技術編號：9842172
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 為了提高立體測圖衛星的精度，亟需研究和解決其測距修正、定位修正、波形應用 過程中的一系列關鍵技術問題，其中最為重要的內容就是使用外場檢校的手段，在衛星入 軌運行后在地面測量/捕獲激光的位置和形態、進而對測距、測姿過程中的一系列誤差項進 行檢校。 星載激光高度計的檢校工作只有美國GLAS團隊做過專門的研究，采用的是單純依 靠格網型接收器的方式。該方法一次只能接收一個光斑的信號，造價高昂、體積巨大，鋪設 費時費力。受限于格網的面積，如果激光足印點的預測誤差較...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發人員的辛勤研發付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業用途。
該專利適合技術人員進行技術研發參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。