技術編號：9908309
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及，屬于礦物透射樣品制備。背景技術目前，透射電鏡(透射電子顯微鏡，Transmiss1n Electron Microscope，簡稱透射或透射電鏡)樣品的制備方法主要有電解拋光法、超薄切片法、離子減薄法和FIB(Focused 1n Beam，聚焦離子束)法等，其中，電解拋光法主要是針對導電的材料樣品，如由Cu、Al、Fe組成的金屬合金材料，且該方法要求樣品為尺寸(直徑)不能小于3_的小圓片；但是由于鋯石礦物晶粒不導電，所以該方法不適用于鋯石礦物...
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