膜制造方法、膜制造裝置、膜以及膜卷繞體與流程

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本發明涉及膜制造方法、膜制造裝置、膜以及膜卷繞體。

背景技術：

已知具有光學膜的片狀產品的缺陷檢查裝置(專利文獻1)。該缺陷檢查裝置將從保護膜檢查部得到的缺陷的信息與其位置信息、制造識別信息一起作為碼數據(二維碼、QR碼(注冊商標))而以規定間距形成在PVA膜卷料的一端面。

由此，在取得片狀產品的缺陷的位置信息后，能夠確定通過在分切工序中將片狀產品沿長度方向切斷而得到的多個膜中的哪個膜含有缺陷。由此，通過對具有缺陷的膜實施將具有缺陷的位置切除等適當的處置，能夠制造不具有缺陷的膜。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本公開專利公報特開2008-116437號公報(2008年5月22日公開)

技術實現要素：

發明所要解決的課題

然而，在即使取得作為膜卷料的片狀產品的缺陷的位置信息也無法在分切工序中在所希望的分切位置將膜卷料切斷的情況下，無法準確地確定多個膜中的哪個膜含有缺陷，從而盡管是具有缺陷的不合格膜也判定為合格膜。其結果是，無法對不合格膜實施適當的處置，不合格膜有時會作為合格膜而流出。

本發明的目的在于，提供在通過將膜卷料切斷而得到膜的情況下降低將具有缺陷的膜判定為合格膜的風險的膜制造方法、膜制造裝置、膜以及膜卷繞體。

用于解決課題的方案

為了解決上述的課題，本發明所涉及的膜制造方法的特征在于，包括：缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切工序，將所述膜卷料在沿著長度方向的分切線處分切而得到多個膜；以及判定工序，根據一個與所述缺陷相關的所述缺陷信息來進行分切后的膜的不合格判定，從而將實際含有所述缺陷的膜以及與該膜鄰接的其他膜判定為不合格膜。

根據上述的制造方法，通過進行分切后的膜的不合格判定，其結果是，不僅將實際含有缺陷的膜判定為不合格膜，還將與該膜鄰接的其他膜也判定為不合格膜。由此，即使在由于在從所希望的分切位置偏移的位置處將膜卷料分切而使原本應當含有缺陷含的膜中不含有缺陷而與該膜鄰接的其他膜中含有缺陷的情況下，也能夠降低錯誤地將具有缺陷的膜判定為合格膜的風險。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息取得工序中，取得將所述膜卷料的表面的區域劃分為沿寬度方向排列的多個區域而成的各個分割區域的有無缺陷的信息來作為所述缺陷信息，在所述判定工序中，根據與具有所述缺陷的一個所述分割區域相關的所述缺陷信息，將包括具有所述缺陷的所述分割區域而得到的膜以及與該膜鄰接的其他膜判定為不合格膜。

根據上述的制造方法，取得膜卷料的各個分割區域的有無缺陷的信息，將與實際含有缺陷的膜鄰接的其他膜判定為不合格膜。這樣，根據與各分割區域的有無缺陷相關的簡易的信息，將上述其他膜判定為不合格膜，因此能夠降低錯誤地將具有缺陷的膜判定為合格膜的風險。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，在沿著所述分割區域的邊界線的分切線處將所述膜卷料分切，在所述判定工序中，將所述其他膜判定為不合格膜，所述其他膜包括隔著具有所述缺陷的所述分割區域的邊界線而與該分割區域鄰接的分割區域而得到。

在沿著具有缺陷的分割區域的邊界線的分切線處將膜卷料分切的情況下，因分切位置偏移而在與原本應當含有缺陷的膜鄰接的其他膜中容易含有缺陷。

根據上述的制造方法，在沿著分割區域的邊界線的分切線處將膜卷料分切，將包括與具有缺陷的分割區域鄰接的分割區域而得到的膜判定為不合格膜，因此能夠將因分切位置的偏移而容易含有缺陷的膜適當地判定為不合格膜，能夠降低錯誤地將具有缺陷的膜判定為合格膜的風險。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，以與所述多個分割區域對應地得到各所述膜的方式，在沿著所述分割區域的邊界線的分切線處將所述膜卷料分切，在所述判定工序中，將所述其他膜判定為不合格膜，所述其他膜包括隔著所述多個分割區域中的位于端部的所述分割區域的邊界線而與該分割區域鄰接的分割區域而得到，所述多個分割區域具有所述缺陷并且與各所述膜對應。

在以與一個分割區域對應地得到一個膜的方式將膜卷料分切的情況下，在與具有缺陷的分割區域對應的膜的兩邊鄰接的膜中容易含有缺陷，需要將兩邊鄰接的膜判定為不合格膜。

相對于此，根據上述的制造方法，以與多個分割區域對應地得到膜的方式將膜卷料分切，因此在與具有缺陷的分割區域對應的膜的兩邊鄰接的膜中的、至少一方的膜中不易含有缺陷，無需將上述一方的膜判定為不合格膜。由此，能夠減少盡管實際不含有缺陷但被判定為不合格膜的膜。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，以與三個分割區域對應地得到各所述膜的方式，在沿著所述分割區域的邊界線的分切線處將所述膜卷料分切，在所述判定工序中，將所述其他膜判定為不合格膜，所述其他膜包括隔著所述三個分割區域中的位于端部的所述分割區域的邊界線而與該分割區域鄰接的分割區域而得到，所述三個分割區域具有所述缺陷并且與各所述膜對應。

根據上述的制造方法，在與一個膜對應的三個分割區域中的、正中央的分割區域具有缺陷的情況下，在與上述三個分割區域對應的膜的兩邊鄰接的膜中不易含有缺陷，無需將上述兩邊鄰接的膜判定為不合格膜。由此，能夠減少盡管實際不含有缺陷但被判定為不合格膜的膜。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，在將所述分割區域裁開的分切線處將所述膜卷料分切，在所述判定工序中，將包括具有所述缺陷的所述分割區域被裁開而成的區域而得到的兩個膜判定為不合格膜。

在將分割區域裁開的分切線處將膜卷料分切的情況下，包括具有缺陷的分割區域被裁開而成的區域而得到的兩個膜中的任一方含有缺陷的可能性均高。根據上述的制造方法，能夠將含有缺陷的可能性高的上述兩個膜判定為不合格膜，能夠降低錯誤地將具有缺陷的膜判定為合格膜的風險。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息取得工序中，取得相互交替排列的第一分割區域和寬度比所述第一分割區域的寬度寬的第二分割區域的有無缺陷的信息來作為所述缺陷信息，在所述分切工序中，在將所述分割區域裁開的分切線處將所述膜卷料分切，在所述判定工序中，將包括具有所述缺陷的所述分割區域被裁開而成的區域而得到的兩個膜判定為不合格膜。

在將包括具有缺陷的分割區域被裁開而成的區域而得到的兩個膜判定為不合格膜的情況下，與將寬度寬的分割區域裁開的情況相比，在將寬度窄的分割區域裁開的情況下，在被裁開的分割區域中含有缺陷的可能性更低，因此能夠減少盡管實際不含有缺陷但被判定為不合格膜的膜。

另外，為了解決上述的課題，本發明所涉及的膜制造方法的特征在于，包括：缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切工序，將所述膜卷料在沿著長度方向的分切線處分切而得到多個膜；以及判定工序，根據所述缺陷信息而進行分切后的膜的不合格判定，在所述缺陷信息取得工序中，取得將所述膜卷料的表面的區域劃分為沿寬度方向排列的多個區域而成的各個分割區域的有無缺陷的信息來作為所述缺陷信息，在所述判定工序中，在存在缺陷的所述分割區域與所述分切線不重疊的情況下，將包括該分割區域而得到的一個膜判定為不合格膜，在存在缺陷的所述分割區域或者其邊界線與所述分切線重疊的情況下，將在該分切線處被裁開的兩個膜判定為不合格膜。

根據上述的制造方法，在存在缺陷的上述分割區域或者其邊界線與上述分切線重疊的情況下，將在該分切線處裁開的兩個膜判定為不合格膜。在與具有缺陷的分割區域重疊的分切線處將膜卷料分切的情況下，因分切位置偏移而使與原本應當含有缺陷的膜鄰接的其他膜中容易含有缺陷，通過將隔著分切線相互鄰接的兩個膜判定為不合格膜，從而即使在原本應當含有缺陷的膜中不含有缺陷而與該膜鄰接的其他膜中含有缺陷的情況下，也能夠降低錯誤地將具有缺陷的膜判定為合格膜的風險。

而且，根據上述的制造方法，在存在缺陷的上述分割區域與上述分切線不重疊的情況下，將包括該分割區域而得到的一個膜判定為不合格膜。在不將具有缺陷的分割區域在分切線處分切的情況下，即使在分切位置發生偏移的情況下，與原本應當含有缺陷的膜鄰接的其他膜中含有缺陷的可能性也低。因此，通過包括分割區域而得到的一個膜判定為不合格膜，能夠減少盡管實際不含有缺陷但被判定為不合格膜的膜。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以包括缺陷信息記錄工序，在該缺陷信息記錄工序中，記錄所述膜卷料的在長度方向上具有規定長度的各個單位區域的所述缺陷信息。

根據上述的制造方法，在單位區域中含有多個缺陷的情況下，作為各個單位區域的缺陷信息能夠匯總地進行記錄，能夠簡化制造工序。

在本發明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息記錄工序中，記錄所述單位區域的各個所述分割區域的有無所述缺陷的信息。

根據上述的制造方法，能夠將單位區域進一步劃分為分割區域，作為各個分割區域的有無缺陷的信息匯總地進行記錄，能夠削減所記錄的信息量。

本發明所涉及的膜制造方法也可以在所述缺陷信息記錄工序中，根據所述單位區域的缺陷的個數來切換第一模式和第二模式，在所述第一模式下，記錄從由所述單位區域的缺陷的個數的信息、各缺陷的位置信息、以及各缺陷的大小的信息構成的組中選出的至少任一個信息來作為所述缺陷信息，在所述第二模式下，記錄所述單位區域的各個所述分割區域的有無所述缺陷的信息來作為所述缺陷信息。

根據上述的制造方法，能夠根據缺陷的個數，切換記錄詳細的缺陷信息的第一模式、以及記錄簡易的信息的第二模式，在能夠記錄的信息量受限的情況下，能夠在信息量的制約下記錄適當的缺陷信息。

本發明所涉及的膜制造方法也可以包括缺陷標記施加工序，在該缺陷標記施加工序中，在實際含有缺陷的所述膜施加表示該缺陷的位置的第一標記，并且在所述其他膜的與所述第一標記對應的位置施加第二標記。

根據上述的制造方法，能夠在之后的工序中，容易地檢測不合格膜的缺陷的位置。

本發明所涉及的膜制造方法也可以包括卷料缺陷標記施加工序，在該卷料缺陷標記施加工序中，根據所述缺陷信息，在所述膜卷料的與實際含有缺陷的所述膜對應的位置施加表示所述缺陷的位置的第一標記，并且在所述膜卷料的與所述其他膜對應的位置、即從所述第一標記的位置沿寬度方向移動后的位置施加第二標記，在所述分切工序中，將施加有所述第一標記以及所述第二標記的所述膜卷料分切。

根據上述的制造方法，對分切前的膜卷料施加標記，因此與對分切后的膜施加標記的情況相比，能夠在準確的位置施加標記。

本發明所涉及的膜制造方法也可以在所述卷料缺陷標記施加工序中，以不與所述分切線重疊的方式施加所述第一標記以及所述第二標記。

根據上述的制造方法，能夠防止在分切工序中標記被切斷而難以進行不合格膜的辨別的情況。

本發明所涉及的膜制造方法也可以包括缺陷切除工序，在該缺陷切除工序中，根據所述缺陷信息將所述不合格膜的一部分切除。

根據上述的制造方法，能夠將不合格膜的缺陷切除從而作為合格的膜來利用。

另外，為了解決上述的課題，本發明所涉及的膜制造裝置的特征在于，具備：缺陷信息取得部，其取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切部，其將所述膜卷料在沿著長度方向的分切線處分切而得到多個膜；以及判定部，其根據一個與所述缺陷相關的所述缺陷信息來進行分切后的膜的不合格判定，從而將實際含有所述缺陷的膜以及與該膜鄰接的其他膜判定為不合格膜。

另外，為了解決上述的課題，本發明所涉及的膜制造裝置的特征在于，包括：缺陷信息取得部，其取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切部，其將所述膜卷料在沿著長度方向的分切線處分切而得到多個膜；以及判定部，其根據所述缺陷信息而進行分切后的膜的不合格判定，所述缺陷信息取得部取得將所述膜卷料的表面的區域劃分為沿寬度方向排列的多個區域而成的各個分割區域的有無缺陷的信息來作為所述缺陷信息，在所述判定部中，在存在缺陷的所述分割區域與所述分切線不重疊的情況下，將包括該分割區域而得到的一個膜判定為不合格膜，在存在缺陷的所述分割區域或者其邊界線與所述分切線重疊的情況下，將在該分切線處被裁開的兩個膜判定為不合格膜。

另外，為了解決上述的課題，本發明所涉及的膜為與將具有缺陷的膜卷料的表面由沿著長度方向的邊界線劃分而成的各個區域對應地得到的多個膜中的一個膜，其特征在于，所述膜與隔著所述邊界線同含有所述缺陷的區域鄰接的區域對應地得到，在隔著所述邊界線而與所述缺陷對置的位置施加標記。

另外，為了解決上述的課題，本發明所涉及的膜卷繞體的特征在于，所述膜卷繞體通過將所述膜卷繞成輥狀而成。

這樣，通過在與缺陷對應的位置施加有標記的狀態下卷繞膜而形成膜卷繞體，從而膜的處理變得容易，并且能夠在卷出膜時識別缺陷的位置。

發明效果

根據本發明，能夠提供在通過將膜卷料切斷而得到膜的情況下抑制具有缺陷的膜的流出的膜制造方法、膜制造裝置、膜以及膜卷繞體。

附圖說明

圖1是示出實施方式1的鋰離子二次電池的剖面結構的示意圖。

圖2是示出圖1所示的鋰離子二次電池的詳細結構的示意圖。

圖3是示出圖1所示的鋰離子二次電池的另一結構的示意圖。

圖4是用于對上述隔膜卷料的缺陷打標方法的缺陷檢測工序以及缺陷信息記錄工序進行說明的示意圖。

圖5是用于對上述缺陷檢測工序中的基材缺陷檢查裝置的結構進行說明的圖。

圖6是用于對上述缺陷檢測工序中的涂敷缺陷檢查裝置的結構進行說明的圖。

圖7是用于對上述缺陷檢測工序中的針孔缺陷檢查裝置的結構進行說明的圖。

圖8是示出對上述隔膜進行分切的分切裝置的結構的示意圖。

圖9是示出圖8所示的分切裝置的切斷裝置的結構的放大圖、側視圖、主視圖。

圖10是用于對上述隔膜的缺陷位置確定方法的讀取工序、標記施加工序以及卷繞工序進行說明的示意圖。

圖11是用于對上述隔膜的缺陷位置確定方法的標記探測工序以及缺陷去除工序進行說明的示意圖。

圖12是用于對實施方式2所涉及的隔膜卷料的缺陷打標方法的缺陷檢測工序以及缺陷信息記錄工序進行說明的示意圖。

圖13是用于對上述隔膜的缺陷位置確定方法的讀取工序、標記施加工序以及卷繞工序進行說明的示意圖。

圖14是用于對實施方式3所涉及的隔膜制造方法中記錄缺陷碼的位置進行說明的隔膜卷料的俯視圖。

圖15是例示含有缺陷的分割區域、分切線以及不合格隔膜之間的關系的圖。

圖16是用于對實施方式4所涉及的隔膜制造方法的讀取工序、標記施加工序以及卷繞工序進行說明的示意圖。

圖17是示出在與缺陷對應的位置施加有標記的隔膜卷料或者隔膜的立體圖。

具體實施方式

以下，對本發明的實施方式進行詳細說明。

〔實施方式1〕

以下，作為本發明所涉及的膜的一例，對鋰離子二次電池等電池用的隔膜以及耐熱隔膜進行說明。另外，作為本發明所涉及的膜制造方法以及膜制造裝置的一例，依次對隔膜制造方法以及隔膜制造裝置進行說明。

<鋰離子二次電池>

以鋰離子二次電池為代表的非水電解液二次電池的能量密度高，因此當前作為在個人計算機、便攜式電話、便攜式信息終端等設備、機動車、航空器等移動體中使用的電池而被廣泛使用，或者作為有助于電力的穩定供給的固定用電池而被廣泛使用。

圖1是示出鋰離子二次電池1的剖面結構的示意圖。如圖1所示，鋰離子二次電池1具備陰極11、隔膜12以及陽極13。在鋰離子二次電池1的外部，在陰極11與陽極13之間連接外部設備2。而且，在鋰離子二次電池1充電時電子向方向A移動，在放電時電子向方向B移動。

<隔膜>

隔膜12配置在鋰離子二次電池1的正極即陰極11與其負極即陽極13之間，并被陰極11與陽極13夾持。隔膜12是將陰極11與陽極13之間分離且能夠使它們之間的鋰離子移動的多孔質膜。作為隔膜12的材料，例如包括聚乙烯、聚丙烯等聚烯烴。

圖2是示出圖1所示的鋰離子二次電池1的詳細結構的示意圖，(a)示出通常的結構，(b)示出鋰離子二次電池1升溫后的情形，(c)示出鋰離子二次電池1急劇地升溫后的情形。

如圖2的(a)所示，在隔膜12上設有許多孔P。通常，鋰離子二次電池1的鋰離子3能夠經由孔P而往返。

在此，例如，有時由于鋰離子二次電池1的過充電或外部設備的短路所引起的大電流等而導致鋰離子二次電池1升溫。在該情況下，如圖2的(b)所示，隔膜12熔化或變得柔軟而堵塞孔P。而且隔膜12收縮。由此，鋰離子3的往返停止，因此上述的升溫也停止。

但是，在鋰離子二次電池1急劇地升溫的情況下，隔膜12急劇地收縮。在該情況下，如圖2的(c)所示，隔膜12有時破裂。然后，鋰離子3從破裂的隔膜12漏出，因此鋰離子3的往返不停止。因此，溫度繼續上升。

<耐熱隔膜>

圖3是示出圖1所示的鋰離子二次電池1的另一結構的示意圖，(a)示出通常的結構，(b)示出鋰離子二次電池1急劇地升溫后的情形。

如圖3的(a)所示，鋰離子二次電池1還可以具備耐熱層4。耐熱層4與隔膜12形成耐熱隔膜12a(隔膜)。耐熱層4層疊在隔膜12的陰極11側的單面上。另外，耐熱層4也可以層疊在隔膜12的陽極13側的單面上，還可以層疊在隔膜12的雙面上。而且，在耐熱層4也設有與孔P同樣的孔。通常，鋰離子3經由孔P和耐熱層4的孔而往返。作為耐熱層4的材料，例如包括全芳香族聚酰胺(芳族聚酰胺樹脂)。

如圖3的(b)所示，即便鋰離子二次電池1急劇地升溫而隔膜12熔化或變得柔軟，由于耐熱層4對隔膜12進行輔助，因此隔膜12的形狀也得以維持。因此，停留在隔膜12熔化或變得柔軟而堵塞孔P的狀態。由此，由于鋰離子3的往返停止，從而上述的過放電或過充電也停止。這樣，隔膜12的破裂得以抑制。

<耐熱隔膜卷料(隔膜卷料)的制造工序>

鋰離子二次電池1的耐熱隔膜12a的制造不受特別限定，能夠利用公知的方法來進行。以下，假設隔膜12的材料主要包括聚乙烯的情況來進行說明。但是，在隔膜12包括其他材料的情況下，也能夠通過同樣的制造工序來制造耐熱隔膜12a。

例如，能夠舉出在向熱塑性樹脂添加無機填充劑或增塑劑而進行膜成形之后，利用適當的溶劑將該無機填充劑以及該增塑劑去除的方法。例如，在隔膜12是由包含超高分子量聚乙烯的聚乙烯樹脂形成的聚烯烴隔膜的情況下，能夠通過以下所示的方法進行制造。

該方法包括如下工序：(1)將超高分子量聚乙烯與無機填充劑(例如碳酸鈣、二氧化硅)或增塑劑(例如低分子量聚烯烴、液體石蠟)混制而獲得聚乙烯樹脂組合物的混制工序；(2)使用聚乙烯樹脂組合物來成形膜的壓延工序；(3)從通過工序(2)獲得的膜中去除無機填充劑或增塑劑的去除工序；以及(4)將通過工序(3)獲得的膜拉伸而獲得隔膜12的拉伸工序。需要說明的是，也可以在所述工序(2)與(3)之間進行所述工序(4)。

通過去除工序，在膜中設置許多微孔。通過拉伸工序拉伸后的膜的微孔成為上述的孔P。由此，形成具有規定的厚度和透氣度的聚乙烯微多孔膜、即隔膜12。

需要說明的是，在混制工序中，也可以對超高分子量聚乙烯100重量份、重量平均分子量在1萬以下的低分子量聚烯烴5～200重量份以及無機填充劑100～400重量份進行混制。

然后，在涂敷工序中，在隔膜12的表面形成耐熱層4。例如，在隔膜12上涂布芳族聚酰胺/NMP(N-甲基吡咯烷酮)溶液(涂敷液)，形成作為芳族聚酰胺耐熱層的耐熱層4。耐熱層4可以僅設置在隔膜12的單面上，也可以設置在雙面上。另外，作為耐熱層4，也可以涂敷包含氧化鋁/羧甲基纖維素等填料的混合液。

另外，在涂敷工序中，也可以在隔膜12的表面涂敷聚偏氟乙烯/二甲基乙酰胺溶液(涂敷液)(涂敷工序)并使其凝固(凝固工序)，由此在隔膜12的表面形成粘接層。粘接層可以僅設置在隔膜12的單面上，也可以設置在雙面上。

在隔膜12上涂敷涂敷液的方法只要是能夠均勻地濕涂的方法即可，沒有特別的限制，可以采用以往公知的方法。例如，可以采用毛細管涂布法、旋涂法、擠出式涂布法、噴涂法、浸涂法、輥式涂布法、絲網印刷法、柔性印刷法、棒涂法、凹版涂布法、模涂布法等。耐熱層4的厚度能夠通過調節由涂敷濕膜的厚度、涂敷液中的粘結劑濃度與填料濃度之和表示的固體成分濃度、填料與粘結劑之比來進行控制。

需要說明的是，作為在涂敷時對隔膜12進行固定或者搬運的支承體，能夠使用樹脂制的膜、金屬制的傳送帶、卷筒等。

如上所述，能夠制造層疊有耐熱層4的隔膜卷料12c，即耐熱隔膜卷料12b(圖4)。制造出的耐熱隔膜卷料12b被卷繞于圓筒形狀的芯53(圖4)。需要說明的是，通過以上的制造方法制造出的對象并不限于耐熱隔膜卷料12b。該制造方法也可以不包括涂敷工序。此時，制造出的對象是隔膜卷料12c。以下，主要以作為功能層而具有耐熱層的耐熱隔膜(膜)為例進行說明，但對不具有功能層的隔膜(膜)以及隔膜卷料(膜卷料)也能夠進行同樣的處理(工序)。

<缺陷檢測工序>

在鋰離子二次電池所使用的耐熱隔膜的制造中，在形成隔膜卷料上涂敷耐熱層而成的耐熱隔膜卷料的涂敷工序中，當通過檢查裝置檢測出缺陷時，利用標識器在具有該缺陷的卷料上畫線后卷繞耐熱隔膜卷料。然后，在接下來的分切工序中卷出耐熱隔膜卷料。之后，當操作員在卷出的耐熱隔膜卷料上目視檢查到上述標識器畫出的線后，操作員停止上述耐熱隔膜卷料的卷出動作。接下來，操作員對與上述標識器畫出的線對應的缺陷的耐熱隔膜卷料的寬度方向的位置進行目視確認。接下來，通過切斷裝置沿長度方向對與上述標識器畫出的線對應的耐熱隔膜卷料的部分進行分切，從而形成多個耐熱隔膜。之后，操作員在與上述標識器畫出的線所對應的缺陷的寬度方向的位置相應的耐熱隔膜的與缺陷對應的位置，以從該耐熱隔膜露出的方式粘貼膠帶。然后，以露出的方式粘貼有上述膠帶的耐熱隔膜由卷繞輥卷繞。

接下來，在重卷工序中，將卷繞于卷繞輥的上述耐熱隔膜從卷繞輥重卷至重卷輥。之后，當操作員在重卷中途發現以從該耐熱隔膜露出的方式粘貼的膠帶時，停止重卷動作。然后，操作員沿寬度方向對與該膠帶對應的缺陷所處的耐熱隔膜的部位進行切斷并去除。接下來，將卷繞輥側的耐熱隔膜與重卷輥側的耐熱隔膜接合。之后，重新進行重卷動作，從而將耐熱隔膜全部重卷在重卷輥上。

然而，在耐熱隔膜卷料上檢測出缺陷時僅利用上述標識器畫線，因此在接下來的分切工序中，若操作員目視檢查到上述標識器，則操作員需要使上述耐熱隔膜卷料的卷出動作停止并目視確認上述缺陷的寬度方向的位置。因此，為了確定將耐熱隔膜卷料分切而成的多個耐熱隔膜上的缺陷位置，需要花費大量的時間。

圖4是用于對上述耐熱隔膜卷料12b的缺陷打標方法的缺陷檢測工序以及缺陷信息記錄工序進行說明的示意圖，圖4的(a)是兩工序的主視圖，圖4的(b)是兩工序的俯視圖。圖5是用于上述缺陷檢測工序中的基材缺陷檢查裝置55的結構進行說明的圖。圖6是用于對缺陷檢測工序中的涂敷缺陷檢查裝置57的結構進行說明的圖。圖7是用于對缺陷檢測工序中的針孔缺陷檢查裝置58的結構進行說明的圖。

通過涂敷部54在隔膜卷料12c上涂敷耐熱層而成的耐熱隔膜卷料12b卷繞于芯53。通過配置在隔膜卷料12c的抽出工序與涂敷工序之間的基材缺陷檢查裝置55(缺陷檢測部、隔膜制造裝置)，實施對隔膜卷料12c的缺陷D進行檢查的基材檢查工序(缺陷檢測工序)。對于基材缺陷檢查裝置55而言，光源55a與檢測器55b隔著隔膜卷料12c而配置，通過檢測器55b檢測從光源55a向與隔膜卷料12c的表面、背面垂直的方向出射并透過隔膜卷料12c的透過光，從而對隔膜卷料12c中存在的缺陷D進行檢查(確定缺陷D的位置)(缺陷檢測工序)。上述隔膜卷料12c中存在的缺陷D包括涉及貫通孔(針孔)的缺陷、涉及膜厚不當的缺陷、以及涉及異物的缺陷。

通過配置在涂敷工序與基于芯53的卷繞工序之間的涂敷缺陷檢查裝置57(缺陷檢測部、隔膜制造裝置)，實施對涂敷于隔膜卷料12c的耐熱層4的缺陷D進行檢查的涂敷檢查工序(缺陷檢測工序)。涂敷缺陷檢查裝置57具有在耐熱隔膜卷料12b的耐熱層4側配置的光源57a以及檢測器57b。涂敷缺陷檢查裝置57利用檢測器57b檢測從光源57a出射并被耐熱層4反射的反射光，從而對耐熱層4中存在的缺陷D進行檢測(確定缺陷D的位置)。上述耐熱層4中存在的缺陷D包括涉及紋痕的缺陷、涉及剝離的缺陷、涉及排斥的缺陷、以及涉及表面不合格的缺陷。上述涉及排斥的缺陷是指，因異物、油分等而使涂敷液從隔膜卷料12c的表面被排開而局部地未形成耐熱層4、或即使形成也成為非常薄的耐熱層4的缺陷。上述涉及表面不合格的缺陷是指涉及耐熱層4的膜厚不合格的缺陷。

通過配置在涂敷缺陷檢查裝置57與缺陷信息記錄裝置56之間的針孔缺陷檢查裝置58(缺陷檢測部、隔膜制造裝置)，實施對耐熱隔膜卷料12b中產生的針孔形成的缺陷D進行檢查的針孔檢查工序(缺陷檢測工序)。針孔缺陷檢查裝置58具有：光源58a，其配置在耐熱隔膜卷料12b的隔膜卷料12c側；狹縫58c，其使從光源58a朝向與耐熱隔膜卷料12b的表面、背面垂直的方向出射的光通過；以及檢測器58b，其根據穿過狹縫58c并透過耐熱隔膜卷料12b的光對缺陷D進行檢測(確定缺陷D的位置)。上述針孔形成的缺陷D具有幾百μm至幾mm的直徑。

在針孔缺陷檢查裝置58與芯53之間配置有缺陷信息記錄裝置56。缺陷信息記錄裝置56通過二維碼、QR碼(注冊商標)等碼數據，將缺陷碼DC記錄在與缺陷D在耐熱隔膜卷料12b的長度方向上的位置對應的耐熱隔膜卷料12b的寬度方向的端部，所述缺陷碼DC保存有由基材缺陷檢查裝置55、涂敷缺陷檢查裝置57、針孔缺陷檢查裝置58檢測到的缺陷D的位置信息等缺陷信息。上述位置信息表示缺陷D在耐熱隔膜卷料12b的長度方向以及寬度方向上的位置。上述位置信息也可以包括能夠區分缺陷D的種類的信息。對于缺陷D的種類而言，例如為通過基材缺陷檢查裝置55檢查的基材的結構上的缺陷、通過涂敷缺陷檢查裝置57檢查的涉及涂敷的缺陷、以及通過針孔缺陷檢查裝置58檢查的涉及穿孔的缺陷。

隔膜卷料12c、耐熱隔膜卷料12b的膜張力通常為200N/m以下，優選為120N/m以下。在此，“膜張力”是指行進的膜的寬度方向的每單位長度被施加的行進方向的張力。例如若膜張力為200N/m，則對膜的1m的寬度施加有200N的力。若膜張力高于200N/m，則可能會在膜的行進方向上產生皺褶導致缺陷檢查的精度降低。另外，膜張力通常為10N/m以上，優選為30N/m以上。若膜張力低于10N/m，則可能會產生膜的松弛、蛇行。在隔膜卷料12c、耐熱隔膜卷料12b形成有孔P，其膜張力比光學膜等沒有孔的膜的膜張力小。因此，隔膜卷料12c、耐熱隔膜卷料12b具有比光學膜等沒有孔的膜容易拉伸的物性。因此，若在與缺陷D在耐熱隔膜卷料12b的長度方向上的位置對應的耐熱隔膜卷料12b的寬度方向的端部記錄缺陷碼DC，則即使耐熱隔膜卷料12b沿長度方向拉伸，缺陷D的長度方向的位置與缺陷碼DC的長度方向的位置也不會實質上偏離。因此，即使耐熱隔膜卷料12b沿長度方向拉伸，也能夠容易地確定缺陷D的長度方向的位置。

在端部記錄有缺陷碼DC的耐熱隔膜卷料12b卷繞于芯53。卷繞有耐熱隔膜卷料12b的芯53被向接下來的分切工序搬運。

缺陷信息記錄裝置56(圖4)將表示缺陷D的位置信息的缺陷碼DC記錄在與缺陷D在耐熱隔膜卷料12b的長度方向上的位置對應的耐熱隔膜卷料12b的寬度方向的端部。缺陷D與缺陷碼DC之間的沿著長度方向的距離L_MD例如優選為100mm以下，更優選為30mm以下。缺陷碼DC與耐熱隔膜卷料12b的寬度方向的端部之間的距離L_TD例如優選為100mm以下，更優選為30mm以下。另外，耐熱隔膜卷料12b的寬度方向的端部容易起伏，因此距離L_TD優選為10mm以上。

<分切裝置>

由耐熱隔膜卷料12b(以下稱作“隔膜卷料”)形成的耐熱隔膜12a、或者由隔膜卷料12c形成的隔膜12(以下稱作“隔膜”)優選形成為適于鋰離子二次電池1等應用產品的寬度(以下稱作“產品寬度”)。但是，為了提高生產性，隔膜卷料被制造成其寬度為產品寬度以上。并且，在被制造出后，隔膜卷料被切斷(分切)成產品寬度而成為隔膜。

另外，“隔膜的寬度”是指與隔膜延伸的平面平行、且與隔膜的長度方向垂直的方向上的隔膜的長度。另外，分切是指將隔膜卷料沿著長度方向(制造時的膜的流動方向，MD：Machine direction)切斷。切割是指將隔膜卷料或者隔膜沿橫切方向(TD：transverse direction)切斷。橫切方向(TD)是指與隔膜的長度方向(MD)和厚度方向大致垂直的方向(寬度方向)。

圖8是表示對隔膜卷料12b進行分切的分切裝置6的結構的示意圖，(a)表示整體結構，(b)表示對隔膜卷料12b進行分切前后的結構。

如圖8的(a)所示，分切裝置6具備被支承為能夠旋轉的圓柱形狀的卷出輥61、輥62～65、以及多個卷繞輥69。在分切裝置6中還設置有后述的切斷裝置7(圖9)。

<分切前>

在分切裝置6中，將卷繞有隔膜卷料12b的圓筒形狀的芯53嵌入到卷出輥61。如圖8的(a)所示，隔膜卷料12b從芯53向路線U或L卷出。被卷出的隔膜卷料12b經由輥63例如以100m/分鐘鐘的速度向輥64搬運。在搬運的工序中，隔膜卷料12b沿著長度方向被分切成多個隔膜12a。

<分切后>

如圖8的(a)所示，多個隔膜12a的一部分分別向嵌入于多個卷繞輥69的各芯81(筒管)卷繞。需要說明的是，多個隔膜12a的另一部分分別向嵌入于多個卷繞輥69的各芯81(筒管)卷繞。另外，將卷繞成輥狀的隔膜稱為“隔膜卷繞體(膜卷繞體)”。

<切斷裝置>

圖9是示出圖8的(a)所示的分切裝置6的切斷裝置7(分切部)的結構的圖，(a)是切斷裝置7的側視圖，(b)是切斷裝置7的主視圖。

如圖9的(a)、(b)所示，切斷裝置7具備刀架71和刀72。刀架71固定于分切裝置6所具備的框體等。并且，刀架71以刀72與被輸送的隔膜卷料12b的位置關系固定的方式保持刀72。刀72通過研磨得鋒利的邊緣將隔膜卷料分切。

圖10是用于對隔膜12a的缺陷位置確定方法的讀取工序(缺陷信息取得工序)、判定工序、標記施加工序以及卷繞工序進行說明的示意圖。隔膜卷料12b從芯53(圖8)以恒定速度(例如，80m/分鐘)卷出。讀取部73(缺陷信息取得部)通過讀取在隔膜卷料12b的寬度方向的端部記錄的缺陷碼DC，從而取得隔膜卷料12b的缺陷信息(缺陷信息取得工序)。然后，設置于分切裝置6的多個切斷裝置7將隔膜卷料12b沿著長度方向切斷而形成多個隔膜12a(分切工序)。

<缺陷去除工序>

接下來，判定裝置75(判定部)根據讀取部73讀取到的缺陷碼DC，將隔膜中的具有缺陷D的隔膜判定為不合格隔膜(不合格膜)(判定工序)。標記施加裝置74在判定裝置75判定為不合格隔膜的隔膜12a的與缺陷D對應的位置施加標記L(缺陷標記施加工序)。需要說明的是，在存在多個缺陷D時，判定裝置75將多個隔膜12a判定為不合格隔膜。在此，作為優選的標記L，可以列舉標簽，作為優選的標記施加裝置74，可以列舉貼標機。

對于標記L而言，可以代替標簽，而是通過筆繪出的標識，也可以是通過噴射器涂敷而成的標識。另外，標記L可以為通過對由樹脂構成的隔膜12a進行加熱而印出的熱敏標簽，另外，也可以利用激光在隔膜12a上開孔而形成標記L。

被切斷裝置7分切的多個隔膜12a分別卷繞于多個芯81(卷繞工序)。

然后，標記施加裝置74將由缺陷碼DC表示的缺陷D在隔膜卷料12b的長度方向上的位置信息作為缺陷碼DC2，記錄在卷繞有上述確定的一個隔膜12a的最外周部86以及/或者芯81上。

圖11是用于對隔膜12a的缺陷位置確定方法的標記探測工序以及缺陷去除工序進行說明的示意圖，圖11的(a)是用于對標記探測工序進行說明的示意圖，圖11的(b)是用于對缺陷去除工序進行說明的示意圖。首先，標記探測裝置83讀出記錄于最外周部86以及/或者芯81的缺陷碼DC2。然后，接收由標記探測裝置83讀出的信息，開始進行通過標記施加裝置74粘貼有標記L的隔膜12a的從芯81向芯82的重卷動作。接下來，標記探測裝置83根據由讀出的缺陷碼DC2表示的缺陷D在隔膜卷料12b的長度方向上的位置信息，在接近缺陷D的位置時，減慢隔膜12a的上述重卷動作的速度。

然后，通過標記探測裝置83探測粘貼在與隔膜12a的缺陷D對應的位置的標記L(標記探測工序)。當通過標記探測裝置83探測到標記L時，標記探測裝置83停止隔膜12a的重卷動作。之后，缺陷去除裝置84在與標記L對應的缺陷D的上游側以及下游側的隔膜12a的位置沿著寬度方向切斷，從而將缺陷D從隔膜12a去除(缺陷去除工序)。也可以代替缺陷去除裝置84，操作員通過手動作業實施該缺陷去除工序。然后，接合裝置85將切斷的隔膜12a接合(接合工序)。也可以代替接合裝置85，操作員通過手動作業實施該接合工序。接下來，接合裝置85重新開始隔膜12a的重卷動作。然后，隔膜12a的從芯81向芯82的重卷完成。在此，被分割成兩部分的隔膜12a也可以不接合而分別重卷于不同的芯。換言之，將切斷前的部分重卷于芯82，將切斷后的部分重卷于芯82以外的芯即可。

〔實施方式2〕

在實施方式1中，示出了將隔膜卷料12b中存在的缺陷D的位置信息記錄于隔膜卷料12b的端部的例子。然而，本發明不限于此。缺陷D的位置信息也可以記錄于信息存儲裝置。

圖12是用于對實施方式2所涉及的隔膜卷料12b的缺陷打標方法的缺陷檢測工序以及缺陷信息記錄工序進行說明的示意圖。圖13是用于對隔膜12a的缺陷位置確定方法的讀取工序、標記粘貼工序以及卷繞工序進行說明的示意圖。對已于實施方式1敘述的構成要素標注相同的附圖標記。因此，不重復進行這些構成要素的詳細說明。

缺陷信息記錄裝置56a(缺陷信息記錄部、隔膜卷料制造裝置)將位置信息記錄于信息存儲裝置91，所述位置信息表示由基材缺陷檢查裝置55、涂敷缺陷檢查裝置57、針孔缺陷檢查裝置58檢測到的隔膜卷料12c、12b中存在的缺陷D在長度方向以及寬度方向上的位置。然后，讀取部73a從信息存儲裝置91讀取缺陷D在長度方向以及寬度方向上的位置信息(讀取工序)。

〔實施方式3〕

以下，根據圖14～圖15對本發明的另一實施方式進行說明。另外，為了便于說明，對于具有與在上述實施方式中說明的部件相同的功能的部件標注相同的附圖標記，并省略其說明。

在實施方式1中，對缺陷信息記錄裝置56將缺陷碼DC記錄在與缺陷D在隔膜卷料12b的長度方向上的位置對應的位置的情況進行了說明，但由缺陷信息記錄工序56進行的缺陷碼DC的記錄的方式不限于此。

以下，對本實施方式的由缺陷信息記錄裝置56進行的缺陷碼DC的記錄的方式進行說明。

<單位區域>

圖14是用于對記錄缺陷碼DC的位置進行說明的隔膜卷料的俯視圖。

如圖14所示，本實施方式的缺陷信息記錄裝置56對隔膜卷料12b的在長度方向上具有規定長度的各個單位區域20，記錄(形成)與各單位區域20中存在的缺陷D對應的缺陷碼DC(缺陷信息記錄工序)。

隔膜卷料12b的長度方向上的單位區域20的長度例如能夠設定為250mm。

在圖14中，例示了在隔膜卷料12b的長度方向上排列的六個單位區域20a～20f，與含有缺陷D的各單位區域20a、20b、20d、20f對應地記錄有缺陷碼DC。需要說明的是，在圖14的例子中，缺陷信息記錄裝置56在如單位區域20c、20e那樣不存在缺陷D的單位區域20未記錄對應的缺陷碼DC。

另外，缺陷信息記錄裝置56在如單位區域20a、20b那樣存在多個缺陷D的單位區域20記錄表示多個缺陷D的位置信息等的一個缺陷碼DC。

這樣，通過在各個單位區域20記錄表示多個缺陷D的位置信息等的缺陷碼DC，與針對一個缺陷D記錄一個缺陷碼DC的情況相比，能夠減少所記錄的缺陷碼DC的數量，能夠簡化制造工序。

<缺陷碼中錄入的信息>

缺陷信息記錄裝置56記錄缺陷碼DC，該缺陷碼DC錄入有單位區域20中存在的缺陷D的個數的信息、缺陷D的種類、表示隔膜卷料12b的表面的缺陷D的位置的坐標、缺陷D的大小等詳細信息。

然而，在單位區域20中存在多個缺陷D的情況下，無法將全部的缺陷D的詳細信息錄入到一個缺陷碼DC。

于是，缺陷信息記錄裝置56也可以將單位區域20劃分為沿著隔膜卷料12b的寬度方向排列的多個分割區域21，記錄錄入有各分割區域21的有無缺陷D等簡易信息的缺陷碼DC。

例如，如圖14所例示那樣，將含有三個缺陷D的單位區域20d劃分為沿著隔膜卷料12b的寬度方向排列的分割區域21a～21d，記錄錄入有各分割區域21a～21d的有無缺陷D的信息的缺陷碼DC。具體地說，記錄如下缺陷碼DC，該缺陷碼DC中錄入有在分割區域21a中不含有缺陷D、在分割區域21b中含有缺陷D、在分割區域21c中不含有缺陷D、在分割區域21d中不含有缺陷D的這樣的簡易信息。

由此，能夠減少向缺陷碼DC錄入的信息的量。需要說明的是，圖14所示的分割區域21僅是一例，沿著隔膜卷料12b的寬度方向排列的分割區域21的數量以及各分割區域21的寬度能夠適當設定。

另外，缺陷信息記錄裝置56也可以根據單位區域20中存在的缺陷D的個數，切換記錄錄入有詳細信息的缺陷碼DC的第一模式、記錄錄入有簡易信息的缺陷碼DC的第二模式。

由此，在能夠向缺陷碼DC錄入的信息量受限的情況下，能夠在信息量的制約下記錄錄入有適當的信息的缺陷碼DC。

<判定工序>

在實施方式1以及實施方式2中，對判定裝置75(判定部)根據一個缺陷D確定一個不合格隔膜的方式進行了說明，但本實施方式的判定裝置75進行的判定工序與實施方式1以及實施方式2的判定裝置75進行的判定工序不同。

在本實施方式中，讀取部73讀取記錄于隔膜卷料12b的缺陷碼DC，分切裝置6在沿著長度方向的分切線處將隔膜卷料12b分切，判定裝置75根據一個缺陷D，將實際含有缺陷D的隔膜12a以及與該隔膜12a鄰接的其他隔膜12a判定為不合格隔膜(不合格判定)。

然后，標記施加裝置74在實際含有缺陷D的隔膜12a施加表示該缺陷D的位置的標記L1(第一標記)，并在與該隔膜12a鄰接的其他隔膜12a的與標記L1對應的位置施加標記L2(第二標記)(缺陷標記施加工序)。

即，上述其他隔膜12a是與將隔膜卷料12b的表面在沿著長度方向的分切線(邊界線)處劃分而成的區域對應而得到的隔膜，在隔著分切線與缺陷D對置的位置施加標記L2。

由此，分切裝置6在從所希望的分切位置偏移的位置將隔膜卷料12b分切，從而即使在原本應當含有缺陷D的隔膜12a中不含有缺陷D而在與該隔膜12a鄰接的其他隔膜12a中含有缺陷D的情況下，該其他隔膜12a也被判定為不合格隔膜12a，從而能夠抑制具有缺陷D的隔膜12a的流出。

另外，也可以在缺陷標記施加工序之后的工序中，使用標記確認裝置，檢查是否由標記施加裝置74在適當的位置施加了標記L。

并且，在本實施方式中，讀取部73讀取錄入有每個分割區域的有無缺陷的簡易信息的缺陷碼DC，判定裝置75可以基于具有至少一個缺陷D的分割區域21，將包括具有缺陷D的分割區域21而得到的隔膜12a以及與該隔膜12a鄰接的其他隔膜12a判定為不合格隔膜。

由此，能夠根據與各分割區域21的有無缺陷D相關的簡易的信息，將上述其他隔膜12a判定為不合格隔膜。

需要說明的是，之后，也可以如圖11所示，缺陷去除裝置84根據標記L1、L2將不合格隔膜的缺陷部分切除(缺陷切除工序)。

以下，參照附圖更具體地進行說明。在以下的說明中，對在缺陷信息記錄裝置56記錄錄入有簡易信息的缺陷碼DC的情況下的、判定裝置75進行的不合格隔膜的判定工序進行說明。

圖15是例示含有缺陷的分割區域、分切線以及不合格隔膜之間的關系的圖，(a)示出在一個分割區域與一個隔膜對應這樣的分切線處將隔膜卷料分切的情況，(b)示出在兩個分割區域與一個隔膜對應這樣的分切線處將隔膜卷料分切的情況，(c)示出在三個分割區域與一個隔膜對應這樣的分切線處將隔膜卷料分切的情況，(d)示出在將分割區域裁開的分切線處將隔膜卷料分切的情況。需要說明的是，在圖15中省略缺陷碼DC的圖示。另外，圖15中的叉號標記示出分割區域中含有的缺陷D在分切后的隔膜中可能存在的位置。

<一個分割區域與一個隔膜對應>

在圖15的(a)的例子中，缺陷信息記錄裝置56記錄如下缺陷碼DC，該缺陷碼DC錄入具有與隔膜12a的寬度相等的寬度的各分割區域21a～21d的簡易信息。讀取部73讀取上述缺陷碼DC。分切裝置6在沿著各分割區域21a～21d的邊界線的分切線處將隔膜卷料12b分切，從而與各分割區域21a～21d對應地得到隔膜12aa～12ad。

這樣，在沿著具有缺陷D的分割區域21的邊界線的分切線處將隔膜卷料12b分切的情況下，容易因分切位置偏移而在與原本應當含有缺陷的隔膜12a鄰接的其他隔膜12a中含有缺陷。

于是，本實施方式的判定裝置75將包括具有缺陷D的分割區域21而得到的隔膜12a判定為不合格隔膜，并且將包括隔著具有缺陷D的分割區域21的邊界線而鄰接的分割區域21而得到的其他隔膜12a判定為不合格隔膜。

即，如圖15的(a)所示，在分割區域21c中含有缺陷D的情況下，判定裝置75將包括分割區域21c而得到的隔膜12ac判定為不合格隔膜，并且將包括隔著分割區域21c的邊界線而鄰接的分割區域21b而得到的隔膜12ab以及包括分割區域21d而得到的隔膜12ad判定為不合格隔膜。

根據包括本實施方式的判定工序的隔膜12a的制造方法，能夠將因分切位置的偏移而容易含有缺陷的隔膜12a適當地判定為不合格隔膜。因此，能夠降低錯誤地將具有缺陷的隔膜判定為合格隔膜的風險。

<兩個分割區域與一個隔膜對應>

在圖15的(b)的例子中，缺陷信息記錄裝置56記錄如下的缺陷碼DC，該缺陷碼DC錄入具有隔膜12a的寬度的1/2的寬度的各分割區域21aa～21db的簡易信息。讀取部73讀取上述缺陷碼DC。分切裝置6在沿著各分割區域21aa～21db的邊界線中的跳過一條的邊界線的分切線處將隔膜卷料12b分切。由此，與分割區域21aa、21ab對應地得到隔膜12aa，與分割區域21ba、21bb對應地得到隔膜12ab，與分割區域21ca、21cb對應地得到隔膜12ac，與分割區域21da、21db對應地得到隔膜12ad。

本實施方式的判定裝置75將包括具有缺陷D的分割區域21而得到的隔膜12a判定為不合格隔膜，并且將包括隔著具有缺陷D的分割區域21的邊界線而鄰接的分割區域21而得到的其他隔膜12a判定為不合格隔膜。

即，如圖15的(b)所示，在分割區域21ca中含有缺陷D的情況下，判定裝置75將包括分割區域21ca而得到的隔膜12ac判定為不合格隔膜，并且將包括隔著分割區域21ca的邊界線而與分割區域21ca鄰接的分割區域21bb而得到的其他隔膜12ab判定為不合格隔膜。

在如圖15的(a)所示的例子那樣，以與一個分割區域21對應地得到一個隔膜12a的方式將隔膜卷料12b分切的情況下，在與具有缺陷D的分割區域21對應的隔膜12a的兩邊鄰接的隔膜12a中容易含有缺陷D，需要將兩邊鄰接的隔膜12a判定為不合格隔膜。其結果是，相對于一個缺陷D而將三個隔膜12a判定為不合格隔膜。

相對于此，在圖15的(b)所示的例子中，在包括具有缺陷D的分割區域21ca而得到的隔膜12ac的兩邊鄰接的隔膜12ab、12ad中，一方的隔膜12ad中不易含有該缺陷D，無需將隔膜12ad判定為不合格隔膜12。由此，能夠減少盡管實際不含有缺陷D但被判定為不合格隔膜12的隔膜12a。

<三個分割區域與一個隔膜對應>

在圖15的(c)的例子中，缺陷信息記錄裝置56記錄如下的缺陷碼DC，該缺陷碼DC錄入具有隔膜12a的寬度的1/3的寬度的各分割區域21aa～21dc的簡易信息。讀取部73讀取上述缺陷碼DC。分切裝置6在沿著各分割區域21aa～21dc的邊界線中的跳過兩條的邊界線的分切線處將隔膜卷料12b分切。由此，與分割區域21aa、21ab、21ac對應地得到隔膜12aa，與分割區域21ba、21bb、21bc對應地得到隔膜12ab，與分割區域21ca、21cb、21cc對應地得到隔膜12ac，與分割區域21da、21db、21dc對應地得到隔膜12ad。

即，如圖15的(c)所示，在分割區域21da中含有缺陷D的情況下，判定裝置75將包括分割區域21da而得到的隔膜12ad判定為不合格隔膜，并且將包括隔著分割區域21da的邊界線而與分割區域21da鄰接的分割區域21cc而得到的其他隔膜12ac判定為不合格隔膜。換言之，在分割區域21da中不含有缺陷D的情況下，判定裝置75將在與分割區域21da的邊界線重疊的分切線處裁開的兩個隔膜12ac、12ad判定為不合格隔膜。

在如圖15的(b)所示的例子那樣，以與兩個分割區域21對應地得到一個隔膜12a的方式將隔膜卷料12b分切的情況下，在與具有缺陷D的分割區域21對應的隔膜12a鄰接的隔膜12a中容易含有缺陷D，需要將鄰接的隔膜12a判定為不合格隔膜。其結果是，相對于一個缺陷D而將兩個隔膜12a判定為不合格隔膜。

相對于此，在圖15的(c)所示的例子中，在與一個隔膜12a對應的三個分割區域21中的正中央的分割區域21中存在缺陷D的情況下，只需針對一個缺陷D而將一個隔膜12a判定為不合格隔膜即可。

即，如圖15的(c)所示，在分割區域21ab中存在缺陷D的情況下，在與包括分割區域21ab而得到的隔膜12aa相鄰的隔膜12ab中不易含有該缺陷D，無需將隔膜12ab判定為不合格隔膜12。由此，能夠減少盡管實際不含有缺陷D但被判定為不合格隔膜12的隔膜12a。

<將分割區域裁開的分切線>

圖15的(a)～(c)的例子是分切裝置6在沿著各分割區域21的邊界線的分切線處將隔膜卷料12b分切的例子，但分割區域21的邊界線與分切線的位置關系不限于此。

在圖15的(d)的例子中，缺陷信息記錄裝置56記錄如下的缺陷碼DC，該缺陷碼DC錄入交替排列的寬度窄的分割區域21aa、21ba、21ca、21da、21ea(第一分割區域)、以及寬度寬的分割區域21ab、21bb、21cb、21db(第二分割區域)的簡易信息。讀取部73讀取上述缺陷碼DC。分切裝置6在將寬度窄的分割區域裁開的分切線處將隔膜卷料12b分切，從而與各寬度寬的分割區域和裁開的兩個寬度窄的分割區域對應地得到各隔膜12aa～12ad。

在寬度窄的分割區域中含有缺陷D的情況下，包括具有缺陷D的分割區域被裁開而成的區域而得到的兩個隔膜12a的任一方含有缺陷D的可能性均高。

于是，本實施方式的判定裝置75將包括具有缺陷D分割區域被裁開而成的區域而得到的兩個隔膜12a判定為不合格隔膜。換言之，判定裝置75在與分切線重疊的分割區域中含有缺陷D的情況下，將與該分割區域重疊的兩個隔膜12a判定為不合格隔膜。另外，在寬度寬的分割區域中不含有缺陷D的情況下，將包括該寬度寬的分割區域而得到的一個隔膜12a判定為不合格隔膜。

即，如圖15的(d)所示那樣，在分割區域21da中含有缺陷D的情況下，判定裝置75將包括分割區域21da被裁開而成的區域而得到的兩個隔膜12ac、12ad判定為不合格隔膜。換言之，在分割區域21da中含有缺陷D的情況下，判定裝置75將在與分割區域21da重疊的分切線處裁開的兩個隔膜12ac、12ad判定為不合格隔膜。另外，在分割區域21ab中不含有缺陷D的情況下，判定裝置75將包括分割區域21ab而得到的一個隔膜12aa判定為不合格隔膜。

根據包括本實施方式的判定工序的隔膜12a的制造方法，能夠將容易含有缺陷的隔膜12a適當地判定為不合格隔膜。因此，能夠降低錯誤地將具有缺陷的隔膜判定為合格隔膜的風險。

另外，與在將寬度寬的分割區域裁開的分切線處將隔膜卷料12b分切的情況相比，在將寬度窄的分割區域裁開的分切線處將隔膜卷料12b分切的情況下，在被裁開的分割區域中含有缺陷的可能性低，因此能夠減少盡管實際不含有缺陷但被判定為不合格隔膜的隔膜。

〔實施方式4〕

以下，根據圖16～圖17對本發明的另一實施方式進行說明。另外，為了便于說明，對于具有與在上述實施方式中說明的部件相同的功能的部件標注相同的附圖標記，并省略其說明。

圖16是用于對隔膜12a的缺陷位置確定方法的讀取工序、標記施加工序以及卷繞工序進行說明的示意圖。

實施方式3的制造方法是以分切工序、標記施加工序的順序進行處理的制造方法，但上述各工序的順序不限于此。

即，本實施方式的制造方法與實施方式3的制造方法的不同之處在于，以標記施加工序、分切工序的順序進行處理。以下更詳細地進行說明。

如圖16所示，讀取部73讀取記錄于隔膜卷料12b的缺陷碼DC(缺陷信息取得工序)，判定裝置75根據缺陷碼DC，確定隔膜卷料12b中的在分切后成為不合格隔膜的部分(判定工序)，標記施加裝置74對于隔膜卷料12b在成為不合格隔膜的部分施加標記L(卷料缺陷標記施加工序)。

在根據隔膜卷料12b上的缺陷D的位置信息而在分切后的隔膜12a上施加標記L的情況下，因分切工序中的隔膜12a的沿寬度方向的位置偏移的影響，有時隔膜卷料12b上的缺陷D的位置與分切后的隔膜12a上的缺陷D的位置不對應，從而有時對缺陷D施加的標記L的位置發生偏移。相對于此，通過根據隔膜卷料12b上的缺陷D的位置信息而在分切前對隔膜卷料12b施加標記L，能夠在與缺陷D對應的準確的位置施加標記L。

需要說明的是，優選標記L1以及標記L2以不與分切線重疊的方式施加。由此，能夠防止在分切工序中標記L1、L2被切斷而難以進行不合格隔膜的辨別的情況。

圖17是示出在與缺陷對應的位置施加有標記的隔膜卷料或者隔膜的立體圖，(a)通過虛線圖示原本的分切線，(b)通過虛線圖示從原本的位置偏移后的分切線。

需要說明的是，圖17例示了由缺陷信息記錄裝置56記錄了如下缺陷碼DC的隔膜卷料12b，該缺陷碼DC錄入有如15的(d)所示那樣交替配置的寬度窄的分割區域、以及寬度寬的分割區域的簡易信息。

如圖17的(a)所示，在寬度窄的分割區域21ba中含有三個缺陷D的情況下，判定裝置75將包括分割區域21ba被裁開而成的區域而得到的兩個隔膜12ab、12aa判定為不合格隔膜。標記施加裝置74在隔膜卷料12b中的、與被判定為不合格隔膜的隔膜12ab對應的部分施加標記L1，并在與被判定為不合格隔膜的隔膜12aa對應的部分施加標記L2。標記L1、L2被施加在對應的缺陷D的周圍。

之后，分切裝置6將施加有上述標記L1、L2的隔膜卷料12b分切。

需要說明的是，在如實施方式3的制造方法那樣，以分切工序、標記施加工序的順序進行處理的情況下，標記施加裝置74對分切后的隔膜12ab施加標記L1，并且對隔膜12aa施加標記L2。在分切工序之前對隔膜卷料12b施加標記的情況下，存在標記在分切工序中被切斷的風險，但通過對分切后的隔膜12ab、12aa施加標記L1、L2，能夠避免這種風險。

如圖17的(a)所示，在分切工序中將隔膜卷料12b在原本的分切線處分切的情況下，在隔膜12ab中含有缺陷D。然而，如圖17的(b)所示，在將隔膜卷料12b在從原本的位置偏移后的分切線處分切的情況下，在隔膜12aa中含有缺陷D。

根據本實施方式的制造方法，不僅在與隔膜12ab對應的部分施加標記L1，還在與隔膜12aa對應的部分施加標記L2。另外，根據實施方式3的制造方法，對分切后的隔膜12ab施加標記L1，并且對隔膜12aa施加標記L2。

因此，即使在分切線從原本的位置發生偏移而在隔膜12aa中含有缺陷D的情況下，也能夠抑制作為不合格隔膜的隔膜12aa的流出。

(本發明的其他方面)

為了解決上述的課題，本發明所涉及的隔膜卷料的制造方法的特征在于，包含：形成工序，形成隔膜卷料；缺陷檢測工序，對通過所述形成工序形成的隔膜卷料中存在的缺陷進行檢測；以及缺陷信息記錄工序，記錄包括所述缺陷在所述隔膜卷料的寬度方向上的位置信息的缺陷信息。在此，“隔膜卷料”是指被分切前的寬度大的隔膜。

根據該特征，由于記錄包括所述缺陷在隔膜卷料的寬度方向上的位置信息的缺陷信息，因此根據所記錄的該位置信息，能夠容易地確定隔膜卷料中存在的缺陷。因此，能夠容易地去除隔膜卷料中存在的缺陷。

在本發明所涉及的隔膜卷料的制造方法中，優選所述缺陷信息還包括所述缺陷在所述隔膜卷料的長度方向上的位置信息。在此，“隔膜卷料的長度方向”相當于在隔膜的制造工序中搬運制造對象物的方向。

根據上述結構，能夠根據所述缺陷在長度方向上的位置信息，在從卷繞的隔膜卷料中卷出隔膜卷料時容易地發現上述缺陷。

在本發明所涉及的隔膜卷料的制造方法中，優選所述缺陷信息記錄在與所述缺陷在所述隔膜卷料的長度方向上的位置對應的位置。

根據上述結構，能夠根據記錄有缺陷信息的位置，確定缺陷在隔膜卷料的長度方向上的位置。另外，在與所述缺陷在隔膜卷料的長度方向上的位置對應的位置記錄有缺陷信息，因此即使隔膜卷料沿長度方向拉伸，缺陷與缺陷信息的長度方向的位置實質上也不會偏離。因此，即使隔膜卷料沿長度方向拉伸，也能夠容易地確定缺陷的長度方向的位置。

為了解決上述的課題，本發明所涉及的隔膜的制造方法的特征在于，包含：形成工序，形成隔膜卷料；缺陷檢測工序，對通過所述形成工序形成的隔膜卷料中存在的缺陷進行檢測；缺陷信息記錄工序，記錄包括所述缺陷在所述隔膜卷料的寬度方向上的位置信息的缺陷信息；切斷工序，將通過所述缺陷信息記錄工序記錄了所述位置信息的具有缺陷的隔膜卷料沿著所述卷料的長度方向切斷，從而形成多個隔膜；讀取工序，讀取所述位置信息；以及標記施加工序，根據通過所述讀取工序讀取到的位置信息，對通過所述切斷工序切斷而成的多個隔膜中的至少一個施加用于確定所述缺陷的位置的標記。

根據該特征，根據通過讀取工序讀取到的位置信息，對通過切斷工序切斷而成的多個隔膜中的至少一個施加用于確定缺陷的位置的標記，因此能夠容易地去除將隔膜卷料分切而成的多個隔膜中的包含該缺陷的隔膜的缺陷部位。

優選本發明所涉及的隔膜的制造方法包含：卷繞工序，對通過所述標記施加工序施加了用于確定缺陷的位置的標記后的多個隔膜中的至少一個進行卷繞；標記探測工序，一邊對通過所述卷繞工序而被卷繞的多個隔膜中的至少一個進行重卷，一邊探測所述標記；以及缺陷去除工序，根據通過所述標記探測工序進行的標記的探測來停止重卷動作，并將所述缺陷去除。

根據上述結構，由于在卷繞工序后去除缺陷，因此無需在卷繞工序中停止卷繞，從而作業效率提高。

在本發明所涉及的隔膜的制造方法中，所述缺陷去除工序優選在所述缺陷的長度方向的兩側的隔膜的位置處沿著寬度方向將所述隔膜切斷從而將所述缺陷從所述隔膜去除，然后將切斷后的所述隔膜接合。

根據上述結構，能夠制造去除了隔膜卷料中存在的缺陷的隔膜。

在本發明所涉及的隔膜的制造方法中，所述缺陷信息記錄工序優選將所述位置信息記錄在所述隔膜卷料的寬度方向的端部。

根據上述結構，能夠通過讀取隔膜卷料的寬度方向的端部來識別缺陷部位。

在本發明所涉及的隔膜的制造方法中，所述缺陷信息記錄工序也可以將所述位置信息記錄于信息存儲裝置。

根據上述結構，能夠通過讀取記錄于信息存儲裝置的信息來識別缺陷部位。

在本發明所涉及的隔膜的制造方法中，優選通過粘貼標簽來進行所述標記施加工序。

為了解決上述的課題，本發明所涉及的隔膜卷料的特征在于，將自身的缺陷在寬度方向上的位置信息記錄在寬度方向的端部。

為了解決上述的課題，本發明所涉及的隔膜卷料制造裝置的特征在于，具備：形成部，其形成隔膜卷料；缺陷檢測部，其對通過所述形成部形成的隔膜卷料中存在的缺陷進行檢測；以及缺陷信息記錄部，其記錄包括所述缺陷在所述隔膜卷料的寬度方向上的位置信息的缺陷信息。

本發明并不限定于上述各實施方式，能夠在技術方案所示的范圍內進行各種變更，對于將在不同的實施方式中分別公開的技術手段適當組合而得到的實施方式也包含于本發明的技術范圍內。

附圖標記說明