技術特征：
技術總結
本發明公開了一種基于量子弱測量的極小相位測量系統以及方法，該極小相位測量系統包括：信號發生裝置，所述信號發生裝置用于生成二能級量子客體的初始態；所述初始態包括指針態以及系統態；極小相位信號映射裝置，所述極小相位信號映射裝置用于基于所述初始態，將極小相位信號映射到量子客體的指針態上；信號處理裝置，所述信號處理裝置用于對量子客體的系統態進行后選擇，實現對極小相位信號的放大；提取裝置，所述提取裝置用于對量子客體的指針態在預設的測量基下提取放大后的所述極小相位信號；計算裝置，基于放大后的所述極小相位信號計算所述極小相位信號。本發明技術方案可以應用于小于0.1弧度的極小相位信號的測量。
技術研發人員：胡孟軍;張永生;胡曉敏;柳必恒
受保護的技術使用者：中國科學技術大學
技術研發日：2017.06.29
技術公布日：2017.08.18