一種鐵氧體粉末及其所制備的成型體的制作方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及磁記錄介質領域，尤其涉及一種鐵氧體粉末及其所制備的成型體。
【背景技術】
[0002] 粘結磁體是將高分子粘結劑與鐵氧體磁粉復合而成的永磁材料，不僅具有永磁鐵 氧體的磁特性，而且具有高分子材料的容易加工、產品尺寸精確諸多優良特性，改進了燒結 磁體不易加工等缺點。
[0003] 近年來，隨著科技水平的發展，各種應用粘結磁體的設備都要求使用性和可靠性 能夠大幅提尚，這就要求粘結磁體以及用于制備粘結磁體的鐵氧體粉末具有更尚的性能及 更好的穩定性。
[0004] 磁記錄介質（例如：磁質車票、磁卡等）是粘結磁體的主要應用領域之一，為了在 更小的體積上記錄更多的信息，磁記錄介質需要具有更高的磁記錄密度以及良好的環境穩 定性。本申請的發明人發現：對于用作磁記錄介質的粘結鐵氧體粉末而言，SFD(英文全稱 為SwitchingFieldDistribution，譯為開關場分布）越小，矯頑力均一化程度越高，在形 成磁記錄介質時，記錄位之間的過渡區越小，記錄密度越高，錄放信號的靈敏度越好，所形 成磁記錄介質的復印效應越小，重寫性能越好；但在現有技術中，SFD基本都在0. 32以上， 這使得所制備出磁記錄介質的性能受到了很大限制。
【發明內容】
[0005] 針對現有技術中的上述不足之處，本發明提供了一種鐵氧體粉末及其所制備的成 型體，能夠將SFD有效控制在0? 30以下，使得矯頑力均一化程度更高、磁力均勻性更好、磁 性能更強，從而在形成磁記錄介質時，記錄位之間的過渡區更小，記錄密度更高，信號靈敏 度更好，所制備出磁記錄介質的復印效應更小，重寫性能更好。
[0006] 本發明的目的是通過以下技術方案實現的：
[0007] -種鐵氧體粉末，在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測定中，粒度分布的幾何 標準偏差是1. 4~1. 59,平均體積粒徑是0. 9~1. 5ym，篩下物累積比例為10 %的粒徑X10 是0. 35~0. 55ym，且篩下物累積比例為90%的粒徑X90是1. 5~2. 5ym。
[0008] 優選地，在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測定中，平均體積粒徑1. 0~ 1. 2um〇
[0009] -種成型體，該成型體為磁記錄介質，采用上述技術方案中所述鐵氧體粉末制成。
[0010] 由上述本發明提供的技術方案可以看出，本發明實施例所提供的鐵氧體粉末通過 對鐵氧體粉末粒度分布的幾何標準偏差、平均體積粒徑、粒徑X10、粒徑X90進行調整，從而 能夠將SFD有效控制在0. 30以下，使得矯頑力均一化程度更高、磁力均勻性更好、磁性能更 強，從而在形成磁記錄介質時，記錄位之間的過渡區更小，記錄密度更高，信號靈敏度更好， 所制備出磁記錄介質的復印效應更小，重寫性能更好。
【具體實施方式】
[0011] 下面對本發明中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是 本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明的實施例，本領域普通技術人員在 沒有付出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明的保護范圍。
[0012] 下面分別對本發明所提供的鐵氧體粉末及其所制備的成型體進行詳細描述。
[0013] -種鐵氧體粉末，其具體內容包括：在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測定中， 粒度分布的幾何標準偏差是1. 4~1. 59,平均體積粒徑是0. 9~1. 5ym，篩下物累積比 例為10 %的粒徑X10是0. 35~0. 55ym，且篩下物累積比例為90 %的粒徑X90是1. 5~ 2. 5um〇
[0014] 其中，該鐵氧體粉末的具體實施方案可以包括：
[0015] (1)計算幾何標準偏差的公式為：幾何標準偏差=(X84/X16)P1/2P，其中，X84是篩 下物的累積比例按體積標準為84%時的粒徑，X16是篩下物的累積比例按體積標準為16% 時的粒徑。在現有技術中，本領域技術人員一直認為用于制備磁記錄介質的鐵氧體粉末其 粒度分布的幾何標準偏差最好在1. 6~2. 2之間，但本申請的發明人發現，當鐵氧體粉末的 粒度分布的幾何標準偏差在1. 6~2. 2這一區間時，SFD值較大，所制得的磁記錄介質的性 能較差，因而本發明所提供的鐵氧體粉末在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測定中，粒 度分布的幾何標準偏差在1. 4~1. 59之間；如果該幾何標準偏差大于1. 59,則該鐵氧體粉 末的SFD數值較大，矯頑力分布范圍較寬，所制備出的磁記錄介質靈敏度較低，重寫性能較 差，因而不優選；而要將該幾何標準偏差控制到小于1. 4,目前的技術水平是難以做到的， 即使能夠做到，那么制造工序也會相當復雜，成本很高，因而不優選。
[0016] (2)平均體積粒徑是用全部顆粒的體積總和除以全部顆粒數求出的粒徑。本發明 所提供的鐵氧體粉末在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測定中，平均體積粒徑為〇. 9~ 1. 5ym;如果平均體積粒徑大于1. 5ym，則該鐵氧體粉末的顆粒尺寸增大，單位面積排布 的顆粒總數減少，SFD數值變大，所制備出的磁記錄介質的磁記錄密度會大幅下降，因而不 優選；如果平均體積粒徑小于〇. 9ym，則該鐵氧體粉末的分散性會大幅下降，因而不優選。 在實際應用中，平均體積粒徑可以為0. 9~1. 5ym，但最好為1. 0~1. 2ym。
[0017] (3)X10是篩下物的累積比例按體積標準為10%時的粒徑，X90是篩下物的累積 比例按體積標準為90%時的粒徑。本發明所提供的鐵氧體粉末在激光衍射式粒度分布儀 的粒度分布測定中，篩下物累積比例為10%的粒徑X10是0. 35~0. 55ym，且篩下物累積 比例為90 %的粒徑X90是1. 5~2. 5ym;如果粒徑X10小于0. 35ym并且粒徑X90大于 2. 5ym，則該鐵氧體粉末的SFD數值較大，矯頑力分布范圍較寬，所制備出的磁記錄介質靈 敏度較低，重寫性能較差，因而不優選；而將粒徑X10控制到大于0. 55ym并且將粒徑X90 控制到小于1. 5ym，制備難度非常大，不容易實現，成本很高，因而不優選；如果粒徑X10小 于0. 35且粒徑X90小于1. 5,會造成平均粒度偏小，因而不優選；如果粒徑X10大于0. 55且 粒徑X90大于2. 5,會造成平均粒度偏大，因而不優選。
[0018] (4)本發明所提供的鐵氧體粉末的矯頑力最好為2500~30000e，這不僅可以使所 制備出的磁記錄介質具有較小的復印效應、較好的靈敏度和重寫性能，而且制備工藝相對 簡單，生產效率較高。
[0019] (5)本發明中鐵氧體粉末的幾何標準偏差、平均體積粒徑、X10、X90均可以是采用 HELOS&RODOS激光衍射式粒度分布儀