半導體激光器測試系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子技術，尤其涉及一種半導體激光器測試系統。
【背景技術】
[0002]半導體激光器具有體積小、結構簡單、效率高、壽命長且易于調制的特點，被廣泛應用于光纖通信、激光制導、激光武器、激光雷達和激光測距等軍事領域，以及激光醫療、美容、機械加工等民用領域。
[0003]半導體激光器，尤其是高功率的半導體激光器，其工作狀態的穩定性，直接影響了應用于上述領域時的安全性以及使用效果，因此，在出廠前都必須對半導體激光器進行穩定性測試，以篩選出合格產品。但現有技術中缺乏一種有效對半導體激光器工作狀態的穩定性進行測試的方式。
【發明內容】
[0004]本發明提供一種半導體激光器測試系統，用于對半導體激光器工作狀態的穩定性進行測試。
[0005]本發明的第一個方面提供一種半導體激光器測試系統，包括:至少一臺測試儀、控制主機、測試儀電源線、測試儀供電電源、半導體激光器電源控制線和數據總線；
[0006]所述至少一臺測試儀中的每臺測試儀分別與每個待測試的半導體激光器一一對應，用于進行對應半導體激光器預設工作狀態參數的測試，其中，所述預設工作狀態參數包括輸出光功率、工作電壓、工作電流、工作溫度；
[0007]所述每臺測試儀通過所述數據總線與所述控制主機連接；所述每臺測試儀通過所述測試儀電源線與所述測試儀供電電源連接，由所述測試儀供電電源為所述每臺測試儀進行供電；所述每個半導體激光器與對應的所述半導體激光器電源控制線連接，所述每臺測試儀通過所述半導體激光器電源控制線控制對應半導體激光器電源的通斷；
[0008]每臺測試儀包括:
[0009]處理器、存儲器、制冷設備，以及用于測量對應半導體激光器的所述輸出功率的功率傳感器、用于測量所述對應半導體激光器的所述工作電壓的電壓傳感器、用于測量所述對應半導體激光器的所述工作電流的電流傳感器和用于測量所述對應半導體激光器的所述工作溫度的溫度傳感器；
[0010]所述存儲器、所述功率傳感器、所述電壓傳感器、所述電流傳感器和所述溫度傳感器分別與所述處理器連接；所述制冷設備與所述功率傳感器連接；
[0011]所述處理器，用于接收所述控制主機通過所述數據總線發送的測試指令，所述測試指令中包括所述預設工作狀態參數；并在接收到所述測試指令后，斷開對應測試儀與所述數據總線間的電連接，使所述對應測試儀處于離線工作狀態；
[0012]所述處理器，還用于控制所述功率傳感器、所述電壓傳感器、所述電流傳感器和所述溫度傳感器分別進行所述預設工作狀態參數的參數數據采集，并對采集到的參數數據進行處理后，將處理結果存儲在所述存儲器中。
[0013]如上所述的系統，所述制冷設備包括:半導體制冷設備、風冷設備或液體制冷設備中的任一個。
[0014]如上所述的系統，當采用液體制冷設備時，采用每臺測試儀獨立液體循環的方式，或者采用所述至少一臺測試儀集中液體循環的方式。
[0015]如上所述的系統，所述功率傳感器包括積分球衰減均化器、光探測器和峰值保持電路；
[0016]所述積分球衰減均化器上開有入光孔和采樣孔，所述積分球衰減均化器通過所述采樣孔與所述光探測器的輸入端連接，所述光探測器的輸出端與所述峰值保持電路連接；
[0017]通過所述入光孔接收對應半導體激光器發出的激光，并通過所述采樣孔將與所述激光功率對應的光信號傳輸給所述光探測器；所述光探測器為量熱型光探測器或光電探測器，對所述光信號進行光電轉換，得到對應的電信號；所述峰值保持電路根據所述電信號得到所述輸出光功率。
[0018]如上所述的系統，所述制冷設備貼附在所述積分球衰減勻化器上。
[0019]如上所述的系統，所述電壓傳感器的電壓測試接頭與對應半導體激光器的正負極連接；所述電流傳感器的電流測試接頭與對應半導體激光器的所述正負極連接；所述溫度傳感器的溫度測試接頭連接在對應半導體激光器的表面上；所述電壓測試接頭為貼片式或夾具式。
[0020]如上所述的系統，所述處理器中包括:濾波電路、放大電路和模數轉換電路；
[0021]所述濾波電路、所述放大電路和所述模數轉換電路依次連接，分別用于對所述參數數據進行濾波、放大、模數轉換處理。
[0022]如上所述的系統，所述處理器還用于接收所述控制主機發送的讀取指令；
[0023]所述處理器還用于根據所述讀取指令將所述存儲器中存儲的所述處理結果發送給所述控制主機；
[0024]所述控制主機還用于對接收到的所述處理結果進行分析處理，并存儲分析處理結果；其中，所述分析處理包括求最大值、最小值、均值或繪制所述預設工作狀態參數的變化曲線。
[0025]如上所述的系統，所述處理器中還包括:清零電路，用于清零所述存儲器中存儲的所述處理結果。
[0026]采用上述本發明技術方案的有益效果是:通過與各半導體激光器一一對應的測試儀來實現對各半導體激光器的各工作狀態參數的離線測試。具體地，各測試儀通過數據總線與控制主機連接，并在接收到控制主機下達的攜帶有待測試工作狀態參數的測試指令后，斷開與控制主機間的連接，實現脫機離線工作；各測試儀在控制自身上的各傳感器對各工作狀態參數數據進行采集之后，對參數數據進行處理并保存，并在用戶需要查看測試結果的時候，通過控制主機讀取各個測試儀中存儲的處理結果。不但能夠實現同時對多個半導體激光器的工作穩定性的高效、全面準確測試，而且避免了控制主機出現斷電或死機等意外情況時，對測試的不利影響，并且離線測試保證了長期測試過程中測試結果的安全可
A+-.與巨O
【附圖說明】
[0027]圖1為本發明半導體激光器測試系統的原理圖；
[0028]圖2為測試儀中的處理器的結構示意圖；
[0029]圖3為本發明實施例一提供的半導體激光器測試系統的結構示意圖；
[0030]圖4為本發明實施例二提供的半導體激光器測試系統的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0031]圖1為本發明半導體激光器測試系統的原理圖，如圖1所示，該測試系統包括:
[0032]至少一臺測試儀11、控制主機12、測試儀電源線13、測試儀供電電源14、半導體激光器電源控制線15和數據總線16 ;
[0033]其中，該數據總線16可為RS-485數據總線或內部集成電路(Inter — IntegratedCircuit, I2C)總線。
[0034]測試儀供電電源14可以是220V交流電，也可以是適配器，將220交流電轉化為9V或12V的低壓直流電。
[0035]每臺測試儀11分別與每個待測試的半導體激光器17 —一對應，用于進行對應半導體激光器17預設工作狀態參數的測試，其中，所述預設工作狀態參數包括輸出光功率、工作電壓、工作電流、工作溫度；
[0036]每臺測試儀11通過數據總線16與控制主機12連接；每臺測試儀11通過測試儀電源線13與測試儀供電電源14連接，由該測試儀供電電源14為每臺測試儀11進行供電；每個半導體激光器17與對應的半導體激光器電源控制線15連接，每臺測試儀11通過所述半導體激光器電源控制線15控制對應半導體激光器17電源的通斷。
[0037]其中，每臺測試儀11包括:
[0038]冷卻設備111、處理器112、存儲器113、功率傳感器114、電壓傳感器115、電流傳感器116、溫度傳感器117。
[0039]所述存儲器113、所述功率傳感器114、所述電壓傳感器115、所述電流