液晶顯示面板結構及液晶顯示面板esd監控方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種液晶顯示面板結構及液晶顯示面板ESD監控方法。
【背景技術】
[0002]液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display，LCD)具有機身薄、省電、無福射等眾多優點，得到了廣泛的應用，如:液晶電視、移動電話、個人數字助理(PDA)、數字相機、計算機屏幕或筆記本電腦屏幕等。
[0003]現有市場上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示裝置，其包括殼體、設于殼體內的液晶顯示面板及設于殼體內并相對液晶顯示面板設置的背光模組(BacklightModule)ο
[0004]液晶面板的結構通常是由一彩色濾光片基板(Color Filter，CF)、一薄膜晶體管陣列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)以及一配置于兩基板間的液晶層(Liquid Crystal Layer)所構成，其工作原理是通過在兩片玻璃基板上施加驅動電壓來控制液晶層的液晶分子的旋轉，將背光模組的光線折射出來產生畫面。
[0005]在CF基板與TFT陣列基板，尤其是TFT陣列基板的生產過程中，靜電放電(Electro-Static discharge，ESD)是非常常見也很難避免的現象。導致靜電放電的原因主要有:一是顆粒；二是工藝條件和原材料，在液晶顯示面板的CF基板與TFT陣列基板的制作過程中，沉積工序、曝光工序、蝕刻工序、剝離以及清潔工序等的工藝條件都可能會引起靜電放電，同時，制程中所用到的原材料由于材料缺陷也會產生靜電放電。
[0006]靜電放電會導致液晶顯示面板良率降低、成本增加、產能下降，因此在液晶顯示面板的生產過程中需ESD監控工作。目前用于液晶顯示面板的ESD監控方法主要是通過拍照檢測機臺及電信檢測機臺等機臺對液晶顯示面板的顯示區域進行檢測，而檢測到ESD時已經對液晶顯示面板的產品品質造成了影響。
【發明內容】
[0007]本發明的目的在于提供一種液晶顯示面板結構，能夠及時、持續監控液晶顯示面板ESD的發生情況，預知ESD的發生風險，利于對產品做出改善。
[0008]本發明的目的還在于提供一種液晶顯示面板ESD監控方法，能夠及時、持續監控液晶顯示面板ESD的發生情況，預知ESD的發生風險，利于對產品做出改善。
[0009]為實現上述目的，本發明提供一種液晶顯示面板結構，包括:相對設置的TFT陣列基板、CF基板、及配置于TFT陣列基板與CF基板之間的液晶層；
[0010]所述TFT陣列基板具有顯示區域、及位于所述顯示區域外圍的無接線周邊區域；
[0011]所述TFT陣列基板的無接線周邊區域設置有多組沿第一方向相互間隔且平行設置的靜電放電測試元件，每組靜電放電測試元件均包括兩個沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且間隔且相對設置的金屬測試條，該兩個金屬測試條的相對端為尖端；各組靜電放電測試元件的兩個金屬測試條的尖端之間沿第二方向的間隔距離不相等。
[0012]所述尖端的形狀為尖銳的三角形。
[0013]相鄰兩組靜電放電測試元件沿第一方向的間隔距離相等。
[0014]所述TFT陣列基板包括自下而上設置的基板、第一金屬層、第一絕緣層、半導體層、第二絕緣層、第二金屬層、第三絕緣層、及像素電極層，所述多組靜電放電測試元件與所述第二金屬層位于同一層且由同樣的金屬材料同時制作。
[0015]所述多組靜電放電測試元件與第二金屬層的材料為鉬、鈦、鋁、銅中的一種或多種的堆棧組合。
[0016]本發明還提供一種液晶顯示面板ESD監控方法，包括:制作液晶顯示面板TFT陣列基板的第二金屬層的同時在第二金屬層對應顯示區域外圍的無接線周邊區域制作多組靜電放電測試元件的步驟，以及每完成一道液晶顯示面板的后續制程后對多組靜電放電測試元件進行定點拍照，監控多組靜電放電測試元件的靜電放電情況的步驟；
[0017]所述多組靜電放電測試元件沿第一方向相互間隔且平行設置，每組靜電放電測試元件均包括兩個沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且間隔且相對設置的金屬測試條，該兩個金屬測試條的相對端為尖端；各組靜電放電測試元件的兩個金屬測試條的尖端之間沿第二方向的間隔距離不相等。
[0018]所述尖端的形狀為尖銳的三角形。
[0019]相鄰兩組靜電放電測試元件沿第一方向的間隔距離相等。
[0020]所述多組靜電放電測試元件與第二金屬層的材料為鉬、鈦、鋁、銅中的一種或多種的堆棧組合。
[0021]本發明的有益效果:本發明提供的一種液晶顯示面板結構，在TFT陣列基板的無接線周邊區域設置多組沿第一方向相互間隔且平行設置的靜電放電測試元件，每組靜電放電測試元件均包括兩個沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且間隔且相對設置的金屬測試條，該兩個金屬測試條的相對端為尖端，更容易誘導靜電放電發生，因此能夠通過監控所述靜電放電測試元件來及時、持續地監控液晶顯示面板ESD的發生情況，預知ESD的發生風險，利于對產品做出改善；本發明提供的一種液晶顯示面板ESD監控方法在制作陣列基板的第二金屬層的同時制作出多組靜電放電測試元件，再通過對多組靜電放電測試元件進行定點拍照來監控其靜電放電情況，能夠及時、持續地監控液晶顯示面板ESD的發生情況，預知ESD的發生風險，利于對產品做出改善。
[0022]為了能更進一步了解本發明的特征以及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發明加以限制。
【附圖說明】
[0023]下面結合附圖，通過對本發明的【具體實施方式】詳細描述，將使本發明的技術方案及其它有益效果顯而易見。
[0024]附圖中，
[0025]圖1為本發明的液晶顯示面板結構的剖面示意圖；
[0026]圖2為發明的液晶顯示面板結構中TFT陣列基板的俯視示意圖；
[0027]圖3為圖2中靜電放電測試元件的放大示意圖。
【具體實施方式】
[0028]為更進一步闡述本發明所采取的技術手段及其效果，以下結合本發明的優選實施例及其附圖進行詳細描述。
[0029]請同時參閱圖1、圖2、與圖3，本發明首先提供一種液晶顯示面板結構，包括:相對設置的TFT陣列基板1、CF基板2、及配置于TFT陣列基板I與CF基板2之間的液晶層3。
[0030]所述TFT陣列基板I具有顯示區域AA、及位于所述顯示區域AA外圍的無接線周邊區域B。所述TFT陣列基板I的無接線周邊區域B設置有多組沿第一方向相互間隔且平行設置的靜電放電測試元件5，每組靜電放電測試元件5均包括兩個沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且間隔且相對設置的金屬測試條51，該兩個金屬測試條51的相對端為尖端511 ;各組靜電放電測試元件5的兩個金屬測試條51的尖端511之間沿第二方向的間隔距離不相等。
[0031]如圖2、圖3所示，所述尖端511的形狀優選為尖銳的三角形。
[0032]相鄰兩組靜電放電測試元件5沿第一方向的間隔距離相等。
[0033]具體地，如圖1所示，所述TFT陣列基板I包括自下而上設置的基板11、第一金屬層12、第一絕緣層13、半導體層14、第二絕緣層15、第二金屬層16、第三絕緣層17、及像素電極層18。與現有技術無異，所述基板11通常為玻璃基板或塑料基板，所述第一金屬層12包括TFT的柵極、及掃描線的圖案，所述第二金屬層16包括TFT的源極、漏極、及數據線的圖案。考慮到靜電放電多發生TFT陣列基板I的第二金屬層，因此設置所述多組靜電放電測試元件5與所述第二金屬層16位于同一層且由同樣的金屬材料同時制作。進一步地，所述多組靜電放電測試元件5與第二金屬層16的材料為鉬、鈦、鋁、銅中的一種或多種的堆棧組合。
[0034]由于所述靜電放電測試元件5的兩個金屬測試條51的相對端為尖端511，靜電荷更容易累積在所述尖端511處，相比顯示區域內的線路及圖案更容易誘導靜電放電的產生，故能在一道制程結束后通過拍照觀察所述多組靜電放電測試元件5的靜電放電情況來判斷液晶顯示面板發生靜電放電的風險。同時，由于各組靜電放電測試元件5的兩個金屬測試條51的尖端511之間沿第二方向的間隔距離不相等，不同靜電放電測試