顯示設備的制造方法
【專利說明】顯示設備
[0001]本申請要求于2014年2月25日在韓國知識產權局提交的第10-2014-0022184號韓國專利申請的優先權和權益，所述韓國專利申請的公開內容通過引用全部包含于此。
技術領域
[0002]本發明的一個或更多個實施例涉及一種顯示設備以及一種測試該顯示設備的方法。
【背景技術】
[0003]面板在制造顯示設備的一般工藝期間經受各種測試。這些測試中的一種是開路檢測測試，即，使用通過將信號施加到數據線而顯示的屏幕來檢測開路的數據線或扇出線。
[0004]然而，數據線或扇出線的電阻缺陷可能無法通過這樣的開路檢測測試來檢測。
【發明內容】
[0005]本發明的一個或更多個實施例包括一種顯示設備以及一種測試該顯示設備的方法，從而可在執行組件工藝之前并發地(例如，同時地)檢測導線的開路和電阻缺陷。
[0006]其它方面將在下面的描述中部分地闡述且部分地通過描述將是明顯的，或可通過當前的實施例的實踐來得知。
[0007]根據本發明的一個或更多個實施例，一種顯示設備包括:顯示單元，包括連接到多條掃描線和多條數據線的多個像素；初始化單元，構造成向所述多條數據線施加初始化信號；以及導線測試單元，構造成通過分別連接在所述多條數據線中的每條的第一端處的多條扇出線來向所述多條數據線施加導線測試信號。
[0008]初始化信號可配置為在導線測試信號之前施加。
[0009]初始化單元可包括分別位于初始化信號線與所述多條數據線中的每條的第二端之間的多個第一開關。
[0010]所述多個第一開關可包括:第一初始化開關，在初始化信號線的第一初始化信號線和與第一像素的列對應的數據線之間；第二初始化開關，在初始化信號線的第二初始化信號線和與第二像素的列對應的數據線之間；以及第三初始化開關，在初始化信號線的第三初始化信號線和與第三像素的列對應的數據線之間。
[0011 ] 第一像素和第二像素可交替地布置在相同的列中，第一初始化開關可在第一初始化信號線與第一像素和第二像素的列的數據線之間，第二初始化開關可在第二初始化信號線與第一像素和第二像素的列的數據線之間。
[0012]初始化單元可構造成在與施加初始化信號的時間不同的時間通過所述多個第一開關來向所述多條數據線施加由初始化信號線提供的點亮測試信號。
[0013]導線測試單元可包括分別位于所述多條扇出線中的每條與測試信號線之間的多個第二開關，其中，測試信號線構造成提供導線測試信號。
[0014]所述多個第二開關可包括:第一測試開關，在第一測試信號線與所述多條扇出線的連接到與第一像素的列對應的數據線的第一扇出線之間；第二測試開關，在第二測試信號線與所述多條扇出線的連接到與第二像素的列對應的數據線的第二扇出線之間；第三測試開關，在第三測試信號線與所述多條扇出線的連接到與第三像素的列對應的數據線的第三扇出線之間。
[0015]所述設備還可包括連接到所述多條扇出線的多個數據焊盤，其中，所述多個第二開關分別位于所述多個數據焊盤與測試信號線之間。
[0016]所述多個第二開關可包括:第一測試開關，在第一測試信號線與連接到所述多條扇出線的第一扇出線的數據焊盤之間，其中，第一扇出線連接到與第一像素的列對應的數據線；第二測試開關，在第二測試信號線與連接到所述多條扇出線的第二扇出線的數據焊盤之間，其中，第二扇出線連接到與第二像素的列對應的數據線；第三測試開關，在第三測試信號線與連接到所述多條扇出線的第三扇出線的數據焊盤之間，其中，第三扇出線連接到與第三像素的列對應的數據線。
[0017]導線測試單元可構造成在與施加導線測試信號的時間不同的時間通過所述多個第二開關來將由測試信號線提供的點亮測試信號施加到所述多條數據線。
[0018]根據本發明的一個或更多個實施例，一種顯示設備可包括:顯示單元，包括連接到多條掃描線和多條數據線的多個像素；初始化單元，包括在第一信號線與所述多條數據線中的每條的第一端之間的多個第一開關，所述多個第一開關構造成通過所述多個第一開關來將由第一信號線提供的初始化信號施加到所述多條數據線中的每條的第一端；以及導線測試單元，包括在第二信號線與多條扇出線之間的多個第二開關，所述多條扇出線連接到所述多條數據線中的每條的第二端，所述多個第二開關構造成通過所述多個第二開關而經由所述多條扇出線來將由第二信號線提供的導線測試信號施加到所述多條數據線中的每條的第二端。
[0019]初始化信號可配置成在導線測試信號之前施加。
[0020]所述多個第一開關中的每個可包括:柵極，連接到控制線；第一端子，連接到第一信號線；以及第二端子，連接到所述多條數據線中的一條的第一端。
[0021]初始化單元可包括多條第一信號線，所述多個第一開關中的每個可包括連接到控制線的柵極、連接到所述多條第一信號線中的一條的第一端子以及連接到所述多條數據線中的一條的第一端的第二端子。
[0022]初始化單元可包括多條第一信號線，所述多個第一開關中的每個包括連接到多條控制線中的一條的柵極、連接到所述多條第一信號線中的一條的第一端子以及連接到所述多條數據線中的一條的第一端的第二端子。
[0023]所述多個第一開關可構造成在與施加初始化信號的時間不同的時間將點亮測試信號施加到所述多條數據線中的每條的第一端。
[0024]所述多個第二開關中的每個可包括連接到控制線的柵極、連接到第二信號線的第一端子以及連接到所述多條扇出線中的一條的第二端子。
[0025]初始化單元可包括多條第二信號線，所述多個第一開關中的每個包括連接到控制線的柵極、連接到所述多條第二信號線中的一條的第一端子以及連接到所述多條扇出線中的一條的第二端子。
[0026]所述多個第二開關可構造成在與施加導線測試信號的時間不同的時間將點亮測試信號施加到所述多條數據線中的每條的第二端。
[0027]顯示設備還可包括分別連接到所述多條扇出線的多個數據焊盤以及位于所述多個數據焊盤與第二信號線之間的所述多個第二開關。
[0028]根據本發明的一個或更多個實施例，描述了一種測試顯示設備的方法，所述顯示設備具有包括連接到多條掃描線和多條數據線的多個像素的顯示單元以及分別連接到所述多條數據線中的每條的第一端的多條扇出線。所述方法可包括下述步驟:將初始化信號施加到所述多條數據線中的每條的第一端或第二端；以及經由所述多條扇出線而將導線測試信號施加到所述多條數據線中的每條的第二端。
[0029]導線測試信號可在初始化信號施加到所述多條數據線之后施加。
[0030]初始化信號的施加步驟可包括:通過分別位于所述多條數據線中的每條的第一端或第二端與信號線之間的多個第一開關進行的電連接，信號線構造成提供初始化信號；以及通過所述多個第一開關來將初始化信號施加到所述多條數據線中的每條的第一端或第
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[0031]導線測試信號的施加步驟可包括:通過分別位于所述多條扇出線與測試信號線之間的多個第二開關進行的電連接，測試信號線構造成提供導線測試信號；以及通過所述多個第二開關來將導線測試信號施加到所述多條數據線中的每條的第二端。
[0032]所述方法還可包括檢測連接到所述多條數據線的與像素的列對應的數據線的有缺陷的扇出線，所述像素的列發射具有比多個像素當中的相鄰列的亮度高的亮度的光。
[0033]所述方法還可包括將點亮測試信號施加到所述多條數據線中的每條的第二端。
【附圖說明】
[0034]通過下面結合附圖進行的實施例的描述，這些和/或其它方面將變得明顯且更容易理解，在附圖中:
[0035]圖1是根據本發明的實施例的制造有機發光顯示設備的方法的流程圖；
[0036]圖2是示意性地示出根據本發明的實施例的顯示設備的平面圖；
[0037]圖3是圖2的顯示設備的示例的平面圖；
[0038]圖4是用于描述對圖3的顯示設備進行的導線測試的時序圖；
[0039]圖5是根據本發明的另一實施例的顯示設備的圖；
[0040]圖6是用于描述對圖5的顯示設備進行的導線測試的時序圖；
[0041]圖7是用于描述對圖5的顯示設備進行的點亮測試的時序圖；
[0042]圖8是根據本發明的另一實施例的顯示設備的圖；
[0043]圖9是用于描述對圖8的顯示設備進行的導線測試的時序圖；
[0044]圖10是根據本發明的另一實施例的顯示設備的圖；
[0045]圖11是用于描述對圖10的顯示設備進行的導線測試的時序圖；
[0046]圖12是用于描述對圖10的顯示設備進行的點亮測試的時序圖；以及
[0047]圖13是示意性地示出根據本發明的另一實施例的顯示設備的平面圖。
【具體實施方式】
[0048]以下，將參照示出了發明的示例實施例的附圖來更充分地描述本發明。然而，本發明可以以許多不同形式來實施并且不應被解釋為局限于在這里闡述的實施例；相反，提供這些實施例使得本公開將是徹底的和完整的，并且這些實施例將向本領域技術人員充分地傳達本發明的構思。
[0049]在附圖中，同樣的附圖標記指示同樣的元件，并且省略重復的描述。
[0050]在說明書中，諸如“第一”、“第二”等的術語不具有限制的意義并且僅用于將一個組件與另一個組件區分開。除非以單數形式使用的表述在上下文中具有明顯不同的意義，否則它也包含復數形式。
[0051]在本說明書中，將理解的是，諸如“包括”或“具有”等的術語意圖指示特征或組件的存在，而不意圖排除可存在或可添加一個或更多個其它特征或組件的可能性。
[0052]將理解的是，當元件被稱為“連接”或“結合”到另一元件時，它可直接連接或結合到所述另一元件，或可存在中間元件。相反，當元件被稱為“直接連接”或“直接結合”到另一元件時，不存在中間元件。用于描述元件之間的關系的其它詞匯應該以同樣的方式來解釋(例如，“在……之間”與“直接在……之間”，“相鄰”與“直接相鄰”，“在……上”與“直接在……上”等)。
[0053]如在這里使用的，術語“和/或