漂移計算裝置以及具有該漂移計算裝置的光檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及基于以規定周期輸入的測定強度計算漂移的漂移計算裝置以及具有 該漂移計算裝置的光檢測裝置。
【背景技術】
[0002] 在例如色譜儀那樣的分析裝置中，具有包含多個受光元件的光檢測部，基于這些 受光元件中的測定光的受光量，測定強度以規定周期被輸入到控制裝置中。控制裝置例如 由計算機構成，取得以規定周期輸入的測定強度和測定時間的關系作為測定數據，能夠對 該測定數據進行處理。
[0003] 在這種分析裝置中，分析開始后，由于到檢測靈敏度穩定為止需要花費時間等原 因，有時測定強度會隨著時間推移產生變化。因此，在分析裝置中，作為對上述測定數據進 行的處理的一例，存在用于進行以下處理的構成：根據通過背景測定得到的測定數據計算 出測定強度的隨著時間推移的變化率（漂移），基于計算出的漂移修正測定數據（例如，參 照下述專利文獻1)。
[0004] 圖3是用于對現有的計算漂移時的形態進行說明的圖。在該圖3中，作為測定強 度的一例的吸光度與測定時間的關系被作為測定數據僅示出了一部分。
[0005] 在圖3的（a)的例子中，使用最小二乘法對測定數據求得近似的直線L1，由此將該 直線Ll的斜率作為漂移Dl計算出來。另一方面，在圖3的（b)的例子中，從測定數據中選 擇任意的兩點P1、P2,求得連結上述兩點P1、P2的直線L2,由此將該直線L2的斜率作為漂 移D2計算出來。
[0006] 現有技術文獻
[0007] 專利文獻
[0008] 專利文獻1 :日本特開2000-136999號公報
【發明內容】
[0009] 發明要解決的課題
[0010] 在以圖3的（a)中所例示的那樣的形態計算漂移Dl的情況下，則使用一定期間內 以規定周期輸入的全部測定強度計算出漂移D1。為了高精度地計算出漂移D1，需要將上述 一定時間設定成比較長的時間，通常，設定為60~90分鐘左右。
[0011] 例如，在使用以IOOHz的頻率在60分鐘內得到的測定強度計算漂移Dl的情況下， 則對各波長的每一個使用了 360000次（100X60X60 = 360000)的測定強度。因此，在1 次的測定強度的數據量為8bytes的情況下，對各波長的每一個就需要2. 88Mbytes的緩存 容量。假設，在受光元件的數量為1024個的情況下，由于要使用對應于每個受光元件的波 長的測定強度，因此總體需要高達2949. 12Mbytes (2. 88 X 1024)的緩存容量。
[0012] 因此，在緩存容量受到限制的裝置中，存在無法確保充分的緩存容量的問題。特別 是，不是將測定數據從光檢測部輸入到控制裝置中，并在該控制裝置中計算漂移Dl那樣的 構成，而是例如在光檢測部側（分析裝置側）計算漂移Dl那樣的構成的情況下，難以將大 容量的緩存設置在光檢測部側，因此上述那樣的問題就變得顯著。
[0013] 又，在以圖3的（a)中例示的那樣的形態計算漂移Dl的情況下，在對各波長的每 一個都得到全部的測定強度（在上述的例子中為360000次）之前，無法用最小二乘法對測 定數據求得近似直線Ll。因此，恐怕會產生背景測定結束后處理負荷集中，產生處理等待時 間等問題。
[0014] 對此，在以圖3的（b)所例示的那樣的形態計算漂移D2的情況下，不會產生上述 那樣的問題。即，由于能夠對各波長的每一個使用兩次測定強度來計算漂移D2,因此在一次 的測定強度的數據量為8bytes的情況下，對各波長的每一個僅確保16bytes的緩存容量即 可。假設，在受光元件的數量為1024個的情況下，雖然對于每個受光元件，對應的波長的測 定強度需要各兩次，但是總體只要16384bytes這樣較小的緩存容量就足夠了。
[0015] 然而，在圖3的（b)所例示的那樣的形態中，由于對各波長的每一個僅使用兩次測 定強度，因此存在計算出的漂移D2難以被認為是高精度的值這樣的問題。特別是，根據從 測定數據選擇兩點P1、P2作為兩次測定強度時的形態的不同，計算出的漂移D2中會產生很 大誤差，恐怕難以高精度地計算漂移D2。
[0016] 本發明是鑒于上述實情而做出的，其目的在于，提供一種能夠使用更小容量的緩 存來高精度地計算漂移的漂移計算裝置以及具有該漂移計算裝置的光檢測裝置。又，本發 明的目的在于，提供一種能夠在計算漂移時防止處理負荷的集中的漂移計算裝置以及具有 該漂移計算裝置的光檢測裝置。
[0017] 用于解決課題的手段
[0018] 本發明所涉及的漂移計算裝置是基于以規定周期輸入的測定強度來計算漂移的 漂移計算裝置，其特征在于，具有：多個總和用緩存，所述多個總和用緩存被分別分配給多 個總和函數，所述多個總和函數對于用于使用最小二乘法計算漂移的計算式中包含的系 數，以構成該系數的測定強度以及測定時間中的至少一方為變量；數據更新部，每當測定強 度以規定周期被輸入時，所述數據更新部就基于當時的測定強度以及測定時間中的至少一 方更新所述多個總和用緩存的數據；以及漂移計算部，所述漂移計算部通過將由所述數據 更新部更新后的所述多個總和用緩存的數據代入到所述計算式中，從而計算出漂移。
[0019] 根據這樣的結構，由于每當測定強度以規定周期被輸入時，多個總和用緩存的數 據就基于當時的測定強度以及測定時間中的至少一方被更新，因此不需要對以規定周期輸 入的測定強度全部進行存儲。又，由于各總和用緩存被分配給構成計算式中包含的系數的 總和函數，該計算式用于使用最小二乘法計算漂移，因此通過將被更新的各總和用緩存的 數據代入上述計算式中，就能夠高精度地計算出漂移。因此，可以使用更小容量的緩存高精 度地計算漂移。
[0020] 又，每當以規定周期輸入測定強度時，多個總和用緩存的數據就基于當時的測定 強度以及測定時間中的至少一方被更新，只要在全部的測定強度被輸入后，將被更新的各 總和用緩存的數據代入到上述計算式中即可。因此，相比于在以規定周期輸入的全部測定 強度被得到后開始用于計算漂移的處理這樣的結構，由于能夠使處理分散，因此能夠防止 在計算漂移時處理負荷集中。
[0021] 所述漂移計算裝置還可以具有被分配給所述多個總和函數能共同使用的變量的 共用緩存。在該情況下，可以每當測定強度以規定周期被輸入時，所述數據更新部就更新所 述共用緩存的數據。又，所述漂移計算部可以通過將由所述數據更新部更新后的所述多個 總和用緩存以及所述共用緩存的數據代入所述計算式中，從而計算出漂移。
[0022] 根據這樣的結構，由于使用了被分配給多個總和函數能共同使用的變量的共用緩 存，因此能夠使用更小容量的緩存來高精度地計算漂移。
[0023] 本發明所涉及的光檢測裝置的特征在于，具有：所述漂