顯示面板及其制備方法和檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示技術領域，特別涉及一種顯示面板及其制備方法和檢測方法。
【背景技術】
[0002]顯示面板是由陣列基板和對盒基板構成，在實際生產過程中，當陣列基板與對盒基板完成對盒后，需要將形成的顯示面板進行多項指標檢測，并根據檢測結果對生產工藝進tx調整，以使得廣線具備更尚的良品率。
[0003]顯示面板成盒后的對位程度和發生擠壓后各結構層與對應襯底基板的位移，是影響顯示面板質量的重要指標。顯示面板成盒之前我們可以分別管控陣列基板中的襯底基板和對盒基板上的襯底基板的TP值，來保證陣列基板和對盒基板的對盒度。但是填充液晶后導致兩個襯底基板產生小范圍的位置偏移、以及對顯示面板進行擠壓而使得陣列基板和/或對盒基板上的至少部分結構層與對應的襯底基板之間產生小范圍的位置偏移，會對顯示面板的質量產生一定影響。然而，在實際操作過程中，由于兩個襯底基板之間產生的位置偏移和各結構層在被擠壓后產生的位置偏移，無法進行宏觀觀察和測量，從而導致在針對這兩種位置偏移指標進行生產工藝調整時沒有數據基礎，進而導致無法對生產工藝進行有針對性的調整。
[0004]由上述內容可見，提供一種對顯示面板成盒后的對位程度和發生擠壓后各結構層與對應襯底基板之間的位移的檢測方法，是本領域技術人員亟需解決的技術問題。
【發明內容】
[0005]本發明提供一種顯示面板及其制備方法和檢測方法，可對陣列基板與對盒基板之間的對位程度進行檢測。
[0006]為實現上述目的，本發明提供了一種顯示面板，包括:陣列基板和對盒基板，所述陣列基板包括:第一襯底基板，所述第一襯底基板上設置有第一基準標記和通過陣列基板制程依次形成的若干層第一結構層，所述對盒基板包括:第二襯底基板，所述第二襯底基板上設置有與所述第一基準標記對應的第二基準標記和通過對盒基板制程依次形成的若干層第二結構層，所述第一基準標記和所述第二基準標記的材料均為熒光材料。
[0007]可選地，所述第一基準標記和所述第二基準標記被第一激活光線照射發出不同顏色的光。
[0008]可選地，所述陣列基板中的至少一層所述第一結構層為第一待檢測結構層，所述第一待檢測結構層上對應所述第一基準標記的位置形成有第一檢測標記，所述第一檢測標記的材料為熒光材料；
[0009]和/或，所述對盒基板中的至少一層所述第二結構層為第二待檢測結構層，所述第二待檢測結構層上對應所述第二基準標記的位置形成有第二檢測標記，所述第二檢測標記的材料為熒光材料。
[0010]可選地，當所述陣列基板中的至少一層所述第一結構層為第一待檢測結構層時，各所述第一檢測標記和所述第一基準標記在被第二激活光線照射后發出的光的顏色均不同。
[0011]可選地，當所述對盒基板中的至少一層所述第二結構層為第二待檢測結構層時，各所述第二檢測標記和所述第二基準標記在被第三激活光線照射后發出的光的顏色均不同。
[0012]可選地，所述第一基準標記位于所述第一襯底基板朝向所述第二襯底基板的一側，所述第二基準標記位于所述第二襯底基板朝向所述第一襯底基板的一側。
[0013]為實現上述目的，本發明還提供了一種顯示面板的制備方法，包括:
[0014]在第一襯底基板上形成第一基準標記，所述第一基準標記的材料為熒光材料；
[0015]通過陣列基板制程在所述第一襯底基板上依次形成若干層第一結構層，以制備出陣列基板；
[0016]在第二襯底基板上形成與所述第一基準標記對應的第二基準標記，所述第二基準標記的材料為熒光材料；
[0017]通過對盒基板制程在所述第二襯底基板上依次形成若干層第二結構層，以制備出對盒基板；
[0018]將所述陣列基板和所述對盒基板進行對盒處理。
[0019]可選地，至少一層所述第一結構層為第一待檢測結構層，所述通過陣列基板制程在所述第一沉積基板上依次形成若干層第一結構層的過程中，每形成一層所述第一待檢測結構層之后，在所述第一待檢測結構層上對應所述第一基準標記的位置形成第一檢測標記，所述第一檢測標記的材料為熒光材料；
[0020]和/或，至少一層所述第二結構層為第二待檢測結構層，所述通過對盒基板制程在所述第二沉積基板上依次形成若干層第二結構層的過程中，每形成一層所述第二待檢測結構層之后，在所述第二待檢測結構層上對應所述第二基準標記的位置形成第二檢測標記，所述第二檢測標記的材料為熒光材料。
[0021]為實現上述目的，本發明還提供了一種顯示面板的檢測方法，所述顯示面板包括:陣列基板和對盒基板，所述陣列基板包括:第一襯底基板，所述第一襯底基板上設置有第一基準標記和通過陣列基板制程依次形成的若干層第一結構層，所述對盒基板包括:第二襯底基板，所述第二襯底基板上設置有與所述第一基準標記對應的第二基準標記和通過對盒基板制程依次形成的若干層第二結構層，所述第一基準標記和所述第二基準標記的材料均為熒光材料；
[0022]所述顯示面板的檢測方法包括:
[0023]采用第一激活光線照射所述第一基準標記和所述第二基準標記，以使得第一基準標記和第二基準標記發光；
[0024]根據所述第一基準標記和所述第二基準標記的相對位置來檢測所述陣列基板和所述對盒基板的對位程度。
[0025]可選地，所述根據所述第一基準標記和所述第二基準標記的相對位置來檢測所述陣列基板和所述對盒基板的對位程度的步驟包括:
[0026]判斷所述第一基準標記與所述第二基準標記在與所述第一襯底基板平行的平面上的正投影是否完全重合；
[0027]當判斷出所述第一基準標記與第二基準標記在與所述第一襯底基板平行的平面上的正投影不完全重合時，則在與所述第一襯底基板平行的平面上建立第一直角坐標系，并獲取第一基準標記在所述第一直角坐標系上的正投影對應的第一位置坐標，以及獲取第二基準標記在所述第一直角坐標系上的正投影對應的第二位置坐標；
[0028]根據所述第一位置坐標和所述第二位置坐標評估所述陣列基板與所述對盒基板的對位程度。
[0029]可選地，所述第一基準標記和所述第二基準標記被所述第一激活光線照射發出不同顏色的光。
[0030]可選地，所述陣列基板中的至少一層所述第一結構層為第一待檢測結構層，所述第一待檢測結構層上對應所述第一基準標記的位置形成有第一檢測標記，所述第一檢測標記的材料為熒光材料；
[0031]和/或，所述對盒基板中的至少一層所述第二結構層為第二待檢測結構層，所述第二待檢測結構層上對應所述第二基準標記的位置形成有第二檢測標記，所述第二檢測標記的材料為熒光材料。
[0032]可選地，當所述陣列基板中的至少一層所述第一結構層為第一待檢測結構層時，所述顯示面板的檢測方法還包括:
[0033]對所述顯示面板進行接觸云紋檢測處理；
[0034]當檢測出所述顯示面板存在接觸云紋時，采用第二激活光線照射所述第一基準標記和各所述第一待檢測結構層上的所述第一檢測標記，以使得所述第一基準標記和各所述第一檢測標記發光；
[0035]根據各所述第一檢測標記與所述第一基準標記的相對位置，來檢測對應的各所述第一待檢測結構層與所述第一襯底基板之間的偏移量。
[0036]可選地，所述根據各所述第一檢測標記與所述第一基準標記的相對位置，來檢測對應的各所述第一待檢測結構層與所述第一襯底基板之間的偏移量的步驟包括:
[0037]在與所述第一襯底基板平行的平面上建立第二直角坐標系，并獲取各所述第一檢測標記在所述第二直角坐標系上的正投影對應的第三位置坐標，以及獲取第一基準標記在所述第二直角坐標系上的正投影對應的第四位置坐標；
[0038]根據各所述第三位置坐標和所述第四位置坐標計算對應的各第一待檢測結構層與所述第一襯底基板之間的偏移量。
[0039]可選地，各所述第一檢測標記和所述第一基準標記在被所述第二激活光線照射后發出的光的顏色均不同。
[0040]可選地，當所述對盒基板中的至少一層所述第二結構層為第二待檢測結構層時，所述顯示面板的檢測方法還包括:
[0041 ] 對所述顯示面板進行接觸云紋檢測處理；
[0042]當檢測出所述顯示面板存在接觸云紋時，采用第三激活光線照射所述第二基準標記和各所述第二待檢測結構層上的所述第二檢測標記，以使得所述第二基準標記和各所述第二檢測標記發光；
[0043]根據各所述第二檢測標記與所述第二基準標記的相對位置，來檢測對應的各所述第二待檢測結構層與所述第二襯底基板之間的偏移量。
[0044]可選地，所述根據各所述第二檢測標記與所述第二基準標記的相對位置，來檢測對應的各所述第二待檢測結構層與所述第二襯底基板之間的偏移量的步驟包括:
[0045]在與所述第二襯底基板平行的平面上建立第三直角坐標系，并獲取各所述第二檢測標記在所述第三直角坐標系上的正投影對應的第五位置坐標，以及獲取第二基準標記在所述第三直角坐標系上的正投影對應的第六位置坐標；
[0046]根據各所述第五位置坐標和所述第六位置坐標計算對應的各第二待檢測結構層與所述第二襯底基板之間的偏移量。
[0047]可選地，各所述第二檢測標記和所述第