本發明涉及玻璃檢測技術領域,具體是一種超薄浮法玻璃彎曲度檢測方法。
背景技術:
在超薄浮法玻璃基板導電膜行業中,彎曲度是一項考量玻璃質量重要的功能性指標。對于厚度在0.55mm以下的超薄浮法玻璃,其彎曲度指標一般要求為≤0.15%,而目前黑箱點陣法中白色圓斑的直徑為6.35mm,這導致檢測方法往往達不到彎曲度指標的精度,不能夠有效地反映出被檢測玻璃的彎曲度質量,給玻璃生產工藝的調整造成了困難。
技術實現要素:
本發明的目的在于提供一種超薄浮法玻璃彎曲度檢測方法,該方法能夠檢測超薄浮法玻璃的彎曲度,主要用于滿足厚度在0.55mm以下彎曲度的檢測指標。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:
一種超薄浮法玻璃彎曲度檢測方法,包括以下步驟:
a)取符合規定尺寸的玻璃試樣置于黑箱中;所述黑箱為五面封閉、一面敞開的矩形箱體,矩形箱體內的頂部涂有中間帶十字星的第一白色圓斑點陣與第二白色圓斑點陣,第一白色圓斑點陣中白色圓斑的直徑為6.35mm,第二白色圓斑點陣中白色圓斑的直徑為9.52mm,第一白色圓斑點陣與第二白色圓斑點陣間隔設置;
b) 所述玻璃試樣放置于黑箱的平面反射板上,根據鏡面成像原理,玻璃試樣存在彎曲時,觀察其圖像;
c) 當白色圓斑點直徑為9.52mm的反射圖像和測試圖像相切時彎曲度為≤0.15%;當白色圓斑點直徑為6.35mm的反射圖像和測試圖像相切時彎曲度≤0.10%,當反射圖像和測試圖像重合部分等于一半時,彎曲度≤0.05%;當反射圖像和測試圖像完全重合時,彎曲度為0。
本發明的有益效果是,通過增加直徑為9.52mm的白色圓斑點陣,可以有效地檢測出厚度在0.55mm以下超薄浮法玻璃的彎曲度,充分提高了超薄浮法玻璃基板的使用性能,使生產調整也更加清晰、直觀、有效;能夠用于超薄浮法玻璃原片彎曲度生產水平的控制與提高,增加了超薄浮法玻璃彎曲度的輔助檢測與調整手段;為穩定和提高超薄浮法玻璃的產、質量奠定了基礎。
附圖說明
下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明:
圖1是本發明中白色圓斑點陣的示意圖。
具體實施方式
本發明提供一種超薄浮法玻璃彎曲度檢測方法,包含以下步驟:
a)取符合規定尺寸的玻璃試樣置于黑箱中;所述黑箱為五面封閉、一面敞開的矩形箱體,結合圖1所示,矩形箱體內的頂部涂有中間帶十字星的第一白色圓斑點陣與第二白色圓斑點陣,第一白色圓斑點陣中白色圓斑的直徑為6.35mm,第二白色圓斑點陣中白色圓斑的直徑為9.52mm,第一白色圓斑點陣與第二白色圓斑點陣間隔設置;
b) 所述玻璃試樣放置于黑箱的平面反射板上,根據鏡面成像原理,玻璃試樣存在彎曲時,觀察其圖像;
c) 當白色圓斑點直徑為9.52mm的反射圖像和測試圖像相切時彎曲度≤0.15%;當白色圓斑點直徑為6.35mm的反射圖像和測試圖像相切時彎曲度≤0.10%,當反射圖像和測試圖像重合部分等于一半時,彎曲度≤0.05%;當反射圖像和測試圖像完全重合時,彎曲度為0。
以上所述,僅是本發明的較佳實施例而已,并非對本發明作任何形式上的限制;任何熟悉本領域的技術人員,在不脫離本發明技術方案范圍情況下,都可利用上述揭示的方法和技術內容對本發明技術方案做出許多可能的變動和修飾,或修改為等同變化的等效實施例。因此,凡是未脫離本發明技術方案的內容,依據本發明的技術實質對以上實施例所做的任何簡單修改、等同替換、等效變化及修飾,均仍屬于本發明技術方案保護的范圍內。