技術(shù)特征：
技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種聚合物薄膜高精度定厚儀，其特征是，涂膜測厚儀表盤開始有一個(gè)示數(shù)，與設(shè)定值比較，輸出判定命令到螺旋驅(qū)動裝置，通過控制螺旋套旋轉(zhuǎn)角度，控制下降桿的下降高度，采集涂膜測厚儀表盤示數(shù)，輸出到數(shù)據(jù)采集與控制裝置，如此循環(huán)，實(shí)現(xiàn)高度下降的自動控制。本發(fā)明的特征在于，利用螺旋驅(qū)動裝置螺旋放大原理，通過數(shù)據(jù)采集與控制裝置與涂膜測厚儀和螺旋驅(qū)動裝置的數(shù)據(jù)通訊，結(jié)合涂膜測厚儀的磁吸力測量原理，能實(shí)現(xiàn)自定義厚度，得到想要的聚合物薄膜材料厚度，也即定厚，這種控制方式大大提高了裝置下降過程的精度，對于薄膜厚度的測量更精準(zhǔn)，采用兩個(gè)玻璃壓片器，能夠使得聚合物薄膜材料厚度更為均一，設(shè)備成本低廉，效果顯著。
技術(shù)研發(fā)人員：何麗娟;趙磊;陳春天;牛會琴;李大偉;苑振華;楊雄
受保護(hù)的技術(shù)使用者：哈爾濱理工大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.16
技術(shù)公布日：2017.07.21