檢測彩膜表面形貌的方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發明設及顯示技術領域，具體設及一種檢測彩膜表面形貌的方法及裝置。
【背景技術】
[0002] 現有技術中，分光光度計可W用于對單色亞像素的色度值檢測。如圖1所示，該分 光光度計包括白色點光源、用于控制白色點光源的發光與移動的光源模塊、探頭W及與探 頭相連的光譜儀，其色度值檢測原理如下所述；將分光光度計的白色點光源置于單色亞像 素的一側，并在另一側W探頭接收透過單色亞像素的光線，從而得到該單色亞像素的透射 光譜，根據透射光譜中的數據經過計算即可得到與每一單色亞像素對應的色度值。
[0003] 然而，現有技術在測量色度值時通常對準單色亞像素的中屯、點，并沒有包含每一 單色亞像素表面形貌的信息。而為了獲取每一單色亞像素表面形貌的信息，現有技術通常 需要采用膜厚測量儀來進行實際測量。但該一測量方式不僅需要額外占用測試人員用大 量時間和精力，同時還由于人工標定過程存在主觀因素等問題導致測量結果存在很大的誤 差。
【發明內容】
[0004] 針對現有技術中的缺陷，本發明提供一種檢測彩膜表面形貌的方法及裝置，可W 實現單色亞像素的色度值和表面形貌信息的同時測量。
[0005] 第一方面，本發明提供了一種檢測彩膜表面形貌的裝置，包括相對設置的光源和 光線探測器；
[0006] 該裝置還包括：
[0007] 第一導軌；
[000引可沿第一導軌移動的底座；
[0009] 固定在所述底座上、延伸方向與所述第一導軌平行的第二導軌；
[0010] 所述光線探測器與所述第二導軌相連，并可沿所述第二導軌延伸方向移動；
[0011] 所述第一導軌上設有用于使所述底座上的第二導軌與彩膜基板上的每一單色亞 像素對齊的多個第一固定點；
[0012] 所述第二導軌上設有用于使所述光線探測器對準彩膜基板上每一單色亞像素中 多個位置點的多個第二固定點。
[0013] 可選地，所述多個第二固定點包括用于使所述光線探測器對準彩膜基板上每一單 色亞像素邊緣處的位置點的第二固定點，W及用于使所述光線探測器對準彩膜基板上每一 單色亞像素中屯、處位置點的第二固定點。
[0014] 可選地，該裝置還包括：
[0015] 檢測單元，用于基于所述第一導軌、所述底座、所述第二導軌W及所述相對設置的 光源和光線探測器對彩膜基板上任一單色亞像素中的多個位置點進行檢測；
[0016] 第一計算單元，用于根據來自所述檢測單元的檢測結果計算所述單色亞像素的彩 膜在每一所述位置點處的色度值；
[0017] 第二計算單元，用于根據預先設定的色度值-膜厚關系由所述第一計算單元得到 的每一所述位置點處的色度值計算每一所述位置點處的彩膜膜厚；
[0018] 第=計算單元，用于根據所述第二計算單元得到的每一所述位置點處的彩膜膜厚 獲取所述單色亞像素的彩膜的表面形貌信息。
[0019] 可選地，所述第=計算單元進一步用于根據所述第二計算單元得到的每一所述位 置點處的彩膜膜厚計算所述彩膜的角段差。
[0020] 可選地，每一單色亞像素中的所述多個位置點均W相同方式設置；
[0021] 所述第四計算單元包括：
[0022] 第一計算模塊，用于計算所有顏色相同的單色亞像素中每一所述位置點處的彩膜 膜厚的平均值；
[0023] 第二計算模塊，用于根據所述第一計算模塊得到的彩膜膜厚的平均值計算所有所 述顏色相同的單色亞像素的彩膜的角段差。
[0024] 可選地，該裝置還包括：
[0025] 預檢測單元，用于在第一計算單元計算色度值之前，基于所述第一導軌、所述底 座、所述第二導軌W及所述相對設置的光源和光線探測器對彩膜基板中除彩膜圖案之外的 至少部分區域進行檢測；
[0026] 所述第一計算單元進一步用于將來自所述預檢測單元的所述至少部分區域的檢 測結果作為本底成分在來自所述檢測單元的每一所述位置點的檢測結果中去除，并根據去 除后的檢測結果計算彩膜在每一位置點處的色度值。
[0027] 第二方面，本發明還提供了一種檢測彩膜表面形貌的方法，包括：
[002引基于分光光度法對彩膜基板上任一單色亞像素中的多個位置點進行檢測；
[0029] 根據每一所述位置點的檢測結果計算該單色亞像素的彩膜在每一所述位置點處 的色度值；
[0030] 根據預先設定的色度值-膜厚關系由每一所述位置點處的色度值計算每一所述 位置點處的彩膜膜厚；
[0031] 根據每一位置點處的彩膜膜厚獲取該單色亞像素的彩膜的表面形貌信息。
[0032] 可選地，所述根據每一位置點處的彩膜膜厚獲取該單色亞像素的彩膜的表面形貌 信息，包括：
[0033] 根據該單色亞像素中多個位置點處的彩膜膜厚計算角段差。
[0034] 可選地，每一單色亞像素中的所述多個位置點均W相同方式設置；
[0035] 所述根據該單色亞像素中多個位置點處的彩膜膜厚計算角段差，包括：
[0036] 計算所有顏色相同的單色亞像素中每一所述位置點處的彩膜膜厚的平均值；
[0037] 根據所述彩膜膜厚的平均值計算所有所述顏色相同的單色亞像素的彩膜的角段 差。
[003引可選地，所述根據每一所述位置點的檢測結果計算該單色亞像素的彩膜在每一所 述位置點處的色度值之前，還包括：
[0039] 基于分光光度法對彩膜基板上除彩膜圖案之外的至少部分區域進行檢測；
[0040] 所述根據每一所述位置點的檢測結果計算該單色亞像素的彩膜在每一所述位置 點處的色度值，包括：
[0041] 將所述至少部分區域的檢測結果作為本底成分在每一所述位置點的檢測結果中 去除，并根據去除后的檢測結果計算彩膜在每一所述位置點處的色度值。
[0042] 由上述技術方案可知，基于本發明提供的檢測彩膜表面形貌的裝置，可W通過底 座在第一導軌上的移動可W實現第二導軌與每一單色亞像素的對準，而光線探測器在第二 導軌上的移動可W實現光線探測器與單色亞像素中多個位置點的對準。從而，本發明即可 利用該裝置對同一單色亞像素中多個位置點的檢測結果得到其色度值W及表面形貌信息。
[0043] 基于本發明提供的檢測彩膜表面形貌的方法，可W通過對每一單色亞像素中多個 位置點的檢測得到與每一位置點對應的色度值和膜厚數據，因而基于該些數據可W更準確 地計算得到每一單色亞像素的色度值和表面形貌信息。
[0044] 相比于現有技術而言，本發明不需要單獨采用膜厚測量儀來進行彩膜表面形貌的 實際測量，節省成本；同時由于本發明將人工測量轉變為儀器測量，因而可W消除人工操作 帶來的測量誤差。而且，該樣的設置也使色度值可W根據多個位置點的檢測結果綜合得出， 具有更高的準確性。
[0045] 當然，實施本發明的任一產品或方法并不一定需要同時達到W上所述的所有優 點。
【附圖說明】
[0046] 為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現 有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發 明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可W根 據該些附圖獲得其他的附圖。
[0047] 圖1是現有技術中一種利用分光光度計檢測單色亞像素色度值的方法的示意圖；
[0048] 圖2是現有技術中一種利用分光光度計檢測單色亞像素色度值的方法示意圖；
[0049] 圖3是本發明一個實施例中一種檢測彩膜表面形貌的方法的步驟流程示意圖；
[0050] 圖4是本發明一個實施例中一種計算彩膜的角段差的步驟流程示意圖；
[0化1] 圖5是本發明一個實施例中一種檢測彩膜表面形貌的裝置的正視結構示意圖； [0052] 圖6是本發明一個實施例中一種檢測彩膜表面形貌的裝置的側視結構示意圖； [0化3] 圖7是本發明一個較佳實施例中一種檢測彩膜表面形貌的原理示意圖。
【具體實施方式】
[0054] 為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例 中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是 本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員 在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0055] 為了更清楚地說明本發明的技術方案，下面首先對現有技術中利用分光光度計檢 測單色亞像素的色度值的方法作一簡單介紹。
[0化6] 圖1是現有技術中一種利用分光光度計檢測單色亞像素色度值的原理示意圖。其 中需要說明的是，除非有特殊說明，本文中的單色亞像素均是指排布在彩膜基板上的亞像 素區域，每一單色亞像素中均形成有單一顏色的彩膜（或稱彩色濾光片）。參見圖1，與光 源模塊連接的白色點光源可W向單色亞像素發射出白光，