通過通道從表面到達熒光測量儀器，該通道同樣能夠被設置在外殼壁內。然而，優選地，熒光測量儀器按照以下方式被設置:它專門探測源自于待檢測表面的輻射。
[0046]如上所述，外殼分別具有凹槽或者測量空間，光源向凹槽或者測量空間輻射光線。在此情況下，優選地，限定這個凹槽的壁能夠進行輻射吸收。這樣，可能的是，探測器裝置接收基本僅源于表面的光線。
[0047]以擴散方式反射或者以擴散方式照明的元件，能夠被用于產生擴散光線因而以擴散方式輻照樣品，被分別附著至光學部件的壁上或者光學測量空間。因此，有必要在結構上確保沒有光線或者非常少的光線從這些擴散區域直接穿過進入探測器裝置。
[0048]本發明進一步分別與一種檢測表面性質的方法或者表面性質測定方法有關。在此情況下，借助光源將光線分別穿過外殼上的開口或者測量空間輻射至待檢測表面，利用第一探測器裝置關于從光源輻射至表面的光線成第一預設角度地探測由于這個輻射而被表面反射和/或散射的光線，利用第二探測器裝置和關于從光源輻射至表面的光束成第二預設角度地探測由于這個輻射而被表面反射和/或散射的光線，以及利用第三探測器裝置關于從光源射出至表面的光束成第三預設角度地探測由于這個輻射而被表面反射和/或散射的光線。
[0049]根據本發明，當執行本方法時，具有相互不同的光學性質的至少兩個濾波元件最后被時間交錯地引入至位于光源和表面之間的光束路徑，以便在每種情況下這兩個濾波元件中只有一個濾波元件出現在這個光束路徑中，至少兩個濾波元件被設置在關于光源可移動的共用載體上。
[0050]因此就該方法而言還提出了，濾波元件可以被定位在位于朝向輻射的側面上的光束路徑內。如上所述，優選地，濾波元件僅允許特定的波長范圍通過。優選地，在測量過程中，多個濾波元件被定位在位于光源和表面之間的光束路徑內。
[0051]優選地，通過至少一個探測器裝置并且優選地通過全部的探測器裝置，利用(光束路徑內的)這些濾波元件中的每一個分別進行圖像記錄或者強度測量。這樣，為了通過具有不同波長的光線的輻射來測定表面，由這個表面所引起的反射輻射或者散射輻射的記錄被檢測，特別是關于顏色形狀及其熒光性的出現。
[0052]這樣，優選地，表面性質為待檢測表面的顏色性質。優選地，表面為一層涂料，特別是一層車輛的涂料。優選地，表面進一步為具有效應顏料的涂料。由于這個程序，亮度轉變或者顏色轉變或者顏色絕對值能夠例如通過L，a, b刻度尺被測定。效應顏料以整個表面的顏色、尺寸、輻射強度或類似物為特征。
[0053]在另一優選方法中，至少在一段時間內探測熒光輻射，這樣，特別是產生自待檢測表面的熒光輻射。優選地，這個熒光輻射被另外的輻射探測裝置所記錄。在另一優選方法中，這個熒光輻射能夠至少在一段時間內作為另一輻射被同時記錄。
[0054]在另一優選方法中，還利用另外的光源輻照待檢測表面。在此情況下，優選地，這個第二光源獨立于第一光源，特別地，還能夠獨立于第一光源地被控制。優選地，濾波元件被設置在第二光源和表面之間。
【附圖說明】
[0055]通過附圖其它的優點和實施例是顯而易見的，附圖中:
[0056]圖1為根據本發明的設備的示意圖；
[0057]圖2為濾波器輪的平面圖；
[0058]圖3為圖2所示的濾波器輪的斜視圖；以及
[0059]圖4為圖3所示的濾波器輪的放大示意圖。
[0060]附圖標記說明
[0061]al 角度 al
[0062]a2 角度 a2
[0063]a3 角度 a3
[0064]SI輻射光線、光束路徑
[0065]K圓周線
[0066]I 設備
[0067]2 光源
[0068]4探測器裝置
[0069]4a 鏡頭
[0070]6探測器裝置
[0071]6a 鏡頭
[0072]8探測器裝置
[0073]8a 鏡頭
[0074]10 表面
[0075]12外殼、光學部件
[0076]14a濾波元件
[0077]14b濾波元件
[0078]14c濾波元件
[0079]16圖像記錄裝置、探測器裝置
[0080]18驅動裝置
[0081]20濾波器輪、(可移動的)載體
[0082]24通道
[0083]26光學元件
[0084]30開口
[0085]32光源
[0086]34、36另外的光源42分束器
[0087]44a傳感器、傳感元件
[0088]44b傳感器、傳感元件
[0089]52凹槽
[0090]54連接板
[0091]56校準元件
[0092]57用于輻射源的相關測量的分束器
[0093]58另外的探測器裝置
【具體實施方式】
[0094]圖1為根據本發明的用于表面10的光學性質檢測的設備I的示意圖。該設備I具有光學部件12，提供有多種不同的測量儀器，并且將測量空間包圍。在這種情況下，附圖標記2表示光源，該光源2發光，并且通過測量空間的開口 30沿虛線SI射出至表面10上(線偏振光束落到表面10上)。多個探測器裝置記錄了表面10投射回來(也就是說，尤其是散射和/或反射)的該光線。
[0095]這樣，附圖標記4表示第一探測器裝置，該第一探測器裝置4記錄了到達角度al的輻射，由輻射方向SI測定，并且被表面10反射和/或散射。附圖標記6表示第二探測器裝置，該第二探測器裝置6記錄了被表面10散射至角度a2處的光線。附圖標記8表示第三探測器裝置，該第三探測器裝置8記錄了散射至角度a3處的輻射。這樣，表面10從不同的角度被觀察，因為不同角度的觀察是表面10的影像(optical impress1n)整體所特有的。
[0096]在不同情況下，各個探測器裝置4、6和8發出數值，這些數值是到達這些探測器裝置的輻射強度(intensity)的特征。通過在不同觀察角度的這些強度數值，表面10的影像能夠被測定。這樣，探測器裝置6僅僅被概括性地示意出，因為其沒有位于圖1所示的平面上，而是關于該平面橫向偏移。附圖標記58表示另一(第四)輻射探測器裝置，該探測器裝置58相對于輻射裝置設置在另一角度處。
[0097]濾波器輪20，具有多個濾波元件，被提供在光源2和表面10之間，即位于光束路徑SI的區域內。在此情況下，附圖標記D表示濾波器輪圍繞其旋轉的旋轉軸。該旋轉軸D在此情況下與光束方向SI大體平行，大體平行被理解為:旋轉軸的方向與光束方向SI不同，相差不超過15°，優選相差不超過5°，特別優選的方式相差不超過3°。附圖標記46表示光學部件12的內部，這樣，該內部46能夠被制成半球狀以至半橢圓形。在內部46內發生的輻射能夠到達各個探測器裝置。
[0098]由于濾波器輪20旋轉設置的變化，不同的濾波器能夠被移動，或者分別被替換至位于光源2和表面10之間的光路內。附圖標記24表示臨近濾波元件的通道，光線穿過通道24。
[0099]附圖標記26表示光學元件，例如鏡頭，光學元件26影響光束。
[0100]附圖標記18表示驅動裝置，例如發動機，能夠改變濾波器輪20的