數C3來修正電流。
[0114]在第3實施方式中，在電源接通時讀取經過時間t。取而代之，也可以在開始經過時間t的測量的經過時間測量按鈕(省略圖示)被按下的任意的定時，讀取經過時間t，在基于該經過時間t的修正模式被選擇時，基于經時變化的磁通密度的變動所導致的透鏡的移動速度的變動得到抑制。
[0115][第4實施方式]
[0116]如圖16?圖18所示，第4實施方式的透鏡驅動裝置61使用磁通密度比率1^來修正第I修正系數Cl，其中，該磁通密度比率rB是在基準位置P b通過磁傳感器62來測定出的測定磁通密度BPbm與在相同的基準位置Pb預先測定出的作為基準的初始磁通密度B Pb的比率。在該情況下，例如，使用系統控制器63。除了磁傳感器62以及系統控制器63不同以外，透鏡驅動裝置61具備與透鏡驅動裝置11同樣的結構。因此，對磁傳感器62以及系統控制器63的結構、和與其相關的部分進行說明，省略重復結構的說明。
[0117]磁傳感器62使用例如使用了霍爾元件的傳感器。若電源按鈕被按下而檢測到通電，則磁傳感器62對磁鐵23、24的基準位置Pb處的磁通密度進行測定，得到測定磁通密度BPbm。磁傳感器62例如被固定在固定磁鐵23、24的面相反的一側的外側平板部21A、22A。該磁傳感器62被固定的位置是基準位置Pb，在該基準位置Pb，對磁鐵23、24的測定磁通密度BPbm進行測定。雖然基準位置Pb只要是能夠對磁鐵23、24的測定磁通密度B Pbm進行測定的位置，則可以是任意的位置，但優選是測定成為決定第I修正系數Cl的基礎的磁通密度分布BD的各個位置。磁傳感器62與系統控制器63連接，將通過基準位置Pb來測定出的測定磁通密度BPbm的信息輸入到系統控制器63。
[0118]如圖16所不，系統控制器63具備:初始磁通1?、度存儲部64、磁通您、度比率計算部65、系數修正部66、和電流運算部67。除了初始磁通密度存儲部64、磁通密度比率計算部65、系數修正部66、和電流運算部67以外，系統控制器63與系統控制器29同樣地構成。
[0119]初始磁通密度存儲部64將在基準位置Pb預先測定出的磁鐵23、24的磁通密度存儲為初始磁通密度BPb。初始磁通密度Bpb是在制造時在設定的條件下測定出的基準位置P b的磁通密度。另外，在由于修理等而替換了磁鐵的情況下，在修理后測定出替換的磁鐵的時刻得到的磁通密度被存儲為初始磁通密度Bpb。雖然初始磁通密度Bpb是使用磁傳感器62來測定的，但只要是能夠對基準位置Pb處的磁鐵23、24的磁通密度進行測定的即可，使用的傳感器、測定方法并不被特別限定。
[0120]若從磁傳感器62輸入測定磁通密度BPbm的信息，則磁通密度比率計算部65從初始磁通密度存儲部64讀取初始磁通密度BPb，求出測定磁通密度BPbm與初始磁通密度Bpb的比率即磁通密度比率rB。磁通密度比率rB是如圖17所示，在基準位置Pb，在測定磁通密度BPbm與初始磁通密度Bpl^g比處于退磁的情況下，該退磁的比率被作為磁通密度比率r B求出。這里，若流過線圈25、26的電流相同，則基于測定磁通密度BPbm的電磁力Fm變得比基于初始磁通密度Bpb的電磁力F小。因此，通過基于測定磁通密度B Pbm的電磁力Fm來移動的線圈的移動速度變得比通過基于初始磁通密度Bpb的電磁力F來移動的線圈的移動速度慢。因此，為了將線圈的移動速度維持恒定，需要根據磁通密度的變化的比例即磁通密度比率4來修正電流。如圖16所示，通過磁通密度比率計算部65來求出的磁通密度比率1^的信息被輸入到系數修正部66。
[0121]系數修正部66根據從磁通密度比率計算部65輸入的磁通密度比率rB，對存儲在第I存儲表33中的第I修正系數Cl進行修正，求出修正后的第I修正系數Clc。例如，在從初始磁通密度Bpb向測定磁通密度B Pbm退磁的情況下，如圖18所示，根據作為退磁的比例的磁通密度比率rB，按照每個線圈位置P來使第I修正系數Cl增大。這樣，若按照每個線圈位置P來求出基于磁通密度比率rB的修正后的第I修正系數Clc，則得到同樣地以磁通密度比率rB來增大的修正后的第I修正系數的分布Cl Dc。
[0122]如圖16所示，電流運算部67根據與被檢測出的線圈位置P對應地以磁通密度比率rB被修正的第I修正系數Clc來修正電流Ip首先，若從MR傳感器32輸入線圈位置P的信息，則經由系數修正部66，從第I存儲表讀出與線圈位置P對應的第I修正系數Cl。讀取出的第I修正系數Cl由系數修正部66以磁通密度比率1^被修正。然后，通過利用該修正后的第I修正系數Clc來修正電流Itl，從而修正后的電流ItlXClc被求出。該修正后的電流ItlXClc是按照每個線圈位置P來求出的。這樣，通過利用修正后的第I修正系數Clc來修正電流Itl,從而即使在磁通密度隨著時間的經過、溫度的變化而變化的情況下，也能夠將電磁力F維持恒定。通過電流運算部67來求出的修正后的電流ItlXClc的信息被輸入到電流控制部36。
[0123]接下來，參照圖19以及圖20的流程圖來對第4實施方式的作用進行說明。首先，若電源接通(SlO)，則磁傳感器62對基準位置Pb處的測定磁通密度B Pbm進行測定(S70)。接下來，對存儲在初始磁通密度存儲部64中的基準位置Pb處的初始磁通密度B %與測定磁通密度BPbm進行比較，計算磁通密度比率rB(S71)。接下來，使電流^流過線圈25、26來使透鏡17在光軸方向移動，在檢測出的原點位置Ptl使透鏡17停止(Sll?14)。
[0124]接下來，利用磁通密度比率1^對與透鏡17停止的原點位置P ^對應的第I修正系數Cltl進行修正，計算修正后的第I修正系數Cl 0c (S72)。使用計算出的修正后的第I修正系數CltlC，計算修正了電流Itl之后的電流IciXCIcic(STS)q然后，使修正后的電流IciXCIqc經由VCM驅動器27、28來流過線圈25、26(S74)。通過流過修正后的電流IQXClQc，從而透鏡17與線圈25、26 —起移動(S75)。并且，在透鏡17的移動結束的情況下(S76-是)，停止修正后的電流IqXCIqc的流動(S77)。
[0125]在透鏡17的移動未結束的情況下(S76-否)，如圖20所示，進行線圈位置Pi的檢測(S21)、修正后的第I修正系數Clic的計算(S78)、修正電流的計算(S79)、修正電流的通電以及透鏡移動(S80、S81)、透鏡的移動結束處理、電流的停止(S82、S83)。此外，在透鏡17的移動未結束的情況下(S82-否)，反復S21?S82直到透鏡17的移動結束為止。
[0126]在本實施方式中，通過電源接通，基于在基準位置Pb測定出的測定磁通密度BPbm、和在基準位置Pb預先測定出的初始磁通密度B Pb，求出磁通密度比率rB，將該磁通密度比率rB用作修正系數用的修正數據，對第I修正系數Cl進行修正。由此，由于能夠利用修正后的第I修正系數Clc來控制電流，因此即使在磁通密度隨著時間的經過、溫度的變化而變化的情況下，也能夠產生恒定的電磁力F。因此，透鏡17移動時的速度變動被抑制。
[0127]雖然在第4實施方式中，通過電源接通而對基準位置Pb的測定磁通密度B Pbm進行測定，但也可以在開始測定磁通密度BpbHi的測定的磁通密度測定按鈕(省略圖示)被按下的任意的定時，對測定磁通密度BPbm進行測定。
[0128]另外，也可以每經過一定時間，在基準位置Pb對測定磁通密度B Pbm進行反復測定。在該情況下，如圖21所示，使用計時器68，預先設定對測定磁通密度BPbm進行測定的時間。此外，也可以具備第I更新部69，使用每經過一定時間求出的磁通密度比率rB，求出修正后的第I修正系數Clc，通過該修正后的第I修正系數Clc來對存儲在第I存儲表33中的第I修正系數Cl進行更新。這樣，若每經過一定時間更新第I存儲表33，則與每次檢測線圈位置P就修正第I修正系數Cl的情況相比，能夠減少裝置的負荷。
[0129]此外，通過對每經過一定時間測定出的測定磁通密度BPbm進行線形近似等近似，能夠推測測定磁通密度BpbHi的變化。若這樣推測測定磁通密度BpbHl的變化，則基于推測出的測定磁通密度BPbm，求出磁通密度比率rB。然后，通過使用該磁通密度比率!^而被修正的第I修正系數Clc，來修正電流。在該情況下，直到新的磁通密度比率1^被求出為止的期間，能夠利用推測出的磁通密度比率巧來修正第I修正系數Cl。因此，測定磁通密度BPbm的測定次數被減少，裝置的負荷被減少，透鏡17移動時的速度變動得到抑制。
[0130]另外，由于磁鐵的磁通密度的隨著時間的劣化容易受到溫度T等干擾的影響，因此在磁通密度比率rB小于5 %的情況下，也可以限制使用了磁通密度比率r 電流修正。此外，在磁鐵的磁通密度的隨著時間的劣化小的情況下、通過線形近似等來近似的情況下，由于經時變動作為充分小的值能夠估算，因此電源剛剛接通之后的磁通密度的變化取決于溫度的變化的趨勢較強。因此，也可以根據該磁通密度的變化，推測溫度T，基于該推測出的溫度T來修正電流。
[0131][第5實施方式]
[0132]如圖22所示，第5實施方式的透鏡驅動裝置71使用姿勢傳感器72來檢測透鏡鏡筒12的仰俯角Θ，使用與檢測出的仰俯角Θ對應的第4修正系數C4來進一步修正電流。在該情況下，例如，使用系統控制器73。除了姿勢傳感器72以及系統控制器73不同以外，該透鏡驅動裝置71具備與透鏡驅動裝置11同樣的結構。因此，下面，對姿勢傳感器72以及系統控制器73的結構、和與其相關的部分進行說明，省略重復結構的說明。
[0133]姿勢傳感器72對透鏡鏡筒12的仰俯角Θ進行檢測。姿勢傳感器72例如由陀螺儀傳感器及其處理電路等構成，只要至少能夠檢測透鏡鏡筒12的仰俯角Θ，而不妨礙透鏡驅動裝置71的驅動，則可以任意配置。仰俯角Θ是基于具有透鏡鏡筒12的數字照相機的傾斜的值，以水平為基準，將向上的角度(仰角)由正數表示，將向下的角度(俯角)由負數表示。姿勢傳感器72與系統控制器73連接，將檢測出的仰俯角Θ的信息輸入到系統控制器73。
[0134]系統控制器73具備:第4存儲表74和電流運算部75。由于除了具備第4存儲表74和電流運算部75以外，系統控制器73與系統控制器29相同，因此省略重復的說明。
[0135]第4存儲表74預先存儲仰俯角Θ與第4修正系數C4的關系。第4修正系數C4根據仰俯角Θ的大小來修正流過線圈25、26的電流。這里，在按照仰角變大的方式將具有透鏡鏡筒12的數字照相機傾斜的情況下，在使透鏡17從拍攝者側向被攝體側移動時，VCM13、14可能變得力不足。相反地，在按照俯角變大的方式傾斜的情況下，在使透鏡17從被攝體側向拍攝者側移動時，VCM13、14可能變得力不足。這樣，若由于VCM13、14的力不足導致透鏡17的驅動接近極限，則難以使透鏡17以高速正確地移動。因此，在仰俯角Θ較大的情況下，需要流過比仰俯角Θ較小的情況更大的電流來得到力。若在這樣流過較大的電流的情況下磁通密度B變化，則產生的電磁力F的變化變大。由于在仰俯角Θ較大的情況下電流較大，因此磁通密度的變化對電磁力F的影響變大。因此，對以電磁力F為推力的線圈25、26的移動速度的影響也變大。
[0136]因此，按照即使在仰俯角Θ較大的情況下流過較大的電流，使線圈25、26移動的電磁力F也恒定的方式，第4修正系數C4按每個仰俯角Θ來修正電流。
[0137]圖23表示第4修正系數C4的一個例子。將具有透鏡鏡筒12的數字照相機維持水平的水平狀態設為O°，將透鏡朝向正上的狀態的仰俯角Θ設為+90°，朝向正下的狀態的仰俯角Θ設為-90°。對于第4修正系數的分布C4D，水平狀態下的第4修正系數C4。為最小，仰俯角Θ為+90°以及-90°時的第4修正系數C4+9Q以及C4_9Q為最大。第4的最小修正系數例如為“ I ”，將水平狀態設為基準。
[0138]如圖22所示，電流運算部75基于第I修正系數Cl和第4修正系數C4來修正電流Ιο，求出修正后的電流ItlX Cl X C4。首先，若從MR傳感器32輸入線圈位置P的信息，則從第I存儲表33讀取與該線圈位置P對應的第I修正系數Cl。若從姿勢傳感器72輸入仰俯角Θ的信息，則從第4存儲表74讀取與該仰俯角Θ對應的第4修正系數C4。然后，通過第I修正系數Cl以及第4修正系數C4來修正電流Ip該修正后的電流ItlXCl XC4是按照每個線圈位置P以及每個仰俯角Θ來求出的。這樣，通過利用第I修正系數Cl以及第4修正系數C4來修正電流Itl,從而即使在根據仰俯角Θ電流變大的情況下，也能夠將電磁力F維持恒定。通過電流運算部75來求出的修正后的電流IciXClXW的信息被輸入到電流控制部36。
[0139]接下來，參照圖24以及圖25的流程圖，對第5實施方式的作用進行說明。在拍攝時，與第I實施方式同樣地，照相機的電源被接通后，將電流Itl流過線圈25、26，使透鏡17在光軸方向移動。然后，在檢測出的原點位置Ptl使透鏡17停止，從第I存儲表33獲取該原點位置Ptl處的第I修正系數Cl JSlO?S15)。
[0140]接下來，進行透鏡鏡筒12的仰俯角Θ i的測定(S80)、與仰俯角Θ ,寸應的第4修正系數Wi的獲取