陣列基板測試電路和陣列基板的制作方法

本發明涉及測試設備領域，特別是涉及一種陣列基板測試電路和陣列基板。

背景技術：

隨著LCD(Liquid Crystal Display，液晶顯示器)顯示技術的不斷發展，LTPS(Low Temperature Poly-silicon，低溫多晶硅技術)工藝面板被認為是目前全球高端應用市場最具發展前景的主流顯示技術之一。但因LTPS工藝面板中的陣列制程復雜導致產品良率不高，出貨需求缺口大。而陣列測試(Array Tester，縮寫ATS)檢查可以監控LTPS制程，反饋產線，達到不斷提高良率之目的。所以大多產都會對產品進行ATS檢查。

現有技術中ATS檢查中主要采用全接腳探針(Full-Pin Contact Probing)方式進行。請參閱圖1，現有技術中測試電路主要包括子像素31、源極信號源32、開關控制電路33和開關34。開關控制電路33控制開關34的導通，從而控制源極信號到達子像素31，從而進行測試。這種ATS測試電路的缺點在于，需要占用面板的邊框空間，會影響產品設計架構。尤其對于窄邊框產品的邊框較小，因此無法放置測試所需要的測試電路，造成制程無法監控的現象。

技術實現要素：

本發明的目的在于提供陣列基板測試電路，該測試電路的排布可以充分利用陣列基板的長度方向的空間，從而該測試電路可以適應窄邊框陣列基板的設計要求。

本發明的另一目的在于提供采用上述測試電路的陣列基板。

為了實現上述目的，本發明實施方式提供如下技術方案：

本發明提供一種陣列基板測試電路，包括測試單元和多個切換控制單元，所述測試單元包括源極信號源、多個第一開關單元和與所述多個第一開關單元一一對應對應的多個子像素，每個所述子像素經一所述第一開關單元連接至所述源極信號源，所述源極信號源與所述多個切換控制單元沿第一方向排布，所述多個切換控制單元、所述多個第一開關單元一一對應，所述切換控制單元控制對應的第一開關單元導通，以使得源極信號傳輸至對應的所述子像素。

其中，所述測試單元的數量為多個，所述多個切換控制單元與每一所述測試單元中的多個第一開關單元一一對應，所述切換控制單元控制每一測試單元中對應的第一開關單元導通，以使得每一測試單元中的源極信號傳輸至對應的子像素。

其中，所述多個測試單元中的多個源極信號源沿所述第一方向依次排布。

其中，所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源中。

其中，所述陣列基板測試電路還包括開關電路，所述測試單元還包括第二開關單元，所述第二開關單元連接在所述源極信號源和所述第一開關單元之間，所述開關電路控制所述第二開關單元的導通，以使得源極信號傳輸至所述第一開關單元。

本發明還提供一種陣列基板，包括測試電路，所述測試電路包括測試單元和多個切換控制單元，所述測試單元包括源極信號源、多個第一開關單元和多個子像素，每個所述子像素經一所述第一開關單元連接至所述源極信號源，所述源極信號源與所述多個切換控制單元沿第一方向排布，所述多個切換控制單元、所述多個第一開關單元及所述多個子像素電極一一對應，所述切換控制單元控制對應的第一開關單元導通，以使得源極信號傳輸至對應的所述子像素。

其中，所述測試單元的數量為多個，所述多個切換控制單元與每一所述測試單元中的多個第一開關單元一一對應，所述切換控制單元控制每一測試單元中對應的第一開關單元導通，以使得每一測試單元中的源極信號傳輸至對應的子像素。

其中，所述多個測試單元中的多個源極信號源沿所述第一方向依次排布。

其中，所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源中。

其中，所述陣列基板測試電路還包括開關電路，所述測試單元還包括第二開關單元，所述第二開關單元連接在所述源極信號源和所述第一開關單元之間，所述開關電路控制所述第二開關單元的導通，以使得源極信號傳輸至所述第一開關單元。

本發明實施例具有如下優點或有益效果：

本發明的實施例中，源極信號源S、所述第一開關單元(Q1-Qn)和所述子像素依次連接，所述源極信號源S與所述多個切換控制單元(sw1-swn)沿第一方向排布，所述多個切換控制單元(sw1-swn)、所述多個第一開關單元(Q1-Qn)及所述多個子像素電極21一一對應，實現對子像素的測試，該測試電路的排布可以充分利用Array Test區域11的長度方向的空間，從而可以節省Array Test區域11寬度方向的空間，從而該測試電路可以適應窄邊框陣列基板的設計要求。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是現有技術陣列基板測試電路結構示意圖。

圖2是本發明所述的陣列基板結構示意圖。

圖3是圖2所述的陣列基板中的測試電路的一種結構示意圖。

圖4是圖2所述的陣列基板中的測試電路的另一種結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發明保護的范圍。

此外，以下各實施例的說明是參考附加的圖示，用以例示本發明可用以實施的特定實施例。本發明中所提到的方向用語，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“內”、“外”、“側面”等，僅是參考附加圖式的方向，因此，使用的方向用語是為了更好、更清楚地說明及理解本發明，而不是指示或暗指所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。

在本發明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸地連接，或者一體地連接；可以是機械連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以具體情況理解上述術語在本發明中的具體含義。

此外，在本發明的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。若本說明書中出現“工序”的用語，其不僅是指獨立的工序，在與其它工序無法明確區別時，只要能實現該工序所預期的作用則也包括在本用語中。另外，本說明書中用“～”表示的數值范圍是指將“～”前后記載的數值分別作為最小值及最大值包括在內的范圍。在附圖中，結構相似或相同的用相同的標號表示。

請參閱圖2。圖2為本發明的陣列基板結構示意圖。本發明的陣列基板包括：測試電路區域11(也即Array Test區域)、顯示區域12(AA區)，GOA(Gate On Array)區域13、多路復用選擇(Demux)區域14、扇出(Fanout)區域15、WOA(Wire On Array)區域16、驅動芯片(IC)區域17、柔性連接器(FPC)區域18。其中，Array Test區域11用于在陣列(Array)基板制作完成之后，對Array基板的電性進行測試，本發明的陣列基板測試電路除子像素外都位于Array Test區域11；AA區12包括多個像素單元，每個像素單元包括紅色子像素、藍色子像素、綠色子像素，AA區用于像素的顯示；GOA區域13，用于產生顯示區域內的TFT的柵極驅動信號；Fanout區域15，用于實現IC與AA區的數據線之間的走線連接；Demux區域14，用于將從IC側引出的輸出端進行拆分，以實現多條Dataline的驅動；WOA區域16，用于面板周圍走線的連接；IC區域17，用于IC的粘合(Bonding)，該驅動芯片用于提供AA區域的數據信號；FPC區域18，用于FPC的Bonding，通過FPC連接電路板。其中測試電路區域11通過連接線與IC區域17連接，以向測試電路提供測試控制信號(ATEN)，具體地，在測試電路工作時，測試控制信號為高電平，當測試電路測試完成之后，測試控制信號為低電平，也即將測試電路關閉，防止測試電路對于AA區顯示影響。

請結合參閱圖3。圖3是圖2所述的陣列基板中的測試電路的一種結構示意圖。本發明的陣列基板測試電路包括測試單元20和多個切換控制單元(即圖3中的sw1-swn)。具體的，所述測試單元20包括源極信號源S、多個第一開關單元(即圖2中的Q1-Qn)和多個子像素21。每個所述子像素21經一所述第一開關單元連接至所述源極信號源S，所述源極信號源S用于提供測試所需的源極信號。所述源極信號源S、所述第一開關單元(Q1-Qn)和所述子像素21大致沿第二方向的趨勢(即圖1和圖2中的Y方向)依次連接。可以理解的是，所述第二方向大致為所述Array Test區域11的寬度方向。所述源極信號源S與所述多個切換控制單元(Q1-Qn)沿第一方向(即圖1和圖2中的X方向)排布。可以理解的是，所述第一方向大致為所述Array Test區域11的長度方向。所述多個切換控制單元(sw1-swn)、所述多個第一開關單元(Q1-Qn)及所述多個子像素電極21一一對應，每個切換控制單元控制一個第一開關單元的導通或斷開，從而控制源極信號源S發出的信號是否到達對應的子像素，完成子像素的測試過程。

可以理解的是，在其他實施方式中，所述第一方向X還可以為其他不與第二方向Y平行的方向。

可以理解的是，上文中n可以為1、2、3、4、5……

本實施方式中，源極信號源S、所述第一開關單元(Q1-Qn)和所述子像素21大致沿第二方向趨勢依次連接；所述源極信號源S與所述多個切換控制單元(sw1-swn)沿第一方向(即圖1和圖2中的X方向)排布，所述多個切換控制單元(sw1-swn)、所述多個第一開關單元(Q1-Qn)及所述多個子像素電極21一一對應，實現對子像素的測試，該測試電路的排布可以充分利用Array Test區域11的長度方向的空間，從而可以減少占用Array Test區域11寬度方向的空間，從而該測試電路可以適應窄邊框陣列基板的設計要求。

請參閱圖4。圖4是圖2所述的陣列基板中的測試電路的另一種結構示意圖。在本實施方式中，所述測試單元20的數量為多個。可以理解的是，本實施方式中的測試單元20及切換控制單元與上一實施方式的測試單元結構大致相同，此處不再贅述。需要說明的是，本實施方式中為了方便表示，每個測試單元中包括6個第一開關單元(即Q1-Q6)及6個子像素。相應的，本實施方式中，切換控制單元的數量也為6個(即sw1-sw6)。在其他實施方式中，第一開關單元及子像素的數量還可以為1、2、3、4、5、7、8、9……此處不以為限。

本實施方式中，切換控制單元sw1控制每一測試單元20中第一開關單元Q1的狀態(導通/斷開)，也就是說控制單元sw1同時控制多個第一開關單元Q1的狀態；切換控制單元sw2控制每一測試單元20中第一開關單元Q2的狀態(導通/斷開)，也就是說切換控制單元sw1同時控制多個第一開關單元Q1的狀態；依此類推，切換控制單元sw6控制每一測試單元20中第一開關單元Q6的狀態(導通/斷開)。換而言之，所述多個切換控制單元與每一所述測試單元20中的多個第一開關單元一一對應，所述切換控制單元控制每一測試單元20中對應的第一開關單元導通，以使得每一測試單元中的源極信號傳輸至對應的子像素。

本發明一種可能的實現方式中，所述多個測試單元20沿第一方向X排布，從而減小測試電路占用的Array Test區域11寬度方向(及第二方向Y)的空間。優選的，所述多個源極信號源S沿所述第一方向X依次排布。

可以理解的是，所述多個測試單元20及所述多個切換控制單元均沿所述第一方向X排布。優選的，所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源S中。通常來說，在陣列基板測試電路中，測試單元20的數量遠大于切換控制單元的數量。因此，可以將多個切換控制單元均勻分布于多個測試單元20之間。具體的，多個測試單元20可以沿所述第一方向X依次排布呈一條直線。換而言之，所述多個源極信號源S沿所述第一方向排列呈直線，所述多個切換控制單元穿插在多個源極信號源S形成的直線中，相鄰兩個切換控制單元之間間隔相同數量的測試單元20(源極信號源S)。將多個切換控制單元穿插設置于多個測試單元20之間，使得切換控制單元與第一開關單元間的連線可以穿插分布在源極信號源的走線中，使得布線更加緊湊，減小了對Array Test區域11空間的占用，特別是寬度方向的空間。此外，將所述多個切換控制單元均勻分布于所述多個源極信號源S中，是為了盡量使得切換控制單元與測試單元20的平均距離大致相同，避免多個切換控制單元過度集中，造成部分位置的測試單元接收到的切換信號延時，影響測試結果的準確性。

本發明一種可能的實現方式中，所述陣列基板測試電路還包括開關電路(圖未示出)，所述測試單元還包括第二開關單元22，所述第二開關單元22連接在所述源極信號源S和所述第一開關單元之間，所述開關電路控制所述第二開關單元22的導通，以使得源極信號傳輸至所述第一開關單元。從而控制源極信號的通斷。

在本說明書的描述中，參考術語“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”或“一些示例”等的描述意指結合該實施例或示例描述的具體特征、結構、材料或者特點包含于本發明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術語的示意性表述不一定指的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特征、結構、材料或特點可以在任何的一個或多個實施例或示例中以合適的方式結合。

以上所述的實施方式，并不構成對該技術方案保護范圍的限定。任何在上述實施方式的精神和原則之內所作的修改、等同替換和改進等，均應包含在該技術方案的保護范圍之內。