一種電子設備測試系統及方法與流程

本發明涉及通信領域，特別涉及一種電子設備測試系統及方法。

背景技術：

電子設備在應用過程中，不可避免會出現意外斷電的問題，在這種情況下，對設備的可靠性提出了較高的要求，如何測試驗證設備具備這種在意外失去電力的情況下，還能保持可靠性等特點，這需要模擬掉電環境和條件。

現有的電子設備測試方法中，一般有兩種，第一種方法：通過單片機來控制待測設備的通斷電，具體的，采用一個單片機，對單片機編程，通過單片機中的運行邏輯配合單片機周圍的外圍電路來執行待測設備的通斷電操作；第二種方法：采用繼電器電路，通過繼電器設置定時值，根據設置的定時值對待測設備進行通斷電操作。

然而，目前的方案不僅電路復雜，操作繁瑣，而且只能適應特定的測試需求，可靠性低。

技術實現要素：

本發明實施例提供一種電子設備測試系統及方法，用以解決現有技術中電路復雜、操作繁瑣以及可靠性不高的問題。

本發明實施例提供的具體技術方案如下：

一種電子設備測試系統，包括：測試設備、電源適配器和電源控制電路；其中，

電源適配器，與電源控制電路相連接，用于為待測設備供電；

電源控制電路，與所述待測設備相連接，用于控制所述待測設備的開關狀 態；

測試設備，分別與所述電源控制電路和所述待測設備相連接，用于通過控制所述電源控制電路，對所述待測設備進行上電操作和掉電操作，并與所述待測設備進行通信，分別記錄上電操作和掉電操作時的數據。

這樣，不僅操作方法簡單，成本很低，而且一臺測試設備可以控制多臺待測設備，可以同時記錄多臺待測設備的測試結果。

較佳的，進一步包括：

至少三根地線GND，分別位于所述電源適配器與所述電源控制電路之間、所述電源適配器與所述待測設備之間，以及所述測試設備與所述待測設備之間。

較佳的，所述電源控制電路具體包括：

第一電阻，一端連接所述測試設備，另一端連接三極管的基極；

第二電阻，一端連接所述三極管的基極，另一端接地；

三極管，通過集電極連接第三電阻，通過發射極接地；

第三電阻，一端連接所述電源適配器；

MOS管，通過源極連接所述電源適配器，通過漏極連接第四電阻，通過柵極連接所述三極管的集電極；

第四電阻，一端連接所述待測設備。

一種電子設備測試的方法，包括：

對待測設備執行上電操作并進行性能測試；

在預設時間范圍內，判斷是否接收到所述待測設備返回的串口數據，并根據所述串口數據確定所述待測設備的工作狀態，以及將測試產生的所有數據保存在指定存儲空間中；

對待測設備執行掉電操作，然后進入下一輪測試。

這樣，不僅操作方法簡單，成本很低，而且一臺測試設備可以控制多臺待測設備，可以同時記錄多臺待測設備的測試結果。

較佳的，對待測設備執行上電操作，并進行性能測試，包括：

根據上電串口指令，將串口的RTS信號設置為高電平，并通過RTS信號線將高電平信號傳輸到電源控制電路，對待測設備執行上電操作并進行性能測試；

對待測設備執行掉電操作，包括：

根據掉電串口指令，將串口的RTS信號設置為低電平，并通過RTS信號線將低電平信號發送到電源控制電路，對待測設備執行掉電操作。

較佳的，將測試產生的所有數據保存在指定存儲空間中，包括：

先將測試產生的數據記錄在串口緩沖區中；

依次讀取所述串口緩沖區的數據，并將讀取的所有數據保存在指定存儲空間中。

較佳的，在預設時間范圍內，判斷是否接收到待測設備發送的串口數據，并根據所述串口數據確定所述待測設備的工作狀態，包括：

在預設時間范圍內，當接收到所述待測設備發送的指定串口數據時，確定所述待測設備處于正常工作狀態，否則，確定所述待測設備處于異常工作狀態。

較佳的，確定所述待測設備處于正常工作狀態之后，執行掉電操作之前，進一步包括：

確定執行掉電操作的預設周期，并判定能夠按照所述預設周期執行后續掉電操作；其中，所述預設周期大于所述預設時間范圍；

確定所述待測設備處于異常工作狀態之后，執行掉電操作之前，進一步包括：

判定能夠直接執行掉電操作。

較佳的，確定所述待測設備的工作狀態之后，執行掉電操作之前，進一步包括：

根據用戶的指令向所述待測設備發送指定附加性能測試的參數，并接收所述待測設備基于所述參數反饋的數據。

較佳的，執行掉電操作之后，進入下一輪測試之前，進一步包括：

清空當前串口緩沖區保留的數據以及記錄當前測試次數的序號；

向用戶彈出詢問界面，當接收到用戶選擇的繼續測試指令時，確定可以進入下一輪測試。

附圖說明

圖1為本發明實施例中電子設備測試系統結構示意圖；

圖2為本發明實施例中電源控制電路的結構示意圖；

圖3為本發明實施例中電子設備測試的概述流程示意圖；

圖4為本發明實施例中電子設備測試的具體流程示意圖。

具體實施方式

為了測試設備在意外掉電的情況下，仍然保持可靠性等特點。本發明實施例中，采用串口的RTS信號，從測試設備直接控制待測設備的上電和掉電狀態，通過簡便的模擬掉電環境和條件對待測設備進行性能測試。

下面結合附圖對本發明優選的實施方式進行詳細說明。

參閱圖1所示，本發明實施例中，電子設備測試系統的結構示意圖。

一種電子設備測試系統，包括：測試設備、電源適配器和電源控制電路；其中，

電源適配器，與電源控制電路相連接，用于為待測設備供電；

電源控制電路，與待測設備相連接，用于控制待測設備的開關狀態；

測試設備，分別與電源控制電路和待測設備相連接，用于通過控制電源控制電路，對待測設備進行上電操作和掉電操作，并與待測設備進行通信，分別記錄上電操作和掉電操作時的數據。

其中，該電路至少有三根地線(Ground，GND)，分別位于電源適配器與電源控制電路之間、電源適配器與待測設備之間，以及測試設備與待測設備之 間。

該系統還包括：USB轉串口線(這里用的是USB轉RS232串口線)，至少包括4個分支，分別位于測試設備與電源控制電路之間(串口的RTS信號線)、測試設備與待測設備之間、以及測試設備與地線之間；其中，在測試設備與待測設備之間有USB轉串口線的兩個分支，一個分支用于測試設備向待測設備發送數據，另一個分支用于待測設備向測試設備發送數據。

此外，本發明實施例中，測試設備有多個接口，用于同時進行多臺待測設備的測試。

其中，參閱圖2所示，電源控制電路包括：

第一電阻，一端連接測試設備，另一端連接三極管的基極；

第二電阻，一端連接三極管的基極，另一端接地；

三極管，通過集電極連接第三電阻，通過發射極接地；

第三電阻，一端連接電源適配器；

MOS管，通過源極連接電源適配器，通過漏極連接第四電阻，通過柵極連接三極管的集電極；

第四電阻，一端連接待測設備。

在該電源控制電路中，當三極管處于導通狀態時，MOS管的柵極是低電平，該電路處于導通狀態，當三極管處于斷開狀態時，MOS管的柵極是高電平，該電路處于斷開狀態。

參閱圖3所示，基于上述電子設備的測試系統，其對應的方法的具體流程為：

步驟300：對待測設備執行上電操作并進行性能測試。

本發明實施例中，在執行步驟300時，根據上電串口指令，將串口的RTS信號設置為高電平，并通過RTS信號線將高電平信號傳輸到電源控制電路，對待測設備執行上電操作并進行性能測試。

具體的，當通過RTS信號線將高電平信號傳輸到電源控制電路時，電源控 制電路中的三極管處于導通狀態，MOS管的柵極處于低電平，此時MOS管就處于導通狀態，待測設備就處于上電狀態。

步驟310：在預設時間范圍內，判斷是否接收到待測設備返回的串口數據，并根據串口數據確定待測設備的工作狀態，以及將測試產生的所有數據保存在指定存儲空間中。

具體的，在執行步驟320時，在預設時間范圍內，當接收到待測設備發送的指定串口數據時，確定待測設備處于正常工作狀態，否則，確定待測設備處于異常工作狀態。

例如，預設時間范圍是5秒，只要在5秒之內接收到待測設備發送的指定串口數據時，則確定該設備是處于正常的工作狀態，超過5秒，或者在5秒之內沒有收到指定的串口數據時，則確定該設備是處于異常的工作狀態。

這里，指定的串口數據是：“The device has intered into the launcher”。

在數據保存時，先將測試產生的數據記錄在串口緩沖區中；依次讀取串口緩沖區的數據，并將讀取的所有數據保存在指定存儲空間中。

進一步的，確定待測設備處于正常工作狀態之后，執行掉電操作之前，確定執行掉電操作的預設周期，并判定能夠按照預設周期執行后續掉電操作；其中，預設周期大于預設時間范圍。

例如，需要進行100次測試，預設周期是10秒，每一次測試開始時，假設在5秒之內收到指定的串口數據時，在10秒的時候測試設備判定能夠執行掉電操作。

確定待測設備處于異常工作狀態之后，執行掉電操作之前，判定能夠直接執行掉電操作。

例如，需要進行100次測試，預設周期是10秒，每一次測試開始時，假設在5秒之內沒有收到指定的串口數據，則測試設備判定能夠直接執行掉電操作。

此外，確定待測設備的工作狀態之后，執行掉電操作之前，可以根據用戶 的指令向待測設備發送指定附加性能測試的參數，并接收待測設備基于參數反饋的數據。

例如，測試設備根據用戶的指令“Write_Nand”向待測設備發送參數，用于指示待測設備在“Nand Flash”中寫入數據，待測設備接收到該指令以后，向測試設備發送數據“BeginWrite Nand Flash！！！”，然后開始在“Nand Flash”中寫入數據，測試設備收到該數據之后進行分析，假設指示待測設備在寫入數據5秒鐘后，進行斷電操作，這個數據用于檢查待測設備在寫入數據的時候，突然掉電，對文件系統完整性的影響。

步驟320：對待測設備執行掉電操作，然后進入下一輪測試。

本發明實施例中，在執行步驟320時，根據掉電串口指令，將串口的RTS信號設置為低電平，并通過RTS信號線將低電平信號發送到電源控制電路，對待測設備執行掉電操作。

具體的，當通過RTS信號線將低電平信號傳輸到電源控制電路時，電源控制電路中的的三極管處于關閉狀態，MOS管的柵極處于高電平，此時MOS管就處于斷開狀態，待測設備就處于掉電狀態。

進一步地，進行掉電操作之后，進入下一輪測試之前，清空當前串口緩沖區保留的數據以及記錄當前測試次數的序號；向用戶彈出詢問界面，當接收到用戶的繼續測試指令時，確定可以進入下一輪測試。

例如，每進行下一輪測試前，需要向用戶彈出詢問界面，如果用戶選擇退出測試，則直接可以按下CTRL+C，退出測試操作，如果用戶選擇繼續測試，則重復上述測試操作。

基于上述實施例，下面結合一個具體的應用場景對上述實施例作出進一步詳細的說明，請參閱圖4所示。

步驟400：打開測試設備。

步驟401：測試設備詢問是否需要退出測試。

若是，則執行步驟402，否則，執行步驟404。

這里，測試設備可以提前預設信號，監控按鍵信息。例如，當接收到CTRL+C的時候，可以退出測試流程。每進行下一輪測試前，都會向用戶彈出詢問界面。

步驟402：測試設備退出測試流程。

步驟403：測試設備對待測設備執行掉電操作，打印完成測試的提示信息。

步驟404：測試設備清空串口緩沖區中的數據，并且打印當前測試的次數。

步驟405：測試設備通過串口的RTS信號線對待測設備執行上電操作。

步驟406：測試設備等待待測設備的串口信息。

步驟407：測試設備判斷等待是否超時。

具體的，在待測設備上電后，判斷是否在預設時間范圍內收到指定的串口信息，如果是，則執行步驟408，否則，執行步驟410。

步驟408：測試設備對待測設備執行掉電操作。

步驟409：測試設備打印出錯信息。

步驟410：測試設備按照預設周期進行掉電操作。

步驟411：測試設備打印本次操作的測試時間。

通過每一次測試時間的記錄有助于對待測設備的性能測試數據的分析。

綜上所述，本發明實施例中，提出了一種電子設備測試系統及方法，該方法為：對待測設備執行上電操作并進行性能測試；在預設時間范圍內，判斷是否接收到待測設備返回的串口數據，并根據串口數據確定待測設備的工作狀態，以及將測試產生的所有數據保存在指定存儲空間中；對待測設備執行掉電操作，然后進入下一輪測試。這樣，利用串口的RTS信號，從測試設備直接控制待測設備的上電和掉電狀態，不僅操作方法簡單，成本很低，而且一臺測試設備可以控制多臺待測設備，可以同時記錄多臺待測設備的測試結果。

本領域內的技術人員應明白，本發明的實施例可提供為方法、系統、或計算機程序產品。因此，本發明可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結合軟件和硬件方面的實施例的形式。而且，本發明可采用在一個或多個其中包 含有計算機可用程序代碼的計算機可用存儲介質(包括但不限于磁盤存儲器、CD-ROM、光學存儲器等)上實施的計算機程序產品的形式。

本發明是參照根據本發明實施例的方法、設備(系統)、和計算機程序產品的流程圖和/或方框圖來描述的。應理解可由計算機程序指令實現流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結合。可提供這些計算機程序指令到通用計算機、專用計算機、嵌入式處理機或其他可編程數據處理設備的處理器以產生一個機器，使得通過計算機或其他可編程數據處理設備的處理器執行的指令產生用于實現在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的系統。

這些計算機程序指令也可存儲在能引導計算機或其他可編程數據處理設備以特定方式工作的計算機可讀存儲器中，使得存儲在該計算機可讀存儲器中的指令產生包括指令系統的制造品，該指令系統實現在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能。

這些計算機程序指令也可裝載到計算機或其他可編程數據處理設備上，使得在計算機或其他可編程設備上執行一系列操作步驟以產生計算機實現的處理，從而在計算機或其他可編程設備上執行的指令提供用于實現在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。

盡管已描述了本發明的優選實施例，但本領域內的技術人員一旦得知了基本創造性概念，則可對這些實施例作出另外的變更和修改。所以，所附權利要求意欲解釋為包括優選實施例以及落入本發明范圍的所有變更和修改。

顯然，本領域的技術人員可以對本發明實施例進行各種改動和變型而不脫離本發明實施例的精神和范圍。這樣，倘若本發明實施例的這些修改和變型屬于本發明權利要求及其等同技術的范圍之內，則本發明也意圖包含這些改動和變型在內。