技術(shù)總結(jié)
本實用新型公開了一種多功能半導(dǎo)體電學(xué)性質(zhì)快速測試裝置，包括測試盒本體，測試盒本體分為測試盒底座和測試盒上蓋，測試盒底座和測試盒上蓋活動連接，測試盒底座內(nèi)設(shè)有多個卡槽，且卡槽內(nèi)固定有帕爾貼片，卡槽的前端設(shè)有測試探針，且測試探針連接設(shè)置在測試探針下方的彈性伸縮組件，測試探針分別連接PCB板，且測試探針分別并聯(lián)連接設(shè)置在測試盒底座上的電壓表和電流表，測試盒上蓋內(nèi)側(cè)設(shè)有彈性橡膠柱，本實用新型結(jié)構(gòu)原理簡單，能夠?qū)崿F(xiàn)對半導(dǎo)體器件的快速測試，且探針不易損壞，使用壽命長；同時測得的電參數(shù)能夠?qū)崟r顯示。
技術(shù)研發(fā)人員：張偉;張樹霞
受保護的技術(shù)使用者：馬鞍山紐盟知識產(chǎn)權(quán)管理服務(wù)有限公司
文檔號碼：201720385657
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.13
技術(shù)公布日：2017.10.27