1.一種平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具至少包括：
連接支架；
相互對(duì)稱設(shè)置在所述連接支架內(nèi)的第一接觸桿和第二接觸桿；
相互對(duì)稱設(shè)置在所述連接支架兩側(cè)的第一砝碼和第二砝碼；
其中，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的底部均從所述第一砝碼和所述第二砝碼之間伸出，用以分別接觸所述平板探測(cè)器的零部件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具還包括：第一連接線和第二連接線，所述第一連接線的一端連接在所述第一接觸桿的頂部，所述第二連接線的一端連接在所述第二接觸桿的頂部，所述第一連接線的另一端和所述第二連接線的另一端用以分別連接外部電阻測(cè)試儀的兩個(gè)連接線接頭。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一接觸桿的頂部開(kāi)設(shè)有第一接觸槽，所述第二接觸桿的頂部開(kāi)設(shè)有第二接觸槽；其中，所述第一接觸槽和所述第二接觸槽用以分別連接外部電阻測(cè)試儀的兩個(gè)連接線接頭。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿均至少包括：第一接觸部，與所述第一接觸部連接的第二接觸部，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿均為由所述第一接觸部和所述第二接觸部一體成型折彎而成的倒L型結(jié)構(gòu)，所述第二接觸部的底部從所述第一砝碼和所述第二砝碼之間伸出，用以接觸所述平板探測(cè)器的零部件，所述第一接觸部用以連接外部電阻測(cè)試儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求1～4任一項(xiàng)所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的外表面均設(shè)有金屬鍍層，或者所述第一接觸桿和所述第二接觸桿的用以接觸所述平板探測(cè)器的零部件的底面設(shè)有金屬鍍層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述連接支架至少包括：相對(duì)固定連接的第一支架主體和第二支架主體，所述第一支架主體和所述第二支架主體相對(duì)各開(kāi)設(shè)有兩個(gè)安裝槽，以分別形成第一安裝口和第二安裝口，所述第一接觸桿固定于所述第一安裝口內(nèi)，所述第二接觸桿固定于所述第二安裝口內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述連接支架至少包括：支架主體，所述支架主體上對(duì)稱開(kāi)設(shè)有第一安裝口和第二安裝口，所述第一接觸桿固定于所述第一安裝口內(nèi)，所述第二接觸桿固定于所述第二安裝口內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一接觸桿通過(guò)螺紋連接或者過(guò)盈配合固定于所述第一安裝口內(nèi)，所述第二接觸桿通過(guò)螺紋連接或者過(guò)盈配合固定于所述第二安裝口內(nèi)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一砝碼和所述第二砝碼相對(duì)各開(kāi)設(shè)有一限制槽，所述限制槽內(nèi)嵌入部分所述連接支架，用以限制所述連接支架轉(zhuǎn)動(dòng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一砝碼、所述連接支架和所述第二砝碼的中心位置均開(kāi)設(shè)有螺紋孔，通過(guò)螺紋連接使所述第一砝碼、所述連接支架和所述第二砝碼固定在一起。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具，其特征在于，所述第一砝碼的重量為0.1kg～1kg，形狀為苯環(huán)形狀、圓柱形、球形、長(zhǎng)方體形狀或者不規(guī)則形狀，所述第二砝碼與所述第一砝碼的重量相同，形狀相同或不同。