顯示面板及其非平面顯示面板的制作方法

本發明是關于一種顯示面板，且特別是有關于一種非平面顯示面板。

背景技術：

隨著科技的進步，顯示器的技術也不斷地發展。輕、薄、短、小的平面顯示面板(Flat Panel Display,FPD)逐漸取代傳統厚重的陰極映像管顯示器(Cathode Ray Tube,CRT)。如今，由于平面顯示面板的輕薄特性，平面顯示面板更被配置到許多建筑物或電子設備的非平面的表面上。

然而，顯示面板仍能存在于一些問題，例如：顯示面板于顯示同一畫面的不同區域仍存在亮暗不均的現象，而讓觀看者觀看到，進而影響觀賞質量。尤其，當顯示面板被配置到許多建筑物或電子設備的非平面的表面上(即為非平面顯示面板)時，這種問題會更易被發現，而使得觀賞質量會再下降，且此時也可能會產生其它的缺陷，例如：色暈(mura)或對比下降等等。于此，平面顯示面板與非平面顯示面板通常就需要各別重新設計以及各別配合的模塊與備料，會進而造成制造成本的增加。

技術實現要素：

于本發明的多個實施方式中，借由設計不同區域次像素的開口率或亮度設計以及不同區域次像素的平均開口率差值或平均亮度差值于一預定范圍，借以改善前述問題，例如：亮暗不均、色暈(mura)或對比下降，且更可使得平面與非平面顯示面板的設計可共享，而可減少制造成本。

本發明的多個實施方式提供一種顯示面板，顯示面板具有中心線、第一區域以及至少一位于第一區域外的第二區域。顯示面板包括：第一基板、第二基板、顯示介質、多個次像素。顯示介質位于第一基板與第二基板之間。多個次像素，設置于第一基板上，其中各次像素包括至少一主動組件、至少一與該主動元件電性連接的信號線、以及至少一像素電極與主動元件的一漏極連接。其中，位于第一區域的該些次像素僅具第一開口率，位于第二區域的該些次像素至少具有第二開口率與第三開口率，且第二開口率不同于第三開口率。位于第一區域的該些次像素的平均開口率與位于第二區域的該些次像素的平均開口率的差值大于等于0且小于等于1.5％。

于本發明的一或多個實施方式中，顯示面板更包含至少一第三區域位于該第一區域與該第二區域之外，但不位于該第一區域與該第二區域之間。位于第三區域的該些次像素至少具有第四開口率與第五開口率，且第四開口率不同于第五開口率。位于第三區域的該些次像素的平均開口率與位于第二區域的該些次像素的平均開口率的差值大于等于0且小于等于1.5％。

本發明的多個實施方式提供一種顯示面板，顯示面板具有中心線、第一區域以及至少一位于第一區域外的第二區域。顯示面板包括：第一基板、第二基板、顯示介質、多個次像素。顯示介質位于第一基板與第二基板之間。多個次像素，設置于第一基板上，其中各次像素包括至少一主動元件、至少一與該主動元件電性連接的信號線、以及至少一像素電極與主動元件的一漏極連接。其中，位于第一區域的該些次像素僅具第一亮度，位于第二區域的該些次像素至少具有第二亮度與第三亮度，且第二亮度不同于第三亮度。位于第一區域的該些次像素的平均亮度與位于第二區域的該些次像素的平均亮度的差值大于等于0且小于等于15尼特(nits)。

于本發明的一或多個實施方式中，顯示面板更包含至少一第三區域位于該第一區域與該第二區域之外，但不位于該第一區域與該第二區域之間。位于第三區域的該些次像素至少具有第四亮度與第五亮度，且第四亮度不同于第五亮度。位于第三區域的該些次像素的平均亮度與位于第二區域的該些次像素的平均亮度的差值大于等于0且小于等于15(nits)。

于本發明的一或多個實施方式中，中心線，位于第一區域中。

于本發明的一或多個實施方式中，各該第二區與各該第三區其中至少一區的不同亮度的數個次像素系呈現交錯排列。

于本發明的一或多個實施方式中，該些次像素其中至少一個具有多個子區域。

于本發明的一或多個實施方式中，各該次像素更包括一共通電極，設置于第一基板與第二基板其中至少一者上

本發明的多個實施方式提供一種非平面顯示面板，非平面顯示面板包括：本發明的多個實施方式提供一種顯示面板，其呈現一彎曲狀態下，該顯示面板系以該中心線為軸心彎曲。

于本發明的一或多個實施方式中，在彎曲狀態下，顯示面板具有曲率中心，且第二基板位于第一基板與曲率中心之間。

于本發明的一或多個實施方式中，在彎曲狀態下，顯示面板具有曲率中心，且第一基板位于第二基板與曲率中心之間。

附圖說明

通過參照附圖進一步詳細描述本發明的示例性實施例，本發明的上述和其它示例性實施例，優點和特征將變得更加清楚，其中:

圖1為本發明第一實施例的顯示面板的俯視示意圖。

圖2為第一實施例的顯示面板的局部像素放大示意圖。

圖3為第一實施例變形例的顯示面板的局部像素放大示意圖。

圖4為第一實施例再一變形例的顯示面板的局部像素放大示意圖。

圖5A與5B為本發明第一實施例的顯示面板在彎曲狀態下的側面示意圖。

圖6A為本發明第二實施例的顯示面板的俯視示意圖。

圖6B為第6A圖的顯示面板在彎曲狀態下的光學俯視圖。

圖7A為本發明第三實施例的顯示面板的俯視示意圖。

圖7B為第7A圖的顯示面板在彎曲狀態下的光學俯視圖。

圖8為本發明第四實施例的顯示面板的俯視示意圖。

其中，附圖標記：

100、100’、100”、100’”:顯示面板

B1～B3:像素電極面積

B22:子區域的像素電極面積

D1:第一方向

DL:數據線

GL:掃描線

PE、PE(M)、PE(S):像素電極

a’、a”、b”、c”、m”:開口率

c:第三開口率

e:第五開口率

L1:第一亮度

L3:第三亮度

L5:第五亮度

Lm、Lm’:亮度

R2:第二區

RM:第M區

S1:第一基板

SL1:信號線

SP1:第一次像素

SP3:第三次像素

X:曲率中心A1～A3:次像素面積

B21:主區域的像素電極面積

C:中心線

D:漏極

D2:第二方向

G:柵極

ML:顯示介質

a:第一開口率

b:第二開口率

d:第四開口率

m、m’、m”:開口率

L2:第二亮度

L4:第四亮度

La’、La”、Lb”、Lc”、Lm”:亮度

R1:第一區

R3:第三區

S:源極

S2:第二基板

SP2:第二次像素

SPM:第M次像素

SW:主動元件

具體實施方式

以下將以圖式揭露本發明的多個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一并說明。然而，應了解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式為之。

在附圖中，為了清楚起見，放大了層、膜、面板、區域等的厚度。在整個說明書中，相同的附圖標記表示相同的元件。應當理解，當諸如層、膜、區域或基板的元件被稱為在另一元件”上”或”連接到”另一元件時，其可以直接在另一元件上或與另一元件連接，或者中間元件可以也存在。相反地，當元件被稱為”直接在另一元件上”或”直接連接到”另一元件時，不存在中間元件。如本文所使用的，”連接”可以指物理及/或電連接。

這里使用的術語僅僅是為了描述特定實施例的目的，而不是限制性的。如本文所使用的，除非內容清楚地指示，否則單數形式”一”、”一個”和”該”旨在包括復數形式，包括”至少一個”。”或”表示”及/或”。如本文所使用的，術語”及/或”包括一個或多個相關所列項目的任何和所有組合。還應當理解，當在本說明書中使用時，術語”包括”及/或”包括”指定所述特征、區域、整體、步驟、操作、元件的存在及/或部件，但不排除一個或多個其它特征、區域整體、步驟、操作、元件、部件及/或其組合的存在或添加。

本文使用的”約”或”近似”或”實質上”包括所述值和在本領域普通技術人員確定的特定值的可接受的偏差范圍內的平均值，考慮到所討論的測量和與測量相關的誤差的特定數量(即，測量系統的限制)。例如，”約”可以表示在所述值的一個或多個標準偏差內，或例如±10％、±7％、±5％內。

除非另有定義，本文使用的所有術語(包括技術和科學術語)具有與本發明所屬領域的普通技術人員通常理解的相同的含義。將進一步理解的是，諸如在通常使用的字典中定義的那些術語應當被解釋為具有與它們在相關技術和本發明的上下文中的含義一致的含義，并且將不被解釋為理想化的或過度正式的意義，除非本文中明確地這樣定義。

請參考圖1至圖5B。圖1繪示本發明的第一實施例的顯示面板的俯視示意圖，圖2繪示第一實施例的顯示面板的局部像素放大示意圖，圖3繪示第一實施例顯示面板的變形例的局部像素放大示意圖，圖4繪示第一實施例顯示面板的再一變形例的局部像素放大示意圖，而圖5A與5B繪示本發明的第一實施例的顯示面板在彎曲狀態下的側面示意圖。本實施例的顯示面板100為可撓式顯示面板，其中圖1所示是顯示面板100的表面呈平面而未彎曲的狀態，此時可稱為平面顯示面板100。如圖1所示，顯示面板100具有中心線C，且顯示面板100具有第一區域R1以及位于第一區域R1外的第二區域R2。本實施例的顯示面板100包括至少一個第二區域R2，分別位于第一區域R1的第一及/或第二邊(例如：左及/或右邊)，但不以此為限。本發明顯示面板100包括：第一基板S1、第二基板S2、顯示介質ML、多個次像素SPM以及像素電極PE，下文將分段介紹上述各元件的相對設置關系。

如圖5A或5B所示，第一基板S1與第二基板S2彼此相對設置，顯示介質ML設于第一基板S1與第二基板S2之間。第一基板S1與第二基板S2可分別包括透光基板例如玻璃基板、塑料基板或其它合適材料的基板或可撓式基板，舉例而言，第一基板S1與第二基板S2可分別為陣列基板與對向基板。本實施例的第一方向D1實質上垂直于第二方向D2(參閱圖1)，但不限于此。顯示面板100包括多個次像素SPM，設置于第一基板S1上，例如設置于第一基板S1面對第二基板S2的內表面上。顯示面板100在彎曲狀態下可彎曲如圖5A所示，本實施例的顯示面板100系以中心線C為軸心彎曲，且顯示面板100彎曲的曲率半徑可視產品規格加以決定。舉例而言，本實施例的顯示面板100具有曲率中心X，且第二基板S2位于第一基板S1與曲率中心X之間，換句話說，曲率中心X系位于顯示面板100的一側且鄰近第二基板S2，且使用者觀察方向與曲率中心X系位于同一側。在其它變化實施例中，如圖5B所示，顯示面板100也可朝向第一基板S1的方向彎曲，且第一基板S1位于第二基板S2與曲率中心X之間，換句話說，曲率中心X系位于顯示面板100的另一側且鄰近第一基板S1，且使用者觀察方向與曲率中心X系位于不同側，即使用者觀察方向鄰近第二基板S2。

請參閱圖2～圖4為次像素局部設計的不同實施例。于圖2的次像素包括至少一主動元件SW，其中主動元件SW包括源極S、漏極D、柵極G以及半導體層(未繪示)，其中主動元件SW的類型可包含為半導體層位于柵極G之上且位于源極S與漏極D之間的底柵極型主動元件SW、半導體層位于柵極G之下且位于源極S與漏極D之間的頂柵極型主動元件SW，或是其它合適類型的主動元件SW。次像素中的主動元件SW電性連接于至少一信號線SL1，且其包含數據線DL、掃描線GL、共享電極線(未繪示)、或其它合適的線/電極，或前述至少一種線/電極。舉例而言，次像素中的主動元件SW的柵極G連接掃描線GL，次像素中的主動元件SW的源極G連接數據線DL。次像素也包含至少一像素電極PE，其連接主動元件SW的漏極D。于圖3的次像素與圖2的次像素的差別在于：次像素包括至少二主動元件SW、至少二個像素電極PE與多個子區域，一個主動元件SW連接所對應的信號線，另一個主動元件SW連接所對應的信號線，一個像素電極PE(或稱為主像素電極PE(M))位于一個子區域中且連接所對應的主動元件SW的漏極D，另一個像素電極PE(或稱為主像素電極PE(S))位于一個子區域中且連接所對應的主動元件SW的漏極D。其中，所述的子區域可為像素電極PE存在的區域。雖然，圖3的二個主動元件的源極S連接至相同的信號線(例如：數據線、掃描線或共通電極其中至少一者)，但不限于此。于其它實施例中，圖3的二個主動元件SW的源極D可連接至不同的信號線(例如：數據線、掃描線或共通電極其中至少一者)。此外，圖3的二個主動元件的源極S系以個別的電極為范例。于其它實施例中，圖3的二個主動元件的源極S也可共享一個電極，即可稱為共享源極S。于圖4的次像素與圖2的次像素的差別在于：像素電極PE的二邊(例如：左、右邊)會超過二相鄰的信號線(例如：數據線DL)外側。于其它實施例中，圖4的次像素的設計也可運用圖3的次像素設計。此外，前述圖2～圖4的次像素的柵極G可為掃描線GL的一部份或者從掃描線GL延伸出來；又或者，前述圖2～圖4的次像素可包含其它的主動元件；再或者，前述圖2～圖4的次像素的掃描線GL與數據線DL間會設置有至少一絕緣層(未標示)，絕緣層可為柵極絕緣層、介電層、或其它合適的絕緣層，依照主動元件類型而加以設置。必需說明的是，請一起參閱圖2～圖5B，圖2～圖4所述的次像素其中至少一者，更包含一共通電極(未標示)，設置于第一基板S1與第二基板S2其中至少一者上(參閱圖5A或5B)。再者，本發明所述的顯示面板100中的至少一個次像素SPM可選擇性包含圖2～4所述的次像素設計其中至少一者。本發明前述實施例的主動元件的半導體層材料可包含多晶硅、非晶硅、單晶硅、微晶硅、氧化物半導體材料、有機半導體材料或其它合適的材料。此外，本發明前述實施例的像素電極PE或共通電極其中至少一者可選擇性的包含狹縫(未繪示)或分支電極(未繪示)其中至少一者，但不限于此。

本實施例的數個次像素SPM位于第一區R1中多個次像素SP1(可稱為第一次像素)，可實質上沿著第一方向D1排列，但不限于此。多個次像素SPM位于第二區域R2多個次像素SP2(可稱為第二次像素)，可實質上沿著第一方向D1排列。必需說明的是，當次像素包含多個第M個次像素SPM時，多個第M次像素SPM(可稱為第M次像素)位于第M區域RM內并實質上沿著第一方向D1排列，M為正整數。本實施例中，第一區R1中的各個次像素SP1僅具有第一開口率(aperture ration,or namely open ratio)a，而第二區R2中的多個次像素SP2至少具有二種開口率，例如：第二開口率b與第三開口率c，且第二開口率b不同于第三開口率c，其中開口率:無單位。因此，第一區R1中的多個次像素SP1可以得到平均開口率(average aperture ration)，而第二區R2中的多個次像素SP2可以得到平均開口率(average aperture ration)，則第一區中的多個次像素SP1的平均開口率與第二區R2中的多個次像素SP2的平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％，可以使得平面顯示面板100的光學表現可較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R1與R2的畫面表現會較均勻，則就可以改善色暈(mura)或對比下降等問題。平均開口率系為該區的各次像素開口率加總除以次像素的個數所得，且不同區的平均開口率的差值系為取絕對值后的數值。較佳地，本實施例的第一區R1中的多個次像素SP1的平均開口率與第二區R2中的多個次像素SP2的平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％，可以使得平面顯示面板100的光學表現可更較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R1與R2的畫面表現可更較為均勻，則可以更改善色暈(mura)或對比下降等問題。必需說明的是，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％，較佳地，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％系觀看畫面時可明確分辨出來畫面是否均勻與否的底線(或稱為臨界線)。此外，超過此底線(例如：1.5％)，有可能不容易補償，也可能產生其它的缺陷。

本發明的第二區R2的不同開口率的次像素SP2系呈現交錯排列，例如：馬賽克排列為范例，但不限于此。于其它實施例中，第二區R2的不同開口率的次像素亦可不呈現交錯排列，例如：不呈現馬賽克排列。本發明的第一區R1的次像素SP1系以排成一行(column)或一列(row)以及第二區R2的次像素SP2系以排成一行(column)或一列(row)為范例，但不限于此。于其它實施例中，第一區R1的次像素SP1可排成至少一行(column)或至少一列(row)以及第二區R2的次像素SP2可排成至少一行(column)或至少一列(row)。舉例而言，第一區R1的次像素SP1排成多行或多列，且第二區R2的次像素SP2排成多行或多列、或者第一區R1的次像素SP1排成一行或一列，且第二區R2的次像素SP2排成多行或多列、或者第一區R1的次像素SP1排成多行或多列，且第二區R2的次像素SP2排成一行或一列。必需說明的是，第一區R1的次像素SP1排成多行時，仍僅有一種開口率(例如：第一開口率)，而第二區R2的次像素SP2排成多行時，至少具有二種開口率(例如：第二與第三開口率)。其中，第二區R2的次像素SP2排成多行時，并不一定要每一行都要至少二種開口率，而可以是多行中的其中一行可為至少二種開口率其中一種，且多行中的另一行可為至少二種開口率，較佳地，呈交錯排列，例如：馬賽克排列，但不限于此。于其它實施例中，第二區R2的次像素SP2排成多行，例如：二行(列)或四行(列)，可分別位于第一區R1的二邊(例如：左邊與右邊)，可讓光學表現較為對稱及/或均勻。在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2行(列)數，并不一定要相同，且在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2的排列方式，也并不一定要相同。舉例而言，本發明系以在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2行(列)數相同，但在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2的排列方式不同為范例，又或者是在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2行(列)數不同，但在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2的排列方式相同，但不限于此，而是要符合前述一區為一種開口率、另一區(相鄰區)至少為二種開口率以及二區(例如：第一區與各第二區)的平均開口率的差值。舉例而言，第一區R1的次像素SP1具有第一開口率a，各個第二區R2的次像素SP2至少具有第二與第三開口率b與c，第一區的次像素SP1具有平均開口率，在第一區R1第一與第二邊(例如：左邊與右邊)的第二區R2的次像素SP2分別具有平均開口率，則第一區R1的次像素SP1的平均開口率與在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第二區R2的次像素SP2的平均開口率的差值以及第一區R1的次像素SP1的平均開口率與在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第二區R2的次像素SP2的平均開口率的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％。然而，為了讓光學表現如上所述較為對稱及/或均勻，較佳地，在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2行(列)數相同，且在第一區R1二邊的第二區R2的次像素SP2的排列方式相同。必需說明的是，為了讓光學表現如上所述可較為對稱及/或均勻，較佳地，中心線C1系位于第一區R1中，即中心線C1實質上平行于第一方向D1，且實質上垂直于第二方向D2，但不限于此。于其它實施例中，中心線C1也可不位于第一區R1中。

本實施例并不限于第二開口率b大于第三開口率c、或者第二開口率b小于第三開口率c、又或者第一開口率a等于第二開口率b或第三開口率c其中一者、又或者第一開口率a大于第二開口率b或第三開口率c其中一者、又或者第一開口率a小于第二開口率b或第三開口率c其中一者，只要能夠讓本發明所述平面顯示面板經由光學儀器，例如：CCD或光感元件測量下，第一區R1與第二區R2光學表現較為均勻，皆可適用之。對于開口率的相關描述系描述于后續描述中。

再者，第一區R1中的各個次像素SP1可以經由光學儀器，例如：CCD或光感元件，可量測出第一亮度(luminance)L1，而第二區R2中的多個次像素SP2至少可量測出第二亮度L2與第三亮度L3，且第二亮度L2不同于第三亮度L3，其中亮度單位:尼特(nits)或稱為燭光/平方公尺(cd/m2)。因此，第一區R1中的多個次像素SP1可以得到平均亮度(average luminance)，而第二區R2中的多個次像素SP2可以得到平均亮度(average luminance)，則第一區R1中的多個次像素SP1的平均亮度與第二區R2中的多個次像素SP2的平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特，可以使得平面顯示面板100的光學表現可較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R1與R2的畫面表現可較均勻，則就可以改善色暈(mura)或對比下降等問題。平均亮度系為該區的各次像素亮度加總除以次像素的個數所得，且不同區的平均亮度的差值系為取絕對值后的數值。較佳地，本實施例的第一區中的多個次像素SP1的平均亮度與第二區R2中的多個次像素SP2的平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于10尼特，可以使得平面顯示面板100的光學表現可更較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R1與R2的畫面表現可更較為均勻，則就可以更改善色暈(mura)或對比下降等問題。必需說明的是，平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特，較佳地，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于10尼特系觀看畫面時可明確分辨出來畫面是否均勻與否的底線(或稱為臨界線)。雖然，超過此底線(例如：15尼特)，有可能不容易補償，也可能產生其它的缺陷。對于，各區的次像素排列、行或列數等等，可以參閱前述在各區開口率的次像素的相關描述，且符合本發明前述一區為一種亮度、另一區(相鄰區)至少為二種亮度以及二區的平均亮度的差值。舉例而言，第一區R1的次像素SP1具有第一亮度L1，各個第二區R2的次像素SP2至少具有第二與第三亮度L2與L3，第一區的次像素SP1具有平均亮度，在第一區R1第一與第二邊(例如：左邊與右邊)的第二區R2的次像素SP2分別具有平均亮度，則第一區R1的次像素SP1的平均開口率與在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第二區R2的次像素SP2的平均開口率的差值以及第一區的次像素SP1的平均亮度與在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第二區R2的次像素SP2的平均亮度的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特。必需說明的是，為了讓光學表現如上所述可較為對稱及/或均勻，較佳地，中心線C1系位于第一區R1中，即中心線C1實質上平行于第一方向D1，且實質上垂直于第二方向D2，但不限于此。于其它實施例中，中心線C1系不位于第一區R1中。

本實施例并不限于第二亮度L2大于第三亮度L3、或者第二亮度L2小于第三亮度L3、又或者第一亮度L1等于第二亮度L2或第三亮度L3其中一者、又或者第一亮度L1大于第二亮度L2或第三亮度L3其中一者，只要能夠讓本發明所述平面顯示面板經由光學儀器，例如：CCD或光學感應元件測量下，第一區R1與第二區R2光學表現較為均勻，皆可適用之。

再參閱圖1，本發明的部份實施方式中，顯示面板100(或稱為平面顯示面板)可更包含至少一第三區域R3位于第一區域R1與第二區域R2之外，但不位于該第一區域R1與該第二區域R2之間。位于第三區R3的多個次像素SP3至少具有第四開口率d與第五開口率e，且第四開口率d不同于第五開口率e，其中開口率:無單位。第三區R3中的多個次像素SP3可以得到平均開口率(average aperture ration)，則第二區中的多個次像素SP2的平均開口率與第三區R3中的多個次像素SP3的平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％，可以使得平面顯示面板100的光學表現可較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R2與R3，更甚者，不同區域R1～R3的畫面表現可較均勻，則就可以改善色暈(mura)或對比下降等問題。平均開口率系為該區的各次像素開口率加總除以次像素的個數所得，且不同區的平均開口率的差值系為取絕對值后的數值。較佳地，本實施例的第二區R2中的多個次像素SP2的平均開口率與第三區R3中的多個次像素SP3的平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％，可以使得平面顯示面板100的光學表現可更較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R1與R2，更甚者，不同區域R1～R3的畫面表現可更較為均勻，則可以更改善色暈(mura)或對比下降等問題。必需說明的是，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％，較佳地，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％系觀看畫面時可明確分辨出來畫面是否均勻與否的底線(或稱為臨界線)。此外，超過此底線(例如：1.5％)，有可能不容易補償，也可能產生其它的缺陷。

本發明的第三區R3的不同開口率的次像素SP3排列方式可參閱前述第二區R2的不同開口率的排列方式，二區可相同或不同的排列方式。舉例而言，第二區R2與第三區R3其中至少一區的不同開口率的次像素排列方式系呈交錯排列。然而，于其它實施例中，第二區R2與第三區R3的次像素排列并不一定要呈現交錯排列。本發明的第三區R3的不同開口率的次像素SP3所排成的行數或列數可參閱第二區R2的不同開口率的次像素SP2所排成的行數或列數，且于本實施例的二區(例如：第三區R3與第二區R2)的行數或列數系以相同為范例，但不限于此。于其實施例中，二區(例如：第三區R3與第二區R2)的行數或列數可不相同。本發明的部份實施例中，第三區R3的次像素SP3排成多行，例如：二行(列)或四行(列)，可分別位于第一區R1的二邊(例如：左邊與右邊)，可讓光學表現較為對稱及/或均勻。在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP3行(列)數，并不一定要相同，且在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP3的排列方式，也并不一定要相同。舉例而言，本發明系以在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP3行(列)數相同，但在第一區R1二邊的第二區R3的次像素SP3的排列方式不同為范例，又或者是在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP3行(列)數不同，但在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP3的排列方式相同，但不限于此，而是要符合前述相鄰的二區的平均開口率的差值，即第二區R2的平均開口率與第三區R3(相鄰區)的平均開口率的差值。舉例而言，各第二區R2的次像素SP2至少具有第二與第三開口率b與c，各個第三區R3的次像素SP3至少具有第四與第五開口率d與e，則在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第二區R2的次像素SP2的平均開口率與在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第三區R3的次像素SP3的平均開口率的差值以及在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第二區R2的次像素SP2的平均開口率與在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第三區R3的次像素SP3的平均開口率的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％。較佳地，前述二區的平均開口率的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％。然而，為了讓光學表現如上所述較為對稱及/或均勻，較佳地，在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP3行(列)數相同，且在第一區R1二邊的第三區R3的次像素SP2的排列方式可相同，但不限于此。

本實施例并不限于第四開口率d大于第五開口率e、或者第四開口率d小于第五開口率e、又或者第一開口率a等于第四開口率d或第五開口率e其中一者、又或者第一開口率a大于第四開口率d或第五開口率e其中一者、又或者第一開口率a小于第四開口率d或第五開口率e其中一者、又或者第四開口率d或第五開口率e其中一者相同于第二開口率b或第三開口率c其中一者、又或者第四開口率d或第五開口率e其中一者不同于第二開口率b或第三開口率c其中一者，只要能夠讓本發明所述平面顯示面板顯示同一畫面，且經由光學儀器，例如：CCD或光感元件測量下，第二區R2與第三區R3，更甚者，不同區R1～R3的光學表現較為均勻，皆可適用之。此外，第RM區的次像素SPM也至少具有二種不同的開口率m與m’，其排列方式、排列行數或列數、開口率m及m’與相鄰的RM-1區的開口率關系(例如：第三區R3的開口率d與e)或者其它相關等等，可參閱與第RM區相鄰的第RM-1區(例如：第三區R3)的描述。其中，M為正整數。而是要符合前述相鄰的二區的平均開口率的差值，即相鄰的第RM-1區(例如：第三區R3)的平均開口率與第RM區的平均開口率的差值。舉例而言，各第RM-1區(例如：第三區R3)的次像素SP3至少具有二種開口率(例如：第四與第五開口率d與e)，各個第RM區的次像素SPM至少具有二種開口率m與m’，則在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第RM-1區(例如：第三區R3)的次像素SP3的平均開口率與第RM區的次像素SPM的平均開口率的差值以及在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第RM-1區(例如：第三區R3)的平均開口率與第RM區的次像素SPM的平均開口率的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％。較佳地，本實施例的第RM-1區(例如：第三區R3)的次像素SP3的平均開口率與第RM區的次像素SPM的平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％，可以使得平面顯示面板100的光學表現可更較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域RM-1～RM，更甚者，不同區域R1～RM的畫面表現可更較為均勻，則就可以更改善色暈(mura)或對比下降等問題。必需說明的是，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％，較佳地，平均開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％系觀看畫面時可明確分辨出來畫面是否均勻與否的底線(或稱為臨界線)。此外，超過此底線(例如：1.5％)，有可能不容易補償，也可能產生其它的缺陷。

再者，第三區R3中的多個次像素SP3可以經由光學儀器，例如：CCD或光感元件，至少可量測出第四亮度L4與第五亮度L5，且第四亮度L4不同于第五亮度L5，其中亮度單位:尼特(nits)或稱為燭光/平方公尺(cd/m2)。因此，第三區R3中的多個次像素SP3可以得到平均亮度(average luminance)，則第二區R2中的多個次像素SP2的平均亮度與第三區R3中的多個次像素SP3的平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特，可以使得平面顯示面板100的光學表現可較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R2與R3的畫面表現會較均勻，則就可以改善色暈(mura)或對比下降等問題。平均亮度系為該區的各次像素亮度加總除以次像素的個數所得，且不同區的平均亮度的差值系為取絕對值后的數值。較佳地，本實施例的第二區R2中的多個次像素SP2的平均亮度與第三區R3中的多個次像素SP3的平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于10尼特，可以使得平面顯示面板100的光學表現可更較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域R1與R2的畫面表現可更較為均勻，則就可以更改善色暈(mura)或對比下降等問題。必需說明的是，平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特，較佳地，平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于10尼特系觀看畫面時可明確分辨出來畫面是否均勻與否的底線(或稱為臨界線)。此外，超過此底線(例如：15尼特)，有可能不容易補償，也可能產生其它的缺陷。對于，各區的次像素排列、行或列數等等，可以參閱前述在各區開口率的次像素的相關描述，且符合本發明前述一區至少為二種亮度、另一區(相鄰區)至少為二種亮度以及二區的平均亮度的差值。舉例而言，各第二區R2的次像素SP2至少具有第二與第三亮度L2與L3，各個第二區R3的次像素SP3至少具有第四與第五亮度L4與L5，且在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第二區R2的次像素SP2的平均亮度與在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第三區R3的次像素SP3的平均亮度的差值以及在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第二區R2的次像素SP2的平均亮度與在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第三區R3的次像素SP3的平均亮度的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特。較佳地，前述二區的平均亮度的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于10尼特。

本實施例并不限于第四亮度L4大于第五亮度L5、或者第四亮度L4小于第五亮度L5、又或者第一亮度L1等于第四亮度L4或第五亮度L5其中一者、又或者第一亮度L1大于第四亮度L4或第五亮度L5其中一者、又或者第一亮度L1小于第四亮度L4或第五亮度L5其中一者、又或者第四亮度L4或第五亮度L5其中一者相同于第二亮度L2或第三亮度L3其中一者、又或者第四亮度L4或第五亮度L4其中一者不同于第二亮度L2或第三亮度L3其中一者，只要能夠讓本發明所述平面顯示面板顯示同一畫面，且經由光學儀器，例如：CCD或光感元件測量下，第二區R2與第三區R3，更甚者，不同區R1～R3的光學表現較為均勻，皆可適用之。此外，第RM區的次像素SPM也至少具有二種不同的亮度Lm與Lm’，其排列方式、排列行數或列數、亮度m及m’與相鄰的RM-1區的亮度關系(例如：第三區R3的亮度L4與L5)或者其它相關等等，可參閱與第RM區相鄰的第RM-1區(例如：第三區R3)的描述。而是要符合前述相鄰的二區的平均亮度的差值，即相鄰的第RM-1區(例如：第三區R3)的平均亮度與第RM區的平均亮度的差值。舉例而言，各第RM-1區(例如：第三區R3)的次像素SP3至少具有二種亮度(例如：第四與第五開口率L4與L5)，各個第RM區的次像素SPM至少具有二種亮度Lm與Lm’，則在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第RM-1區(例如：第三區R3)的次像素SP3的平均亮度與在第一區R1第一邊(例如：左邊)的第RM區的次像素SPM的平均亮度的差值以及在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第RM-1區(例如：第三區R3)的平均亮度與在第一區R1第二邊(例如：右邊)的第RM區的次像素SPM的平均亮度的差值，皆符合大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特。較佳地，本實施例的第RM-1區(例如：第三區R3)的次像素SP3的平均亮度與第RM區的次像素SPM的平均亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于10尼特，可以使得平面顯示面板100的光學表現可更較為均勻，即平面顯示面板100顯示同一畫面的不同區域RM-1～RM，更甚者，不同區域R1～RM的畫面表現可更較為均勻，則就可以更改善色暈(mura)或對比下降等問題。

對于本發明的開口率的計算，請同時再參閱圖2～4的次像素局部設計，且以圖2、圖3或圖4次像素其中至少一者作為顯示面板100的次像素。以圖2的次像素而言，開口率的分母為次像素垂直投影于第一基板S1的面積A1，分子為次像素垂直投影于第一基板S1的面積A1減去遮光元件(例如：電極或線)垂直投影于第一基板S1的面積C1，算式為開口率(％)＝((A1-C1)/A1)*100％。以圖3次像素而言，開口率的分母為次像素垂直投影于第一基板S1的面積A2，分子為次像素垂直投影于第一基板S1的面積A2減去遮光元件(例如：電極或線)垂直投影于第一基板S1的面積B2，算式為開口率(％)＝((A2-B2)/A2)*100％。以圖4次像素而言，開口率的分母為次像素垂直投影于第一基板S1的面積A3，分子為次像素垂直投影于第一基板S1的面積A3減去遮光元件(例如：電極或線)垂直投影于第一基板S1的面積C3，算式為開口率(％)＝((A3-C3)/A3)*100％。其中，遮光元件(例如：電極或線)包含信號線、主動元件SW、共享電極線、或其它的遮光電極/線。于其它實施例中，上述次像素可包含黑色矩陣，其也為被算入遮光元件(例如：電極或線)中。為了能夠簡易的算出開口率，開口率算式可被精簡化。例如：圖2次像素的開口率開口率的分母為次像素的像素電極垂直投影于第一基板S1的面積B1，分子為次像素的像素電極垂直投影于第一基板S1的面積B1減去遮光元件(例如：電極或線)與像素電極垂直重迭的面積D1，算式為開口率(％)＝((B1-D1)/B1)*100％。圖3次像素的開口率開口率的分母為次像素的像素電極垂直投影于第一基板S1的面積B2(B21+B22)，分子為次像素的像素電極垂直投影于第一基板S1的面積B2減去遮光元件(例如：電極或線)與像素電極垂直重迭的面積D2，算式為開口率(％)＝((B2-D2)/B2)*100％，其中，B21為主區域的像素電極PE(M)垂直投影于第一基板S1的面積，B22為子區域的像素電極PE(S)垂直投影于第一基板S1的面積。圖4次像素的開口率開口率的分母為次像素的像素電極垂直投影于第一基板S1的面積B3，分子為次像素的像素電極垂直投影于第一基板S1的面積B3減去遮光元件(例如：電極或線)與像素電極垂直重迭的面積D3，算式為開口率(％)＝((B3-D3)/B3)*100％。其中，遮光元件(例如：電極或線)如前所述，但次像素的像素電極PE并不一定會與遮光元件所包含的元件其中至少一者重迭。

對于本發明的次像素亮度并不一定需要來調整次像素的開口率。于其它實施方式中，次像素的亮度調整方式可為數據線的電位、次像素維持的時間、共通電極的電位、正電位供應源Vdd、負電位供應源Vss、增加饋通電位補償電路、或其它合適的方式、或前述至少一種方式。若本發明顯示介質ML材料為非自發光材料(例如：液晶、電泳、電致變色、電潤濕、或其它合適的材料、或前述的組合)，則次像素的亮度調整方式可包含數據線的電位、次像素維持的時間、共通電極的電位、或其它合適的方式、或前述至少一種方式。若本發明顯示介質ML材料為自發光材料(例如：無機電致發光、有機電致發光、或其它合適的材料、或前述的組合)，則次像素的亮度調整方式可包含數據線的電位、次像素維持的時間、正電位供應源Vdd、負電位供應源Vss、增加饋通電位補償電路、或其它合適的方式、或前述至少一種方式。若本發明顯示介質ML材料為自發光材料與非自發光材料的組合，則次像素的亮度調整方式可選自前述所提供至少一種的方式。

本發明的第二實施例的顯示面板繪示于圖6A。第二實施例的顯示面板100’與第一實施例的顯示面板100主要差別在于:第二實施例的顯示面板100’于不同區域R1～RM的次像素SP1～SPM的開口率皆為同一種開口率a’，且其不同區域R1～RM的次像素SP1～SPM的亮度也皆為同一種亮度La’。其余請參閱上述，不再贅言。

本發明的第三實施例的顯示面板繪示于圖7A。第三實施例的顯示面板100”與第一實施例的顯示面板100主要差別在于:第三實施例的顯示面板100”于每個區域R1～RM的次像素SP1～SPM的開口率分別為僅有(只有)一種開口率，且每個區域R1～RM的次像素SP1～SPM的亮度也分別為僅有(只有)一種亮度。換言之，第一區R1的次像素SP1僅為開口率a”、第二區R2的次像素SP2僅為開口率b”、第三區R3的次像素SP3僅為開口率c”且第M區RM的次像素SPM僅為開口率m”，其中，開口率從第一區往第M區遞增。第一區R1的次像素SP1僅為亮度La”、第二區R2的次像素SP2僅為亮度Lb”、第三區R3的次像素SP3僅為亮度Lc”且第M區RM的次像素SPM僅為亮度Lm”，其中，亮度從第一區往第M區遞增。其余請參閱上述，不再贅言。

為了說明本發明的顯示面板可改善前述問題，例如：亮暗不均、色暈(mura)或對比下降，且更可使得平面與非平面顯示面板的設計可共享，而可減少制造成本，特別以下列比較例及實驗例作為說明，且皆以垂直電場的非自發光顯示面板來做為說明，但不限于此。于其它實施例中，水平電場的非自發光顯示面板與自發光的顯示面板也可以使用。

實驗例系為本發明圖1所述的顯示面板100。顯示面板100中的開口率可選擇/設計的預定范圍，例如：50％～70％，但不限于此。于其它實施例中，亦可依照顯示面板的尺吋及/或分辨率來選/設計的預定范圍，例如：2吋～20吋顯示面板的單一次像素的開口率可為30～40％、21吋～50吋顯示面板的單一次像素的開口率可為41～49％、51吋～55吋顯示面板的單一次像素的開口率可為50～60％、56吋～65吋顯示面板的單一次像素的開口率可為60～70％、或者其它合適的范圍。第一區R1僅有一個開口率a可約為54％、第二區R2至少具有二種開口率b與c可分別約為54％及56％或者54％及55％、第三區R3至少具有二種開口率d與e可分別約為54％及56％或者55％及56％、第M區RM至少具有二種開口率m與m’可分別約為54％及56％。第一區R1的平均開口率約為54％、第二區R2平均開口率可約為55％、第三區R3平均開口率可約為55％或55.5％、第M區RM平均開口率可約為55％或55.5％，則可以知道第一區R1與第二區R2的平均開口率差值約為1％、第二區R2與第三區R3的平均開口率差值約為0％或0.5％、第三區R3與第M區RM的平均開口率差值約為0％或0.5％。上述二相鄰區的平均開口率的差值，皆為大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％。并且經由光學儀器量測后，上述二相鄰區的平均亮度的差值，皆為大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特，可使得顯示面板顯示同一畫面時，在不同區域R1～RM的畫面表現會較均勻，則就可以改善色暈(mura)或對比下降等問題。再者，實驗例的顯示面板，經由彎曲成圖5A或5B的非平面顯示面板100時，因顯示面板100于曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的驅動顯示介質ML的電極(例如：垂直電場驅動非自發光材料的電極)產生位移或者是顯示介質ML(例如：非自發光材料或自發光材料)被額外的遮光元件所遮蔽，而于曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的次像素局部產生黑化，使得不同區的開口率有可能會下降，且同時也讓不同區的平均開口率也有可能下降，本實驗例以平均開口率來說明，例如：于非平面顯示面板時，不同區的平均開口率可能為:第一區R1的平均開口率可約為54％、第二區R2平均開口率可約為53％、第三區R3平均開口率可約為53％或52％、第M區RM平均開口率可約為53％或54％。可以知道二相鄰區的平均開口率的差值，皆仍維持在大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％。并且經由光學儀器量測后，上述二相鄰區的平均亮度的差值，皆仍維持在大于或實質上等于0且小于或實質上等于15尼特。因此，本發明的實驗例(圖1的實施例)，可以補償在曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的次像素開口率損失。而可讓顯示面板在平面或非平面(曲面)且顯示同一畫面時，在不同區域R1～RM的畫面表現會較均勻，則就可以改善色暈(mura)或對比下降等問題。更甚者，平面與非平面顯示面板的設計可共享，而可減少制造成本。必需說明的是，于某些實施例中，第M區RM的次像素SPM，若是位于框膠將二基板(第一基板與第二基板)粘合處附近時，則因在粘合處的粘著力可讓第M區RM的次像素SPM受到基板偏移與形變的影響可能相對于于其它區域(例如：R2～RM-1)小，且可能類似于第一區R1的次像素SP1受到基板偏移與形變的影響，則第M區RM的次像素SPM的設計可以選擇性的依照第一區R1的次像素SP1的設計，但不限于此。

比較例一系為本發明第二實施例的圖6A所述的顯示面板100’。比較例一的顯示面板100’的各區次像素僅有一種開口率a’約為54％，各區的平均開口率也約為54％，而二相鄰區的平均開口率的差值為0％。經由光學儀器量測，各區的平均亮度的差值也為0％。于此，顯示面板100’于平面狀態時，顯示同一畫面時，在不同區域R1～RM的畫面表現會較均勻。再者，比較例一的顯示面板100’，經由彎曲也彎成圖5A或5B的非平面顯示面板時，因顯示面板100’于曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的驅動顯示介質ML的電極(例如：垂直電場驅動非自發光材料的電極)產生位移或者是顯示介質ML(例如：非自發光材料或自發光材料)被額外的遮光元件所遮蔽，而于曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的次像素局部產生黑化，使得不同區的開口率有可能會下降，且同時也讓不同區的開口率也有可能下降。并且經由光學儀器量測后，可于圖6B中發現顯示同一畫面時，不同區域R1～RM的畫面表現會出現多個黑白區塊，經換算成亮度百分比(％，無單位)后，且隨著顯示面板的寬度(mm)可得到會呈現多個波峰或波谷(如圖6B所示的虛線曲線)，其中，黑區塊代表較暗，白區塊代表較亮。可以知道，比較例一的不同區次像素的開口率設計皆為同一種，無法補償顯示面板100’彎曲時的曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的開口率變化，也就無法讓顯示面板100’于不同區域R1～RM的畫面表現均勻，也就無法改善色暈(mura)或對比下降等問題。更甚者，平面與非平面顯示面板的設計無法共享，而為了非平面(曲面)顯示面板在顯示同一畫面時，能夠讓不同區區域R1～RM的畫面表現會較均勻，需要再重新設計不同區的次像素相關設計，這可無法減少制造成本。

比較例二系為本發明第三實施例的圖7A所述的顯示面板100”。比較例二的顯示面板100”的不同區次像素分別僅有一種開口率，例如：第一區R1的開口率a”約為54％、第二區的開口率b”約為55％、第三區R3的開口率c”約為56％與第M區RM的開口率m”約為57％，且不同區(R1～RM)的平均開口率也分別約為54％、55％、56％、57％，而二相鄰區(例如：R1與R2、R2與R3、R3與RM)的平均開口率的差值皆約為1％。經由光學儀器量測，二相鄰區(例如：R1與R2、R2與R3、R3與RM)的平均亮度的差值也約為1％。于此，顯示面板100”于平面狀態時，顯示同一畫面時，在不同區域R1～RM的畫面表現可能可視為較均勻。再者，比較例二的顯示面板100”，經由彎曲也彎成圖5A或5B的非平面顯示面板時，因顯示面板100”于曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的驅動顯示介質ML的電極(例如：垂直電場驅動非自發光材料的電極)產生位移或者是顯示介質ML(例如：非自發光材料或自發光材料)被額外的遮光元件所遮蔽，而于曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的次像素局部產生黑化，使得不同區的開口率有可能會下降，且同時也讓不同區的開口率也有可能下降。并且經由光學儀器量測后，可于圖7B中發現顯示同一畫面時，不同區域R1～RM的畫面表現會出現多個黑白區塊，例如：黑區塊位于非平面顯示面板中間及其附近(如圖7B的虛線圓圈)，而白區塊位于非平面顯示面板邊緣且包圍黑區塊，其中，黑區塊代表較暗，白區塊代表較亮。可以知道，比較例二的不同區次像素的開口率設計分別僅有一種，且從顯示面板100”的中間往邊緣遞增，并無法補償顯示面板100”彎曲時的曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的開口率變化或者是可能補償了顯示面板100”彎曲時的曲面變形量大的區域(例如：第二區～第M區其中至少一區)的開口率變化，但中間及其附近的開口率變化補償可能仍然不夠或效果較小，也就無法讓顯示面板100”于不同區域R1～RM的畫面表現較為均勻，也就無法改善色暈(mura)或對比下降等問題。更甚者，平面與非平面顯示面板的設計無法共享，而為了非平面(曲面)顯示面板在顯示同一畫面時，能夠讓不同區區域R1～RM的畫面表現會較均勻，需要再重新設計不同區的次像素相關設計，這可無法減少制造成本。

本發明的第四實施例的顯示面板繪示于圖8。第四實施例的顯示面板100’”與第一實施例的顯示面板100主要差別在于:本實施例中，第一方向D1與第二方向D2位置相互對調，因此，顯示面板的中心線C位于顯示面板100的中心并實質上沿著第一方向D1延伸。本實施例大致上與第一實施例及第一實施例的變形例相似且采用類似的標示，相關的描述可參閱第一實施例及第一實施例的變形例，于此不再贅言。本實施例顯示面板100’”在彎曲狀態下可彎曲如圖5A或5B所示，本實施例的顯示面板100’系以中心線C為軸心彎曲，且顯示面板100’彎曲的曲率半徑可視產品規格加以決定。

本發明前述實施例的次像素系以直立為范例，但不限于此。于其它實施例中，本發明前述實施例的次像素系可躺平(或稱為橫躺)。本發明的前述實施例的次像素的垂直投影形狀系以矩形為范例，但不限于此。于其它實施例中，本發明前述實施例的次像素的垂直投影形狀可為多邊形，例如：三角形、四邊形、菱形、五邊形、六邊形、楕圓形、圓形或其它合適的投影形狀。本發明的前述實施例的遮光元件系以單層或多層的遮光材料(或稱為反射材料)或遮光導電材料，例如：金屬(例如：鋁、鉬、銀、銅、金或其它的材料，通常厚度大于60埃)、合金(例如：前述金屬至少二者)、或前述的鹽類、黑色光阻(例如：單一層或RGB光阻堆棧形成的黑色)、或其它其它遮光/反射的材料為范例，但不限于此。于本發明實施例中，不被列于遮光元件的材料，可稱為透光材料，其包含氧化銦錫、氧化銦鋅、氧化銦鎵、氧化銦鎵鋅、厚度小于預定值(例如：厚度小于60埃)的金屬膜可呈現半透光至透光、奈米碳管/桿、石墨烯、奈米銀、除了黑色之外的無色或彩色光阻、量子點/桿、絕緣層(例如：氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、有機絕緣層或其它透光材料)、或其它透光材料、前述至少二者材料堆棧。于其它實施例中，若遮光元件一部份使用透明導電材料(例如：氧化銦錫(ITO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋁鋅(AZO)、氧化鋁銦(AIO)、氧化銦鎵(IGO)、氧化銦鎵鋅(IGZO)、石墨烯、奈米銀或其它合適的材料、或前述任二者材料的堆棧)或者遮光元件為遮光導電材料與透明導電材料堆棧，于次像素的開口率計算時，可計算遮光導電材料存在處的面積或尺吋。本發明前述實施例的像素電極PE可為單層或多層結構，且其材料可包含氧化銦錫(ITO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋁鋅(AZO)、氧化鋁銦(AIO)、氧化銦(InO)與氧化鎵(gallium oxide,GaO)、石墨烯、奈米銀或其它合適的材料或前述任二者材料的堆棧。于其它實施例中，若像素電極PE一部份使用遮光導電材料或者像素電極PE為遮光導電材料與透明導電材料堆棧，于次像素的開口率計算時，可計算像素電極PE只有透明導電材料存在處的面積或尺吋。本發明前述實施例系以次像素及/或次像素具有多個子區域為范例，但不限于此。于其它實施例中，次像素可為像素及/或像素具有多個次像素，其余相關設計可參閱前述，再此不再贅言。本發明前述實施例，在不同區的次像素至少具有二種開口率或亮度設計中，可選擇性在同一區的任二相鄰次像素開口率或亮度的差值及/或者不同區的任二相鄰次像素開口率或亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％或15尼特，較佳地，大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％或10尼特，但不限于此。本發明前述實施例的第二區R2至第M區RM的多個次像素SP2至SPM分別具有二種開口率或亮度為范例，但不限于此。于其它實施例中，前述實施例的第二區R2至第M區RM的多個次像素SP2至SPM分別具有三種或四種或五種開口率或亮度等等。必需說明的是，前述實施例的第二區R2至第M區RM的多個次像素SP2至SPM其中一者至少具有三種開口率或亮度時，第二區R2至第M區RM的多個次像素SP2至SPM其中一者的第三種開口率或亮度，可選擇的設計成在同一區的任二相鄰次像素開口率或亮度的差值及/或者不同區的任二相鄰次像素開口率或亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％或15尼特，較佳地，大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％或10尼特，但不限于此。舉例而言，以第二區R2與第三區R3的次像素SP2、SP3說明：在第二區R2的次像素SP2的第三種開口率c或亮度L3的上邊、下邊、左邊、右邊或斜向邊其中至少一邊的在第二區R2的次像素SP2的開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％或15尼特，較佳地，大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％或10尼特。或者，在第二區R2的次像素SP2的第三種開口率c或亮度L3的左邊或斜向邊其中至少一邊的在第三區R2的次像素SP2的開口率的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％或15尼特，較佳地，大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％或10尼特，其余的描述可參閱第二種開口率或亮度，在此不再贅言。必需說明的是，二相鄰次像素的開口率或亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1.5％或15尼特，較佳地，二相鄰次像素的開口率或亮度的差值大于或實質上等于0且小于或實質上等于1％或10尼特系觀看畫面時可明確分辨出來畫面是否均勻與否的底線(或稱為臨界線)。雖然，超過此底線(例如：1.5％或15尼特)，有可能不容易補償，也可能產生其它的缺陷。本發明前述實施例的各區次像素的光學量測，可以不牽涉彩色濾光片的顏色的光線來量測與確認亮度，例如：白光或其它用途的光線(例如：藍光或UV光)，且其它用途的光線可直接量測與確認亮度(單位:尼特)或可選擇性的轉換為灰階來量測與確認亮度(單位:尼特)，但不限于此。若牽涉彩色濾光片的顏色的各區次像素的光學量測，可直接量測與確認亮度(單位:尼特)或可選擇性的轉換為灰階來量測與確認亮度(單位:尼特)，但不限于此。換言之，不論單色或彩色色度的次像素皆可以灰階的亮度(單位:尼特)表示，即每個次像素的灰階(單位：無)會對應亮度(單位:尼特)來表示，通常有0～255階，而灰階為0代表黑色(最暗)，灰階255代表白色(最亮)，而灰階位于0～255之間代表不同程度的灰色或亮度。此外，前述實施例的顯示面板可選擇性的以不同的伽瑪曲線(gamma)，例如：gamma 2.2來改善灰階于顯示面板所呈現的畫質，但不限于此。于部份實施例中，顯示面板亦可不用伽瑪曲線(gamma)改善灰階于顯示面板所呈現的畫質。

本發明前述實施例的顯示面板可包含非自發光顯示面板(例如：垂直電場非自發光顯示面板、水平電場非自發光顯示面板、復合式電場非自發光顯示面板或其它電場驅動方式的非自發光顯示面板)、自發光顯示面板、或前述的組合。對于顯示面板的顯示介質可參閱前述，于此不再贅言。

雖然本發明的實施例及其優點已揭露如上，但應該了解的是，本領域技術人員，在不脫離本發明的精神和范圍內，當可作更動、替代與潤飾。此外，本發明的保護范圍并未局限于說明書內所述特定實施例中的工藝、機器、制造、物質組成、裝置、方法及步驟，本領域技術人員可從本發明揭示內容中理解現行或未來所發展出的工藝、機器、制造、物質組成、裝置、方法及步驟，只要可以在此處所述實施例中實施大抵相同功能或獲得大抵相同結果皆可根據本發明使用。因此，本發明的保護范圍包括上述工藝、機器、制造、物質組成、裝置、方法及步驟。另外，每一申請專利范圍構成個別的實施例，且本發明的保護范圍也包括各個申請專利范圍及實施例的組合。