本發明涉及一種激光測距裝置,特別涉及一種測距系統及校準測距系統的方法。
背景技術:
手持式激光測距儀在工程、建筑、勘測等領域得到廣泛應用,激光測距儀一般包括發射單元、準直透鏡和接收單元,發射單元發射激光束到被測物體上,再通過反射被接收單元所接收,依據經調制的光線相對發射單元的相位,得到被測物的距離。
在激光測距過程中,發射光和接收光的光軸需要與鏡組平行或基本平行,但實際中,由于接收單元測光面存在直徑誤差,且受鏡組焦距等因素制約,現有測距儀的測距精度往往達不到理想高精度要求。
技術實現要素:
一種測距系統,所述測距系統包括:
基座;
承載板,所述承載板固定在所述基座的一端;
發射器,所述發射器用于光束發射;
發射透鏡,所述發射器發射的光束通過所述發射透鏡發射到被測物體上,并形成發射光路;
接收鏡組,所述接收鏡組設置在所述基座上,所述接收鏡組接收被測物反射回來的光,形成接收光路,所述接收鏡組可以在至少一個方向上移動;
接收傳感器,所述接收傳感器固定在所述承載板上,用來識別所述接收鏡組接收到的帶有測距信息的反射光;以及,
發射鏡組,所述發射鏡組設置在所述基座上,所述發射透鏡設置在所述發射鏡組上,所述發射鏡組可以在至少一個方向上移動,所述發射鏡組的移動可以調節發射光路和焦距,進而校準接收光路。
優選地,所述發射鏡組可以在至少兩個方向上移動,所述接收鏡組可以在接收光路所在的軸向上移動。
優選地,所述發射鏡組可以在發射光路所在的軸向方向上移動,所述接收鏡組可以在至少兩個方向上移動。
優選地,所述發射鏡組可以在至少兩個方向上移動,所述接收鏡組可以在至少兩個方向上移動。
優選地,所述發射鏡組可以在三個方向上移動。
優選地,所述接收鏡組可以在三個方向上移動。
優選地,所述發射器嵌設在所述基座上。
優選地,所述發射器嵌設在所述承載板上。
優選地,所述發射光路穿過所述發射鏡組,并通過所述發射鏡組位置移動調節發射光路和接收光路,使光路可以被接收傳感器精確接收。
本發明還提供了一種校準測距系統的方法,所述測距系統包括:
基座;
承載板,所述承載板固定在所述基座的一端;
發射器,所述發射器用于光束發射;
發射透鏡,所述發射器發射的光束通過所述發射透鏡發射到被測物體上,并形成發射光路;
接收鏡組,所述接收鏡組設置在所述基座上,所述接收鏡組接收被測物反射回來的光,形成接收光路,所述接收鏡組可以在至少一個方向上移動;
接收傳感器,所述接收傳感器固定在所述承載板上;用來識別所述接收鏡組接收到的帶有測距信息的反射光;以及,
發射鏡組,所述發射鏡組設置在所述基座上,所述發射透鏡設置在發射鏡組上,所述發射鏡組可以在至少一個方向上移動;
該方法為:通過所述發射鏡組的移動調節發射光路和焦距,進而校準接收光路。
本發明通過在發射光路上設置調節裝置來調節發射光路,從而實現接收光路的校準,本發明結構簡單、方法合理,大大提高了測距精度。
附圖說明
圖1是本發明結構示意圖;
圖2是本發明實施例一示意圖;
圖3是本發明實施例二示意圖;
圖4是本發明實施例三示意圖。
具體實施方式
以下將結合實施例和附圖對本發明的構思、具體結構及產生的技術效果進行清楚、完整地描述,以充分地理解本發明的目的、特征和效果。
參照圖1至圖4,本發明提供一種測距系統,包括基座1、承載板4、發射器3、接收器4、發射鏡組5和接收鏡組6,所述發射鏡組5上設置有發射透鏡,所述承載板固定在所述基座4的一端,所述發射器3和接收器4固定在所述承載板4上,所述發射鏡組5和接收鏡組6固定在所述基座1上,所述發射器3通過發射鏡組5發出激光束,形成發射光路,發射光路發射到待測物體上,然后從待測物體反射到接收鏡組6,并形成接收光路,接收光路被接收傳感器2接收,所述發射鏡組5和接收鏡組6都可以在至少一個方向上移動,通過所述發射鏡組5位置移動來調節發射光路和接收光路,使光路可以被接收傳感器精確接收,達到校準的目的。
圖1、圖2是本發明實施例一,下面對本實施例作詳細闡述。
本實施例中,所述發射鏡組5可以在兩個方向上移動,所述接收鏡組6可以在接收光路所在的軸向上移動。
具體地說,所述基座1上形成有發射孔7和接收孔8,所述發射鏡組5設置在所述發射孔7內,所述接收鏡組6設置在所述接收孔8內,所述發射器3、發射孔7和發射鏡組5同軸設置,發射鏡組5可以在接收孔內兩個方向(X、Y方向上)移動;同理,接收孔8、接收鏡組6和接收傳感器2也同軸設置,接收鏡組6可以在接收孔所在的軸向上(Y方向上)移動。
本實施例中,所述發射鏡組5還可以在三個方向上(X、Y、Z方向上)移動。
圖3是本發明實施例二,與實施例一相似,其區別在于,所述發射鏡組5僅可以在發射光路所在的軸向上移動,所述接收鏡組6可以在兩個方向上(X、Y方向上)移動;作為可選地,本實施例中接收鏡組6還可以在三個方向上(X、Y、Z方向上)移動。
圖4是本發明實施例三,與實施例一相似,其區別在于,所述發射鏡組5和接收鏡組6都可以在兩個方向上(X、Y方向上)移動;作為可選地,本實施例中發射鏡組5和/或接收鏡組6可以在三個方向上(X、Y、Z方向上)移動。
需要說明的是,上述各實施例中,基座的結構不是限定的,可以沒有發射孔和接收孔,不影響光路發射和調節即可;
另外,作為可選的,發射器也可以嵌設在所述基座上,節省測距裝置的布置空間。
使用時,可以根據設定,通過改變發射鏡組和/或接收鏡組移動位置來調節校準光路,本發明通過在發射光路上設置發射鏡組來調節發射光路,從而實現接收光路的校準。
本發明還提供了一種校準測距系統的方法;
參照圖1至圖4,本發明提供一種測距系統,包括基座1、承載板4、發射器3、接收器4、發射鏡組5和接收鏡組6,所述發射鏡組5上設置有發射透鏡,所述承載板固定在所述基座4的一端,所述發射器3和接收器4固定在所述承載板4上,所述發射鏡組5和接收鏡組6固定在所述基座1上,所述發射器3通過發射鏡組5發出激光束,形成發射光路,發射光路發射到待測物體上,然后從待測物體反射到接收鏡組6,并形成接收光路,接收光路被接收傳感器2接收,所述發射鏡組5和接收鏡組6都可以在至少一個方向上移動,通過所述發射鏡組5位置移動來調節發射光路和接收光路,使光路可以被接收傳感器精確接收,達到校準的目的。
圖1、圖2是本發明實施例一,下面對本實施例作詳細闡述。
本實施例中,所述發射鏡組5可以在兩個方向上移動,所述接收鏡組6可以在接收光路所在的軸向上移動。
具體地說,所述基座1上形成有發射孔7和接收孔8,所述發射鏡組5設置在所述發射孔7內,所述接收鏡組6設置在所述接收孔8內,所述發射器3、發射孔7和發射鏡組5同軸設置,發射鏡組5可以在接收孔內兩個方向(X、Y方向上)移動;同理,接收孔8、接收鏡組6和接收傳感器2也同軸設置,接收鏡組6可以在接收孔所在的軸向上(Y方向上)移動。
本實施例中,所述發射鏡組5還可以在三個方向上(X、Y、Z方向上)移動。
圖3是本發明實施例二,與實施例一相似,其區別在于,所述發射鏡組5僅可以在發射光路所在的軸向上移動,所述接收鏡組6可以在兩個方向上(X、Y方向上)移動;作為可選地,本實施例中接收鏡組6還可以在三個方向上(X、Y、Z方向上)移動。
圖4是本發明實施例三,與實施例一相似,其區別在于,所述發射鏡組5和接收鏡組6都可以在兩個方向上(X、Y方向上)移動;作為可選地,本實施例中發射鏡組5和/或接收鏡組6可以在三個方向上(X、Y、Z方向上)移動。
使用時,可以根據設定,通過改變發射鏡組和/或接收鏡組移動位置來調節校準光路,本發明通過在發射光路上設置發射鏡組來調節發射光路,從而實現接收光路的校準。
以上所述實施例僅表達了本發明的具體實施方式,其描述較為具體和詳細,但并不能因此而理解為對本發明專利范圍的限制。應當指出的是,對于本領域的普通技術人員來說,在不脫離本發明構思的前提下,還可以做出若干變形和改進,這些都屬于本發明的保護范圍。因此,本發明專利的保護范圍應以所附權利要求為準。