10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀的制作方法

本實用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀。

背景技術(shù)：

在電力系統(tǒng)中，10kV開關(guān)作為一種重要的配電設(shè)備得到廣泛應(yīng)用。若10kV 開關(guān)發(fā)生故障，輕則導(dǎo)致上一級開關(guān)跳開，擴(kuò)大停電范圍，重則導(dǎo)致開關(guān)爆炸，甚至人員傷亡。因此為了保證10kV開關(guān)能安全、可靠地運行，需要按時對10kV 開關(guān)的性能進(jìn)行檢測。

目前10kV開關(guān)的測量儀器存在體積大，質(zhì)量重，不易攜帶，加重檢修人員的負(fù)擔(dān)的問題。此外，目前的測量儀器僅通過開關(guān)輔助節(jié)點反饋10kV開關(guān)的動作時間，無法獲取10kV開關(guān)中線圈的電器參數(shù)，從而無法全面檢測10kV開關(guān)各方面的性能。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

基于此，有必要提供一種10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀，能夠全面檢測 10kV開關(guān)各方面的性能，提升可靠性。

本實用新型公開了一種10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀，其包括主控芯片，還包括：

合閘時間測試電路，連接所述主控芯片，還用于連接10kV開關(guān)的合閘線圈；

分閘時間測試電路，連接所述主控芯片，還用于連接所述10kV開關(guān)的分閘線圈；

合閘電壓采集電路，連接所述主控芯片，還用于連接所述10kV開關(guān)的合閘線圈；

分閘電壓采集電路，連接所述主控芯片，還用于連接所述10kV開關(guān)的分閘線圈；

顯示器，連接所述主控芯片；

其中，所述主控芯片包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器及控制器，所述合閘電壓采集電路及所述分閘電壓采集電路分別通過所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接所述控制器。

作為一種實施方式，所述合閘時間測試電路包括：三極管Q11、繼電器K11、電阻R11及接線端子P11，其中：

所述三極管Q11的基極連接所述主控芯片的輸出引腳，所述三極管Q11的集電極用于連接正向電源，所述三極管Q11的發(fā)射極通過所述繼電器K11的線圈接地；

所述接線端子P11的第一引腳和第二引腳分別連接所述繼電器K11的開關(guān)兩端，所述接線端子P11的第一引腳還用于連接所述10kV開關(guān)的操作電源KM，所述接線端子P11的第二引腳還連接所述10kV開關(guān)的合閘線圈；

所述電阻R11的一端用于連接所述正向電源，所述電阻R11的另一端用于連接所述10kV開關(guān)的常開節(jié)點及所述主控芯片的輸入引腳。

作為一種實施方式，所述分閘時間測試電路包括：三極管Q21、繼電器K21、電阻R21及接線端子P21，其中：

所述三極管Q21的基極連接所述主控芯片的輸出引腳，所述三極管Q21的集電極用于連接正向電源，所述三極管Q21的發(fā)射極通過所述繼電器K21的線圈接地；

所述接線端子P21的第一引腳和第二引腳分別連接所述繼電器K21的開關(guān)兩端，所述接線端子P21的第一引腳還用于連接所述10kV開關(guān)操作電源KM，所述接線端子P21的第二引腳還連接所述10kV開關(guān)的分閘線圈；

所述電阻R21的一端用于連接所述正向電源，所述電阻R21的另一端作為所述合閘電壓采集電路的輸出端，用于連接所述10kV開關(guān)的常閉節(jié)點及所述主控芯片的輸入引腳。

作為一種實施方式，所述合閘電壓采集電路包括：運算放大器A11、電阻 R12、電阻R13、電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17及電阻R18，其中：

所述運算放大器A11的同相輸入端依次通過串聯(lián)的所述電阻R12、所述電阻R13及所述電阻R14連接所述10kV開關(guān)的合閘線圈，所述運算放大器A11 的反相輸入端通過所述電阻R15連接所述運算放大器A11的輸出端，所述運算放大器A11的輸出端；

所述電阻R16的一端連接所述電阻R12及所述電阻R13的連接節(jié)點，另一端用于接地；

所述電阻R17的一端連接所述運算放大器A11的反相輸入端，另一端用于接地；

所述電阻R18的一端連接所述電阻R15與所述運算放大器A11的輸出端的連接節(jié)點，所述電阻R18的另一端用于連接所述主控芯片的第一采樣引腳。

作為一種實施方式，所述分閘電壓采集電路包括：運算放大器A21、電阻 R22、電阻R23、電阻R24、電阻R25、電阻R26、電阻R27及電阻R28，其中：

所述運算放大器A21的同相輸入端依次通過串聯(lián)的所述電阻R22、所述電阻R23及所述電阻R24連接所述10kV開關(guān)的分閘線圈，所述運算放大器A21 的反相輸入端通過所述電阻R25連接所述運算放大器A21的輸出端，所述運算放大器A21的輸出端；

所述電阻R26的一端連接所述電阻R22及所述電阻R23的連接節(jié)點，另一端用于接地；

所述電阻R27的一端連接所述運算放大器A21的反相輸入端，另一端用于接地；

所述電阻R28的一端連接所述電阻R25與所述運算放大器A21的輸出端的連接節(jié)點，所述電阻R28的另一端作為所述分閘電壓采集電路的輸出端，用于連接所述主控芯片的第二采樣引腳。

作為一種實施方式，所述顯示器包括顯示驅(qū)動電路及顯示屏，所述顯示驅(qū)動電路的輸入端連接所述主控芯片的顯示控制引腳，所述顯示驅(qū)動電路的輸出端連接所述顯示屏。

作為一種實施方式，所述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀還包括報警電路，所述報警電路連接所述主控芯片。

作為一種實施方式，所述報警電路包括蜂鳴器LS1、電阻R31及三極管Q31，其中，所述三極管Q31的基極通過所述電阻R31連接所述主控芯片的報警控制引腳，所述三極管Q31的集電極用于連接正向電源，所述三極管Q31的發(fā)射極通過所述蜂鳴器LS1接地。

作為一種實施方式，所述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀還包括按鍵電路，所述按鍵電路連接所述主控芯片的按鍵引腳。

作為一種實施方式，所述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀還包括正向電源電路及反向電源電路，所述正向電源電路的輸出端分別連接所述合閘時間測試電路、所述分閘時間測試電路、所述合閘電壓采集電路、所述分閘電壓采集電路及所述顯示器；所述反向電源電路的輸出端分別連接所述合閘電壓采集電路及所述分閘電壓采集電路。

上述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀，不僅能測試10kV開關(guān)的分閘動作時間、合閘動作時間，還能記錄10kV開關(guān)合閘線圈的電壓變化情況及分閘線圈的電壓變化情況并顯示，以便檢修人員分析線圈狀態(tài)，從而實現(xiàn)全面檢測10kV開關(guān)各方面的性能，提升可靠性。

附圖說明

圖1為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀的模塊結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中主控芯片的電路圖；

圖3為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中合閘時間測試電路的電路圖；

圖4為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中分閘時間測試電路的電路圖；

圖5為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中合閘電壓采集電路的電路圖；

圖6為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中分閘電壓采集電路的電路圖；

圖7為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中正向電源電路的電路圖；

圖8為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中反向電源電路的電路圖；

圖9為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中顯示驅(qū)動電路的電路圖；

圖10為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀中報警電路的電路圖；

圖11為本實用新型一實施例的10kV開關(guān)控制回路的示意圖。

具體實施方式

為使本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式做詳細(xì)的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本實用新型。但是本實用新型能夠以很多不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本實用新型內(nèi)涵的情況下做類似改進(jìn)，因此本實用新型不受下面公開的具體實施例的限制。

此外，術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。在本實用新型的描述中，“多個”的含義是至少兩個，例如兩個，三個等，除非另有明確具體的限定。

本實用新型提供了一種10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀，用于測量10kV開關(guān)的特性參數(shù)，例如用于測量10KV控制回路的特性參數(shù)；又如用于測量10KV 控制回路的動作時間、線圈電壓等特性參數(shù)。

請參閱圖1，如圖1所示，一實施例的10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀100，包括合閘時間測試電路110、分閘時間測試電路120、合閘電壓采集電路130、分閘電壓采集電路140、顯示器150及主控芯片MCU。其中，所述主控芯片選用市售MCU，例如STC12C56系列芯片，例如，STC12C56_28PIN等。

其中合閘時間測試電路110連接主控芯片MCU，還用于連接10kV開關(guān)的合閘線圈。合閘時間測試電路110用于測量10kV開關(guān)的合閘動作時間，例如測量10kV開關(guān)控制回路的合閘動作時間。

分閘時間測試電路120連接主控芯片MCU，還用于連接10kV開關(guān)的分閘線圈。分閘時間測試電路120用于測量10kV開關(guān)的分閘動作時間，例如測量 10kV開關(guān)控制回路的分閘動作時間。

合閘電壓采集電路130，連接主控芯片MCU，還用于連接10kV開關(guān)的合閘線圈。合閘電壓采集電路130用于在10kV開關(guān)控制回路進(jìn)行合閘操作時采集 10kV開關(guān)合閘線圈的電壓，例如在10kV開關(guān)控制回路進(jìn)行合閘操作時，實時采集10kV開關(guān)合閘線圈的電壓，以使主控芯片記錄合閘線圈的電壓變化情況。

分閘電壓采集電路140，連接主控芯片MCU，還用于連接10kV開關(guān)的分閘線圈。分閘電壓采集電路140用于在10kV開關(guān)控制回路進(jìn)行分閘操作時采集 10kV開關(guān)分閘線圈的電壓，例如在10kV開關(guān)控制回路進(jìn)行分閘操作時，實時采集10kV開關(guān)分閘線圈的電壓，以使主控芯片記錄分閘線圈的電壓變化情況。

顯示器150，連接主控芯片MCU，用于顯示合閘線圈的電壓變化情況及分閘線圈的電壓變化情況。顯示器150還用于顯示10kV開關(guān)控制回路的合閘動作時間及分閘動作時間。

其中，主控芯片MCU包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器及控制器，所述合閘電壓采集電路 130及所述分閘電壓采集電路140分別通過所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接所述控制器。

具體實施中，合閘電壓采集電路130及分閘電壓采集電路140分別采集的合閘線圈電壓和分閘線圈電壓為模擬電壓信號，模數(shù)轉(zhuǎn)換器將模擬電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字電壓信號，并將數(shù)字電壓信號傳遞給控制器，控制器對數(shù)字電壓信號進(jìn)行處理，并控制顯示器150進(jìn)行顯示。

在本實施例中，主控芯片MCU連接合閘時間測試電路110以記錄10kV開關(guān)控制回路的合閘動作時間，主控芯片MCU連接分閘時間測試電路120以記錄 10kV開關(guān)控制回路的分閘動作時間，主控芯片MCU連接合閘電壓采集電路130 以記錄合閘線圈的電壓變化情況，主控芯片MCU連接分閘電壓采集電路140以記錄分閘線圈的電壓變化情況，同時，主控芯片MCU還連接顯示器150，以控制顯示器150對上述合閘動作時間、上述分閘動作時間、上述合閘線圈的電壓變化情況及上述分閘線圈的電壓變化情況進(jìn)行顯示。例如，主控芯片MCU控制顯示器150將上述合閘動作時間及上述分閘動作時間以數(shù)值形式進(jìn)行顯示，例如，主控芯片MCU將分、合閘過程中分閘線圈、合閘線圈的電壓變化情況轉(zhuǎn)換成數(shù)字電壓，根據(jù)多個數(shù)字電壓生成電壓變化曲線，并控制顯示器150對該電壓變化曲線進(jìn)行顯示。

上述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀，不僅能測試10kV開關(guān)的分閘動作時間、合閘動作時間，還能記錄10kV開關(guān)合閘線圈的電壓變化情況及分閘線圈的電壓變化情況并顯示，以便檢修人員分析線圈狀態(tài)，從而實現(xiàn)全面檢測10kV開關(guān)各方面的性能，提升可靠性。

在一個實施例中，主控芯片MCU通過集成了模數(shù)轉(zhuǎn)換器和控制器的單片機(jī)實現(xiàn)。例如，如圖2所示，主控芯片MCU采用STC12C56_28PIN單片機(jī)，其至少一個引腳通過接線端子P1連接外部觸發(fā)元件，例如其第四引腳RxD/P3.0、第五引腳TxD/P3.1分別通過接線端子P1連接按鍵開關(guān)。主控芯片MCU的第七引腳XTAL1和第六引腳XTAL2通過晶振Y1互相連接，并且第六引腳XTAL2和第七引腳XTAL1分別通過電容C1和電容C2接地。主控芯片MCU的第三引腳 RST為復(fù)位引腳，通過電阻R1接地，主控芯片MCU的第二八引腳作為電源引腳，用于連接正向電源，主控芯片MCU的第一四引腳GND作為接地引腳，用于接地。其中，第一八引腳P1.0/A DC0及第一九引腳P1.1/ADC1分別用于連接合閘電壓采集電路的輸出端及分閘電壓采集電路的輸出端，合閘線圈電壓及分閘線圈電壓從第一八引腳P1.0/A DC0及第一九引腳P1.1/ADC1引入，由單片機(jī)進(jìn)行讀取和處理。

在一個實施例中，所述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀還包括按鍵電路，所述按鍵電路連接所述主控芯片的按鍵引腳。例如，所述按鍵電路包括一按鍵，該按鍵連接單片機(jī)的引腳P3.0，當(dāng)該按鍵被按下時，主控芯片與合閘時間測試電路110或分閘時間測試電路120連接的輸出引腳輸出高電平。

在一個實施例中，如圖3所示，合閘時間測試電路110包括：三極管Q11、繼電器K11、電阻R11及接線端子P11，其中：三極管Q11的基極作為合閘時間測試電路110的輸入端，連接主控芯片的一輸出引腳，三極管Q11的集電極用于連接正向電源，三極管Q11的發(fā)射極通過繼電器K11的線圈接地；接線端子P11的第一引腳和第二引腳分別連接繼電器K11的開關(guān)兩端，接線端子P11 的第一引腳還用于連接10kV開關(guān)的操作電源KM，接線端子P11的第二引腳還連接10kV開關(guān)的合閘線圈；電阻R11的一端用于連接正向電源，電阻R11的另一端作為合閘時間測試電路110的輸出端用于連接10kV開關(guān)的常開節(jié)點S11 及主控芯片的一輸入引腳。

其中，三級管Q11可以為NPN三極管或PNP三極管。以三極管Q11為NPN 三極管為例，當(dāng)主控芯片MCU的輸出引腳輸出低電平時，繼電器K11不動作， 10kV開關(guān)的合閘線圈未接通，10kV開關(guān)不動作，S11保持?jǐn)嚅_，主控芯片MCU 的輸入引腳為高電平。當(dāng)主控芯片MCU的輸出引腳輸出高電平時，三極管Q11 驅(qū)動繼電器K11動作，此時，10kV開關(guān)的操作電源KM、10kV開關(guān)的合閘線圈HQ、接線端子P11與繼電器K11的開關(guān)形成回路，10kV開關(guān)的合閘線圈接通，使得10kV開關(guān)的常開節(jié)點S11狀態(tài)發(fā)生變化，由斷開變?yōu)殚]合，電阻R11 的另一端由于接地處于低電平，則電阻R11的另一端作為合閘時間測試電路的輸出端，向主控芯片MCU的輸入引腳輸出低電平，主控芯片MCU的輸入引腳由高電平變?yōu)榈碗娖?。主控芯片MCU記錄從其輸出端輸出高電平到其輸入端的電平發(fā)生變化的時間，即為10kV開關(guān)的合閘動作時間。

在一個實施例中，如圖4所示，分閘時間測試電路120包括：三極管Q21、繼電器K21、電阻R21及接線端子P21，其中，三極管Q21的基極作為分閘時間測試電路120的輸入端連接主控芯片的輸出引腳，三極管Q21的集電極用于連接正向電源，三極管Q21的發(fā)射極通過繼電器K21的線圈接地；接線端子P21 的第一引腳和第二引腳分別連接繼電器K21的開關(guān)兩端，接線端子P21的第一引腳還用于連接10kV開關(guān)操作電源KM，接線端子P21的第二引腳還連接10kV 開關(guān)的分閘線圈；電阻R21的一端用于連接正向電源，電阻R21的另一端作為合閘時間測試電路的輸出端，用于連接10kV開關(guān)的常閉節(jié)點S21及主控芯片 MCU的輸入引腳。

其中，三級管Q21可以為NPN三極管或PNP三極管。以三極管Q21為NPN 三極管為例，當(dāng)主控芯片MCU的輸出引腳輸出低電平時，繼電器K21不動作， 10kV開關(guān)的分閘線圈未接通，10kV開關(guān)不動作，S21保持閉合，主控芯片MCU 的輸入引腳為低電平。當(dāng)主控芯片MCU的輸出引腳輸出高電平時，三極管Q21 驅(qū)動繼電器K21動作，此時，10kV開關(guān)的操作電源KM、10kV開關(guān)的分閘線圈TQ、接線端子P21與繼電器K21的開關(guān)形成回路，10kV開關(guān)的分閘線圈接通，使得10kV開關(guān)的常閉節(jié)點S21狀態(tài)發(fā)生變化，由閉合變?yōu)閿嚅_，由于電阻 R21連接正向電源，其另一端處于高電平，則電阻R21的另一端作為分閘時間測試電路的輸出端，向主控芯片MCU的輸入引腳輸出高電平。主控芯片MCU 記錄從其輸出端輸出高電平到其輸入端電平發(fā)生變化的時間，即為10kV開關(guān)的分閘動作時間。

在一個實施例中，如圖5所示，合閘電壓采集電路130包括：運算放大器 A11、電阻R12、電阻R13、電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17及電阻 R18，其中，運算放大器A11的同相輸入端依次通過串聯(lián)的電阻R12、電阻R13 及電阻R14連接10kV開關(guān)的合閘線圈，運算放大器A11的反相輸入端通過電阻R15連接運算放大器A11的輸出端，運算放大器A11的輸出端；電阻R16的一端連接電阻R12及電阻R13的連接節(jié)點，另一端用于接地；電阻R17的一端連接運算放大器A11的反相輸入端，另一端用于接地；電阻R18的一端連接電阻R15與運算放大器A11的輸出端的連接節(jié)點，電阻R18的另一端用于連接主控芯片MCU的第一采樣引腳，例如連接單片機(jī)的第一八引腳P1.0/A DC0或第一九引腳P1.1/ADC1。例如，電阻R12、電阻R15、電阻R17和電阻R18的阻值為10KΩ，電阻R13的阻值為100KΩ，電阻R14的阻值為9KΩ，電阻R16 的阻值為1KΩ。

請一并參閱圖11，其為10kV開關(guān)控制回路的示意圖。其中，合閘電壓采集電路130采用運算放大器A11搭建的正向放大電路組成，電阻R14引出的節(jié)點J2與10kV開關(guān)控制回路的107口連接，合閘電壓U_i1通過電阻R14、電阻 R13及電阻R12分壓后輸入運算放大器A11的同相輸入端，根據(jù)運算放大器“虛斷、虛短”的特性，可計算出運算放大器A11的輸出端電壓為)其中合閘電壓U_i1即節(jié)點J2的電壓。主控芯片MCU記錄U_o1的變化情況就可以獲取10kV開關(guān)合閘過程中的電壓變化情況。

在一個實施例中，如圖6所示，分閘電壓采集電路140包括：運算放大器 A21、電阻R22、電阻R23、電阻R24、電阻R25、電阻R26、電阻R27及電阻 R28，其中，運算放大器A21的同相輸入端依次通過串聯(lián)的電阻R22、電阻R23 及電阻R24連接10kV開關(guān)的分閘線圈，運算放大器A21的反相輸入端通過電阻R25連接運算放大器A21的輸出端，運算放大器A21的輸出端；電阻R26的一端連接電阻R22及電阻R23的連接節(jié)點，另一端用于接地；電阻R27的一端連接運算放大器A21的反相輸入端，另一端用于接地；電阻R28的一端連接電阻R25與運算放大器A21的輸出端的連接節(jié)點，電阻R28的另一端作為分閘電壓采集電路140的輸出端，用于連接主控芯片MCU的第二采樣引腳，例如連接單片機(jī)的第一九引腳P1.1/ADC 1或第一八引腳P1.0/A DC0。例如，電阻R22、電阻R25、電阻R27和電阻R28的阻值為10KΩ，電阻R23的阻值為100KΩ，電阻R24的阻值為9KΩ，電阻R26的阻值為1KΩ。

其中，分閘電壓采集電路140采用運算放大器A21搭建的正向放大電路組成，請一并參閱圖10，電阻R24引出的節(jié)點J1與10kV開關(guān)控制回路的137口連接，分閘電壓U_i2通過電阻R24、電阻R23及電阻R22分壓后輸入運算放大器 A21的同相輸入端，根據(jù)運算放大器“虛斷、虛短”的特性，可計算出運算放大器A21的輸出端電壓為其中為分閘電壓U_i2即節(jié)點 J1的電壓。主控芯片MCU記錄U_o2的變化情況就可以獲取10kV開關(guān)分閘過程中的電壓變化情況。

在一個實施例中，合閘電壓采集電路130及分閘電壓采集電路140中的運算放大器采用雙電源運算放大器，則上述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀還包括正向電源電路及反向電源電路，其中正向電源電路的輸出端分別連接合閘時間測試電路、分閘時間測試電路、合閘電壓采集電路、分閘電壓采集電路及顯示器；反向電源電路的輸出端分別連接合閘電壓采集電路及分閘電壓采集電路。

在本實施例中，正向電源電路用于提供正向電源電壓VCC，反向電源電路用于提供運算放大器A11及運輸放大器A21的反向電源電壓-VCC。合閘電壓采集電路130及分閘電壓采集電路140的正向電源輸入端分別連接正向電源電路的輸出端，合閘電壓采集電路130及分閘電壓采集電路140的反向電源輸入端分別連接反向電源電路的輸出端。

例如，如圖7所示，正向電源電路160包括電源插座PWR2.5、電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1、電容C7、電容C8、電容C9、電容C10、發(fā)光二極管LED1及電阻R2，其中，電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1的輸入引腳Vin連接電源插座PWR2.5的第二管腳，電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1的接地引腳用于接地，電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1的輸出引腳Vout 作為正向電源電路160的輸出端，輸出正向電源電壓VCC，電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1 的輸出引腳Vout連接發(fā)光二極管LED1的正極。其中，電容C7的一端連接電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1的輸入引腳Vin，另一端接地；電容C8與電容C7并聯(lián)；電容 C10的一端連接電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1的輸出引腳Vout，另一端接地；電容C9與電容C10并聯(lián)；電阻R2一端連接發(fā)光二極管LED1的負(fù)極，另一端接地。

具體實施中，電壓轉(zhuǎn)換芯片VR1將外部電源電壓轉(zhuǎn)換為正向電源電壓VCC，電容C7、電容C8、電容C9、電容C10用于濾波。例如，為了加強(qiáng)濾波效果，電容C7及電容C8中一個采用小電容，另一個采用電解電容，例如，電容C8 為0.1μF的小電容，電容C7為100μF的電解電容。又如，為了加強(qiáng)濾波效果，電容C9及電容C10中一個采用小電容，另一個采用電解電容，例如，電容C10 為0.1μF的小電容，電容C9為100μF的電解電容。其中，發(fā)光二極管LED1 作為指示燈，例如，當(dāng)正向電源電路160接上外部電源并正常輸出正向電源電壓VCC時，發(fā)光二極管LED1被點亮。

例如，如圖8所示，反向電源電路170包括電源管理芯片U1、電容C3、電容C4、電容C5及電容C6，其中電容C4與電容C5并聯(lián)，其一端連接電源管理芯片U1的V+引腳，另一端接地；電容C6的兩端分別連接電源管理芯片U1的 C1+引腳及C2-引腳；電容C3的一端分別連接電源管理芯片U1的輸出引腳，另一端接地。其中，電源管理芯片U1的V+引腳用于連接正向電源電路160的輸出端，電源管理芯片U1的接地引腳用于接地。電源管理芯片U1將正向電源電壓VCC轉(zhuǎn)換為反向電源電壓-VCC，并通過輸出引腳輸出。例如，電源管理芯片U1采用LMC7660IM芯片。電容C3、電容C4及電容C5用于濾波。例如，為了提升濾波效果，電容C3采用47μF的電解電容，電容C4采用1000μF的電解電容，電容C5采用104電容。電容C6采用10μF的電解電容。

在一個實施例中，所述顯示器150包括顯示驅(qū)動電路及顯示屏，所述顯示驅(qū)動電路的輸入端連接所述主控芯片的顯示控制引腳，所述顯示驅(qū)動電路的輸出端連接所述顯示屏。例如，如圖9所示，顯示驅(qū)動電路151包括顯示驅(qū)動芯片P2、電阻R4及抽頭電阻R5，其中顯示驅(qū)動芯片P2的第一引腳及第二十引腳接地，第二引腳及第十五引腳連接第一輸入電源VCC，第三引腳連接電阻R5 的中間抽頭，第十七引腳連接主控芯片的復(fù)位引腳RST，第十九引腳通過電阻 R4連接第一輸入電源VCC，第四引腳至第十四引腳連接主控芯片的顯示控制引腳，例如顯示驅(qū)動芯片P2的第四引腳至第十四引腳分別連接單片機(jī)的 P1.3/ADC3引腳、P1.4/ADC4引腳、P1.5/ADC5引腳、P2.0引腳、P2.1引腳、 P2.2引腳、P2.3引腳、P2.4引腳、P2.5引腳、P2.6引腳及P2.7引腳。例如，顯示驅(qū)動芯片P2采用LCD12864芯片。

在一個實施例中，所述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀還包括報警電路180，所述報警電路180連接所述主控芯片MCU。例如，如圖10所示，所述報警電路180包括蜂鳴器LS1、電阻R31及三極管Q31，其中，三極管Q31的基極通過電阻R31連接主控芯片MCU的報警控制引腳，例如連接單片機(jī)的P3.7引腳，三極管Q31的集電極用于連接正向電源，三極管Q31的發(fā)射極通過蜂鳴器LS1 接地。當(dāng)單片機(jī)的P3.7引腳輸出報警信號bell時，蜂鳴器LS1發(fā)出蜂鳴報警。

上述10kV開關(guān)分、合閘時間測試儀通過按鍵啟動操作，由單片機(jī)記錄觸發(fā)和開關(guān)變位之間的時間來記錄分、合閘時間，通過兩個電壓采集回路，將分閘、合閘過程中分閘線圈、合閘線圈的電壓變化情況轉(zhuǎn)換成數(shù)字電壓，并通過單片機(jī)記錄下來，處理后通過液晶顯示屏將電壓變化曲線顯示出來，以便檢修人員分析線圈狀態(tài)。

以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

以上所述實施例僅表達(dá)了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對實用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實用新型的保護(hù)范圍。因此，本實用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。