顯示面板的制造方法與流程

本公開涉及顯示面板的制造方法。

背景技術：

在有源矩陣型的有機EL顯示器中，在多個掃描線與多個數據線的交點設置薄膜晶體管(TFT：Thin Film Transistor)，該TFT與電容元件以及驅動晶體管的柵極連接。而且，通過選擇出的掃描線使該TFT接通，將來自數據線的數據信號輸入到驅動晶體管以及電容元件，通過該驅動晶體管以及電容元件對有機EL元件的發光定時進行控制。在此，由TFT、電容元件、驅動晶體管以及有機EL元件構成的像素電路的結構越復雜，并且，發光像素數越增加，在需要細微加工的制造工序中，就越發生電路元件以及布線的短路或開放那樣的電氣不良狀況。

對此，提出了在電路元件以及布線的形成后，修正發生了不良狀況的像素的方法。在專利文獻1中，為了對因電路元件的短路等而總是成為發光狀態且成為亮點的缺陷像素進行修正，針對所有的像素，設置有與其他的導電部以及布線遠離而連接的非重疊部。向缺陷像素的非重疊部照射激光，從而切斷該非重疊部。據此，不良像素，電信號的傳遞被遮斷，而且，不接受基于激光照射的損傷而成為滅點。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2008－203636號公報

技術實現要素：

發明所要解決的課題

在專利文獻1所公開的像素修正方法中，需要確定黑顯示中的亮點像素或白顯示中的滅點像素，以作為照射激光來修復缺陷像素的前階段。

然而，根據缺陷模式，會有不是觀察為點(像素)缺陷而是觀察為線(像素行或像素列)缺陷的情況。在此情況下，還需要逐一仔細觀察線缺陷中包含的像素，確定要修復的缺陷像素。因此，會發生導致確定缺陷像素的工序的繁雜化以及長時間化的問題。

于是，本公開，提供實現了缺陷像素的檢查工序的簡化以及縮短化的顯示面板的制造方法。

用于解決課題的手段

為了解決所述問題，本公開的實施方案之一涉及的顯示面板的制造方法，所述顯示面板具有以矩陣狀配置多個像素而成的顯示部，所述像素具有發光元件以及驅動該發光元件的驅動元件，并且以反映了輸入的顯示灰度信號的亮度來發光，所述制造方法包括如下的工序：在具有線缺陷的所述顯示面板中，將點燈線顯示在所述顯示部，在所述顯示部內的行方向或列方向上掃描該點燈線，從而將該點燈線與所述線缺陷重疊顯示，所述線缺陷是以沒有反映所述顯示灰度信號的亮度來發光的規定的像素行以及像素列的至少一方，所述點燈線是因輸入的統一的顯示灰度信號而發光的像素行或像素列；針對構成所述點燈線的所有的像素，將向與所述線缺陷重疊顯示的所述點燈線輸入的所述統一的顯示灰度信號、或驅動所述驅動元件的驅動電源電壓統一地變更，從而縮小所述線缺陷上的明部范圍或暗部范圍；以及根據縮小的所述明部范圍或暗部范圍在所述顯示部中的位置，確定成為所述線缺陷的起點的缺陷像素。

發明的效果

根據本公開，能夠實現具有線缺陷的顯示面板的檢查工序的簡化以及縮短化。

附圖說明

圖1是實施例涉及的顯示面板的結構概略圖。

圖2是示出實施例涉及的像素電路的一個例子的電路結構圖。

圖3A是出現了線缺陷式樣A的情況的顯示部的圖像圖。

圖3B是出現了線缺陷式樣B的情況的顯示部的圖像圖。

圖4是示出實施例涉及的顯示面板的制造方法的工作流程圖。

圖5A是說明出現了線缺陷式樣A的情況的實施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

圖5B是說明出現了線缺陷式樣B的情況的實施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

圖6是實施例的變形例1涉及的說明顯示面板的制造方法的工作流程圖。

圖7是實施例的變形例2涉及的顯示面板的結構的概略圖。

圖8是實施例涉及的利用顯示面板的制造方法制造的薄型平面TV的外觀圖。

具體實施方式

以下，對于顯示面板的制造方法的一個實施例，利用附圖進行說明。而且，以下說明的實施例，都示出本公開的優選的一個具體例子。因此，以下的實施例所示的數值、形狀、材料、構成要素、構成要素的配置位置以及連接形態、工序、工序的順序等是一個例子，而不是限定本發明的主旨。因此，對于以下的實施例的構成要素中的、示出本發明的最上位概念的實施方案中沒有記載的構成要素，作為任意的構成要素而被說明。

而且，各個圖是模式圖，并不一定是嚴密示出的圖。并且，在各個圖中，對實質上相同的結構附上相同的符號，省略或簡化重復的說明。

(實施例)

[1.顯示面板的結構]

首先，對于本實施例涉及的顯示面板1的結構，利用圖1進行說明。

圖1是實施例涉及的顯示面板的結構概略圖。如圖1示出，本實施例涉及的顯示面板1具備，顯示部11、柵極信號線121至124、源極信號線131、柵極驅動電路12、以及源極驅動電路13。

顯示部11，像素110被配置為矩陣狀而構成，根據從外部輸入的影像信號顯示圖像。

柵極信號線121至124是，按顯示部11的每個像素行配置的、傳遞對像素110具有的開關的導通以及非導進行切換的控制信號的掃描線。柵極信號線121至124，與柵極驅動電路12連接，與屬于各個像素行的像素110連接。

源極信號線131是，按顯示部11的每個像素列配置的、將作為反映了外部輸入的影像信號的顯示灰度信號的數據電壓傳遞到像素110的數據線。

柵極驅動電路12是，顯示部11的周邊電路，并且，向柵極信號線121至124輸出所述控制信號。柵極驅動電路12具有，對向像素110寫入數據電壓的定時進行控制的功能、以及對向像素110施加初始化電壓及參考電壓等的各種電壓的定時進行控制的功能等。

源極驅動電路13是，顯示部11的周邊電路，并且，向源極信號線131輸出數據電壓。

接著，說明顯示部11的像素電路結構。

圖2是示出實施例涉及的像素電路的一個例子的電路結構圖。該圖示出，顯示部11具有的多個像素110之中的一個像素110的電路結構、以及該像素110與周邊電路的連接結構。如該圖示出，像素110具備，有機EL元件101、驅動晶體管102、開關103至106、以及電容元件107。

有機EL元件101是，發光元件的一個例子，因驅動晶體管102的驅動電流而發光。EL陰極電壓Vss施加到有機EL元件101的陰極，有機EL元件101的陽極與驅動晶體管102的源極連接。

驅動晶體管102是，對向有機EL元件101的電流的提供進行控制的電壓驅動的驅動元件。驅動晶體管102的柵極與電容元件107的第一電極連接，驅動晶體管102的源極與電容元件107的第二電極以及有機EL元件101的陽極連接。驅動晶體管102，在開關105處于接通狀態的情況下，向有機EL元件101流動作為與對應于顯示灰度的數據電壓對應的電流的驅動電流，從而使有機EL元件101發光。并且，在開關106處于接通狀態、開關103處于截止狀態、開關104處于截止狀態、以及開關105處于接通狀態的期間，由電容元件107檢測驅動晶體管102的閾值電壓。

電容元件107，保持用于決定向驅動晶體管102流動的電流量的電壓。電容元件107的第一電極，與驅動晶體管102的柵極連接，進一步，參考電壓Vref經由開關106施加到電容元件107的第一電極。電容元件107，例如，在開關106成為截止狀態之后，也維持被施加的參考電壓Vref，向驅動晶體管102的柵極繼續提供該參考電壓Vref。并且，在開關103成為接通狀態的情況下，數據電壓施加到電容元件107，在開關103成為截止狀態之后，保持該數據電壓。而且，使開關105成為接通狀態之后的驅動晶體管102提供驅動電流。

開關103是，柵極與柵極信號線121電連接、源極與驅動晶體管102的柵極電連接、漏極與源極信號線131電連接的開關用NMOS晶體管。根據所述連接結構，開關103，對用于提供數據電壓的源極信號線131與電容元件107的第一電極的導通以及非導通進行切換。

開關106是，柵極與柵極信號線123電連接、源極與驅動晶體管102的柵極電連接、參考電壓Vref施加到漏極的開關用NMOS晶體管。開關106，對向電容元件107的第一電極施加參考電壓Vref以及不施加參考電壓Vref進行切換。

開關104是，柵極與柵極信號線124電連接、源極與驅動晶體管102的源極電連接、初始化電壓Vini施加到漏極的開關用NMOS晶體管。開關104，對向電容元件107的第二電極施加初始化電壓Vini以及不施加初始化電壓Vini進行切換。

開關105是，柵極與柵極信號線122電連接、源極與驅動晶體管102的漏極電連接、EL陽極電源電壓Vdd施加到漏極的開關用NMOS晶體管。而且，EL陽極電源電壓Vdd是，使驅動晶體管102驅動的驅動電源電壓。根據所述連接結構，開關105，對向驅動晶體管102的漏極施加EL陽極電源電壓Vdd以及不施加EL陽極電源電壓Vdd進行切換。開關105具有，向驅動晶體管102的漏極提供電位Vdd的功能、以及用于進行驅動晶體管102的閾值電壓Vth的檢測的功能。

而且，對于開關103至106，作為n型TFT來進行說明，但是，也可以是p型TFT，并且，也可以n型TFT和p型TFT混在一起來利用。

[2.線缺陷的發生機制]

在此，說明顯示面板1的圖像上出現的、所謂線缺陷的發生機制。

圖3A是出現了線缺陷式樣A的情況的顯示部的圖像圖，圖3B是出現了線缺陷式樣B的情況的顯示部的圖像圖。

圖3A以及3B所示的圖像是，從源極驅動電路13向顯示部11的所有的像素110提供針對統一的顯示灰度的數據電壓的情況的圖像，但是，在該圖像中觀察到縱條狀的線缺陷。該縱條狀的線缺陷，由以沒有反映作為輸入的顯示灰度信號的數據電壓的亮度來發光的規定的像素列構成。更具體而言，在圖3A的圖像中，隨著從顯示部11的上下端部向中央，從明逐漸變化為暗。另一方面，在圖3B的圖像中，隨著從顯示部11的上下端部向中央，從暗逐漸變化為明。

對于得到圖3A以及3B的圖像的原因，例如，可以舉出構成像素電路的開關的短路不良等。例如，在圖2所示的像素電路中，顯示部11具有的一個像素110的開關103的漏極與柵極間發生短路的情況。通常，對從柵極驅動電路12經由柵極信號線121施加到開關103的柵極的控制電壓GS、與從源極驅動電路13經由數據線施加到開關103的漏極的數據電壓Vdata，設定不同的電壓值。然而，在某一個像素110中，在開關103的漏極與柵極間發生短路的情況下，源極信號線131的電壓，受到柵極信號線121的控制電壓GS的電壓的影響，從源極驅動電路13輸出的數據電壓Vdata的電壓值變動。受到該電位變動的源極信號線131，配置在開關103的漏極與柵極間發生短路的所述像素110(以下，記載為缺陷像素)所屬的像素列。因此，屬于所述像素列的像素110，從受到該電位變動的源極信號線131，受到沒有反映輸入的顯示灰度信號的數據電壓的提供。在此，源極信號線131，具有規定的布線電阻，因此，在受到電位變動的源極信號線131，與缺陷像素越近電位變動就越激烈。因此，屬于與缺陷像素相同的像素列且越與該缺陷像素近的像素，就越以與缺陷像素的發光亮度近的亮度來發光，屬于與缺陷像素相同的像素列且越與該缺陷像素遠的像素，就越以與缺陷像素的發光亮度不同的亮度來發光。

例如，在數據電壓被設定為正的電壓值、該電壓值越高就越顯示高灰度(明)、控制電壓GS被設定為0V以下的電壓值的情況下，缺陷像素近旁的源極信號線131的電位，向低的方向變動。在此情況下，屬于相同的像素列且與缺陷像素近的像素110，以比本來要顯示的亮度低的亮度來發光，出現線缺陷式樣A。另一方面，在數據電壓被設定為正的電壓值、該電壓值越低就越顯示高灰度(明)、控制電壓GS被設定為0V以下的電壓值的情況下，缺陷像素近旁的源極信號線131的電位，向低的方向變動。在此情況下，屬于相同的像素列且與缺陷像素近的像素110，以比本來要顯示的亮度高的亮度來發光，出現線缺陷式樣B。

而且，所述的線缺陷，不僅包含因源極信號線131的電位變動而導致的縱條狀的線缺陷，也包含因開關104至106的柵極與漏極間以及柵極與源極間的短路等而發生的橫條狀的線缺陷。但是，對于源極信號線131，需要向像素110的數據電壓的高速提供，因此，被設定為比柵極信號線121至124低的阻抗。因此，與柵極信號線121至124相比，源極信號線131更容易接受電位變動的影響，與橫條狀相比，縱條狀的線缺陷更明顯地出現。

如上所述，因構成像素電路的開關用晶體管的短路等，而在顯示圖像上發生線缺陷，因此，難以從該顯示圖像確定所述缺陷像素。

對此，以下說明根據本實施例涉及的顯示面板的制造方法，能夠確定所述缺陷像素的情況。

[3.顯示面板的制造方法]

圖4是示出實施例涉及的顯示面板的制造方法的工作流程圖。本公開的顯示面板的制造方法包含，顯示面板的形成工序、缺陷像素的確定工序、以及修復工序。

[3－1.顯示面板形成工序]

首先，在顯示面板基板上形成顯示面板(S10)。具體而言，例如，形成適當地配置圖2所示的驅動晶體管102、開關103至106、電容元件107、柵極信號線121至124、以及源極信號線131等的驅動電路層。接著，在所述驅動電路層上，經過該驅動電路層的平坦化工序后，形成具有有機EL元件101的發光層。所述發光層具有，例如，陽極、空穴注入層、空穴傳輸層、有機發光層、堤層、電子注入層、以及透明陰極。

接著，確定缺陷像素(S20)。以下，詳細說明作為本公開涉及的顯示面板的制造方法的主要部分的步驟S20。以下，對于從顯示部11的上端部向下端部變化為明、暗、明的縱條狀的線缺陷式樣A、以及從顯示部11的上端部向下端部變化為暗、明、暗的縱條狀線的缺陷式樣B的缺陷像素確定工序，依次進行說明。

[3－2－1.點燈線變化為明－暗－明的情況的缺陷像素確定工序]

圖5A是說明出現了線缺陷式樣A的情況的實施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

在顯示面板形成工序之后，在出現了線缺陷式樣A的圖像中，在缺陷線上重疊顯示線狀的點燈線(S201)。具體而言，使顯示部11顯示，作為從源極驅動電路13輸入了統一的顯示灰度信號的像素列的點燈線。接著，顯示部11內，在行方向(列掃描方向，顯示部左右方向)上掃描所述點燈線，來重疊顯示該點燈線和線缺陷。在此，優選的是，預先使不屬于點燈線的像素統一地滅燈。據此，所述點燈線和其他的像素的對比度提高，能夠提高該點燈線的視認度。

在步驟S201中，對于顯示所述點燈線的具體方法，使柵極驅動電路12，按行順序向柵極信號線121至124提供HIGH電平的控制電壓GS、GE、GR以及GI。并且，使柵極驅動電路12，僅向配置在規定的像素列的源極信號線131，提供作為使該像素列統一地點燈的顯示灰度信號的數據電壓。接著，使源極驅動電路13，按列順序，對提供所述數據電壓的源極信號線131進行掃描。觀看者(操作者)，在按列順序移位的點燈線，與具有預先觀看的線缺陷的像素列重疊的時刻，停止點燈線的列掃描。

接著，使點燈線的顯示灰度增加(S203)。對于使所述點燈線的顯示灰度增加的具體方法，使源極驅動電路13，使施加到配置在所述點燈線重疊的、缺陷像素所屬的像素列的源極信號線131的數據電壓變化，以使該點燈線的顯示灰度提高。據此，缺陷像素所屬的像素列的有機EL元件101的發光亮度上升，因此，能夠縮小線缺陷的暗部范圍。

而且，在步驟S203中，對于使與所述線缺陷重疊的點燈線的顯示灰度提高的方法，也可以代替使數據電壓變更，而使EL陽極電源電壓Vdd變大。據此，缺陷像素所屬的像素列的有機EL元件101中流動的發光電流變大，有機EL元件101的發光亮度上升，因此，能夠縮小線缺陷的暗部范圍。

接著，確定線缺陷的起點部位(S205)。具體而言，根據步驟S203中縮小的所述暗部范圍在顯示部11中的位置，確定成為線缺陷的起點的缺陷像素。

根據所述的線缺陷的發生機制，在步驟S203中，能夠判斷為即使在線缺陷的像素列統一地提高線缺陷的顯示灰度也作為暗部殘存的部位中包含缺陷像素。

據此，在觀看線缺陷之后，不逐一仔細觀察該線缺陷中包含的像素，而統一地提高點燈線的顯示灰度，從而也能夠縮小所述暗部范圍來確定缺陷像素。因此，能夠實現缺陷像素的確定工序的簡化以及縮短化。

[3－2－2.點燈線變化為暗－明－暗的情況的缺陷像素確定工序]

圖5B是說明出現了線缺陷式樣B的情況的實施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

在顯示面板形成工序之后，在出現了線缺陷式樣B的圖像中，在缺陷線上重疊顯示線狀的點燈線(S211)。具體而言，使顯示部11顯示，作為從信號源極驅動電路13輸入了統一的顯示灰度的像素列的點燈線。接著，顯示部11內，在行方向(列掃描方向，顯示部左右方向)上掃描所述點燈線，來重疊顯示該點燈線和線缺陷。在此，優選的是，預先使不屬于點燈線的像素統一地滅燈。據此，所述點燈線和其他的像素的對比度提高，能夠提高該點燈線的視認度。

在步驟S211中，對于顯示所述點燈線的具體方法，使柵極驅動電路12，按行順序向柵極信號線121至124提供HIGH電平的控制電壓GS、GE、GR以及GI。并且，使源極驅動電路13，僅向配置在規定的像素列的源極信號線131，提供作為使該像素列統一地點燈的顯示灰度信號的數據電壓。接著，使源極驅動電路13，按列順序，對提供所述數據電壓的源極信號線131進行掃描。觀看者(操作者)，在按列順序移位的點燈線，與具有預先觀看的線缺陷的像素列重疊的時刻，停止點燈線的列掃描。

接著，使點燈線的顯示灰度減少(S213)。對于使所述點燈線的顯示灰度減少的具體方法，使源極驅動電路13，使施加到配置在所述點燈線重疊的、缺陷像素所屬的像素列的源極信號線131的數據電壓變化，以使該點燈線的顯示灰度降低。據此，缺陷像素所屬的像素列的有機EL元件101的發光亮度降低，因此，能夠縮小線缺陷的明部范圍。

而且，在步驟S213中，對于使與所述線缺陷重疊的點燈線的顯示灰度降低的方法，也可以代替使數據電壓變更，而使EL陽極電源電壓Vdd變小。據此，缺陷像素所屬的像素列的有機EL元件101中流動的發光電流變小，有機EL元件101的發光亮度降低，因此，能夠縮小線缺陷的明部范圍。

接著，確定線缺陷的起點部位(S215)。具體而言，根據步驟S213中縮小的所述明部范圍在顯示部11中的位置，確定成為線缺陷的起點的缺陷像素。

根據所述的線缺陷的發生機制，在步驟S213中，能夠判斷為即使在線缺陷的像素列統一地降低線缺陷的顯示灰度也作為明部殘存的部位中包含缺陷像素。

據此，在觀看線缺陷之后，不逐一仔細觀察該線缺陷中包含的像素，而統一地降低點燈線的顯示灰度，從而也能夠縮小所述明部范圍來確定缺陷像素。因此，能夠實現缺陷像素的確定工序的簡化以及縮短化。

而且，在所述缺陷像素確定工序中，預先使不屬于點燈線的像素統一地滅燈。然而，在根據出現的線缺陷的亮度以及亮度變化的形態等，能夠使不屬于點燈線的像素與線缺陷的對比度更明確的情況下，也可以不使不屬于點燈線的像素統一地滅燈，而以規定的亮度統一地點燈。

[3－3.缺陷像素的修復工序]

最后，修復缺陷像素(S30)。具體而言，觀察步驟S20中確定的缺陷像素的缺陷狀態，在判斷為能夠修復該缺陷像素的情況下，修復該缺陷像素。另一方面，在判斷為不能修復該缺陷像素的情況下，不修復該缺陷像素，而將具有判斷為不能修復的缺陷像素的顯示面板、或判斷為不能修復的缺陷像素的數量為規定值以上的顯示面板，作為不良品來處理。

而且，對于缺陷像素的修復方法，可以舉出通過向缺陷部位照射激光、或在缺陷部位流動規定值以上的脈沖電流等，從而解決缺陷部位的短路或開放的方法。

根據所述顯示面板的制造方法，在顯示在顯示面板的檢查用圖像中，針對以沒有反映輸入的統一的顯示灰度信號的亮度來發光的線缺陷，(1)在行方向或列方向上對輸入了統一的顯示灰度信號點燈線進行掃描，來重疊顯示該點燈線和線缺陷，(2)在點燈線將輸入到屬于與線缺陷重疊顯示的點燈線的像素行或像素列的顯示灰度信號、或驅動電源電壓統一地變更，從而縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍，(3)根據縮小的明部范圍或暗部范圍在顯示部中的位置，確定成為線缺陷的起點的缺陷像素。據此，在觀看線缺陷之后，不逐一仔細觀察該線缺陷中包含的像素，而將點燈線的顯示灰度統一地變更，從而也能夠縮小所述明部范圍或暗部范圍來確定缺陷像素。因此，能夠實現缺陷像素的確定工序的簡化以及縮短化。

而且，在所述制造方法中示出了，顯示由像素列或像素行構成的線缺陷的情況的缺陷像素的確定方法示的例子，但是，本公開的顯示面板的制造方法，不僅限于此。例如，即使在由像素列以及像素行的組合構成的線缺陷、以及由多個像素列或多個像素行構成的線缺陷出現在顯示面板的情況下，也能夠適用所述實施例涉及的缺陷像素的確定工序。在此情況下，通過組合所述步驟S20中包含的各個步驟，從而能夠確定缺陷像素。

并且，在所述制造方法中，經由顯示面板1具有的柵極驅動電路12以及源極驅動電路13，執行了點燈線的顯示以及點燈線的顯示灰度的變更，但是，不僅限于此。例如，也可以在顯示面板的制造工序中，針對安裝柵極驅動電路12以及源極驅動電路13之前的顯示面板，適用所述步驟S20的缺陷像素的確定工序。在此情況下，在內置有在規定的定時輸出各個控制電壓以及數據電壓的輸出電路的檢查裝置配置顯示面板，從而執行所述步驟S20的缺陷像素的確定工序。

[4.顯示面板的制造方法的變形例1]

在本變形例中說明，為了與顯示面板的制造工序的變化形態對應，而多次執行作為所述的確定缺陷像素的工序的步驟S20的制造方法。

圖6是實施例的變形例1涉及的說明顯示面板的制造方法的工作流程圖。

首先，在顯示面板基板上形成顯示面板(S10)。

接著，在顯示面板的周邊部，安裝柵極驅動電路以及源極驅動電路等的電路板(S15)。

接著，對顯示面板進行時效處理，然后，觀察顯示圖像中是否發生線缺陷(S16)。

在步驟S16中確認到線缺陷的情況下(S16的“是”)，執行所述實施例中執行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復確定的缺陷像素的情況下(S26的“是”)，修復該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復確定的缺陷像素的情況下(S26的“否”)，將該顯示面板作為不良品來處理。

接著，在步驟S16中沒有確認線缺陷的情況下(S16的“否”)，進行顯示面板的點燈確認，觀察點燈圖像中是否發生線缺陷(S17)。

在步驟S17中確認到線缺陷的情況下(S17的“是”)，執行所述實施例中執行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復確定的缺陷像素的情況下(S27的“是”)，修復該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復確定的缺陷像素的情況下(S27的“否”)，將該顯示面板作為不良品來處理。

接著，在步驟S17中沒有確認線缺陷的情況下(S17的“否”)，進行顯示面板的通常的亮點修復，然后，觀察顯示圖像中是否發生線缺陷(S18)。

在步驟S18中確認到線缺陷的情況下(S18的“是”)，執行所述實施例中執行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復確定的缺陷像素的情況下(S28的“是”)，修復該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復確定的缺陷像素的情況下(S28的“否”)，將該顯示面板作為不良品來處理。

接著，在步驟S18中沒有確認線缺陷的情況下(S18的“否”)，進行顯示面板的亮度校正，然后，觀察顯示圖像中是否發生線缺陷(S19)。

在步驟S19中確認到線缺陷的情況下(S19的“是”)，執行所述實施例中執行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復確定的缺陷像素的情況下(S29的“是”)，修復該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復確定的缺陷像素的情況下(S29的“否”)，將該顯示面板作為不良品來處理。

接著，在步驟S19中沒有確認線缺陷的情況下(S19的“否”)，執行顯示面板的組裝(S40)。

根據所述的變形例1涉及的顯示面板的制造方法，在施加溫度負荷以及電負荷的工序之后，按該工序執行本實施例涉及的缺陷像素的確定工序，因此，缺陷像素的檢測精度提高，顯示面板的制造成品率提高。

[5.顯示面板的制造方法的變形例2]

在本變形例中說明，在作為所述的確定缺陷像素的工序的步驟S20中，更有效地縮小所述明部范圍或暗部范圍的方法。

圖7是實施例的變形例2涉及的顯示面板的結構的概略圖。如圖7示出，本變形例涉及的顯示面板2具備，顯示部11、柵極信號線121至124、源極信號線131、柵極驅動電路12a及12b、以及源極驅動電路13a及13b。

柵極信號線121至124，與柵極驅動電路12a以及12b連接，并且，與屬于各個像素行的像素110連接。

源極信號線131，與源極驅動電路13a以及13b連接，并且，與屬于各個像素列的像素110連接。

柵極驅動電路12a以及12b是，顯示部11的周邊電路，并且，向柵極信號線121至124輸出控制信號。柵極驅動電路12a，被配置在顯示部11的左側端部。并且，柵極驅動電路12b，被配置在顯示部11的右側端部，被配置為隔著以矩陣狀配置的多個像素110，與柵極驅動電路12a相對。在此，柵極驅動電路12a以及12b具有，對與柵極信號線121至124的導通以及非導通進行切換的開關。

源極驅動電路13a以及13b是，顯示部11的周邊電路，并且，向源極信號線131輸出數據電壓。源極驅動電路13a，被配置在顯示部11的上側端部。并且，源極驅動電路13b，被配置在顯示部11的下側端部，被配置為隔著以矩陣狀配置的多個像素110，與源極驅動電路13a相對。在此，源極驅動電路13a以及13b具有，對與源極信號線131的導通以及非導通進行切換的開關。

說明具有所述結構的顯示面板2的本變形例涉及的制造方法。本變形例涉及的顯示面板2的制造方法，與實施例涉及的顯示面板1的制造方法相比，僅確定缺陷像素的工序(S20)之中的使顯示灰度變化的工序(S203以及S213)不同。以下，省略與實施例涉及的顯示面板1的制造方法相同之處的說明，僅說明不同之處。

在出現了線缺陷式樣A的圖像中，將點燈線重疊于該缺陷線上來顯示之后，將源極驅動電路13a或源極驅動電路13b與源極信號線131處于非連接狀態。例如，在顯示部11的下方區域觀察到重疊于線缺陷的點燈線的暗部范圍的情況下，將源極驅動電路13a處于非連接狀態，在顯示部11的上方區域觀察到重疊于線缺陷的點燈線的暗部范圍的情況下，將源極驅動電路13b處于非連接狀態。

在顯示部11的下方區域觀察到所述暗部范圍的情況下，缺陷像素存在于作為所述線缺陷的像素列的下方的概率高。并且，在顯示部11的上方區域觀察到所述暗部范圍的情況下，缺陷像素存在于作為所述線缺陷的像素列的上方的概率高。將源極驅動電路13a或13b處于非連接狀態，從而能夠變更源極信號線131的阻抗，因此，能夠縮小所述暗部區域的范圍。

在將源極驅動電路13a或源極驅動電路13b與源極信號線131處于非連接狀態之后，增加點燈線的顯示灰度(S203)。

據此，能夠更有效地縮小線缺陷的暗部范圍。

而且，對于出現了線缺陷式樣B的圖像，與所述的出現了線缺陷式樣A的圖像的制造方法同樣，將源極驅動電路13a或源極驅動電路13b與源極信號線131處于非連接狀態，從而也能夠更有效地縮小線缺陷的明部范圍。

[6.效果等]

如上所述，本實施例涉及的顯示面板的制造方法，在具有作為以沒有反映顯示灰度信號的亮度來發光的規定的像素行以及像素列的至少一方的線缺陷的顯示面板中，將作為輸入了統一的顯示灰度信號的像素行或像素列的點燈線顯示在顯示部11，在顯示部11內的行方向或列方向上掃描該點燈線，從而將該點燈線與線缺陷重疊顯示；針對構成點燈線的所有的像素，將向屬于與線缺陷重疊顯示的點燈線的像素行或像素列輸入的顯示灰度信號的電壓電平、或使驅動元件驅動的驅動電源電壓統一地變更，從而縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍；以及根據縮小的明部范圍或暗部范圍在顯示部11中的位置，確定成為線缺陷的起點的缺陷像素。

據此，在觀看線缺陷之后，即使不逐一仔細觀察該線缺陷中包含的像素，通過將點燈線的顯示灰度統一地變更，從而也能夠將所述明部范圍或暗部范圍變窄來確定缺陷像素。因此，能夠實現缺陷像素的確定工序的簡化以及縮短化。

而且，也可以是，在將點燈線與線缺陷重疊顯示的工序、縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍的工序、以及確定缺陷像素的工序中，使不屬于點燈線的像素滅燈。

據此，點燈線與其他的像素的對比度提高，能夠提高該點燈線的視認度。

并且，例如，在將點燈線與線缺陷重疊顯示的工序中，將點燈線與線缺陷重疊之后，點燈線的顯示形態從點燈線的一端到另一端依次變化為明、暗、明的情況下，在縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍的工序中，以提高顯示灰度的方式在點燈線將統一的顯示灰度信號統一地變更，或者，在點燈線統一地使驅動電源電壓變大，從而縮小暗部范圍。

據此，將點燈線的顯示灰度統一地變更，從而能夠將暗部范圍變窄來確定缺陷像素。

并且，例如，在將點燈線與線缺陷重疊顯示的工序中，將點燈線與線缺陷重疊之后，點燈線的顯示形態從點燈線的一端到另一端依次變化為暗、明、暗的情況下，在縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍的工序中，以降低顯示灰度的方式在點燈線將統一的顯示灰度信號統一地變更，或者，在點燈線統一地使驅動電源電壓變小，從而縮小明部范圍。

據此，將點燈線的顯示灰度統一地變更，從而能夠將明部范圍變窄來確定缺陷像素。

并且，也可以是，還包括，修復確定的缺陷像素的工序。

據此，缺陷像素成為正常像素，因此，能夠提高顯示面板的制造成品率。

并且，也可以是，還包括如下的工序，在形成像素的工序之后、且將點燈線與線缺陷重疊顯示的工序之前，對顯示面板進行時效處理，在該時效處理之后檢查顯示部的線缺陷的有無。

據此，在施加溫度負荷的工序之后，執行檢查線缺陷的有無，來確定缺陷像素的工序，因此，缺陷像素的檢測精度提高，顯示面板的制造成品率提高。

并且，也可以是，在顯示部的一端以及與該一端相對的另一端，分別配置有向像素提供與顯示灰度信號對應的數據電壓的第一源極驅動電路以及第二源極驅動電路，在縮小明部范圍或暗部范圍的工序中，使第一源極驅動電路以及第二源極驅動電路的一方與像素成為非導通，從第一源極驅動電路以及第二源極驅動電路的另一方針對構成點燈線的所有的像素提供統一的數據電壓，并且，在構成點燈線的所有的像素將數據電壓或驅動電源電壓統一地變更，從而縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍。

據此，能夠更有效地縮小線缺陷的明部范圍或暗部范圍。

(其他的實施例)

以上，說明了實施例涉及的顯示面板的制造方法，但是，本公開的顯示面板的制造方法，不僅限于所述的實施例。在不脫離本發明的宗旨的范圍內，對所述實施例實施本領域技術人員想到的各種變形而得到的變形例，以及利用實施例涉及的顯示面板的制造方法來制造的顯示面板也包含在本發明中。

并且，在所述實施例中，舉出了本公開的顯示面板1以及2具有的像素電路結構的一個例子，但是，像素110的電路結構不僅限于所述電路結構。例如，在所述實施例中示出了，在EL陽極電源電壓Vdd與EL陰極電源電壓Vss之間，依次配置開關105、驅動晶體管102以及有機EL元件101的結構的例子，但是，也可以以不同的順序配置這些三個元件。也就是說，本公開的顯示面板1以及2，即使驅動晶體管是n型還是p型，驅動晶體管102的漏極及源極、以及有機EL元件101的陽極及陰極，也被配置在EL陽極電源電壓Vdd與EL陰極電源電壓Vss之間的電流直徑路上即可，不僅限于驅動晶體管102以及有機EL元件101的配置順序。

并且，在所述實施例中，在開關103至106是，具有柵極、源極以及漏極的MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)的前提下進行了說明，但是，對于這些晶體管，也可以適用具有基極、集電極以及發射極的雙極晶體管。即使在此情況下，也實現本公開的目的，獲得同樣的效果。

并且，在所述實施例涉及的顯示面板的制造方法中，舉出了制造利用了有機EL元件101的顯示面板的情況的例子，但是，也可以適用于利用了有機EL元件以外的發光元件的顯示面板的制造方法。

并且，例如，所述實施例涉及的顯示面板的制造方法，能夠適用于圖8所示的薄型平面TV。通過利用所述實施例涉及的顯示面板的制造方法，能夠實現具有實現了制造工序的簡化以及縮短化的顯示面板的薄型平面TV。

本公開涉及顯示面板的制造方法，例如，能夠利用于有機EL顯示面板等的制造方法。

附圖符號的說明

1、2 顯示面板

11 顯示部

12、12a、12b 柵極驅動電路

13、13a、13b 源極驅動電路

101 有機EL元件

102 驅動晶體管

103、104、105、106 開關

107 電容元件

110 像素

121、122、123、124 柵極信號線

131 源極信號線