一種光學掃描設備專用光學部件的灰塵檢測裝置的制作方法

本實用新型涉及一種光學部件的灰塵檢測裝置，尤其是涉及一種光學掃描設備專用光學部件的灰塵檢測裝置。

背景技術：

光學掃描設備如條形碼掃描儀，其產品中包括一個楔形光學部件，該楔形光學部件的結構如圖1所示，包括一楔形框架10，楔形框架10上設置有通光口20和下窗口30，楔形框架10內設置有反射鏡40。該光學掃描設備在組裝過程中，楔形光學部件的內部容易進入灰塵。為確保整個光學掃描設備的產品性能，需對該楔形光學部件進行雜散光和Blemish檢測。

檢測過程通常在暗箱內進行。光線A自通光口20入射，經反射鏡40反射后，由攝像頭模塊在下窗口30接收，進行拍照。根據所得照片，進行分析、評價楔形光學部件是否合格。

攝像頭模塊包括攝像頭和相應的控制電路。攝像頭模塊通過數據線與電腦連接，由電腦上的拍照軟件控制。

目前尚沒有合適的檢測裝置能夠對楔形光學部件進行快速的檢測。

技術實現要素：

本發明所要解決的技術問題是提供一種結構簡單、制作成本低，且檢測時的固定方式與其使用狀態相同的光學掃描設備專用光學部件的灰塵檢測裝置。

本實用新型解決上述技術問題所采用的技術方案為：一種光學掃描設備專用光學部件的灰塵檢測裝置，包括底座和設置在所述的底座一側的待測部件定位座，所述的底座上設置攝像頭模塊，所述的待測部件定位座上設置有與待測部件的通光口配合使檢測光進入通光口的缺口，所述的待測部件定位座設置有待測部件定位面，所述的攝像頭模塊與待測部件的下窗口配合。

所述的攝像頭模塊包括攝像頭和用于插入待測部件的下窗口的攝像頭固定托，所述的攝像頭安裝在所述的攝像頭固定托上。

所述的攝像頭固定托為上小下大的四棱臺型。

所述的底座設置有安放腔，所述的攝像頭固定托設置在所述的安放腔內。

所述的待測部件定位座設置有至少一個連接腳，所述的連接腳上設置有連接銷，所述的底座設置有連接槽，所述的連接槽內設置有連接孔，所述的連接腳嵌入所述的連接槽，所述的連接銷插入所述的連接孔內。

與現有技術相比，本實用新型的優點在于采用一個體積小，產線使用方便的檢測裝置來進行楔形光學部件的Blemish和雜散光檢測，檢測裝置整體制作成本大大降低，簡化檢測步驟，縮短檢測時間；檢測時只需手動將待測的楔形光學部件沿定位面向下，使其下窗口與攝像頭模塊對接、固定，固定好后即于暗箱內進行檢測，手動一步定位，無需通過導軌運動至指定地點，節省時間，更為便捷；固定位置與其使用狀態相同，全面的模擬再現實際工作狀態，檢測結果更準確。

待測部件定位座設置有連接腳和連接銷，在底座設置與之配合的連接槽和連接孔，使該檢測裝置可拆分為待測部件定位座與底座，可根據待檢測物的外形特征，制作與之配套的待測部件定位座，方便地進行檢測裝置的更換，進行檢測。

由于楔形光學部件的下窗口為長方形，將攝像頭固定托設計為上小下大的四棱臺型，可實現簡單定位對接，無需進行機械定位。

附圖說明

圖1為光學掃描設備專用光學部件的結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例一的結構示意圖；

圖3為本實用新型實施例二的待測部件定位座的結構示意圖；

圖4為本實用新型實施例二的底座的結構示意圖；

圖5為本實用新型實施例二的攝像頭模塊的結構示意圖；

圖6為本實用新型實施例二的攝像頭固定托的結構示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖實施例對本實用新型作進一步詳細描述。

實施例一：如圖2所示，一種光學掃描設備專用光學部件的灰塵檢測裝置，包括底座1和設置在底座1一側的待測部件定位座2，底座1上設置攝像頭模塊3，待測部件定位座2上設置有與待測部件的通光口配合使檢測光進入通光口的缺口21，待測部件定位座2設置有待測部件定位面22，攝像頭模塊3與待測部件的下窗口配合。

實施例二：如圖3～圖6所示，其它結構與實施例相同，不同之處在于待測部件定位座2設置有兩個連接腳23，連接腳23上設置有連接銷24，底座1設置有連接槽11，連接槽11內設置有連接孔12，連接腳23嵌入連接槽11，連接銷24插入連接孔12內。攝像頭模塊3包括攝像頭31和用于插入待測部件的下窗口的攝像頭固定托32，攝像頭固定托32上設置有攝像頭安裝孔33，攝像頭21安裝在攝像頭安裝孔33內，攝像頭固定托32為上小下大的四棱臺型，底座1設置有安放腔13，攝像頭固定托32設置在安放腔13內。