測試裝置、測試系統以及測試方法
【技術領域】
[0001]本發明是有關于一種測試裝置、測試系統以及測試方法，且特別是有關于一種系統級的電子產品的測試裝置、測試系統以及測試方法。
【背景技術】
[0002]在現有的技術領域中，通過稱之為測試圖案(test pattern)的測試數據皆是運用在進行單芯片、或者多芯片放入單一封裝體(Package)之中的集成電路自動化驗證流程中，這種測試方式并無被導入針對系統層級的電子裝置(例如電腦、服務器、平板電腦、手機、游戲機、照相機等)來進行測試。
[0003]并且，在關于系統層級的電子裝置的測試方式中，現有技術領域皆是通過量測電子裝置中個別功能性電路基本的電器特性(例如開路、短路、電壓值及電流值)，并通過量測結果來判斷出個別功能性電路的良好或損壞，而并無法針對多個個別功能性電路間所產生的系統性功能進行測試。
[0004]此外，在電子產品的開發流程上，現有的測試技術皆是通過單一功能設定，來針對個別的功能性電路進行各別信號的量測，以做為判定功能性電路所產生的信號是否符合相關規格，并無提供仿真信號進行功能性電路相容性能力的判別，或者針對異常信號進行處理的能力。
[0005]在現今的技術中，系統層級的電子裝置開發過程中的相容性測試，皆是通過大批數量級的成品，包括不同廠商所提供的真實模塊軟件、硬件規格的排列組合，加上嚴苛環境條件下(例如高低溫，不同濕度)，由發生問題的機率或者比例，來判定產品的可量產性。并無法保證所有排列組合皆全部搭配驗證到，不僅耗時耗人力，且需要很多成品數量，不環保且沒效率，更重要的是開發測試環境與未來量產情況未必相同，在成本數量有限的情況下，很難確保品質的一致性。
【發明內容】
[0006]本發明提供一種測試裝置、測試系統以及測試方法，用以測試至少一系統層級的電子裝置，并獲知受測電子裝置的產品群組。
[0007]本發明的測試裝置，用以測試至少一電子裝置。測試裝置包括測試數據傳收器以及處理器。測試數據傳收器通過多個連接接口分別耦接至電子裝置的多個功能性電路，分別傳送對應功能性電路的多個測試數據以針對功能性電路進行測試以產生多個對應信息。處理器耦接測試數據傳收器，傳送該些測試數據至測試數據傳收器，并由測試數據傳收器接收對應信息，依據對應信息來決定至少一電子裝置及各功能性電路的至少其中之一的至少一產品群組。
[0008]在本發明的一實施例中，上述的測試裝置還包括存儲裝置。存儲裝置耦接處理器，存儲裝置用以存儲對應功能性電路的測試數據、對應信息以及產品群組的至少其中之一。
[0009]在本發明的一實施例中，上述的測試裝置通過外部裝置接收測試數據，并將測試數據存儲至存儲裝置中。
[0010]在本發明的一實施例中，上述的測試數據傳收器分別傳送測試數據至對應的功能性電路，并接收功能性電路依據分別對應的測試數據所分別響應產生的多個測試響應數據。測試數據傳收器將測試響應數據傳送給處理器并判別分別對應功能性電路的對應信息。
[0011]在本發明的一實施例中，上述的處理器依據對應信息來決定分別對應的功能性電路的等級，還依據功能性電路的等級來決定電子裝置的產品群組。
[0012]在本發明的一實施例中，上述的測試裝置內嵌于該電子裝置內。
[0013]在本發明的一實施例中，上述的處理器通過命令使測試數據傳收器仿真(Emulating)為功能性電路其中之一的應用電子裝置，并通過仿真的測試數據傳收器對功能性電路其中之一進行測試動作。
[0014]在本發明的一實施例中，上述的功能性電路包括網絡傳輸電路、顯示接口電路、音效接口電路、電源控制電路、存儲裝置電路、存儲器裝置電路、無線網絡電路、圖像獲取電路、以及傳輸接口電路。
[0015]本發明的測試系統包括多個電子裝置以及測試裝置。各電子裝置具有多個功能性電路，測試裝置包括測試數據傳收器以及處理器。測試數據傳收器通過多個連接接口分別耦接至電子裝置的多個功能性電路，分別傳送對應功能性電路的多個測試數據以針對功能性電路進行測試以產生多個對應信息。處理器耦接測試數據傳收器，傳送該些測試數據至測試數據傳收器，并由測試數據傳收器接收對應信息，依據對應信息來決定至少一電子裝置及各功能性電路的至少其中之一的至少一產品群組。
[0016]本發明的測試方法，用以測試至少一電子裝置，包括:分別傳送對應功能性電路的多個測試數據以針對功能性電路進行測試以產生多個對應信息；接收對應信息，并依據對應信息來決定上述至少一電子裝置及各功能性電路的至少其中之一的至少一產品群組。
[0017]基于上述，本發明設置單一測試裝置以針對系統級(system level)的電子裝置進行集成式的測試。通過本發明的測試裝置，系統級的電子裝置可以快速的完成測試，以加速生產流程。并且，通過本發明的測試裝置可以得知電子裝置中各功能性電路的狀態，完成對電子產品進行檢測的動作。在另一方面，通過本發明的測式裝置還可以判定電子裝置的產品群組，可選擇合適的周邊電路來應用至電子裝置上，使電子裝置發揮其效能。
[0018]為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發明一實施例的測試裝置的示意圖；
[0020]圖2為本發明另一實施例的測試裝置的示意圖；
[0021]圖3為本發明再一實施例的測試裝置的示意圖；
[0022]圖4為本發明更一實施例的測試裝置的示意圖；
[0023]圖5A以及圖5B為本發明實施例的測試數據的獲得方式的示意圖；
[0024]圖6為本發明實施例的測試系統的示意圖；
[0025]圖7A及圖7B為本發明實施例的測試系統的測試方式的示意圖。
【具體實施方式】
[0026]請參照圖1，圖1為本發明一實施例的測試裝置的示意圖。在圖1中，測試裝置110耦接至電子裝置120。電子裝置120具有多個功能性電路121?12N，其中，電子裝置120為系統層級(system level)的電子裝置，而各功能性電路121?12N可以芯片、由芯片及一個或多個無源元件所組合而成的電路或者是由一個或多個無源元件所組合而成的電路。
[0027]功能性電路121?12N可以被設置在電子裝置120中的一個或多個電路板上，本實施例的電路板并沒有固定的型態限制，具體來說明，電子裝置120中所包括的電路板可以是硬性、軟性或是軟硬組合的印刷電路板。
[0028]測試裝置110包括測試數據傳收器111以及處理器112。測試數據傳收器111以及處理器112相互耦接，且測試數據傳收器111耦接至電子裝置120中的多個功能性電路121?12N上的多個連接接口 Il?頂。測試數據傳收器111可通過多個連接接口 Il?頂分別傳送對應功能性電路121?12N的多個測試數據以針對功能性電路121?12N進行測試，而各功能性電路121?12N在接收到對應的測試數據(其中包括測試用的數據，也可以包括測試用的命令)后，并依據所接收到的測試數據來產生多個對應信息，并將對應信息回傳至測試數據傳收器111。其中，對應信息可以是對應測試數據的測試結果。
[0029]在此，測試數據可以是測試圖樣(test pattern)，此種測試圖樣常用來針對集成電路進行電路探針(circuit probe,簡稱CP)測試或最終測試(Final test,簡稱FT)。
[0030]在本實施例中，測試裝置110設置在受測的電子裝置120的外部，而連接接口Il?頂則可分別一對一、多對一或是一對多的與功能性電路121?12N相對應。連接接口Il?頂的型態可依據所對應的功能性電路121?12N來設置，例如，當功能性電路121為網絡傳輸電路時，相對應的連接接口 Il可以是RJ45接口。
[0031]處理器112則由測試數據傳收器111來接收功能性電路121?12N所回傳對應信息，處理器112并依據所接收的對應信息來進行分析，并藉以決定受測的電子裝置120的產品群組。值得注意的，處理器112不只是依據對應信息來判斷對應的功能性電路是損壞或是良好來進行判斷，本發明實施例的處理器112會依據分別具有多個等級的多個測試標準來與對應信息進行比對，并依據比對的結果來判定各功能性電路的產品群組。并且，處理器112會再依據所有的功能性電路121?12N的產品群組的分布狀態，來決定受測的電子裝置120的產品群組。
[0032]舉例來說明，以功能性電路121為電源供應器為范例，當處理器112接收到功能性電路121回傳的對應信息時(例如電源供應器所產生的供應電源)，處理器112可以判斷供應電源的電壓上升的速度、供應電源的電壓值的準確度以及穩定度來判斷功能性電路121的產品群