置在傳感器基板180處的第一傳感器170可以通過檢測磁體130的磁力變化來檢測第一透鏡移動單元在第一方向上的位移。
[0213]圖18是示出磁體130和第二傳感器240的相對布置(relative disposit1n)的視圖。第二傳感器240可以設置成使得第二傳感器240的中心沒有定位在磁體130的末端之外而是定位在磁體130的內部。
[0214]如上所述，由于第二傳感器240能夠傳感性地檢測在其中心處的電磁力，第二傳感器240的中心優選地布置在磁體130內部以避免在第一方向上觀察時脫離(escape)磁體130末端。
[0215]因此，第二傳感器240的中心和磁體130末端之間的距離B2可以設置為零或零以上，并且可以鑒于第二傳感器240的檢測傳感性、透鏡移動裝置的總體結構等來恰當地選擇距離B2。
[0216]圖19是第二線圈單元230的底視圖。在第二或第三方向上測量的第二線圈232的寬度B3可以設計成等于或大于磁體130的較短邊的長度。
[0217]磁體130的較短邊的長度可以是在第二或第三方向上的長度。在第二或第三方向上測量的第二線圈232的寬度B3優選地設計成使得當考慮到殼體140在第二或第三方向上的移動距離時，即當殼體140在第二或第三方向上移動到完整范圍(full extent)時，磁體130與第二線圈232重疊。此處，第二線圈232的寬度B3可以指排除圓化部分的直線形部分的寬度。
[0218]但是，由于透鏡移動裝置的總體結構限制，導致該寬度可能受到限制。因此，第二線圈232的寬度B3可以設置在第一磁體130的較短邊的長度的I倍至2倍，或1.2倍至2倍的范圍內。
[0219]在第二線圈232的情況中，具體地，在附近處設置有第二傳感器240的第三線圈232-1的情況中，第三線圈231-1的長度B4可以等于或短于第一磁體130的長度。或者，第一磁體130的一個末端可以延伸超過第三線圈232-1的一個末端。
[0220]為了防止如上所述由于第二傳感240的中心與第二線圈單元230的重疊而導致第二傳感器240受到第二線圈單元230所產生的磁力的影響，附近處設置有第二傳感器240的第四線圈232-2的長度B4優選地設置在磁體130的長度的0.7倍至I倍的范圍內。
[0221]在附近處沒有設置第二傳感器240的第四線圈232-2的情況中，第四線圈232_2的長度B5可以設置成等于或長于磁體130的長度。
[0222]考慮到由磁體130所產生的磁力的強度、透鏡移動單元的總體結構等，第四線圈232-2的長度B5優選地設置在磁體130長度的I倍至1.5倍的范圍內。
[0223]圖20A和圖20B是示出支撐件220的頻率響應分析的結果的曲線圖。
[0224]為了執行頻率響應分析，支撐件220必須振動。為此，將頻率為1Hz至10Hz的電脈沖施加給第二線圈單元230。因此，支撐件220通過由第二線圈單元230產生的磁力來振動。支撐件的振動特性被第二傳感器240檢測，并且檢測結果在曲線圖中被表示為振幅。此時，通過測量從第二傳感器240輸出的電流與給第二線圈單元230輸入的電流的比值，即增益，所獲得的振動頻率，可以找到振幅變化。
[0225]圖20A是示出第二傳感器240定位在第二線圈232中心處，即第二傳感器240中心與第二線圈232重疊的情況中的頻率響應分析的結果。圖20B是示出在第二傳感器240的中心不與第二線圈232重疊的情況中的頻率響應分析的結果。
[0226]如圖20A所示，第二傳感器240的中心與第二線圈232重疊，在約400Hz至800Hz的頻率范圍中振幅先下降然后再上升，如虛線箭頭所示。
[0227]由于可以容易地預期當此類不穩定的頻率特性發生時由振動頻率所導致的變化，即使第二傳感器240和用于控制第二傳感器240的裝置被校準，第二傳感器240也不能準確地檢測支撐件220的位移。這些振動特性應歸因于第二傳感器240受到由第二線圈單元230產生的磁力的影響，因此產生噪聲(noise)。
[0228]如圖20B所示，當第二傳感器240的中心不與第二線圈232重疊時，如虛線箭頭所示，發現在400Hz至800Hz的頻率范圍中振動幅度穩定地降低。
[0229]當出現此類穩定的振動特性時，可以容易地預期由于振動頻率導致的變化。因此，第二傳感器240可以很精確地檢測支撐件220的位移，只要傳感器240和用于控制傳感器240的裝置被校準。
[0230]在本實施例中，由于通過將第二傳感器240的中心設置成不與第二線圈232重疊來精確地檢測支撐件220的位移，可以在控制第二傳感器240時容易地控制支撐件220的振動的固有頻率，可以避免或容易地解決原本會因為振動所導致的共振現象。
[0231]圖21是示出磁體130、第二傳感器240和第二線圈單元230的位置關系的視圖。具體來說，圖21示出了在磁體130與第二傳感器240之間的距離和在磁體130與第二線圈單元230之間的距離的實例。
[0232]考慮到透鏡移動裝置的總體結構、檢測磁力等的第二傳感器240的性能，在第二傳感器240的上表面與磁體130的下表面之間的在第一方向上測量的距離可以設置成
0.1mm至1_，優選地0.2mm至0.8mm,更優選地0.3mm至0.6mm的范圍內。
[0233]考慮到透鏡移動裝置的總體結構、第二傳感器240的磁力檢測性能等，在第二傳感器240的上表面與第二線圈單元130的上表面之間的在第一方向上測量的距離B7可以設置成0.05mm至0.9mm,優選地0.15mm至0.7mm,更優選地0.25mm至0.5mm的范圍內。
[0234]根據本實施例所述的透鏡移動裝置可以并入到各種領域的器件，例如相機模塊中。相機模塊可以應用到諸如移動電話的移動通話器件中。
[0235]根據本實施例所述的相機模塊可以包括耦合到線筒110的透鏡鏡筒、圖像傳感器(圖中未示)、印刷電路板250以及光學系統。
[0236]該透鏡鏡筒可以構建為如上所述，并且從安裝圖像傳感器的區域開始，電路板250可以構成相機模塊的底表面。
[0237]該光學系統可以包括用于將圖像傳遞給圖像傳感器的至少一個透鏡。該光學系統可以設置有能夠完成自動聚焦功能和光學圖像穩定功能的致動器模塊。用于完成自動聚焦功能的致動器模塊可以用各種方式來構建，并且主要采用音圈電機。根據本實施例所述的透鏡移動裝置可以被用作用于完成自動聚焦功能和光學圖像穩定功能的致動器模塊。
[0238]該相機模塊可以另外包括紅外線篩選濾光片(infrared ray screening filter)(圖中未示)。該紅外線篩選濾光片用于為圖像傳感器將紅外線范圍內的光遮蔽。在這種情況下，圖2中所示的基座210可以在與圖像傳感器對應的位置處設置有紅外線篩選濾光片，并且，紅外線濾光片可以借助固持部件耦合到基座210。另外，基座210可以支撐固持部件的下部部分。
[0239]基座210可以設置有用于與電路板250連接的額外端子部件，并且該端子部件可以使用表面電極來一體形成。基座210可以充當用于保護該圖像傳感器的傳感器固持器。在這種情況下，盡管基座210可以沿其側表面設置有向下突起的突起，這些突起并非為必要組件。盡管圖中未示，在基座210下方設置的額外傳感器固持器可以實現該突起的功能。
[0240]通過上述構造，第一和第二透鏡移動單元的自動聚焦功能和手抖校正功能的操作可以通過共用磁體130來完成。在根據該等實施例所述的透鏡移動裝置中，第一傳感器170可以設置、耦合或安裝在殼體140或線筒110上，并且自動聚焦磁體130可以被用作檢測磁體，或者可以額外地設置檢測磁體。如果自動聚焦磁體130被用作檢測磁體，或者檢測磁體被定位成不與自動聚焦磁體130交互作用，那么檢測磁體不影響自動聚焦磁體130。因此，線筒110的翹起(tilting)不會發生，反饋信號的準確性也得到改善。另外，組件數量不會增加，并且殼體140的重量減少，因此改善了響應能力。當然，自動聚焦磁體和手抖校正磁體也可以彼此獨立地構建。
[0241]盡管上文參考多個說明性實施例描述了本發明，但是應理解，本領域技術人員也可以構思落入本發明原理的精神和范圍的其他修改和實施例。更具體來說，在本發明、附圖和所附權利要求范圍內的的組成部分和主組合布置中的各種變化和修改都是可以的。除了對于組成部分和/或布置的變化和修改以外，替代使用對于本領域技術人員也是一目了然的。
【主權項】
1.一種透鏡移動裝置，包括: 線筒，所述線筒包括設置在所述線筒周圍的第一線圈，并且所述線筒在第一方向上移動； 第一磁體，所述第一磁體被設置為面對所述第一線圈； 殼體，所述殼體用于支撐所述第一磁體； 上彈性件和下彈性件，所述上彈性件和所述下彈性件耦合到所述線筒和所述殼體； 基座，所述基座被設置為與所述殼體間隔開預定距離； 第二線圈單元，所述第二線圈單元被設置為面對所述第一磁體，并且所述第二線圈單元包括第二線圈； 電路板，所述第二線圈單元被安裝在所述電路板上； 多個支撐件，所述多個支撐件支撐所述殼體，使得所述殼體能夠在第二方向上和/或第三方向上移動，并且所述多個支撐件將所述上彈性件和所述下彈性件中的至少一個連接至所述電路板；以及 第二傳感器，所述第二傳感器用于檢測所述殼體在所述第二方向上和/或所述第三方向上的位移， 其中，所述第二傳感器的中心被設置為當在所述第一方向上觀察時不與所述第二線圈重疊。2.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，其中，所述第二線圈單元被配置為具有矩形板形狀，并且所述第二線圈被設置為靠近于且平行于所述第二線圈單元在其縱向方向上的邊。3.根據權利要求2所述的透鏡移動裝置，其中，所述第二線圈包括多個第二線圈，所述多個第二線圈中的至少一個被設置為靠近于所述第二傳感器。4.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，其中，所述第二傳感器被設置為使得所述第二傳感器的中心沒有定位在所述第一磁體的末端之外，而是與所述第一磁體重疊。5.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，其中，所述第二線圈具有在所述第二方向上或所述第三方向上測量的寬度，所述寬度超過所述第一磁體在所述第二方向上或所述第三方向上的寬度與所述殼體在所述第二方向上或所述第三方向上的可移動距離的總和。6.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，進一步包括用于檢測所述線筒在所述第一方向上的位移的第一傳感器， 其中，所述上彈性件包括彼此分離的至少四個上彈性件，即，第一至第四上彈性件， 其中，所述第一傳感器經由所述第一至所述第四上彈性件連接至所述多個支撐件。7.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，進一步包括: 第一傳感器，所述第一傳感器用于檢測所述線筒在所述第一方向上的位移；以及 第二磁體，所述第二磁體被設置為面對所述第一傳感器， 其中，所述第一磁體和所述第二磁體一體形成。8.根據權利要求7所述的透鏡移動裝置，其中，所述第一傳感器和所述第一磁體被設置為彼此面對，使得穿過所述第一傳感器中心延伸的且與光軸相交的假想水平中心線與所述第一磁體的上端重合。9.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，進一步包括: 第一傳感器，所述第一傳感器用于檢測所述線筒在所述第一方向上的位移；以及 第二磁體，所述第二磁體被設置為面對所述第一傳感器， 其中，所述第一磁體和所述第二磁體獨立地形成。10.根據權利要求1所述的透鏡移動裝置，其中，所述多個支撐件在形狀和數量上相對于所述第二方向和所述第三方向對稱， 其中，所述下彈性件包括彼此分離的至少四個下彈性件，即，第一至第四下彈性件， 其中，所述第一傳感器經由所述第一至所述第四下彈性件連接至所述多個支撐件。
【專利摘要】一種透鏡移動裝置，包括：包含第一線圈的線筒；面對所述第一線圈的第一磁體；支撐所述第一磁體的殼體；耦合到所述線筒和所述殼體的上彈性件和下彈性件；與所述殼體間隔開的基座；第二線圈單元，所述第二線圈單元面對所述第一磁體并且包括第二線圈；電路板，所述第二線圈單元安裝在所述電路板上；多個支撐件，所述多個支撐件支撐所述殼體使得所述殼體能夠在第二方向上和/或第三方向上移動，并且所述多個支撐件將所述上彈性件和下彈性件中的至少一個連接至所述電路板；以及第二傳感器，所述第二傳感器檢測所述殼體在所述第二方向和/或所述第三方向上的位移，其中，所述第二傳感器的中心被設置為不與所述第二線圈重疊。
【IPC分類】G02B7/04, G03B5/00, G03B13/34
【公開號】CN105527777
【申請號】CN201510680459
【發明人】閔相竣, 劉庾皓, 俞炫午
【申請人】Lg伊諾特有限公司
【公開日】2016年4月27日
【申請日】2015年10月19日
【公告號】EP3009876A1, US20160109721