一種光纖質量數據的分析方法及系統與流程

本發明涉及光纖質量分析技術領域，尤其涉及一種光纖質量數據的分析方法及系統。

背景技術：

otdr(opticaltimedomainreflectometer，光時域反射儀)是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產生的背向散射而制成的精密的光電一體化儀表，被廣泛應用于光纜線路的維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。光纜線路維護人員使用otdr進行光纖質量分析，以實現光纜線路日常測試和技術性維護。

目前的光纖質量分析方法是，光纜線路維護人員利用otdr儀表完成光纜線路空閑纖芯的測試，通過測試得到背向散射曲線，然后由人工對測試到的背向散射曲線進行分析，記錄纖芯長度、平均衰耗等數據，把分析結果填寫到excel表中進行匯總，以指導光纜線路的維護、優化和故障處理，判斷光纜線路質量、定位光纜線路故障位置、發現光纖存在的問題和隱患等。

在實現本發明過程中，發明人發現現有的光纖質量分析方法，分析效率較低，每半天只能分析1-2條光纜，對于全省范圍的海量光纖數據，無法做到準確詳細的分析。處理耗時、耗力、容易出錯，龐大的光纜線路纖芯資源，導致光纜線路維護工作量大。而且，傳統的光纜監測方案必須依賴廣泛部署的硬件配套設施才能夠正常使用，硬件安裝的越多，覆蓋光纜范圍越廣，系統才能夠真正起到實時監測的作用，但是隨之帶來的安裝與部署成本也會隨著光纜的增加而不斷增加。因此，現有的光纖質量分析方法具有成本高，效率底，耗時間的問題。

技術實現要素：

鑒于上述問題，本發明提出了一種光纖質量數據的分析方法及系統，實現了光纖測試數據的并行分析，以及對光纖質量數據的可視化展示和管理，極大提升了光纖質量分析與管理效率。

本發明的一個方面，提供了一種光纖質量數據的分析方法，包括：

將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；

各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；

根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

可選地，所述各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，包括：

各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息；

各個分析器分別根據預設的分析參數分析對應的光纖測試數據中的數據信息，確定光纖測試數據中存在的事件點和對應的事件位置，并對所述事件點和對應的事件位置進行分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別。

可選地，所述各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息，包括：

當某一分析器讀取到的光纖測試數據存在數據格式錯誤和/或數據內容錯誤時，對所述光纖測試數據進行數據修復。

可選地，所述光纖質量數據包括光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值；

所述根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別，包括：

根據光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值，確定相應光纖的光纖質量級別。

可選地，所述方法還包括：

根據各個光纖質量級別對應的級別預設權重，以及各個光纖質量級別對應光線數量占待檢測光纜總光纖數量的比值，確定所述待檢測光纜的光纜質量評分，并將所述光纜質量評分進行可視化展示；和/或

根據光纖測試數據的準確率和覆蓋率，確定所述待檢測光纜的光纜數據分數，并將所述光纜質量分數進行可視化展示。

可選地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，包括：

將每一光纖的光纖測試數據進行可視化展示，并將對應的光纖質量數據標示在所述光纖測試數據的展示圖形上。

可選地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，還包括：

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，其中，所述光纖特征值包括光纖的光纖質量數據和對應光纖測試數據的測試參數。

可選地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，包括：

將光纖特征值相同的待檢測光纖采用第一標識進行統一標識；

將測試時間相同且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第二標識進行統一標識；

將測試時間相差大于預設門限值且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第三標識進行統一標識。

可選地，在所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示之后，所述方法還包括：

根據所述各條光纖的光纖質量數據，確定所述待檢測光纜存在的質量問題；

根據所述質量問題查找預設的專家建議庫，以獲取對應的整治修理建議。

本發明的另一個方面，提供了一種光纖質量數據的分析系統，包括：

配置模塊，用于將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；

質量分析模塊，用于各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

可視化展示模塊，用于將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；

生成模塊，用于根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

本發明實施例提供的光纖質量數據的分析方法及系統，通過將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的多個分析器，并對分析到的光纖質量數據進行可視化展示，實現了光纖測試數據的并行分析以及對光纖質量數據的可視化展示，并基于自動生成光纜質量分析報告實現光纖質量管理，極大提升了光纖質量分析與管理效率。

本發明可以幫助運營商做到光纜級別的質量可視化分析，快速分析與管理光纜質量情況，將分散易丟失的測試文件統一管理起來，改變傳統數據分析方式，提高分析效率。快速分析出光纜全纖芯質量詳情，并通過圖形化的方式清晰展示給管理人員，使管理人員可以輕松了解光纜質量詳情，并針對每個分析結果導出質量報告，形成詳細有效的總結匯報文件，做到在全國通信管理維護領域中，處于領先地位。

上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和其它目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉本發明的具體實施方式。

附圖說明

通過閱讀下文優選實施方式的詳細描述，各種其他的優點和益處對于本領域普通技術人員將變得清楚明了。附圖僅用于示出優選實施方式的目的，而并不認為是對本發明的限制。而且在整個附圖中，用相同的參考符號表示相同的部件。在附圖中：

圖1為本發明實施例的一種光纖質量數據的分析方法的流程圖；

圖2為本發明實施例中光纖質量數據的分析方法的實現原理圖；

圖3為本發明實施例中進行光纖質量級別確定的具體實現流程圖；

圖4為本發明實施例的一種光纖質量數據的分析系統的結構示意圖。

具體實施方式

下面將參照附圖更詳細地描述本公開的示例性實施例。雖然附圖中顯示了本公開的示例性實施例，然而應當理解，可以以各種形式實現本公開而不應被這里闡述的實施例所限制。相反，提供這些實施例是為了能夠更透徹地理解本公開，并且能夠將本公開的范圍完整的傳達給本領域的技術人員。

本技術領域技術人員可以理解，除非另外定義，這里使用的所有術語(包括技術術語和科學術語)，具有與本發明所屬領域中的普通技術人員的一般理解相同的意義。還應該理解的是，諸如通用字典中定義的那些術語，應該被理解為具有與現有技術的上下文中的意義一致的意義，并且除非被特定定義，否則不會用理想化或過于正式的含義來解釋。

為了解決現有的光纖質量分析方法具有成本高，效率底，耗時間的問題，本發明實施例提出一種光纖質量數據的分析方法及系統。

圖1示意性示出了本發明一個實施例的光纖質量數據的分析方法的流程圖。參照圖1，本發明實施例的光纖質量數據的分析方法具體包括以下步驟：

s11、將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器。

s12、各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據。

s13、將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示。

s14、根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

本發明實施例提出的光纖質量數據的分析方法是一種基于大數據的并行分析方法，適用于多條光纖測試數據并行分析。具體的，參見圖2，通過將多條光纖測試數據，分配到多個分析器中。在實際應用中，如果光纖測試數據數量大于分析器的數量，則每個分析器可以分配多條光纖的光纖測試數據，多個光纖測試數據依次被所分配的分析器分析。在多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的多個分析器之后，為這些光纖測試數據設置一套統一的分析參數，并將分析參數同時傳給所有分析器，以供每個分析器同時進行分析，得到對應光纖的光纖質量數據，然后對得到的光纖質量數據進行可視化展示。

本發明實施例提供的光纖質量數據的分析方法，通過將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的多個分析器，并對分析到的光纖質量數據進行可視化展示，實現了光纖測試數據的并行分析以及對光纖質量數據的可視化展示，并基于自動生成光纜質量分析報告實現光纖質量管理，極大提升了光纖質量分析與管理效率。

其中，步驟s12中的各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，具體通過以下步驟實現：

各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息。進一步地，在讀取所分配的光纖測試數據時，如果某一分析器讀取到的光纖測試數據存在數據格式錯誤和/或數據內容錯誤，則首先對所述光纖測試數據進行數據修復。

各個分析器分別根據預設的分析參數分析對應的光纖測試數據中的數據信息，確定光纖測試數據中存在的事件點和對應的事件位置，并對所述事件點和對應的事件位置進行分析，得到對應光纖的光纖質量數據；其中，事件點包括反射、衰耗、反射、結尾反射等事件點。

根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別。其中，所述光纖質量數據包括光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值。相應的，所述根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別，包括：根據光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值，確定相應光纖的光纖質量級別。

在實際應用中，分析器根據分配到的光纖測試數據進行分析，首先讀取光纖測試數據中的所有數據信息，如果讀取到的光纖數據格式出現問題或者光纖數據內容存在錯誤，分析器將會對光纖數據嘗試修復，修復文件中出現的錯誤信息。若修復失敗，則進行異常輸出，若修復成功，則分析器讀取修復完成的光纖數據，分析出光纖數據中的事件點與事件位置，具體事件包括起始反射、衰耗、反射、結尾反射等。根據分析出的事件點與事件位置，并結合光纖理論長度確定衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值。根據光纖理論長度與光纖分析長度判斷光纖是否為存在斷點的中斷光纖，并根據光纖平均衰耗值以及設定的劃分閾值，判斷光纖為優質光纖或一般光纖或高衰耗光纖，實現光纖質量級別的確定，進行光纖質量級別確定的具體實現流程可參見圖3。其中，設定劃分閾值可以由本領域技術人員根據實際需要適當設置，本發明實施例不對具體的發射頻率進行限制。

在本發明的一個可選實施例中，還包括對整體光纜纖芯質量進行質量和數據兩個維度進行評分，具體評分實現方式如下：根據各個光纖質量級別對應的級別預設權重，以及各個光纖質量級別對應光線數量占待檢測光纜總光纖數量的比值，確定所述待檢測光纜的光纜質量評分，并將所述光纜質量評分進行可視化展示；和/或，根據光纖測試數據的準確率和覆蓋率，確定所述待檢測光纜的光纜數據分數，并將所述光纜質量分數進行可視化展示。

本實施例中，對整體光纜纖芯質量進行質量和數據兩個維度進行評分，光纜質量評分根據分析結果中的不同光纖質量級別，為不同光纖質量級別設置對應的級別預設權重，按照不同的級別權重進行計算。在一個具體示例中，計算方法如下：光纜質量評分＝1*優質纖芯數占比+0.8*一般纖芯數占比+0.5*高衰耗纖芯數占比+0*中斷纖芯數占比。光纜數據評分根據光纖測試數據的準確率和覆蓋率確定，具體根據光纖測試數據測試質量、光纜纖芯分析覆蓋率和數據重復情況進行綜合打分，主要用來衡量光纜分析數據的可信度。其中，光纖測試數據的準確率實際為測試參數欠佳的數據，也就是不能正確反映測試結果的數據占比。光纜纖芯分析覆蓋率實際為未上傳測試曲線數據占比。在一個具體示例中，計算方法如下：光纜數據評分＝1*正常數據占比+0.55*(未上傳曲線數據占比+測試參數欠佳數據占比)。

其中，步驟s13中的將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示具體實現方法包括：將每一光纖的光纖測試數據進行可視化展示，并將對應的光纖質量數據標示在所述光纖測試數據的展示圖形上。

進一步地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，還包括：將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，其中，所述光纖特征值包括光纖的光纖質量數據和對應光纖測試數據的測試參數。其中，光纖特征值的比對以及比對結果展示具體實現如下，將光纖特征值相同的待檢測光纖采用第一標識進行統一標識；將測試時間相同且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第二標識進行統一標識；將測試時間相差大于預設門限值且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第三標識進行統一標識。

在實際應用中，分析結束后將每條光纖對應的光纖特征值保存在指定數據庫中，然后，綜合對比每條已經存在與數據庫中的光纖特征值，其中，光纖特征值包括：光纖數據的測試參數以及分析出來的光纖長度、衰耗、平均衰耗等光纖質量數據。如果發現所有特征值相等，則通過圖形化的方式突出顯示相等的多條光纖，并把相同的光纖數據互相鏈接。如果發現只有測試時間相同，其他測試數據不同，則通過圖形化的方式突出顯示時間相等的多條光纖，并把相同的光纖數據互相鏈接。如果發現測試時間相差大于門限值，其他測試數據不同，則通過圖形化的方式突出顯示測試時間相差大于門限值的多條光纖。

所有數據分析結束后，將所有數據分析結果通過圖形化的方式進行展示，展示的內容包括將光纖測試數據進行圖形可視化展示，將光纖測試數據分析出的衰耗點位置、衰耗點大小、光纖長度、平均衰耗等信息進行展示。具體的，還可以根據分析情況，將分析出的大于預先設置門限的衰耗點位置與衰耗大小進行分類匯總，并將分類匯總結果進行圖形化展示。

在本發明的一個可選實施例中，在所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示之后，所述方法還包括以下步驟：根據所述各條光纖的光纖質量數據，確定所述待檢測光纜存在的質量問題；根據所述質量問題查找預設的專家建議庫，以獲取對應的整治修理建議。

本發明實施例中，在根據分析結果將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示之后，還可以根據所述各條光纖的光纖質量數據，確定所述待檢測光纜存在的質量問題，根據質量問題查找預設的專家建議庫，以獲取對應的整治修理建議，并自動輸出針對光纜質量問題的整治修理意見。其中，整治修理意見具體包括以下幾個方面的內容：

數據質量情況，解釋數據質量評分的高低原因；

光纜質量情況，解釋光纜質量評分高低的原因；

詳細建議，對分析結果進行歸納整理，輸出分析后的衰耗集中區域，并根據衰耗區域集中程度與衰耗值大小，輸出相應的整治建議。

在一個具體示例中，整治修理意見的具體內容可以為：

本報告中的數據質量極低，無法反應纜段質量的實際情況。

其中，使用情況和質量情況均未知的纖芯共10條(在所在纖芯中占83％)。這部分纖芯的數據空缺，將對纜段整體質量評估造成嚴重影響。建議補全缺失的數據，或在核查纜段信息后，更新系統已用纖芯數量設置。

本報告中的纜段質量極低，無法保證支持通訊業務的正常運行。

纜段共12條纖芯。其中在用纖芯1條(在所有纖芯中占8％)，使用率非常低。

無可用纖芯。

不可用纖芯共1條(在所有纖芯中占8％)，其中中斷纖芯1條，高衰耗纖芯0條。不可用纖芯占比非常低，但仍將對纜段質量造成輕微影響。建議擇日對其進行整治，以保持纜段可用性。

建議對以下位置進行整治：

在55.34km附近，有1處斷點。建議對該處重新熔接。整治后將能夠顯著提高纜段質量。

進一步地，本發明實施例提供的光纖質量數據的分析方法，還包括對待檢測光纜中各條光纖的測試詳情的可視化展示。其中，測試詳情包括光纖測試時選擇的測試參數、測試時間，也包括光纖的分析長度、平均衰耗、總衰耗等分析參數。如果測試參數選擇不佳或測試曲線分析告警，本發明實施例還能夠在相對應纖芯數據下顯示建議的測試參數與告警內容。

進一步地，可以基于待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據以及個上述的各種可視化展示結果生成光纜質量分析報告。本發明實施例，通過對不同光纜纖芯的分析，可動態輸出光纜質量分析報告，即綜合匯總報告，匯總后的光纜質量評分，匯總后的光纜數據評分，光纜質量分布情況、光纜質量變化情況，數據質量分布情況、數據質量變化情況等。

本發明實施例提供的技術方案，還可以應用到光纜日常割接流程中，根據光纜日常割接流程特點，將整個割接流程引入本發明實施例提供的光纖質量數據的分析方法，從割接申請到割接前光纜數據分析再到審核割接再到割接后的光纜質量分析，從而形成光纜割接前后的質量對比，從流程的控制把握光纜質量的變化情況，并且自動輸出前后的對比報告。

綜上可知，本發明實施例提供的光纖質量數據的分析方法至少具有以下有點：

從原來的人工填寫excel表的方式轉變為直接生成分析報告，提高效率；

從單纖芯分析轉變為多纖芯批量分析；

改變數字展現方式，可以圖形可視化批量展現光纜質量情況；

自動對比光纖數據相似度，防止數據造假行為；

對光纜質量與數據質量進行評分，量化光纜質量與數據質量優異程度；

對分析結果進行自動化整理，并自動輸出整治意見，指導維護人員如何整治；

數據庫式的數據存儲方式，數據不丟失，查找更加方便；

對數據進行自動匯總，可動態生成匯總報告；

把控光纜割接流程，及時更新光纜割接前后的質量情況，并可以自動形成對比報告。

對于方法實施例，為了簡單描述，故將其都表述為一系列的動作組合，但是本領域技術人員應該知悉，本發明實施例并不受所描述的動作順序的限制，因為依據本發明實施例，某些步驟可以采用其他順序或者同時進行。其次，本領域技術人員也應該知悉，說明書中所描述的實施例均屬于優選實施例，所涉及的動作并不一定是本發明實施例所必須的。

圖4示意性示出了本發明一個實施例的光纖質量數據的分析系統的結構示意圖。參照圖4，本發明實施例的光纖質量數據的分析系統具體包括配置模塊401、質量分析模塊402、可視化展示模塊403以及生成模塊404，其中，所述的配置模塊401，用于將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；質量分析模塊402，用于各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；可視化展示模塊403，用于將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；生成模塊404，用于根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

本發明實施例中，質量分析模塊402，包括讀取單元、分析單元以及確定單元，其中：

讀取單元，用于各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息；

分析單元，用于各個分析器分別根據預設的分析參數分析對應的光纖測試數據中的數據信息，確定光纖測試數據中存在的事件點和對應的事件位置，并對所述事件點和對應的事件位置進行分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

確定單元，用于根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別。

進一步地，讀取單元，還用于當某一分析器讀取到的光纖測試數據存在數據格式錯誤和/或數據內容錯誤時，對所述光纖測試數據進行數據修復。

其中，光纖質量數據包括光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值。相應的，確定單元，具體用于根據光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值，確定相應光纖的光纖質量級別。

本發明實施例中，可視化展示模塊403，還用于根據各個光纖質量級別對應的級別預設權重，以及各個光纖質量級別對應光線數量占待檢測光纜總光纖數量的比值，確定所述待檢測光纜的光纜質量評分，并將所述光纜質量評分進行可視化展示；和/或，根據光纖測試數據的準確率和覆蓋率，確定所述待檢測光纜的光纜數據分數，并將所述光纜質量分數進行可視化展示。

本發明實施例中，可視化展示模塊403，還用于將每一光纖的光纖測試數據進行可視化展示，并將對應的光纖質量數據標示在所述光纖測試數據的展示圖形上。

進一步地，可視化展示模塊403，還用于將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，其中，所述光纖特征值包括光纖的光纖質量數據和對應光纖測試數據的測試參數。具體的，用于將光纖特征值相同的待檢測光纖采用第一標識進行統一標識；將測試時間相同且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第二標識進行統一標識；將測試時間相差大于預設門限值且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第三標識進行統一標識。

在本發明的一個可選實施例中，所述系統還包括輸出模塊，該輸出模塊用于在所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示之后，根據所述各條光纖的光纖質量數據，確定所述待檢測光纜存在的質量問題；根據所述質量問題查找預設的專家建議庫，以獲取對應的整治修理建議，并進行輸出。

此外，本發明另一實施例還提供了一種電子設備，所述電子設備包括：殼體、處理器、存儲器、電路板和電源電路，其中，所述電路板安置在所述殼體圍成的空間內部，所述處理器和所述存儲器設置在所述電路板上；所述電源電路，用于為所述電子設備的各個電路或器件供電；所述存儲器用于存儲可執行程序代碼；所述處理器通過讀取所述存儲器中存儲的可執行程序代碼來運行與可執行程序代碼對應的程序，以用于執行以下步驟：將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

本發明實施例提供的光纖質量數據的分析方法及系統，通過將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的多個分析器，并對分析到的光纖質量數據進行可視化展示，實現了光纖測試數據的并行分析以及對光纖質量數據的可視化展示，并基于自動生成光纜質量分析報告實現光纖質量管理，極大提升了光纖質量分析與管理效率。

以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，其中所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網絡單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實現本實施例方案的目的。本領域普通技術人員在不付出創造性的勞動的情況下，即可以理解并實施。

通過以上的實施方式的描述，本領域的技術人員可以清楚地了解到各實施方式可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現，當然也可以通過硬件。基于這樣的理解，上述技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟件產品的形式體現出來，該計算機軟件產品可以存儲在計算機可讀存儲介質中，如rom/ram、磁碟、光盤等，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網絡設備等)執行各個實施例或者實施例的某些部分所述的方法。

此外，本領域的技術人員能夠理解，盡管在此的一些實施例包括其它實施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同實施例的特征的組合意味著處于本發明的范圍之內并且形成不同的實施例。例如，在下面的權利要求書中，所要求保護的實施例的任意之一都可以以任意的組合方式來使用。

最后應說明的是：以上實施例僅用以說明本發明的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本發明各實施例技術方案的精神和范圍。