測量液晶層對入射光的液晶效率的方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及液晶技術領域，特別是涉及一種測量液晶層對入射光的液晶效率的方 法。
【背景技術】
[0002] 目前常用的液晶面板顯示模式主要包括扭曲向列相模式(Twisted Nematic，簡寫 TN)、垂直取向模式(Vertical Alignment，簡寫VA)，共面開關模式（In Plain Switching， 簡寫IPS)。
[0003] 以VA模式為例：VA顯示是一種垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片的偏光軸 垂直偏貼。VA液晶顯示的原理基于液晶的透光率隨其所施電壓的大小而變化的特性。當光 通過下基板(即TFT基板)偏振片后，變成線性偏振光，偏振方向與下偏振片偏光軸的方向一 致。在不加電壓時，光線經過液晶不會發生偏振方向的改變。經過上基板（即CF基板)偏光 片，光線被吸收，因而為黑態。當加上電壓以后，液晶在電場作用下沿配向方向發生偏轉。當 光通過液晶層時，由于受液晶折射，線性偏振光被分解為兩束光。又由于這兩束光傳播速度 不同，因而當兩束光合成后，必然使偏振光的偏振方向發生變化。當入射光達到上基板偏振 片時，與下偏振片的偏光軸方向平行的光線可以通過，因而為亮態。在整個顯示過程中，液 晶起到一個電壓控制的光閥作用。可見液晶對線偏振光的偏振方向的偏轉能力非常重要， 它直接影響了穿透率結果。
[0004] 液晶層對入射光的液晶效率定義為:經過下偏光片產生的與下偏光片偏光軸方向 平行的偏振光，在最大灰階下，排除液晶材料吸收因素，經過液晶層后，液晶層能將多大比 例的入射光的偏振方向旋轉90度，從而與上偏光片偏光軸平行，使光線穿透出去。現有技術 中，常規的液晶效率的測量方法是:多次測量液晶面板穿透率，通過計算排除其他影響穿透 率的因素，最終計算出液晶效率。但是，這種方法測量次數多，測量過程中變異較多，且做了 近似處理，所以效率和準確度均偏低。
【發明內容】
[0005] 本發明主要解決的技術問題是提供一種測量液晶層對入射光的液晶效率的方法， 能夠不用拆卸模組，測量次數少、簡單，且效率和準確度均很高。
[0006] 為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種測量液晶層對入 射光的液晶效率的方法，所述方法包括:保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏 振片和下偏振片處于第一狀態，所述第一狀態是指所述上偏振片的偏光軸和所述下偏振片 的偏光軸平行的狀態;在所述第一狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為〇灰階，并測量目標 位置所述液晶面板的亮度Lvx;在所述第一狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為255灰階，并 測量所述目標位置所述液晶面板的亮度Lvy;根據所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，確定所述液 晶層對入射光的液晶效率。
[0007] 其中，所述液晶層對入射光的液晶效率A為：
[0008] 其中，所述保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏振片和下偏振片處 于第一狀態的步驟之前，包括:使所述液晶層的所述上偏振片和所述下偏振片處于第二狀 態，所述第二狀態是指所述上偏振片的偏光軸和所述下偏振片的偏光軸垂直的狀態;在所 述第二狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為0灰階，并測量所述目標位置所述液晶面板的亮 度Lvz;所述根據所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，確定所述液晶層對入射光的液晶效率的步 驟，包括:根據所述亮度Lvx、所述亮度Lvy以及所述亮度Lvz，確定所述液晶層對入射光的液 晶效率。
[0009] 其中，所述液晶層對入射光的液晶效率B為：
[0010] 其中，所述保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏振片和下偏振片處 于第一狀態的步驟，包括:在處于所述第二狀態時，去掉原始上偏光片，使用與所述原始上 偏光片同型號的新偏光片作為上偏光片，按照相對于所述原始上偏光片的偏貼方向偏轉90 度重新偏貼，以使得所述液晶層的所述上偏振片和所述下偏振片處于所述第一狀態。
[0011] 為解決上述技術問題，本發明采用的另一個技術方案是:提供一種測量液晶層對 預定灰階入射光的液晶效率的方法，所述方法包括:保持液晶層的下偏振片不變，使所述液 晶層的上偏振片和下偏振片處于第一狀態，所述第一狀態是指所述上偏振片的偏光軸和所 述下偏振片的偏光軸平行的狀態;在所述第一狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為〇灰階， 并測量目標位置所述液晶面板的亮度Lvx;在所述第一狀態下，控制液晶面板預定顏色畫面 的亮度為預定灰階，并測量所述目標位置所述液晶面板的亮度Lvy'；根據所述亮度Lvx和所 述亮度Lvy '，確定所述液晶層在預定灰階下對預定顏色的入射光的液晶效率。
[0012] 其中，所述液晶層在預定灰階下對預定顏色的入射光的液晶效率A'為：
[0013] 其中，所述保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏振片和下偏振片處 于第一狀態的步驟之前，包括:使所述液晶層的所述上偏振片和所述下偏振片處于第二狀 態，所述第二狀態是指所述上偏振片的偏光軸和所述下偏振片的偏光軸垂直的狀態;在所 述第二狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為〇灰階，并測量所述目標位置所述液晶面板的亮 度Lvz '；所述根據所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，確定所述液晶層對入射光的液晶效率的步 驟，包括:根據所述亮度Lvx、所述亮度Lvy'以及所述亮度Lvz'，確定所述液晶層在預定灰階 下對預定顏色的入射光的液晶效率。
[0014] 其中，所述液晶層在預定灰階下對預定顏色的入射光的液晶效率B'為：
[0015] 其中，所述保持液晶層的下偏振片不變，使所述液晶層的上偏振片和下偏振片處 于第一狀態的步驟，包括:在處于所述第二狀態時，去掉原始上偏光片，使用與所述原始上 偏光片同型號的新偏光片作為上偏光片，按照相對于所述原始上偏光片的偏貼方向偏轉90 度重新偏貼，以使得所述液晶層的所述上偏振片和所述下偏振片處于所述第一狀態。
[0016] 本發明的有益效果是：區別于現有技術的情況，本發明保持液晶層的下偏振片不 變，使液晶層的上偏振片和下偏振片處于第一狀態，第一狀態是指上偏振片的偏光軸和下 偏振片的偏光軸平行的狀態;在第一狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為〇灰階，并測量目 標位置液晶面板的亮度Lvx;在第一狀態下，控制液晶面板畫面的亮度為255灰階，并測量目 標位置液晶面板的亮度Lvy;根據亮度Lvx和亮度Lvy，確定液晶層對入射光的液晶效率。通 過以上方式，能夠避免現有技術中透過率的測量，不用拆裝背光模組，避免因拆裝導致的透 過率波動的影響，使測量更簡單和準確；同時，不需要采用對照組，測量數據是在同一背光 亮度狀態下測量出來的，量測數據很準確。
【附圖說明】
[0017] 圖1是現有技術中測量液晶效率的一示意圖；
[0018]圖2是現有技術中測量液晶效率的另一不意圖；
[0019] 圖3是現有技術中測量液晶效率的又一示意圖；
[0020] 圖4是本發明測量液晶層對入射光的液晶效率的一原理示意圖；
[0021]圖5是本發明測量液晶層對入射光的液晶效率的另一原理不意圖；
[0022]圖6是本發明測量液晶層對入射光的液晶效率的方法一實施方式的流程圖；
[0023]圖7是現有技術中液晶面板的結構不意圖；
[0024] 圖8是本發明測量液晶層對入射光的液晶效率的方法另一實施方式的流程圖；
[0025] 圖9是本發明測量液晶層對預定灰階入射光的液晶效率的方法一實施方法的流程 圖。
【具體實施方式】
[0026]在詳細介紹本發明之前，先說明一下與本發明相關的現有技術情況。
[0027] 液晶層對入射光的液晶效率的測量方法，現有技術中的一個測量方法如下：
[0028] 請參見圖1至圖3,中間為液晶層1，液晶層1的上面為上偏光片2,液晶層1的下面為 下偏光片3。
[0029]如圖1所示，第一步，測量液晶面板的正常透過率，L為背光源亮度為透過液晶 盒后的亮度。據此可以得出：
[0030 ] T = Li/L = rrp麻胞懸振)fe (1)
[0031 ] T是圖1中透過液晶盒后的總光透過率，rmMMM是下偏光片對自然光的透過率，AR 是開口率(Aperture ratio,簡寫AR)，neF是彩色濾光片基板(Color Filter，簡寫CF)的透過 率，是液晶效率，即液晶層的透過率，niJMIIDfe是上偏光片對偏振光的透過率。
[0032]如圖2所示，第二步，剝離上基板（即CF基板）的偏光片，測量液晶面板的透過率，L2 是剝離上偏光片2后透過液晶盒的亮度，據此可以得出：
[0033] T'=L2/L = nTfl對gg^AI^ncF (2)
[0034] 其中，T'是圖2中透過液晶盒后的總光透過率。
[0035]如