本發明涉及一種有水試氣工裝及其應用,用于檢測電機端蓋的氣密性。
背景技術:
屏蔽電機作為屏蔽泵的定子部分主要由機殼和端蓋焊接而成,由于端蓋部件可能存在氣孔,如果焊接后再整泵試氣極易造成整臺水泵的報廢,大幅增加了生產成本。因此需要提前對端蓋進行密封性能檢驗。
一般的試氣工裝主要靠橡膠密封件整個將被測端蓋的孔堵起來,然后通氣測試氣密性,由于端蓋結構的復雜性,無法確定泄露位置,端蓋上的氣孔很容易被橡膠密封件壓住導致氣孔無法漏氣,影響試氣檢測的準確性。
技術實現要素:
本發明的目的在于解決現有技術存在的上述問題而提供一種有水試氣工裝及其應用,將端蓋放置于試氣工裝上,啟動壓裝設備將壓環、端蓋和密封芯軸與墊模壓緊,然后通氣沒入水中,除了端蓋上的電纜孔、通孔通過密封件常規密封外,僅在端蓋的內壁和外壁分別通過兩道密封結構形成密封,其他位置均為裸露狀態,進行試氣檢測時,能夠很明確且容易的確定泄露位置,避免焊接后再整泵試氣極易造成整臺水泵的報廢,大為降低了生產加工成本。
本發明的上述技術目的主要是通過以下技術方案解決的:有水試氣工裝,其特征在于包括中空內腔的基座,設置于所述基座內腔中的中心密封組件,設置于所述基座止口上外側密封組件,所述基座上設置試氣通道,所述試氣通道的外端設置進氣口,所述基座內設置排水通道,所述基座外壁設置排水閥,所述排水閥設置于所述排水通通道外端;使用時,基座內腔上放置一端蓋,所述中心密封組件和外側密封組件分布密封所述端蓋的外側壁和內側壁,使試氣通道內端形成密封,所述有水試氣工裝用于對所述端蓋進行氣密性檢測。將端蓋放置于試氣工裝上,啟動壓裝設備將壓環、端蓋和密封芯軸與墊模壓緊,然后通氣沒入水中,除了端蓋上的電纜孔、通孔通過密封件常規密封外,僅在端蓋的內壁和外壁分別通過兩道密封結構形成密封(密封結構形成的密封位置位于端蓋焊接到電機上的焊接位置,有利于暴漏端蓋上潛在的漏氣點),其他位置均為裸露狀態,進行試氣檢測時,能夠很明確且容易的確定泄露位置,避免焊接后再整泵試氣極易造成整臺水泵的報廢,大為降低了生產加工成本。
為了保證工裝內積水的排出,所述基座上設置排水通道和外側壁上的排水閥。
作為對上述技術方案的進一步完善和補充,本發明采用如下技術措施:所述外側密封組件包括設置在所述基座止口上的第一o形密封圈,壓在所述第一o形密封圈上的蓋環,裝入端蓋、并對所述蓋環施加壓力時,所述第一o形密封圈形變,對端蓋外側壁形成密封配合。除了端蓋上的電纜孔、通孔通過密封件常規密封外,僅在端蓋的內壁和外壁分別通過兩道o形密封圈形成密封,o形密封圈覆蓋的面積小,使端蓋更多面積裸露。
具體來說:所述蓋環的縱向端面呈z字形,所述蓋環的腳部壓在所述第一o形密封圈上,所述蓋環的肩部扣在所述基座止口端面上,所述蓋環的豎向部與所述基座止口位置的內壁形成插接。
所述中心密封組件包括:芯塊,與所述芯塊配合的芯塊蓋體,所述芯塊外沿設置第二o形密封圈,所述芯塊蓋體壓在所述第二o形密封圈上,裝入端蓋、并對所述芯塊蓋體施加壓力時,所述第二o形密封圈形變,對端蓋內側壁形成密封配合。
所述芯塊位于重心偏下方向設置橫向翻邊,所述第二o形密封圈設置所述橫向翻邊上,所述芯塊蓋體上具有下折邊,所述下折邊壓在所述第二o形密封圈上,使用時,所述第二o形密封圈與端蓋內側壁的底沿配合。
所述芯塊下端具有插接部,所述基座內腔底部設置凹槽,所述插接部插于所述凹槽內,所述芯塊上部為階梯形,所述臺階向上延伸,所述橫向翻邊位于臺階結構的底部,所述芯塊蓋體與芯塊上部輪廓配合,形成扣接關系。為了便于端蓋潛在泄露氣泡的觀察,將芯塊和芯塊蓋體設計成階梯樣式,從下往上,橫截面積逐步減小,從而增大芯塊蓋體與端蓋內壁之間的間距,有利于潛在泄漏點氣泡的排出,方便觀察。
所述基座內腔中設置定位銷,使用時,所述定位銷插入端蓋的電纜孔中,對端蓋形成定位。
所述基座內腔中設置橡膠塞,使用時,所述橡膠塞密封端蓋上的通孔。
有水試氣工裝的應用,其特征在于:
將端蓋放入所述基座內腔中,使所述芯塊和芯塊蓋體穿過所述端蓋的中心軸孔;
密封端蓋上的孔;
同時對所述蓋環、芯塊蓋體、端蓋、堵頭施壓,使所述第一o形密封圈和第二o形密封圈形成徑向形變,所述第一o形密封圈使所述基座、蓋環、端蓋外壁形成密封;所述第二o形密封圈使所述芯塊、芯塊蓋板、端蓋內壁的下部形成密封;
所述端蓋封閉所述試氣通道的內端;
通過所述進氣口向基座上的進氣口通氣
沉入液面下。
對端蓋與試氣工裝進行密封時,通過定位銷插入端蓋的電纜孔,通過橡膠塞密封端蓋上的通孔,使所述端蓋完全封閉所述試氣通道的內端。
本發明具有的有益效果:1、為電機上下端蓋試氣提供一種有效地工裝試氣檢測用具,避免有問題的端蓋被焊接在電機上,造成更大的浪費。2、為了增加試氣工裝檢驗的準確性,密封結構形成的密封位置位于端蓋焊接到電機上的焊接位置,有利于暴漏端蓋上潛在的漏氣點。3、將芯塊和芯塊蓋體設計成階梯樣式,從下往上,橫截面積逐步減小,從而增大芯塊蓋體與端蓋內壁之間的間距,有利于潛在泄漏點氣泡的排出,也方便觀察端蓋潛在泄露所產生氣泡。4、為了保證工裝內積水的排出,所述基座上設置排水通道和外側壁上的排水閥。
附圖說明
圖1是本發明用于對端蓋裝配用于氣密檢測時的裝配結構示意圖。
圖2是圖1的爆炸結構示意圖。
圖3是圖1的俯視結構示意圖。
圖4是圖3中的a-a向結構示意圖。
圖5是圖3中的b-b向結構示意圖。
具體實施方式
下面通過實施例,并結合附圖,對本發明的技術方案作進一步具體的說明。
實施例:如圖1-5所示,有水試氣工裝,包括中空內腔的基座1,設置于所述基座內腔中的中心密封組件2,設置于所述基座止口上外側密封組件3,所述基座上設置試氣通道4,所述試氣通道的外端設置進氣口5,所述基座內設置排水通道,所述基座外壁設置排水閥6,所述排水閥6設置于所述排水通通道外端;使用時,基座內腔上放置一端蓋7,所述中心密封組件2和外側密封組件3分布密封所述端蓋7的外側壁和內側壁,使試氣通道內端形成密封,所述有水試氣工裝用于對所述端蓋進行氣密性檢測。將端蓋放置于試氣工裝上,啟動壓裝設備將壓環、端蓋和密封芯軸與墊模壓緊,然后通氣沒入水中,除了端蓋上的電纜孔71、通孔72通過密封件常規密封外(基座1內腔中設置橡膠塞9,使用時,橡膠塞9密封端蓋上的通孔72)。
),僅在端蓋的內壁和外壁分別通過兩道密封結構形成密封(密封結構形成的密封位置位于端蓋焊接到電機上的焊接位置,有利于暴漏端蓋上潛在的漏氣點),其他位置均為裸露狀態,進行試氣檢測時,能夠很明確且容易的確定泄露位置,避免焊接后再整泵試氣極易造成整臺水泵的報廢,大為降低了生產加工成本。
試氣工裝試氣結束之后內部會倒灌入液體,為了避免下次試氣時液體將漏氣位置堵住,在所述試氣工裝的側面設置排水閥,用于清除所述試氣工裝內部的積水,有利于試氣的準確性。
作為對上述技術方案的進一步完善和補充,本發明采用如下技術措施:所述外側密封組件3包括設置在所述基座1止口上的第一o形密封圈31,壓在所述第一o形密封圈上的蓋環32,裝入端蓋、并對所述蓋環施加壓力時,所述第一o形密封圈形變,對端蓋外側壁形成密封配合。除了端蓋上的電纜孔71、通孔72通過密封件常規密封外,僅在端蓋的內壁和外壁分別通過兩道o形密封圈形成密封,o形密封圈覆蓋的面積小,使端蓋更多面積裸露。
作為優選:所述蓋環32的縱向端面呈z字形,所述蓋環的腳部壓在所述第一o形密封圈31上,所述蓋環的肩部扣在所述基座止口端面上,所述蓋環的豎向部與所述基座止口位置的內壁形成插接。
所述中心密封組件2包括:芯塊21,與所述芯塊配合的芯塊蓋體22,所述芯塊外沿設置第二o形密封圈23,所述芯塊蓋體壓在所述第二o形密封圈上,裝入端蓋、并對所述芯塊蓋體施加壓力時,所述第二o形密封圈形變,對端蓋內側壁形成密封配合。
所述芯塊21位于重心偏下方向設置橫向翻邊210,所述第二o形密封圈23設置所述橫向翻邊210上,所述芯塊蓋體上具有下折邊220,所述下折邊壓在所述第二o形密封圈上,使用時,所述第二o形密封圈與端蓋內側壁的底沿配合。
所述芯塊下端具有插接部211,所述基座內腔底部設置凹槽,所述插接部插于所述凹槽內,所述芯塊上部為階梯形,所述臺階向上延伸,所述橫向翻邊位于臺階結構的底部,所述芯塊蓋體與芯塊上部輪廓配合,形成扣接關系。為了便于端蓋潛在泄露氣泡的觀察,將芯塊和芯塊蓋體設計成階梯樣式,從下往上,橫截面積逐步減小,從而增大芯塊蓋體與端蓋內壁之間的間距,有利于潛在泄漏點氣泡的排出,方便觀察。
所述基座1內腔中設置定位銷8,使用時,所述定位銷插入端蓋的電纜孔中,對端蓋形成定位。為了形成穩定的定位,較常用的為六角定位銷。
有水試氣工裝的應用,其步驟包括:
1、將端蓋放入所述基座內腔中,使所述芯塊和芯塊蓋體穿過所述端蓋的中心軸孔;
2、密封端蓋上的孔;
3、同時對所述蓋環、芯塊蓋體、端蓋、堵頭施壓,使所述第一o形密封圈和第二o形密封圈形成徑向形變,所述第一o形密封圈使所述基座、蓋環、端蓋外壁形成密封;所述第二o形密封圈使所述芯塊、芯塊蓋板、端蓋內壁的下部形成密封;
4、所述端蓋封閉所述試氣通道的內端;
5、通過所述進氣口向基座上的進氣口通氣
6、沉入液面下。
當端蓋存在漏氣孔時,該位置處的水中會冒氣泡,就能容易的確定漏氣點,如果端蓋上沒有漏氣孔的存在,則說明端蓋時復合標準的。通過該有水試氣工裝應用于檢測電機端蓋,能夠準確、簡單的檢測端蓋是否存在漏氣。
在對端蓋進行試氣檢測時,對端蓋與試氣工裝進行密封時,通過定位銷插入端蓋的電纜孔,電纜孔的上端口再通過密封組件10密封,通過橡膠塞9密封端蓋上的通孔72,使所述端蓋完全封閉所述試氣通道的內端。
以上所述僅為本發明的優選實施例而已,并不用于限制本發明。在上述實施例中,本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內,所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發明的保護范圍之內。