技術總結
本實用新型公開了一種利用太赫茲成像檢測層狀絕緣材料內部缺陷的裝置，該裝置用于在不損壞層狀絕緣材料的情況下對其內部的缺陷進行檢測。利用太赫茲成像檢測層狀絕緣材料內部缺陷的裝置包括：太赫茲發射源、兩個透鏡、太赫茲探測器、二維掃描裝置和成像處理裝置，太赫茲發射源用于發射連續調頻太赫茲波，兩個透鏡用于將太赫茲發射源發射的太赫茲波會聚至待測樣品的表面，在待測樣品表面反射后的太赫茲波再次經過兩個透鏡后由太赫茲探測器接收并與其內部的本振信號混頻后得到一中頻信號，二維掃描裝置控制太赫茲發射源在距離待測樣品表面的一設定距離處對待測樣品的表面進行掃描。
技術研發人員：張振偉;張存林
受保護的技術使用者：首都師范大學
文檔號碼：201621179739
技術研發日：2016.10.27
技術公布日：2017.04.26