像素缺陷的處理方法及處理系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于顯示技術領域，具體地講，涉及一種像素缺陷的處理方法及處理系統。
【背景技術】
[0002]彩膜自動光學檢查機(CFΑ0Ι)主要負責對彩色濾光片基板(CF基板)上的像素進行微觀不良檢查，即計算像素的微觀缺陷的大小、數量、類型，從而判斷彩色濾光片基板的質量是否符合要求。
[0003]彩膜自動光學檢查機的檢查原理為:利用諸如電荷耦合元件CCD收集彩色濾光片基板曝光顯影后的圖像信息，將檢查點位像素的圖像信息與其它像素的圖像信息進行比對，根據對比結果判斷各個像素是否有缺陷。
[0004]然而，現有的彩膜自動光學檢查機在檢查高分辨率彩色濾光片基板時，由于彩色濾光片基板上的黑色矩陣的線寬較窄，為了使彩色濾光片基板不泄露光線，制作像素的彩色光阻(即紅色光阻、藍色光阻、綠色光阻)的重疊現象不可避免。這樣，在彩色光阻的重疊區域，彩膜自動光學檢查機在檢查時極易將正常像素確定為缺陷像素，從而導致彩膜自動光學檢查機產生溢出(overflow)現象，即彩膜自動光學檢查機將正常像素確定為缺陷像素之后，使檢查出的缺陷像素的數量(其包含實際為正常像素的數量)超過彩膜自動光學檢查機內設的上限缺陷像素數量的現象。
【發明內容】
[0005]為了解決上述現有技術存在的問題，本發明的目的在于提供一種像素缺陷的處理方法，其包括:檢測出顯示面板上的缺陷可疑像素;對缺陷可疑像素進行點過濾處理。
[0006]進一步地，對缺陷可疑像素進行點過濾處理的具體方法包括:確定環繞包圍缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素;判斷環繞包圍缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素中是否存在至少兩個為缺陷可疑像素;其中，若不存在，則將被環繞包圍的缺陷可疑像素過濾掉;若存在，則將被環繞包圍的缺陷可疑像素保留。
[0007]進一步地，對缺陷可疑像素進行點過濾處理之后，所述像素缺陷的處理方法還包括:對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理。
[0008]進一步地，對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理的具體方法包括:判斷經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素中是否存在至少兩個缺陷可疑像素相鄰;若不存在，則將未與其他缺陷可疑像素相鄰的缺陷可疑像素過濾掉;若存在，則將相鄰的缺陷可疑像素保留。
[0009]進一步地，對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理之后，所述像素缺陷的處理方法還包括:對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小收縮處理;對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小膨脹處理。
[0010]進一步地，對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小收縮處理的具體方法包括:確定與對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素相鄰的上像素、下像素、左像素和右像素;判斷與對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素相鄰的上像素、下像素、左像素和右像素是否都為缺陷可疑像素;若是，則保留對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素;若否，則將對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素過濾掉。
[0011]進一步地，對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小膨脹處理的具體方法包括:將與對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素相鄰的上像素、下像素、左像素和右像素均確定為缺陷像素，并保留。
[0012]進一步地，對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理之后，所述像素缺陷的處理方法還包括:對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行收縮處理;對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行膨脹處理。
[0013]進一步地，對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行收縮處理的具體方法包括:確定環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；判斷環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素是否都為缺陷可疑像素;其中，若都是，則將環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素保留；若至少一個不是，則將環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素過濾掉。
[0014]進一步地，對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行膨脹處理的具體方法包括:將環繞包圍對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素和右下像素均確定為缺陷像素，并保留。
[0015]本發明的另一目的還在于提供一種像素缺陷的處理系統，其利用上述的像素缺陷的處理方法對顯示面板上的缺陷可疑像素進行處理。
[0016]本發明的有益效果:當彩膜自動光學檢查機(或稱像素缺陷的處理系統)對顯示面板上的像素進行缺陷檢查時，既不會出現漏檢、誤檢的情形，也不會出現檢查溢出現象。
【附圖說明】
[0017]通過結合附圖進行的以下描述，本發明的實施例的上述和其它方面、特點和優點將變得更加清楚，附圖中:
[0018]圖1是根據本發明的第一實施例的像素缺陷的處理方法的流程示意圖；
[0019]圖2是根據本發明的第一實施例的對缺陷可疑像素進行點過濾處理的原理示意圖；
[0020]圖3是根據本發明的第一實施例的彩膜自動光學檢查機的模塊圖；
[0021]圖4是根據本發明的第二實施例的像素缺陷的處理方法的流程示意圖；
[0022]圖5是根據本發明的第二實施例的對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理的原理示意圖；
[0023]圖6是根據本發明的第二實施例的彩膜自動光學檢查機的模塊圖；
[0024]圖7是根據本發明的第三實施例的像素缺陷的處理方法的流程示意圖；
[0025]圖8是根據本發明的第三實施例的對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小收縮處理的原理示意圖；
[0026]圖9是根據本發明的第三實施例的對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小膨脹處理的原理示意圖；
[0027]圖10是根據本發明的第三實施例的彩膜自動光學檢查機的模塊圖；
[0028]圖11是根據本發明的第四實施例的像素缺陷的處理方法的流程示意圖；
[0029]圖12是根據本發明的第四實施例的對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行收縮處理的原理示意圖；
[0030]圖13是根據本發明的第四實施例的對經收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行膨脹處理的原理示意圖；
[0031]圖14是根據本發明的第四實施例的彩膜自動光學檢查機的模塊圖。
【具體實施方式】
[0032]以下，將參照附圖來詳細描述本發明的實施例。然而，可以以許多不同的形式來實施本發明，并且本發明不應該被解釋為限制于這里闡述的具體實施例。相反，提供這些實施例是為了解釋本發明的原理及其實際應用，從而使本領域的其他技術人員能夠理解本發明的各種實施例和適合于特定預期應用的各種修改。
[0033]〈第一實施例〉
[0034]圖1是根據本發明的第一實施例的像素缺陷的處理方法的流程示意圖。
[0035]參照圖1，在步驟101中，檢測出顯示面板(或彩色濾光片基板)上的缺陷可疑像素。這里，缺陷可疑像素指的是被疑為具有缺陷的像素，其需要進一步被檢測是否為缺陷像素或正常像素。
[0036]在步驟102中，對缺陷可疑像素進行點過濾處理。在第一實施例中，缺陷可疑像素在被進行點過濾處理之后，能夠被確定為缺陷像素或者正常像素。具體請參照圖2。