技術特征：
技術總結
本申請公開了一種新型的UVLED曝光光源均勻性實時測試系統，包括多個PIN光電探測及信號處理模塊、高精度A/D采集模塊、中心控制及數據處理模塊和顯示模塊，每個PIN光電探測及信號處理模塊分別獨立封裝，高精度A/D采集模塊、中心控制及數據處理模塊和顯示模塊集成于同一電路板上，PIN光電探測及信號處理模塊與高精度A/D采集模塊之間可拆卸連接，多個PIN光電探測及信號處理模塊用以獲取曝光面在同一時刻不同定點處的照度，中心控制及數據處理模塊連接于高精度A/D采集模塊和顯示模塊之間。本發明采用多個探頭模組，自動快速探測曝光面照度，并實時計算和顯示光照面的均勻性，具有均勻度測試計算簡單、快速、便捷、準確、便于儀器均勻性調節、便于攜帶等優點。
技術研發人員：譚艾英;楊若夫;孫秀輝;蔡文濤;陳建軍;尹韶云
受保護的技術使用者：張家港奇點光電科技有限公司
技術研發日：2016.10.28
技術公布日：2017.08.11