一種陣列基板及其制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及半導體加工領域，具體說涉及一種陣列基板及其制造方法。
【背景技術】
[0002]隨著液晶顯示屏制造技術的發展，當前越來越多的陣列基板使用了彩色濾光片集成技術(Color-filter on Array，C0A)。COA 技術是將彩色濾光片(Color-filter，CF)與陣列基板(Array)集成在一起的一種集成技術。采用COA技術的陣列基板具有以下優點:
[0003]I)上下基板自對準。在傳統結構下，當前后兩片玻璃基板上分別加工完成薄膜晶體管(Thin Film Transistor,TFT)陣列和彩色濾光色阻后，需要將兩片玻璃基板上相應的像素位置對準后再封盒。即存在一個對準工藝，對準工藝的準確性將直接影響顯示器的質量。采用COA技術后，因TFT陣列以及彩色濾光色阻都在一片玻璃基板上，可以自對準，省卻了對準工藝，簡化了加工過程，提高了產品質量。
[0004]2)降低成本。彩色濾光片在液晶顯示器的成本中占有很大的比重，將彩色濾光片集成制備在陣列基板上可以減少彩色濾光片的制造工藝，有效降低成本。另外，彩色濾光片和陣列基板往往由不同廠商生產，在配合上需要消耗人力物力，質量也難以保證。而COA技術可以解決上述問題，降低成本。
[0005]3)提高產品性能。采用COA技術可將降低液晶顯示屏基板上黑色矩陣(blackmatrix)的線寬，提尚液晶顯不屏基板的開口率，相應的液晶顯不屏基板的透過率也被大大提尚。
[0006]在液晶顯示屏的制造過程中，在陣列基板完成后，需要進行陣列檢測和修補來提高良品率。陣列檢測和修補是通過測試設備檢測后，通過人尋找缺陷或者不良的位置進行修補。
[0007]對于采用COA技術的陣列基板，由于在陣列基板上集成有彩色濾光色阻，因此陣列檢測和修補只能針對有彩色濾光色阻覆蓋的陣列基板進行。但是，彩色濾光色阻會對陣列檢測和修補產生干擾，提高缺陷或者不良的位置的發現難度，最終影響陣列基板的良品率。相對于沒有采用COA技術的陣列基板，采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低。
[0008]因此，為了解決采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低的問題，需要一種新的陣列基板。
【發明內容】
[0009]為了解決采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低的問題，本發明提供了一種陣列基板，所述陣列基板設置有彩色濾光色阻，所述陣列基板包括顯示區以及非顯示區，其中:
[0010]所述彩色濾光色阻完全覆蓋所述顯示區；
[0011]所述彩色濾光色阻不覆蓋/部分覆蓋所述非顯示區。
[0012]在一實施例中，所述非顯示區包括驅動電路區，其中，所述彩色濾光色阻不覆蓋所述驅動電路區。
[0013]在一實施例中，所述驅動電路區包括薄膜晶體管電路。
[0014]在一實施例中，所述非顯示區包括走線區，其中，所述彩色濾光色阻不覆蓋所述走線區。
[0015]在一實施例中，所述非顯示區包括走線區，其中，所述彩色濾光色阻部分覆蓋所述走線區。
[0016]在一實施例中，所述走線區包括用于傳輸掃描信號的掃描線以及用于傳輸數據信號的數據線，所述彩色濾光色阻不覆蓋所述掃描線和/或所述數據線。
[0017]在一實施例中，所述彩色濾光色阻僅僅覆蓋所述顯示區。
[0018]本發明還提供了一種陣列基板的制造方法，所述方法包含陣列基板構造步驟以及彩色濾光色阻覆蓋步驟，其中，所述陣列基板包含顯示區以及非顯示區，在所述彩色濾光色阻覆蓋步驟中:
[0019]將彩色濾光色阻完全覆蓋所述顯示區；
[0020]令所述彩色濾光色阻不覆蓋/部分覆蓋所述非顯示區。
[0021]與現有技術相比，本發明的陣列基板的結構更加便于進行陣列檢測/修補，根據本發明的陣列基板以及陣列基板構造方法可以大大提高集成了彩色濾光片的陣列基板的良品率。
[0022]本發明的其它特征或優點將在隨后的說明書中闡述。并且，本發明的部分特征或優點將通過說明書而變得顯而易見，或者通過實施本發明而被了解。本發明的目的和部分優點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的步驟來實現或獲得。
【附圖說明】
[0023]附圖用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明的實施例共同用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中:
[0024]圖1是一根據本發明的陣列基板一部分的平面示意圖；
[0025]圖2是一根據本發明的陣列基板一部分的截面示意圖。
【具體實施方式】
[0026]以下將結合附圖及實施例來詳細說明本發明的實施方式，借此本發明的實施人員可以充分理解本發明如何應用技術手段來解決技術問題，并達成技術效果的實現過程并依據上述實現過程具體實施本發明。需要說明的是，只要不構成沖突，本發明中的各個實施例以及各實施例中的各個特征可以相互結合，所形成的技術方案均在本發明的保護范圍之內。
[0027]在當前的液晶基板生產過程中，相對于沒有采用COA技術的陣列基板，采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低。其主要原因在于液晶顯示屏基板上的彩色濾光色阻干擾了對陣列的檢測和修補。
[0028]具體的，對于集成了彩色濾光色阻的陣列基板，由于彩色濾光色阻覆蓋在陣列基板之上，使得光的透過率將大大降低。這就導致了在進行陣列的檢測和修補時缺陷或者不良將不容易被發現而無法修補，最終降低了良品率。
[0029]為了解決采用COA技術的液晶顯示屏基板的良品率相對偏低的問題，本發明提出了一種基于彩色濾光片集成技術的陣列基板。本發明的目的是盡可能的降低彩色濾光色阻對陣列檢測/修補的干擾。
[0030]基于上述思路，本發明采用部分覆蓋的方式來構造彩色濾光色阻。彩色濾光色阻覆蓋在陣列基板的一部分區域上，即，在維持陣列基板正常功能的前提下在陣列基板的特定區域上不覆蓋彩色濾光色阻以降低彩色濾光色阻的覆蓋率。
[0031]對應本發明提出的陣列基板，本發明還提出了一種陣列基板的制造方法。本發明的方法主要包含陣列基板構造步驟以及彩色濾光色阻覆蓋步驟。彩色濾光色阻覆蓋步驟是基于COA技術將彩色濾光色阻部分覆蓋在陣列基板上以形成彩色濾光色阻。
[0032]在本發明的一實施例中，采用了如下步驟來實現彩色濾光色阻的部分覆蓋。首先將彩色濾光色阻覆蓋在陣列基板上以構成全覆蓋的彩色濾光色阻；然后對全覆蓋的彩色濾光色阻進行處理，去除陣列基板上特定的一個或多個區域處的彩色濾光色阻。
[0033]陣列基板根據結構功能的不同從平面上可劃分為多個具有不同結構/功能的區±或，包括:包含驅動電路(薄膜晶體管電路)的驅動電路區、包含走線(數據線/掃描線)