一種用于老化篩選試驗設備的校準裝置的制作方法

本發明涉及實驗設備，具體涉及一種用于電子元件老化篩選試驗的設備。

背景技術：

電子元器件是電子設備的基礎。由于電子設備具有通電時間長，使用范圍寬，使用環境差異較大的特點，因此系統的可靠性很大程度上取決于元器件的可靠性,所以使用前對電子元器件的檢驗和老化篩選顯得尤為重要。老化篩選的原理及作用，是給電子元器件施加熱的、電的、機械的或者多種結合的外部效應力，模擬惡劣的工作環境，使它們內部的潛在故障加速暴露出來，篩選剔除那些失效或參數變化了的元器件，盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。元器件老化篩選試驗臺是一種重要的元器件老化試驗設備，它通過高溫環境和電氣性能兩方面對電子元器件（包括大功率三極管、MOS管、晶閘管、電容器件、半導體）進行苛刻的試驗使故障盡早出現。現研建了一種老化篩選試驗設備的校準裝置。主要針對老化篩選試驗設備的老化電壓和老化電流進行校準。現有的校準方法，認為從老化電源采集出的電壓和電流就是元器件管腳間的電壓電流值。實際上，由于老化篩選試驗設備內部的線路損耗、篩選的元器件眾多導致分壓分流線路過多等問題，電源端測出的電壓電流值并不是施加在元器件管腳間的電壓、電流值。所以該發明提出了一種轉接板，用于老化電壓與老化電流信號的引出。

目前現有的校準裝置只能工作在常溫下，不能滿足老化篩選試驗（-55℃～80℃）溫度的校準需求。傳統校準方式是在常溫下采集并手動記錄信號。

技術實現要素：

本發明提供一種用于老化篩選試驗設備的校準裝置，本發明解決了現有的校準裝置只能工作在常溫下，不能滿足老化篩選試驗（-55℃～80℃）溫度；以及傳統校準方式是在常溫下采集并手動記錄信號的問題。

為解決上述問題，本發明采用如下技術方案：一種用于老化篩選試驗設備的校準裝置，包括保溫實驗箱、電源、轉接板、控制器、計算機、溫度傳感器和老化實驗電路板；保溫實驗箱外面有保溫層，電源安裝于保溫實驗箱外表面；保溫實驗箱內設置有老化實驗電路板、轉接板和溫度傳感器；轉接板上有接線插頭，接線插頭連接老化實驗電路板上的電子元件，轉接板還連接電源，溫度傳感器連接轉接板；設置于保溫實驗箱外面的控制器連接電源、溫度傳感器和計算機。

本發明的優點有：可在（-55℃～80℃）的條件下對老化實驗數據進行自動采集，把最終結果在計算機上顯示。傳統的校準方式是從老化電源的輸出端采集信號，而本校準裝置發明了轉接板，用于老化篩選時，從元器件管腳間引出老化電壓與老化電流信號。

附圖說明

圖1是本發明實施例一結構示意圖；

圖2是本發明實施例二結構示意圖。

圖中符號說明：保溫實驗箱1，電源2，轉接板3，控制器4，計算機5，存儲設備接口6，紅外線接收器7，溫度傳感器8，老化實驗電路板9，紅外線發射器10。

具體實施方式

下面用最佳的實施例對本發明做詳細的說明。

實施例一

如圖1所示，一種用于老化篩選試驗設備的校準裝置，包括保溫實驗箱1、電源2、轉接板3、控制器4、計算機5、溫度傳感器8和老化實驗電路板9；保溫實驗箱1外面有保溫層，電源2安裝于保溫實驗箱1外表面；保溫實驗箱1內設置有老化實驗電路板9、轉接板3和溫度傳感器8；轉接板3上有接線插頭，接線插頭連接老化實驗電路板9上的電子元件，轉接板3還連接電源2，溫度傳感器8連接轉接板3；設置于保溫實驗箱1外面的控制器4連接電源2、溫度傳感器8和計算機5。老化試驗一般在（-55℃～80℃）的溫度下進行，篩選過程中保溫實驗箱體是封閉的。

實施例二

本實施例與實施例一不同之處在于：保溫實驗箱的箱門具有透視玻璃窗，溫度傳感器8與紅外線接收器7不連接，溫度傳感器8上安裝有紅外線發射器10，計算機5連接紅外線接收器7。可以采用“紅外”這種數據傳輸模式。由紅外發送溫度傳感器的數據，通過遙控設備，由紅外接受設備接收據，最終在計算機上顯示。

最后應說明的是：顯然，上述實施例僅僅是為清楚地說明本發明所作的舉例，而并非對實施方式的限定。對于所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見的變化或變動仍處于本發明的保護范圍之中。