本實(shí)用新型涉及一種光譜分析裝置,具體是一種光譜材料試驗(yàn)分析機(jī)。
背景技術(shù):
光譜分析法是利用光譜學(xué)的原理和實(shí)驗(yàn)方法以確定物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的分析方法。原子發(fā)射光譜分析是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測(cè)定物質(zhì)的化學(xué)組分的。在正常的情況下,原子處于穩(wěn)定狀態(tài),它的能量是最低的,這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量的作用時(shí),原子由于與高速運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量,使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級(jí)上,處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位,當(dāng)外加的能量足夠大時(shí),原子中的電子脫離原子核的束縛力,使原子成為離子,這種過程稱為電離。原子失去一個(gè)電子成為離子時(shí)所需要的能量稱為一級(jí)電離電位。離子中的外層電子也能被激發(fā),其所需的能量即為相應(yīng)離子的激發(fā)電位。處于激發(fā)態(tài)的原子是十分不穩(wěn)定的,在極短的時(shí)間內(nèi)便躍遷至基態(tài)或其它較低的能級(jí)上。 當(dāng)原子從較高能級(jí)躍遷到基態(tài)或其它較低的能級(jí)的過程中,將釋放出多余的能量,這種能量是以一定波長(zhǎng)的電磁波的形式輻射出去的。 每一條所發(fā)射的譜線的波長(zhǎng),取決于躍遷前后兩個(gè)能級(jí)之差。由于原子的能級(jí)很多,原子在被激發(fā)后,其外層電子可有不同的躍遷,但這些躍遷應(yīng)遵循一定的規(guī)則,因此對(duì)特定元素的原子可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的特征光譜線,這些譜線按一定的順序排列,并保持一定的強(qiáng)度比例。光譜分析就是從識(shí)別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在,而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān),因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來測(cè)定元素的含量?,F(xiàn)有的光譜材料分析機(jī)受到外界因素的影響較大,影響分析結(jié)果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型的目的在于提供一種光譜材料試驗(yàn)分析機(jī),以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:
一種光譜材料試驗(yàn)分析機(jī),包括導(dǎo)輪、箱體、吸塵器、支撐柱、換氣扇、材料放置臺(tái)、開關(guān)控制器、干燥器、計(jì)時(shí)器、LED燈、攝像頭、光譜分析儀和磁飽和式穩(wěn)壓電源,所述的箱體底面設(shè)有導(dǎo)輪,導(dǎo)輪上設(shè)有手剎,箱體內(nèi)設(shè)有專用地線,專用地線底端設(shè)有銅板,箱體內(nèi)設(shè)有支撐柱,支撐柱頂端設(shè)有材料放置臺(tái),材料放置臺(tái)上設(shè)有托盤,箱體內(nèi)設(shè)有吸塵器,箱體側(cè)壁設(shè)有計(jì)時(shí)器,箱體頂壁內(nèi)壁設(shè)有LED燈,箱體底端內(nèi)壁設(shè)有攝像頭,箱體內(nèi)設(shè)有光譜分析儀,光譜分析儀設(shè)置在材料放置臺(tái)上方,箱體內(nèi)設(shè)有磁飽和式穩(wěn)壓電源。
作為本實(shí)用新型進(jìn)一步的方案:所述的銅板的面積大于0.5平方米,銅板3的厚度為8-10mm。
作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述的攝像頭與外部顯示設(shè)備連接。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型導(dǎo)輪方便裝置移動(dòng),省時(shí)省力,專用地線保護(hù)光譜分析儀,避免其他因素影響光譜分析儀,利于保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,托盤內(nèi)放置待測(cè)試樣品,調(diào)節(jié)支撐柱的高度,方便對(duì)其檢測(cè),通過吸塵器將箱體內(nèi)的灰塵等吸走,保證箱體內(nèi)的整潔,避免其影響分析結(jié)果,保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,計(jì)時(shí)器記錄測(cè)試時(shí)間,方便準(zhǔn)確檢測(cè),LED燈在夜晚或光線較暗時(shí)提供照明,方便人們檢測(cè),通過攝像頭及時(shí)看清箱體內(nèi)的檢測(cè)情況,磁飽和式穩(wěn)壓電源減少電壓波動(dòng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便利于推廣。
附圖說明
圖1為光譜材料試驗(yàn)分析機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1、導(dǎo)輪,2、專用地線,3、銅板,4、箱體,5、吸塵器,6、支撐柱,7、換氣扇,8、材料放置臺(tái),9、開關(guān)控制器,10、干燥器,11、計(jì)時(shí)器,12、LED燈,13、攝像頭,14、光譜分析儀,15、托盤,16、磁飽和式穩(wěn)壓電源。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施方式對(duì)本專利的技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)地說明。
請(qǐng)參閱圖1,一種光譜材料試驗(yàn)分析機(jī),包括導(dǎo)輪1、箱體4、吸塵器5、支撐柱6、換氣扇7、材料放置臺(tái)8、開關(guān)控制器9、干燥器10、計(jì)時(shí)器11、LED燈12、攝像頭13、光譜分析儀14和磁飽和式穩(wěn)壓電源16,所述的箱體4底面設(shè)有導(dǎo)輪1,導(dǎo)輪1上設(shè)有手剎,導(dǎo)輪1方便裝置移動(dòng),省時(shí)省力,箱體4內(nèi)設(shè)有專用地線2,專用地線2底端設(shè)有銅板3,專用地線2保護(hù)光譜分析儀14,避免其他因素影響光譜分析儀14,銅板3的面積大于0.5平方米,銅板3的厚度為8-10mm,利于保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。箱體4內(nèi)設(shè)有支撐柱6,支撐柱6頂端設(shè)有材料放置臺(tái)8,材料放置臺(tái)8上設(shè)有托盤15,托盤15內(nèi)放置待測(cè)試樣品,調(diào)節(jié)支撐柱6的高度,方便對(duì)其檢測(cè),箱體4內(nèi)設(shè)有吸塵器5,通過吸塵器5將箱體4內(nèi)的灰塵等吸走,保證箱體4內(nèi)的整潔,避免其影響分析結(jié)果,保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,箱體4側(cè)壁設(shè)有計(jì)時(shí)器11,計(jì)時(shí)器11記錄測(cè)試時(shí)間,方便準(zhǔn)確檢測(cè),箱體4頂壁內(nèi)壁設(shè)有LED燈12,LED燈12在夜晚或光線較暗時(shí)提供照明,方便人們檢測(cè),箱體4底端內(nèi)壁設(shè)有攝像頭13,攝像頭13與外部顯示設(shè)備連接,通過攝像頭13及時(shí)看清箱體4內(nèi)的檢測(cè)情況,箱體4內(nèi)設(shè)有光譜分析儀14,光譜分析儀14設(shè)置在材料放置臺(tái)8上方,光譜分析儀14對(duì)待測(cè)材料進(jìn)行檢測(cè),箱體4內(nèi)設(shè)有磁飽和式穩(wěn)壓電源16,為配備單相220V,功率為3KW的磁飽和式穩(wěn)壓電源16,減少電壓波動(dòng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。
本實(shí)用新型的工作原理是:本實(shí)用新型導(dǎo)輪方便裝置移動(dòng),省時(shí)省力,專用地線保護(hù)光譜分析儀,避免其他因素影響光譜分析儀,利于保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,托盤內(nèi)放置待測(cè)試樣品,調(diào)節(jié)支撐柱的高度,方便對(duì)其檢測(cè),通過吸塵器將箱體內(nèi)的灰塵等吸走,保證箱體內(nèi)的整潔,避免其影響分析結(jié)果,保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,計(jì)時(shí)器記錄測(cè)試時(shí)間,方便準(zhǔn)確檢測(cè),LED燈在夜晚或光線較暗時(shí)提供照明,方便人們檢測(cè),通過攝像頭及時(shí)看清箱體內(nèi)的檢測(cè)情況,磁飽和式穩(wěn)壓電源減少電壓波動(dòng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。
上面對(duì)本專利的較佳實(shí)施方式作了詳細(xì)說明,但是本專利并不限于上述實(shí)施方式,在本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員所具備的知識(shí)范圍內(nèi),還可以在不脫離本專利宗旨的前提下做出各種變化。