Usb數據線的測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種USB數據線的測試方法。
【背景技術】
[0002]通用串行總線(Universal Serial Bus，USB)是一種常用的PC接口，是PC領域上應用得最廣泛的一種外部總線標準，用于規范電腦與外部設備的連接和通訊。USB接口支持設備的即插即用和熱插拔功能，可以方便快速穩定傳輸數據，支持所有型號的電腦，并支持鼠標、鍵盤、打印機、掃描儀、攝像頭、閃存盤、MP3機、手機、數碼相機、移動硬盤、USB網卡等電子產品，在生活中應用廣泛。USB數據線作為連接電腦與設備間的橋梁，在使用中會經常受到彎曲、卷繞、拉扯、插撥，數據線的各項參數指標及質量尤為重要。USB數據線是各種設備與電腦間數據傳輸的有效保證。但在使用中，會受到不同使用習慣以及數據線本身的設計、生產材料等自身原因的影響，導致不能正常傳輸數據，接口損壞，外表皮破裂，斷裂等異常，給使用者的工作、生活帶來不便的影響。
[0003]因此，一種有效的USB數據線檢測方法尤為重要，這樣可在產品設計時提前檢測出USB數據線的可靠性，為配套產品提供良好合格的配件。
【發明內容】
[0004]本發明的目的在于提供一種USB數據線的測試方法，能夠有效的對USB數據線的可靠性進行檢測。
[0005]為了解決上述技術問題，本發明提供了一種USB數據線測試方法，用于對USB數據線進行可靠性檢測，包括步驟:
[0006]對USB數據線樣品進行外觀及尺寸測試，以得到外觀及尺寸符合要求USB數據線樣品；
[0007]將外觀及尺寸符合要求USB數據線樣品與USB母座配合測試，然后再用拉力計測量插入與拔出時的力度，取配套USB設備與USB數據線連接好，再與電腦連接，檢查所述設備能否正常充電及數據傳輸，將USB數據線插入母座的插放力小于或者等于35牛頓，將USB數據線從母座拔出的拔出力大于或者等于10牛頓，得到配合性符合要求的USB數據線樣品;
[0008]用絕緣電阻儀250V檔位測量配合性符合要求的USB數據線樣品的數據線與外殼的絕緣電阻值，之后再用耐壓儀給USB數據線樣品的芯線之間施加AC500V/50HZ的電壓持續一分鐘，觀察耐電壓過程有無擊穿、短路、閃絡現象，得到絕緣耐壓性能滿足要求的USB數據線樣品；
[0009]將絕緣耐壓性能滿足要求的USB數據線模擬實際使用，分別對其二端微卡處進行3000次的彎折測試，每彎折500次，將所述數據線樣品連接電腦檢查數據通訊功能及充電功能是否正常，得到彎曲疲勞測試滿足要求的USB數據線樣品；
[0010]測量彎曲疲勞測試滿足要求的USB數據線樣品自然拉直時的長度，之后將USB數據線樣品安裝固定在拉力機上，在USB數據線樣品上逐漸施加IKG拉力，并持續拉I分鐘，觀察受力過程線體有無斷裂，之后再連接電腦檢查數據通訊功能及充電功能是否正常，得到接力強度測試滿足要求的USB數據線樣品；
[0011]將所述接力強度測試滿足要求的USB數據線樣品及USB座固定在插拔機上，設置以200次/小時的頻率進行插拔測試，共進行10000次插拔測試，觀察插拔中途接口及線體有無異常，每1000次檢查樣品充電及數據通訊功能是否正常，并測量其拔出力度，得到插拔疲勞測試滿足要求的USB數據線樣品；以及
[0012]給插拔疲勞測試滿足要求的USB數據線樣品施加2A的電流持續工作4小時，測量工作時線表最高溫，并觀察線體是否發燙，變軟，得到滿足滿載老化測試符合要求的USB數據線樣品，進而得到測試合格的USB數據線。
[0013]其中，對USB數據線樣品進行外觀及尺寸測試的方法為:在常溫下，在光線明亮環境中，通過目測檢查測試樣品的表面是否臟污，標識是否正確，線體、插頭有無破損，插頭金屬邊緣有無披峰，金屬部件有無銹蝕，插頭內部PIN針有無變形、翹起、氧化，量測數據線的長度是否滿足技術要求的參數。
[0014]其中，在進行彎曲疲勞測試之后，還包括對USB數據線樣品進行高低溫貯存測試，所述對USB數據線樣品進行高低溫貯存測試的方法為:將USB數據線樣品置于高溫700C ±2的環境中，持續放置16小時，結束時，檢查USB數據線樣品高溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數據通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000ΜΩ。高溫貯存無異常再將USB數據線置于低溫-40°C ±2的環境中，持續放置16小時，結束時，檢查USB數據線低溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數據通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000M Ω，從而得到高低溫貯存測試合格的USB數據線樣品。
[0015]其中，所述USB數據線測試方法包括對高低溫貯存測試合格的USB數據線樣品耐濕熱性能測試，將USB數據線樣品置于溫度為40°C ±2、濕度93%±2環境下，持續48h，結束時檢查樣品濕熱后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數據通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，所謂到線體無起泡、無變形、無變色、功能良好，數據通信正常，且絕緣電阻是否大于1000ΜΩ的耐濕熱性能測試合格的USB數據線樣品。
[0016]其中，所述USB數據線測試方法還包括對耐濕熱性能測試合格的USB數據線樣品進行鹽霧測試，所述鹽霧測試的方法為JfUSB數據線樣品置于鹽霧箱內，設置中性鹽霧條件，即在35±2°C的密閉環境中，溫度大于85%，PH值在6.5-7.2范圍內，用5%±0.1%的Nacl溶液連續噴霧48小時，鹽霧后在常溫下用清水沖洗干凈并擱置2小時，檢查樣品外觀、接口金屬部分、PIN針有無腐蝕、生銹、氧化，數據通信是否正常，USB數據線樣品無腐蝕、無生銹、無氧化，數據通信正常，表明USB數據線樣品鹽霧測試測試通過。
[0017]本技術方案提供的USB數據線測試方法，通過對USB數據線樣品進行的測試，能夠有效地模擬USB數據線在實際使用時的情況，檢測出由于長期使用后的異常而造成的功能失效，能夠發現USB數據線的內在缺陷、生產缺陷或者設計缺陷，快速的檢測出USB數據線樣品質量的優劣。從而為產品的開發提供優質樣品提供依據，使產品能在經過長期使用后，仍具有較高的品質水準，滿足客戶長期使用的需求，同時也有益于提高產品的可靠度，使得產品更具有市場競爭力。
【附圖說明】
[0018]為了更清楚地說明本發明的技術方案，下面將對實施方式中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0019]圖1是本發明較佳實施方式提供的USB數據線測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0020]下面將結合本發明實施方式中的附圖，對本發明實施方式中的技術方案進行清楚、完整地描述。
[0021]請參閱圖1，本發明較佳實施方式提供一種USB數據線樣品的測試方法。所述USB數據線樣品的測試方法包括步驟:
[0022]步驟S101，對USB數據線樣品進行外觀及尺寸測試。
[0023]本步驟具體為:在常溫下，在光線明亮環境中，通過目測檢查測試樣品的表面是否臟污，標識是否正確，線體、插頭有無破損，插頭金屬邊緣有無披峰，金屬部件有無銹蝕，插頭內部PIN針有無變形、翹起、氧化等。之后，采用圈尺量測數據線的長度是否滿足技術要求的參數。
[0024]在本步驟中，可以抽取一定數量的樣品進行測試，如20件樣品，這樣能夠對產品的一致性進行評測。
[0025]步驟S102，對USB數據線樣品進行配合性測試。
[0026]本步驟中具體為:在常溫條件下，將USB數據線樣品與USB母座配合測試，二者應配合緊湊，插撥后傳輸數據正常，插撥力度不會太緊。然后再用拉力計測量插入與拔出時的力度，所述力度進行5次測量，取平均值。取配套USB設備與數據線連接好，再與電腦連接，檢查設備能否正常充電及數據傳輸。本步驟中，將USB數據線樣品插入母座的插放力應小于或者等于35牛頓，將USB數據線樣品從母座拔出的拔出力應大于或者等于10牛頓。
[0027]步驟S103，對USB數據線樣品進行絕緣耐壓測試。
[0028]本步驟中，在常溫下，用絕緣電阻儀250V檔位測量數據線與外殼的絕緣電阻值，之后再用耐壓儀給USB數據線樣品的芯線之間施加AC500V/50HZ的電壓持續一分鐘，觀察耐電壓過程有無擊穿、短路、閃絡現象。
[0029]步驟S104，對USB數據線樣品進行高低溫貯存測試。
[0030]取常溫下檢查外觀無異常樣品，將樣品置于高溫70°C ±2的環境中，持續放置16h，結束時，檢查樣口高溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數據通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000ΜΩ。高溫貯存無異常再將數據線置于低溫_40°C ±2的環境中，持續放置16h，結束時，檢查樣品低溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數據通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000M Ω。
[0031]在本步驟中，如經過高低溫貯存測試后，樣品無起泡、無變形、無變色、功能良好，數據通信正常，且絕緣電阻是否大于1000ΜΩ，表明樣品的高低溫貯存測試通過。
[0032]步驟S105，對USB數據線樣品耐濕熱性能測試。
[0033]取常溫下檢查外觀無異常樣品，將樣品置于溫度為40°C ±2、濕度93%