一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置及方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及低電阻測試技術領域，具體涉及一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置及方法。
【背景技術】
[0002]導電滑環是實現兩個相對旋轉機構間的信號、電流傳遞的精密輸電裝置。應用在需要無限制的、連續或斷續旋轉、同時又需要從固定位置到旋轉位置傳送功率或數據的場所。動態接觸電阻變化量是導電裝置在測試過程中的一個關鍵參數指標，它是指刷和環相對轉動時，接觸電阻的最大變化量，以最大值和最小值的差值表示，即所謂的極差值，該極差值要求越小越好。
[0003]導電滑環的通常測試方法是測試人員通過專用的低電阻測試儀器分別測試導電滑環接觸點的導線端，然后讀取測試儀器的數值進行手工記錄，由于測試人員的個體差異故該種方法極易產生測量誤差，而一般滑環產品都具有多路通道(風電導電滑環多達29路通道)，故測試效率極其低下，不能滿足大規模的生產要求。
【發明內容】
[0004]有鑒于此，本申請提供一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置及方法，其通過設置簡單的繼電器切換電路，利用外置的低電阻測試儀即可實現多路接觸電阻的快速測試，消除個體測試誤差。
[0005]為解決以上技術問題，本發明提供的第一方面的技術方案是一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置，外部設置有低電阻測試儀，包括:導電滑環、若干個繼電器、繼電器驅動電路、自動控制設備、若干導線；
[0006]其中，所述導電滑環的通道數為M，所述繼電器的個數為N = 2M ;
[0007]所述繼電器分為兩組:A組的編號為2M-1，B組的編號為2M ;
[0008]所述N個繼電器與所述導電滑環M路通道的每一路相連，構成2N個測試通道的切換，每相鄰4個繼電器完成兩個四線測量通道的切換；每個繼電器的I腳與所述導電滑環連接在一起，A組繼電器短接在一起構成“測試點1”，B組繼電器短接在一起構成“測試點2”；
[0009]所述繼電器驅動電路輸出端與所述繼電器連接，其輸入端與所述自動控制設備相連接；
[0010]所述低電阻測試儀的測試輸入端分別連接所述“測試點1”、“測試點2”，并通過RS232接口與自動控制設備相連接。
[0011]優選的，所述繼電器為電磁繼電器。
[0012]優選的，所述繼電器的接觸電阻小于ΙΟπιΩ。
[0013]本發明提供的第二方面的技術方案是一種自動測試導電滑環接觸電阻的方法，該方法基于上述一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置，整個測試過程自動控制設備采用兩次控制切換的工作方式，繼電器進行測試通道的切換選擇，以實現將所述“測試點1”、“測試點2”引出來進行測試；具體包括以下步驟:
[0014]步驟一、自動控制設備控制2個連通的繼電器進行測試通道的切換選擇，構成總測試回路，通過低電阻測試儀測試所構成的總測試回路的總電阻值；
[0015]步驟二、自動控制設備控制2個連通繼電器進行測試通道的切換選擇，構成支測試回路，通過低電阻測試儀測試所構成的支測試回路的電阻值；
[0016]步驟三、根據步驟一、步驟二所得的電阻值計算出所述導電滑環的接觸電阻值。
[0017]優選的，所述步驟一中，所述自動控制設備控制所述繼電器，使繼電器A組中2M-1號繼電器和B組中2(M+1)號繼電器連通形成I個總測試回路；使繼電器A組中2(M+1)-1號繼電器和B組中2M+1號個繼電器連通形成I個總測試回路。
[0018]優選的，所述步驟二中，所述自動控制設備控制所述繼電器，使繼電器A組中2M-1號繼電器與B組中2M號繼電器連通，從而形成2個支測試回路。
[0019]從上述技術方案可以看出:本發明一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置，包括導電滑環、若干個繼電器、繼電器驅動電路、自動控制設備、若干導線、低電阻測試儀。所述繼電器的個數N與所述導電滑環的通道路數N相同。所述N個繼電器與所述導電滑環N路通道的每一路相連，構成2N個測試通道的切換，其中每4個相鄰繼電器完成兩個四線測量通道的切換。所述繼電器驅動電路輸出端與所述繼電器連接，其輸入端與所述自動控制設備相連接。本發明通過設置簡單的繼電器切換電路，利用外置的低電阻測試儀即可實現多路接觸電阻的快速測試。其實現方法是自動控制設備采用兩次控制切換的工作方式，繼電器進行測試通道的切換選擇以構成回路，通過低電阻測試儀實現測試。
[0020]本申請與現有技術相比，其詳細說明如下:
[0021]本申請操作簡便，穩定可靠，可以滿足多通道導電滑環接觸電阻的精確測試，通道數不限。另外，本申請通過搭建簡單的繼電器切換電路，利用現成的低電阻測試儀，即可實現多路接觸電阻的快速測試，消除個體測試誤差，能夠滿足大批量導電滑環出廠檢驗的速度要求。
【附圖說明】
[0022]圖1是本發明一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置構成框圖；
[0023]圖2是本發明一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置結構示意圖；
[0024]圖3是本發明一種自動測試導電滑環接觸電阻的方法測試流程圖。
【具體實施方式】
[0025]為了使本領域的技術人員更好地理解本發明的技術方案，下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步的詳細說明。
[0026]如圖1所示，本發明一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置，包括被測導電滑環1、繼電器2、低電阻測試儀3、自動控制設備4、繼電器驅動器5。被測導電滑環I連接繼電器2，繼電器2輸出端連接低電阻測試儀3的測試輸入端，低電阻測試儀3通過RS232與自動控制設備4連接，自動控制設備4通過繼電器驅動器5與繼電器2連接并控制繼電器2。
[0027]如圖2所示，本發明一種自動測試導電滑環接觸電阻的裝置，以有3個通道的導電滑環為例。
[0028]圖中Rcl、Rc2、Rc3 為被測導電滑環 I 的接觸電阻，(Kal、Kbl、Ka2、Kb2、Ka3、Kb3)為6個電磁繼電器(接觸電阻〈ΙΟπιΩ)。其中，繼電器(Kal、Ka2、Ka3)為一組是A組，編號依次是(1、3、5);繼電器(Kbl、Kb2、Kb3)為一組是B組，編號依次是(2、4、6)。繼電器A組(Kal、Ka2、Ka3)的引出線短接在一起構成“測試點1”，繼電器B組(Kbl、Kb2、Kb3)的引出線短接在一起構成“測試點2”，每個繼電器的I腳與所述導電滑環連接在一起。以上連接方式可以構成12個測試通道的切換，其中每4個相鄰繼電器完成兩個四線測量通道的切換。
[0029]低電阻測試儀3的測試輸入端分別連接所述“測試點1”、“測試點2”，并通過RS232接口與自動控制設備4相連接。自動控制設備4通過繼電器驅動器控制繼電器2。
[0030]如圖3所示，一種自動測試導電滑環接觸電阻的方法測試流程，自動控制設備4控制繼電器驅動器5采用兩次控制切換的工作方式控制繼電器2，繼電器2進行測試通道的切換選擇，以實現將所述“測試點1”、“測試點2”引出來進行測試；具體包括以下步驟:
[0031]步驟S101、自動控制設備控制2個連通的繼電器進行測試通道的切換選擇，構成總測試回路，通過低電阻測試儀測試所構成的總測試回路的總電阻值。
[0032]如圖2所示，自動控制設備4控制繼電器2，使繼電器A組中第2M_1個繼電器和B組中第2(M+1)個繼電器連通形成I個總測試回路；使繼電器A組中第2(M+1)-1個繼電器和B組中第2M+1個繼電器連通形成I個總測試回路。
[0033]繼電器(Kal、Kb2)閉合即A組中I號個繼電器和B組中4號繼電器連通，接觸電阻(RcU Rc2)經繼電器(KaU Kb2)與低電阻測試儀3構成一總測試回路；繼電器(Ka2、Kbl)閉合即A組中3號個繼電器和B組中2號繼電器連通，接觸電阻(Rcl、Rc2)經繼電器(Ka2、Kbl)與低電阻測試儀3構成另一總測試回路。通過低電阻測試儀可以直接測試出所構成的總測試回路的總電阻值。該總電阻值是接觸電阻(Rcl、Rc2)阻值與繼電器(Kal、Kbl、Ka2、Kb2)阻值之和。
[0034]步驟S102、自動控制設備控制2個