具有多個測試站的轉盤式測試裝置與系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種具有多個測試站的轉盤式測試裝置與系統，特別是涉及一種可以同時對多個電子元件連續進行不同測試的具有多個測試站的轉盤式測試裝置與系統。
【背景技術】
[0002]近年來，為了縮減電子產品的體積與增加其功能，設計并制作出具有多種不同功能的電子元件(例如微機電元件)以取代傳統僅具有單一功能的電子元件。然而，這些具有多種功能的電子元件在完成制作之后，往往需要對于不同的功能進行不同的測試，但是大部分的測試裝置都僅能進行單一測試，所以需要電子元件轉移到不同的測試裝置而進行不同的測試項目。如此一來，不但大幅地增加測試時間與成本，而降低測試的產能，更因在不同的測試裝置之間轉移，有很大的機率會因人為或機械的疏失而在轉移時造成電子元件的損害，而降低測試的合格率。
[0003]為了解決上述問題，近年來發展出一種多功能測試裝置，可以對電子元件進行不同的測試項目。參照圖1，其為目前常用的多功能測試裝置10的示意圖。多功能測試裝置10包含轉盤12、以及數個直線式測試單元14，其中，每一個直線式測試單元14由數個不同的測試工作站tl、t2、t3、t4直線排列而組成。在每一個直線式測試單元14中都具有移載裝置(shuttle) 16，用以承載電子元件(IC)并將其傳送到直線式測試單元14中的不同的測試工作站tl、t2、t3、t4，以進行不同的測試，例如壓力測試、感光測試等等。當轉盤12將一個電子元件傳送至直線式測試單元14中進行測試時，必須要等到此電子元件完成直線式測試單元14中的所有測試工作站tl、t2、t3、t4的測試，并且由直線式測試單元14取出后，才能將另一個電子元件置入直線式測試單元14進行測試。因此，在上一個電子元件未完成直線式測試單元14上所有的測試項目之前，即未完成所有測試工作站tl、t2、t3、t4所提供的測試之前，同一個直線式測試單元14并無法對另一個電子元件進行測試，既使在直線式測試單元14中進行測試的電子元件已經完成部份測試項目(例如完成測試工作站tl、t2、或t3測試項目)，但是仍然需要等到此一個電子元件完成所有的測試項目，并由直線式測試單元14取出之后才能放入下一個電子元件進行測試。換言之，在直線式測試單元14對一個電子元件進行測試時，既使有直線式測試單元14中有測試工作站空出來，也無法置入下一個電子元件進行測試，導致這些空出來的測試工作站處于閑置狀態(idle)，而無法連續地置入電子元件進行測試，使得測試裝置無法有效地被利用，而造成測試時間過長、進而導致測試產能低下與測試成本無法降低等問題。
[0004]有鑒于此，亟需要一種測試裝置或系統，可以對連續地電子元件進行不同的測試項目，而減少測試裝置中的測試工作站閑置(idle)的時間與機率，進而縮短測試時間、提升測試產能、以及降低測試成本。
【發明內容】
[0005]本發明的一目的為提供具有多個測試站的轉盤式測試裝置，可以同時對多個電子元件連續進行不同的測試項目，而不會讓任何測試工作站(或測試模塊)處于閑置狀態(idle)，從而縮短測試時間、提升測試產能、以及降低測試成本。
[0006]本發明的另一目的為提供具有多個測試站的轉盤式測試系統，可以同時對多個電子元件連續進行不同的測試項目，并對測試系統進行最大效能的利用，不會讓任何測試工作站(或測試模塊)處于閑置狀態(idle)，從而縮短測試時間、提升測試產能、以及降低測試成本。
[0007]本發明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現的。根據本發明的一目的，本發明提供一種具有多個測試站的轉盤式測試裝置。此具有多個測試站的轉盤式測試裝置包含用以傳送電子元件的輸送轉盤，以及多個測試轉盤。其中，每一個測試轉盤周圍設置有多個不同的測試模塊以形成多個不同的測試工作站，從而提供不同的測試項目而對電子元件(例如1C、MEMS元件等)進行不同的測試(例如感光測試、壓力測試、溫度測試、磁力測試、翻轉測試等)。測試轉盤可以自由地來回轉動，而每一個測試轉盤周圍設置的各個測試模塊則是固定而不會隨著測試轉盤轉動。此具有多個測試站的轉盤式測試裝置借由測試轉盤轉動，在一個測試工作站對一個電子元件完成測試之后，可以將該電子元件送入下一個測試工作站進行測試，并同時將另一個待測試的電子元件帶入此測試工作站中進行測試，并且設置于該測試轉盤周圍各個測試模塊皆以此模式運作，使得各個測試工作站(或測試模塊)都是連續地對不同的待測電子元件進行測試，而不會有閑置時候，從而縮短測試時間，增加測試產能與效能、以及降低測試成本。
[0008]本發明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現。
[0009]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中該輸送轉盤上設置有多個元件承載單元，用以承載電子元件而帶動電子元件隨該輸送輪盤轉動進行輸送。
[0010]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中每一該測試轉盤皆包含n+1個測試座設置于其上，用以承載電子元件于該測試轉盤上進行測試，其中，η為每一該測試轉盤周圍設置的該測試模塊的數量。
[0011]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中每一該測試轉盤能夠自由地來回轉動，而每一該測試轉盤周圍設置的上述測試模塊皆固定不動，不會隨該測試轉盤轉動。
[0012]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中該測試轉盤周圍設置的每一測試模塊皆對應該測試轉盤上的一個測試座，而該測試轉盤上未對應上述測試模塊的該測試座，則位于最接近該測試轉盤的該輸送轉盤的該元件承載單元下方，或是與該輸送轉盤相鄰。
[0013]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中上述元件承載單元為真空吸嘴。
[0014]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中上述元件承載單元為元件容置槽或元件容置座。
[0015]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中更包含多個拾取裝置，其中，每一該拾取裝置對應一個測試轉盤，用以進行其所對應的測試轉盤與該輸送轉盤之間的電子元件取放。
[0016]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中每一該測試座下方皆具有一排線，該測試座借由該排線而與自動測試設備ATE連接，該排線會隨著該測試轉盤轉動，而使每一該測試座下方皆與同一排線連接。
[0017]前述的具有多個測試站的轉盤式測試裝置，其中當每一該測試轉盤上放置的第mn+1電子元件在該測試轉盤上的最后一個測試模塊完成測試后，該測試轉盤會回轉以避免上述測試座下方的排線糾纏而扯斷，其中，m為O或整數，η為每一該測試轉盤周圍設置的該測試模塊的數量。
[0018]本發明的目的及解決其技術問題還采用以下技術方案來實現。根據本發明的另一目的，本發明提供一種具有多個測試站的轉盤式測試系統。此具有多個測試站的轉盤式測試裝置包含輸送轉盤，多個測試轉盤、自動測試設備(ATE)、進料裝置、以及分料裝置。在此，輸送轉盤與各個測試轉盤比鄰設置，用以傳輸電子元件，進料裝置與分料裝置分別與輸送轉盤連接，分別用以輸送待測電子元件至輸送轉盤中，以及用以將已經完成測試的電子元件依照測試結果進行分類，而自動測試設備(ATE)則與上述測試轉盤連接，用以提供測試信號與參數并收集與處理測試結果。在此具有多個測試站的轉盤式測試系統中，每一個測試轉盤可以自由地來回轉動，且每一個測試轉盤周圍設置有多個不會隨著測試轉盤轉動的測試模塊，從而在每一個測試轉盤周圍形成固定不動的測試工作站，以提供不同的測試項目而對電子元件(例如IC、MEMS元件等)進行不同的測試(例如感光測試、壓力測試、溫度測試、磁力測試、翻轉測試等)。借由測試轉盤轉動，可以在一個測試工作站對一個電子元件完成測試之后，將已完成此測試工作站所提供的測試的電子元件直接送入另一個測試工作站進行測試，并同時將另一個待測試的電子元件送入此測試工作站中進行測試。此具有多個測試站的轉盤式測試系統中設置于每一個測試轉盤周圍的各個測試模塊皆以上述模式運作，使得各個測試工作站(或測試模塊)可以連續地對不同的待測電子元件進行測試而不閑置(idle)，以充分地利用測試系統的效能，從而縮短測試時間，增加測試產能與效能、以及降低測試成本。
[0019]本發明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現。
[0020]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中該輸送轉盤上設置有多個元件承載單元，用以承載電子元件而帶動電子元件隨該輸送輪盤轉動進行輸送。
[0021]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中每一該測試轉盤皆包含n+1個測試座設置于其上，用以承載電子元件于該測試轉盤上進行測試，其中，η為每一該測試轉盤周圍設置的該測試模塊的數量。
[0022]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中每一該測試轉盤能夠自由地來回轉動，而每一該測試轉盤周圍設置的上述測試模塊皆固定不動，不會隨該測試轉盤轉動。
[0023]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中該測試轉盤周圍設置的每一個測試模塊皆對應該測試轉盤上的一個測試座，而該測試轉盤上未對應上述測試模塊的該試座，則位于最接近該測試轉盤的該輸送轉盤的該元件承載單元下方，或是與該輸送轉盤相鄰。
[0024]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中上述元件承載單元為真空吸嘴。
[0025]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中上述元件承載單元為元件容置槽或元件容置座。
[0026]前述的具有多個測試站的轉盤式測試系統，其中更包含多個拾取裝置，其中，每