種各樣的形狀存在，最常見是菱面體和偏=角面體的形態。偏=角面體顆粒的存在提供了 如W下所概述的某些有利特性。
[0027] 在本發明中，運些偏=角面體顆粒是狹長的基本顆粒。對于運些納米纖維或納米 鏈狀團聚體，不希望受限于理論解釋，所相信的是運些納米纖維或納米鏈狀團聚體產生自 近似球體的初級顆粒的端對端并置。因此，與運些偏=角面體顆粒相反，運些納米纖維或 納米鏈狀團聚體是通過初級顆粒團聚而形成的二次顆粒。因此，平均初級粒徑（化）接近偏 =角面體基本顆粒的較小尺寸并且接近運些納米纖維或納米鏈狀團聚體的平均直徑。有 利的是，該平均初級粒徑（化）與該偏=角面體的較小尺寸并且與運些納米纖維或納米鏈狀 團聚體的平均直徑相差少于50%、優選少于25%、更優選少于10%。因此運些納米纖維或納 米鏈狀團聚體是二次顆粒或是初級顆粒的團聚體。所述納米纖維或納米鏈狀團聚體可W 任選地W任何方式進一步組合。例如，運些納米纖維或納米鏈狀團聚體可W相對于彼此W 無組織的方式交織。運些納米纖維或納米鏈狀團聚體還可W彼此平行地組合并且形成"捆 (faggot)"，運些捆可能由幾十或幾百個相似的納米纖維或納米鏈狀團聚體組成。運些納米 纖維或納米鏈狀團聚體還可W組合W便形成微殼。微殼可能由數十至數百的納米纖維或納 米鏈狀團聚體組成。在運種情況下，納米纖維或納米鏈狀團聚體通常至少在微殼狀團聚體 的內部可見。在本發明中，運些納米纖維或納米鏈狀團聚體大多時候組合W便形成微殼。
[0028] 偏=角面體基本顆粒也形成微殼。
[0029] 本發明的納米纖維或納米鏈狀團聚體的平均直徑因此可W在構成它們的顆粒的 平均初級粒徑（化）的基礎上進行評估。作為近似，所認為的是運些納米纖維或納米鏈狀團 聚體的平均直徑等于平均初級粒徑（化）。所述初級粒徑（化）、W及偏=角面體基本顆粒的 粒徑，總體上等于或高于1皿、特別地等于或高于10皿、更特別地等于或高于20皿，等于 或高于30nm的值給出了良好的結果。等于或大于50nm的基本粒徑（化）（對于偏S角面 體顆粒）和初級粒徑（化）（對于形成納米纖維或納米鏈狀團聚體的初級顆粒）是特別優選 的。初級粒徑和基本粒徑（化）通常是等于或低于500nm、優選地等于或低于250nm、并且 特別是等于或低于200 nm。運些偏=角面體和納米纖維或納米鏈狀團聚體的初級粒徑和基 本粒徑（化）的合適的范圍通常是從10皿至500皿、優選地40皿至250皿、更優選地50 nm至200 nm。典型地，通過滲透性測量初級粒徑（化）。本發明的偏S角面體顆粒、納米纖 維或納米鏈狀團聚體的平均直徑也可W依賴于沈M(掃描電子顯微鏡)或TEM(透射電子顯 微鏡)觀察進行評估。例如，偏=角面體顆粒W及納米纖維或納米鏈的直徑可W通過對由掃 描電子顯微鏡（SEM)或透射電子顯微鏡（TEM)拍攝的圖片進行圖像分析、直接測量顆粒的 直徑或測量包含運些顆粒的矩形的寬度、優選直接測量直徑來確定。平均直徑是構成給定 的納米顆粒群體的那些納米顆粒的單獨的直徑的算數平均值。所述平均直徑總體上等于或 高于1 nm、特別地等于或高于10 nm、更特別地等于或高于20 nm，等于或高于30 nm的值給 出了良好的結果；特別地，它是等于或高于40皿。平均直徑通常是等于或低于500皿、優 選地等于或低于250 nm、并且更優選地等于或低于200 nm。運些納米纖維或納米鏈狀團聚 體的平均直徑的合適的范圍通常是從10 nm至500 nm、優選地從40 nm至250 nm、更優選 地從50 nm至200 nm。
[0030] 運些偏S角面體顆粒、納米纖維或納米鏈狀團聚體的平均長度可W依賴于SEM(掃 描電子顯微鏡）或TEM(透射電子顯微鏡）的觀測進行評估。例如，偏S角面體顆粒W及納 米纖維或納米鏈的長度可W通過對由掃描電子顯微鏡（SEM)或透射電子顯微鏡（TEM)拍攝 的圖片進行圖像分析、直接測量顆粒的長度或測量包含運些顆粒的矩形的長度、優選直接 測量長度來確定。平均長度是運些顆粒(例如，構成給定的納米顆粒群體的納米顆粒）的單 獨的長度的算數平均值。運些納米纖維或納米鏈狀團聚體典型產生自從2至20個、優選2 至10個、最優選2至8個初級碳酸巧顆粒的端對端并置。運些納米纖維或納米鏈狀團聚體 的平均長度典型地范圍從20皿至2000皿、優選地從20皿至1000皿、更優選地從40皿 至1000nm、并且最優選地從80nm至1000nm。
[0031] 在本發明中，運些納米纖維或納米鏈狀團聚體、W及運些偏=角面體，可W分別至 少部分地W有組織的或隨機的方式組合W便形成團聚體。在具體的實施例中，運些納米纖 維或納米鏈可W至少部分地自身組合W便形成微殼狀團聚體，在運些微殼狀團聚體中納米 纖維至少部分地、優選大部分地在該殼的內部可見。同樣，運些偏=角面體顆粒可W至少部 分地自身組合W便形成微殼狀團聚體。可W在團聚體中值大小（D50)或通過沉降分析測定 的斯托克直徑（Stoke'Sdiameter)的基礎上評估運些團聚體的中值大小（見實例）。所述 團聚體中值大小（D50)總體上等于或高于100nm，尤其是等于或高于200nm，更具體地等于 或高于400nm，例如等于或高于600nm。本發明的碳酸巧顆粒的團聚體中值大小是典型地 等于或低于5化、優選地等于或低于4化、更優選地等于或低于3化，例如等于或低于2. 5 化。對于運些團聚體的團聚體中值大小的非常合適范圍是從0.1化到5化、優選地從0.2 化到4化、更優選地從0.4化到3化、最優選地從0.8化到2. 5化。
[0032]在本發明中，限制具有超過10化尺寸的團聚體的量是可取的。具有超過10化 尺寸的團聚體的量是優選地小于按碳酸巧重量計的5%、典型地小于按重量計2%、尤其是小 于按重量計1%。確實已經發現的是，具有超過10化的尺寸的團聚體可能對包括該團聚體 的組合物具有不利影響，尤其是導致組合物不透明度的降低。
[0033] 本發明的偏=角面體顆粒、納米纖維或納米鏈狀團聚體典型地具有嚴格高于1. 0 的長徑比。將長徑比定義為顆粒的"較高尺寸"（L)(典型地是它的長度）與該顆粒的"較 小尺寸"（通常是它的直徑）的比率。本發明的顆粒的長徑比通常是等于或高于2、優選地 等于或高于3,例如等于或高于4。本發明的偏=角面體顆粒、納米纖維或納米鏈狀團聚體 的長徑比經常是等于或低于50、更經常是等于或低于20,等于或低于15或者等于或低于 10的值給出了良好的結果。長徑比通常通過對由掃描電子顯微鏡（SEM)或透射電子顯微鏡 (TEM)拍攝的圖片進行圖像分析而確定，使用運些技術來確定運些偏S角面體顆粒、運些納 米纖維或納米鏈狀團聚體的長度和直徑。在本發明中，納米纖維或納米鏈狀團聚體的群體 的長徑比是納米纖維或納米鏈狀團聚體的群體的平均長徑比，即，構成給定的納米纖維或 納米鏈狀團聚體的群體的那些納米纖維或納米鏈狀團聚體的單獨的長徑比的算數平均值。 偏=角面體顆粒的群體的長徑比是偏=角面體顆粒的群體的平均長徑比，即構成給定的偏 =角面體顆粒的群體的偏=角面體顆粒的單獨的長徑比的算術平均值。長徑比的優選的合 適的范圍從2至50、尤其從2至20、更特別地2至8變化。
[0034] 為了對由沈M或TEM拍攝的圖進行圖像分析，應該W合理的方式選擇放大倍率，運 樣使得運些顆粒可W被合理地界定并且W足夠的數量存在。在運樣的條件下，對合理數量 的圖的分析，例如約10張圖，應當允許對運些顆粒的精確表征。如果放大倍率過低，顆粒的 數量將會過高并且分辨率過低。如果放大倍率過高，例如每張圖具有少于10個顆粒，有待 分析的圖的數量將會過高并且應該分析幾百張圖W給出精確的測量值。因此，必須選擇方 法W將納米顆粒的良好的分散程度提供到樣品中。
[0035] 呈偏=角面體納米纖維或納米鏈狀團聚體形式的此類沉淀碳酸巧顆粒總體上具 有的團聚體比(定義為團聚體中值大小（D50)與平均直徑（化）之比）是高于1、優選等于或 高于2、更優選等于或高于5、最優選等于或高于10、特別是等于或高于20。運些顆粒的團聚 體比通常是等于或低于300、經常是等于或低于100、最經常是等于或低于50。從5至300 的團聚體比是尤其合適的，更特別是從10至100、最特別是從20至50。
[0036] 本發明中的碳酸巧顆粒總體上具有高于5m2/g、尤其是從10m2/g至60m2/g、例