Amoled顯示面板檢測方法及檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及有機發光二極管顯示技術領域，尤其涉及一種AMOLED顯示面板檢測方法及檢測裝置。
【背景技術】
[0002]有機發光二極管(Organic Light Emitting D1de，0LED)顯示面板具有自發光、驅動電壓低、發光效率高、響應時間短、清晰度與對比度高、近180°視角、使用溫度范圍寬，可實現柔性顯示和大面積全彩顯示等諸多優點，被業界公認為最有潛力的顯示面板。
[0003]OLED顯示面板按照驅動方式可以分為無源矩陣型0LED(Passive Matrix OLED，PM0LED)和有源矩陣型0LED(Active Matrix 0LED，AM0LED)兩大類，其中AMOLED顯示面板具有呈陣列式排布的像素，每一像素由數個薄膜晶體管與電容構成的驅動電路進行驅動，屬于主動顯示類型，發光效能高，通常用于高清晰度的大尺寸顯示裝置。
[0004]AMOLED是電流驅動器件，當有電流流經有機發光二極管時，有機發光二極管發光，且發光亮度由流經有機發光二極管自身的電流決定。在AMOLED顯示面板出廠前，需對AMOLED顯示面板進行檢測。
[0005]如圖1所示，現有的AMOLED顯示面板檢測裝置通常僅包括一檢測信號產生模塊100、及一電性連接所述檢測信號產生模塊100的AMOLED顯示面板200，所述檢測信號產生模塊100向AMOLED顯示面板200提供電源正電壓0VDD、電源負電壓0VSS、檢測用數據信號Data、以及檢測用掃描信號Gate，所述AMOLED顯示面板200接收各信號顯示測試畫面。技術人員通過目視或利用影像擷取設備來判斷該AMOLED顯示面板200是否存在點和線缺陷，這種檢測方式僅適用于AMOLED顯示面板200內出現短路或開路的狀況，并不能檢測出AMOLED顯示面板200內出現微短路的狀況。
[0006]所謂“微短路”是指在AMOLED顯示面板制造過程中，細小的顆粒(Particle)會造成面板內出現數據線與掃描線(或電源正電壓走線與電源負電壓走線)之間的線路阻抗過小，且沒有造成點或線缺陷的現象。微短路會造成驅動有機發光二極管的電流比預期的對應于數據信號的電流值大，使有機發光二極管的亮度和溫度升高，AMOLED顯示面板的溫度隨之升高，而面板溫度升高會進一步造成電流增大、溫度升高，形成惡性循環，最終導致AMOLED顯示面板老化燒毀，因此非常有必要檢測出存在微短路狀況的AMOLED顯示面板，以攔截其流向后端的裝配制程。
【發明內容】
[0007]本發明的目的在于提供一種AMOLED顯示面板檢測方法，能夠有效地檢測出并及時攔截存在短路及微短路狀況的AMOLED顯示面板，防止其流向后端的裝配制程，提高面板良率。
[0008]本發明的另一目的在于提供一種AMOLED顯示面板檢測裝置，能夠有效地檢測出并及時攔截存在短路及微短路狀況的AMOLED顯示面板，防止其流向后端的裝配制程，提高面板良率。
[0009]為實現上述目的，本發明首先提供一種AMOLED顯示面板檢測方法，包括以下步驟:
[0010]步驟1、提供AMOLED顯示面板檢測裝置；
[0011]所述AMOLED顯示面板檢測裝置至少包括檢測信號產生模塊、與所述檢測信號產生模塊電性連接的AMOLED顯示面板、及與所述AMOLED顯示面板電性連接的溫度偵測模塊；
[0012]步驟2、所述檢測信號產生模塊向AMOLED顯示面板輸出電源正電壓、電源負電壓、檢測用數據信號、以及檢測用掃描信號，控制所述AMOLED顯示面板顯示測試畫面；
[0013]步驟3、檢測AMOLED顯示面板是否存在亮點、與亮線缺陷；
[0014]步驟4、所述檢測信號產生模塊控制所述AMOLED顯示面板持續顯示純白色畫面，同時通過所述溫度偵測模塊拍攝并記錄AMOLED顯示面板各顯示區域的溫度；
[0015]步驟5、設定閾值溫度，對任一顯示區域溫度超過該閾值溫度的AMOLED顯示面板進行攔截。
[0016]所述溫度偵測模塊為熱像儀。
[0017]步驟4中所述AMOLED顯示面板持續顯示純白色畫面的時間為10分鐘。
[0018]所述步驟I中的AMOLED顯示面板檢測裝置還包括與所述AMOLED顯示面板電性連接的阻抗檢測模塊。
[0019]所述AMOLED顯示面板檢測方法還包括步驟6、通過所述阻抗檢測模塊對被攔截的AMOLED顯示面板中超過閾值溫度的顯示區域進行阻抗檢測，找出該被攔截的AMOLED顯示面板中出現短路及微短路的位置。
[0020]所述AMOLED顯示面板檢測方法還包括步驟7、通過激光對被攔截的AMOLED顯示面板中出現短路及微短路的位置進行修復。
[0021]本發明還提供一種AMOLED顯示面板檢測裝置，至少包括檢測信號產生模塊、與所述檢測信號產生模塊電性連接的AMOLED顯示面板、及與所述AMOLED顯示面板電性連接的溫度偵測模塊。
[0022]所述溫度偵測模塊為熱像儀。
[0023]所述AMOLED顯示面板檢測裝置還包括與所述AMOLED顯示面板電性連接的阻抗檢測模塊。
[0024]本發明的有益效果:本發明提供的AMOLED面板檢測方法及檢測裝置，通過設置溫度偵測模塊拍攝并記錄AMOLED顯示面板各顯示區域的溫度，當該溫度偵測模塊偵測到AMOLED顯示面板某一顯示區域的溫度超過設定的閾值溫度時則說明該AMOLED顯示面板內存在短路及微短路的狀況，從而能夠有效地檢測出并及時攔截存在短路及微短路狀況的AMOLED顯示面板，防止其流向后端的裝配制程;進一步通過設置阻抗檢測模塊來對被攔截的AMOLED顯示面板中超過閾值溫度的顯示區域進行阻抗檢測，找出該被攔截的AMOLED顯示面板中出現短路及微短路的位置，以進行準確的修復，提高面板良率。
【附圖說明】
[0025]為了能更進一步了解本發明的特征以及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發明加以限制。
[0026]附圖中，
[0027]圖1為現有的AMOLED顯示面板檢測裝置的結構框圖；
[0028]圖2為本發明的AMOLED顯示面板檢測方法的流程圖；
[0029]圖3為本發明的AMOLED顯示面板檢測裝置的結構框圖。
【具體實施方式】
[0030]為更進一步闡述本發明所采取的技術手段及其效果，以下結合本發明的優選實施例及其附圖進行詳細描述。
[0031]請同時參閱圖2與圖3，本發明首先提供一種AMOLED顯示面板檢測方法，包括以下步驟:
[0032]步驟1、提供AMOLED顯示面板檢測裝置。
[0033]如圖3所示，所述AMOLED顯示面板檢測裝置包括檢測信號產生模塊1、與所述檢測信號產生模塊I電性連接的AMOLED顯示面板2、與所述AMOLED顯示面板2電性連接的溫度偵測模塊3、及與所述AMOLED顯示面板2電性連接的阻抗檢測模塊4。
[0034]步驟2、所述檢測信號產生模塊I向AMOLED顯示面板2輸出電源正電壓0VDD、電源負電壓0VSS、檢測用數據信號Data、以及檢測用掃描信號Gate，控制所述AMOLED顯示面板2顯示測試畫面。
[0035]具體地，所述AMOLED顯示面板2內設置有對應于各個信號的測試用接線端子，分別負責接收所述檢測信號產生模塊I向AMOLED顯示面板2輸出的電源正電壓0VDD、電源負電壓0VSS、檢測用數據信號Data、以及檢測用掃描信號Gate，AM0LED顯示面板2即能夠顯示測試畫面。進一步的，所述測試畫面為現有面板測試技術所使用的純黑、純紅、純綠、純藍等純色畫面或其它常用的測試畫面。
[0036]步驟3、檢測AMOLED顯示面板2是否存在亮點、與亮線缺陷。
[0037]該步驟3的作用在于對AMOLED顯示面板2的測試畫面進行常規檢測，由技術人員通過目視或利用影像擷取設備來觀察測試畫面，若發現亮點、亮線則表明該AMOLED顯示面板2存在點、線缺陷。
[0038]步驟4、完成對測試畫面的常規檢測后，所述檢測信號產生模塊I控制所述AMOLED顯示面板2持續顯示純白色畫面，同時通過所述溫度偵測模塊3拍攝并記錄AMOLED顯示面板2各顯示區域的溫度。
[0039]具體地，所述溫度偵測模塊3優選為熱像儀;所述AMOLED顯示面板2持續顯示純白色畫面的時間選定為10分鐘左右，以保證AMOLED顯示面板2有足夠的發熱時間。
[0040]在該步驟4的進行過程中，若AMOLED顯示面板2的某一顯示區域存在短路及微短路的狀況，則該顯示區域會由于電流增大而導致溫度升高。
[0041]步驟5、設定閾值溫度，對任一顯示區域溫度超過該閾值溫度的AMOLED顯示面板2進行攔截