本發明涉及測量領域，具體為一種可用于稀土濃度測定的濃度分析儀。
背景技術：
我國有大中型稀土分離廠幾十家，都依靠實驗室大型儀器分析和中間控制分析指導生產。由于分析結果之后，不能及時掌握槽體情況來調整工藝，使得產品質量和產量得不到保證，因而急需能在線分析和自動控制的分析儀來穩定工藝流程。
技術實現要素：
本發明所解決的技術問題在于提供一種濃度分析儀，以解決上述背景技術中的缺點。
本發明所解決的技術問題采用以下技術方案來實現：
濃度分析儀，包含Ba-133放射源、鉛皮、半導體探測器和工控機，所述半導體探測器包括半導體晶體、陰極、陽極和至少一個階梯電極，所述半導體晶體包括頂面、底面和至少一個側面，所述陰極設于所述底面上，所述陽極設于所述頂面上，所述階梯電極設于至少一個所述側面上，所述Ba-133放射源置于所述鉛皮中，并與所述半導體探測器一起置于萃取槽的同側，所述鉛皮上留有放射孔并正對萃取槽，所述半導體探測器通過電纜與所述工控機連接。
本發明中，所述Ba-133放射源與所述半導體探測器軸線的夾角調整范圍是0°～90°，所述Ba-133放射源和所述半導體探測器距萃取槽的距離調整范圍均為30～300mm。所述工控機采用能譜分析法對所述半導體探測器的信號進行分析處理。
有益效果
本發明采用在線分析，給工藝人員提供了及時的槽體信息，減小了槽體的波動幅度，在穩定的槽體下生產，可以加大進料流量和出口流量，充分發揮萃取槽對稀土分離能力，提高產品產量和合格率。
附圖說明
圖1為濃度分析儀的原理框圖。
具體實施方式
為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體圖示，進一步闡述本發明。
參加圖1，濃度分析儀的原理框圖，濃度分析儀，包含Ba-133放射源6、鉛皮5、半導體探測器2和工控機4，所述半導體探測器包括半導體晶體、陰極、陽極和至少一個階梯電極，所述半導體晶體包括頂面、底面和至少一個側面，所述陰極設于所述底面上，所述陽極設于所述頂面上，所述階梯電極設于至少一個所述側面上，所述Ba-133放射源6置于所述鉛皮5中，并與所述半導體探測器2一起置于萃取槽1的同側，所述鉛皮5上留有放射孔并正對萃取槽1，所述半導體探測器2通過電纜3與所述工控機連4接。
所述Ba-133放射源6與所述半導體探測器2軸線夾角調整范圍是0°～90°，所述Ba-133放射源6和所述半導體探測器2距萃取槽1的距離調整范圍均為30～300mm。所述工控機4采用能譜分析法對所述半導體探測器2的信號進行分析處理。
以上顯示和描述了本發明的基本原理和主要特征及本發明的優點，本行業的技術人員應該了解，本發明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發明的原理，在不脫離本發明精神和范圍的前提下，本發明還會有各 種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本發明范圍內，本發明要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。