Fpc失效異常的測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電路板領域，尤其涉及一種FPC失效異常的測試方法。
【背景技術】
[0002]FPC是Flexible Printed Circuit的簡稱,又稱軟性線路板、柔性印刷電路板,撓性線路板，簡稱軟板，具有配線密度高、重量輕、厚度薄的特點。主要使用在手機、筆記本電腦、PDA、數碼相機、LCM等很多產品。根據柔性電路板的材質的特性及廣泛應用的領域，為了更有效節省體積和達到一定的精確度，所以將三度空間的特性和薄的厚度更好的應用到數碼產品、手機和筆記本電腦中。
[0003]FPC在各行各業已經廣泛應用，它是重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，在各種電器設備中起著關鍵性作用。隨著印刷電路的飛速發展，FPC上電子元器件的連接質量成了印刷電路的重要組成部分。由于受工作環境、使用習慣等因素影響，FPC在經過長期使用后可能出現基板變形導致FPC容易出現脫落、剝離等異常，最終導致FPC無法正常工作。如何在設計階段將FPC失效異常可能存在的缺陷暴露出來，并對設計進行有效糾正，成了提高FPC可靠性的重要組成部分。由于FPC在長期的使用中，受到濕熱環境、高溫老化和電氣效應作用下，容易出現FPC與觸摸屏或者與控制電路間的接觸不良，最終導致FPC出現功能失效異常。
【發明內容】
[0004]本發明的目的在于提供一種方便在短時間內檢測出FPC失效異常的測試方法。
[0005]為了解決上述技術問題，本發明提供了一種FPC失效異常的測試方法，具體包括如下步驟:
[0006]提供一批應用FPC的電子模組，對所述電子模組隨機抽取至少3個樣品；
[0007]在環境照度為190?210流明下，對所述抽取樣品進行品質檢測；
[0008]將所述抽取樣品接通電源及訊號，對所述抽取樣品放置于高低溫實驗箱中；
[0009]對所述抽取樣品進行高低溫循環測試，并設置測試條件為:一個周期內，先進行預設低溫下持續第一預設時間，后進行預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期；
[0010]所述高低溫循環測試完畢后，將所述抽取樣品取出，放置在常溫下靜置至少2個小時；
[0011]在環境照度為190?210流明下，對所述抽取樣品進行品質檢測，并記錄檢測參數。
[0012]其中，若所述在環境照度為190?210流明下，對所述抽取樣品進行品質檢測的步驟中出現FPC失效異常時，對所述應用FPC的電子模組進行設計更改，通過糾正缺陷后，再進行所述FPC失效異常的測試。
[0013]其中，所述提供一批應用FPC的電子模組，對所述電子模組隨機抽取樣品的步驟中，所述應用FPC的電子模組為應用FPC的觸摸屏與IXD模組。
[0014]其中，所述提供一批應用FPC的電子模組，對所述電子模組隨機抽取樣品的步驟中，所述應用FPC的電子模組首次生產，所述隨機抽取樣品數至少5個。
[0015]其中，所述在環境照度為190?210流明下，對所述抽取樣品進行品質檢測和所述環境照度為190?210流明下，對所述抽取樣品進行品質檢測，并記錄檢測參數的步驟中，所述品質檢測條件:將所述抽取樣品接通電源及訊號，檢測所述抽取樣品是否有刮花、黑斑、凸凹點或氣包等外觀缺陷；檢測端子間阻抗是否大于20ΜΩ ;檢測線性度是否小于1.5% ;檢測絕緣阻抗是否大于20ΜΩ。
[0016]其中，所述調節所述高低溫試驗箱，設置所述抽取樣品在一個周期內，在所述預設低溫下持續第一預設時間，在預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期的步驟中，所述預設低溫為_20±5°C。
[0017]其中，所述調節所述高低溫試驗箱，設置所述抽取樣品在一個周期內，在所述預設低溫下持續第一預設時間，在預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期的步驟中，所述預設高溫為60 ± 5°C。
[0018]其中，所述調節所述高低溫試驗箱，設置所述抽取樣品在一個周期內，在所述預設低溫下持續第一預設時間，在預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期的步驟中，所述第一預設時間為30?60min。
[0019]其中，所述調節所述高低溫試驗箱，設置所述抽取樣品在一個周期內，在所述預設低溫下持續第一預設時間，在預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期的步驟中，所述第二預設時間為30?60min。
[0020]其中，所述調節所述高低溫試驗箱，設置所述抽取樣品在一個周期內，在所述預設低溫下持續第一預設時間，在預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期的步驟中，所述預設數目為100?200。
[0021]本發明的所述FPC失效異常的測試方法，通過在一個周期內，先進行所述預設低溫下持續第一預設時間，后進行預設高溫下持續第二預設時間，以預設數目進行多個周期，有效地檢測出FPC在經過長期使用后可能產生的問題。
【附圖說明】
[0022]為了更清楚地說明本發明的技術方案，下面將對實施方式中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0023]圖1是本發明提供的FPC失效異常的測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0024]下面將結合本發明實施方式中的附圖，對本發明實施方式中的技術方案進行清楚、完整地描述。
[0025]請參閱圖1，本發明實施方式提供的一種FPC失效異常的測試方法，所述FPC失效異常的測試方法包括如下步驟:
[0026]步驟101:提供一批應用FPC的電子模組，對所述電子模組隨機抽取至少3個樣品。本實施方式中，所述應用FPC的電子模組為應用FPC的觸摸屏與IXD模組。且所述應用FPC的電子模組首次生產，所述隨機抽取樣品數不低于5個。所述抽取樣品具體的，按照該批次應用FPC的電子模組生產先后順序，每隔一小時抽取一個樣品，本次生產共用了 5小時，抽取樣品數為5個。當然，在其他實施方式中，所述應用FPC的電子模組還可以是應用FPC的液晶面板與LED模組。所述應用FPC的電子模組不是首次生產時，所述隨機抽取樣品數還可以是10個。所述隨機抽取樣品具體還可以是按照生產先后順序每個0.5小時抽取I個樣品。
[0027]步驟102:在環境照度為190?210流明下，對所述抽取樣品進行品質檢測。由于本實施方式中，所述抽取樣品為應用FPC的觸摸屏與LCD模組，所以環境照度對所述FPC電子模組的測試影響較大，在底照度下所述FPC電子模組許多缺陷不容易發現；在高照度下，產生反光容易產生檢測錯誤。所以需要在環境照度190?210流明下進行品質檢測。本實施方式中，所述品質檢測條件:將所述抽取樣品接通電源及訊號并放置在照度200流明的環境，檢測所述抽取樣品是否有刮花、黑斑、凸凹點或氣包等外觀缺陷；檢測端子間阻抗是否大于20ΜΩ ;檢測線性度是否小于1.5%;檢測絕緣阻抗是否大于20ΜΩ。當然，在其他實施方式中，若所述應用FPC的電子模組為應用FPC的液晶面板與LED模組，則還可以在照度為210流明下進行檢測，所述品質檢測條件還包括:檢查FPC表面是否有變色、變形、線路損傷或者斷裂等外觀缺陷；檢查諧波失真小于20% ;功率因數大于0.9。
[0028]若在所述步驟102中出現FPC失效異常時，則對所述應用FPC的電子模組進行設計更改，通過糾正缺陷后，再進行所述FPC失效異常的測試。
[0029]由于所述抽取樣品在經過FPC失效異常測試前先進行品質檢測，可以反映出所述FPC很容易出現的失效異常。此時，針對失效異常可以實施快速更改方案，同時可以針對產品設計進行糾正缺陷。如此，通過可更改方案降低所述FPC失效異常的可能性，保證所述FPC生產性能的穩定性有利于后續測試的有效性。
[0030]步驟103:將所述抽取樣品接通電源及訊號，對所述抽取樣品放置于高低溫實驗箱中。由于所述抽取樣品為應用FPC的觸摸屏與IXD模組，需要在有畫面訊號情況下測試所述FPC電子模組的功能以及外觀是否失效。所以對所述抽取樣品接通電源及訊號，具體的，將所述抽取樣品均連接電源機臺，并將所述抽取樣品的訊號輸入端均接通訊號機臺。為方便隨時