1.一種二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：包括導軌，在導軌上安裝有若干可平移且相互獨立的固定機構，在固定機構上按順序依次安裝有LED芯片，LED芯片前方安裝有透鏡，透鏡前方安裝有調節鏡，調節鏡前方設有照射屏，LED芯片的光源照射方向朝向透鏡；照射屏、調節鏡、透鏡和LED芯片相互對齊。
2.根據權利要求1所述的二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：所述固定機構為立柱，立柱固定于滑塊上，滑塊安裝于導軌上形成可移動結構，導軌水平安裝于一工作臺上。
3.根據權利要求2所述的二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：所述立柱包括有四根，從工作臺的左側起依次為第一立柱、第二立柱、第三立柱和第四立柱，其中照射屏安裝于第一立柱上，調節鏡安裝于第二立柱上，透鏡安裝于第三立柱上，LED芯片安裝于第四立柱上。
4.根據權利要求3所述的二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：所述調節鏡通過一調節鏡夾具安裝于第二立柱上。
5.根據權利要求3所述的二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：所述透鏡安裝于一透鏡上夾具和一透鏡下夾具構成的組合體中，該組合體通過透鏡下夾具安裝于第三立柱上。
6.根據權利要求3所述的二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：所述LED芯片固定在LED芯片夾具中，LED芯片夾具通過LED芯片夾具連接塊安裝在第四立柱上。
7.根據權利要求3所述的二次透鏡的光分布測試裝置，其特征在于：所述照射屏中設置有坐標顯示刻度。